RU2700287C1 - Устройство для измерения параметров слабого магнитного поля в низкотемпературной магнитоактивной плазме - Google Patents

Устройство для измерения параметров слабого магнитного поля в низкотемпературной магнитоактивной плазме Download PDF

Info

Publication number
RU2700287C1
RU2700287C1 RU2018145158A RU2018145158A RU2700287C1 RU 2700287 C1 RU2700287 C1 RU 2700287C1 RU 2018145158 A RU2018145158 A RU 2018145158A RU 2018145158 A RU2018145158 A RU 2018145158A RU 2700287 C1 RU2700287 C1 RU 2700287C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
winding
plasma
magnetic field
layers
low
Prior art date
Application number
RU2018145158A
Other languages
English (en)
Inventor
Сергей Владимирович Воеводин
Алексей Александрович Тренькин
Александр Борисович Буянов
Андрей Викторович Лимонов
Original Assignee
Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (Госкорпорация "Росатом")
Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский Федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики" (ФГУП "РФЯЦ-ВНИИЭФ")
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (Госкорпорация "Росатом"), Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский Федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики" (ФГУП "РФЯЦ-ВНИИЭФ") filed Critical Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (Госкорпорация "Росатом")
Priority to RU2018145158A priority Critical patent/RU2700287C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2700287C1 publication Critical patent/RU2700287C1/ru

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/04Voltage dividers
    • G01R15/06Voltage dividers having reactive components, e.g. capacitive transformer
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)

Abstract

Изобретение относится к области физики плазмы, газового разряда, радиоэлектроники и т.д. и может быть использовано для измерения параметров слабых магнитных полей и МГД волн в низкотемпературной магнитоактивной плазме. Техническим результатом является уменьшение погрешности измерения характеристик переменного магнитного поля за счет снижения в измерительном контуре паразитных сигналов. Устройство для измерения параметров слабого магнитного поля в низкотемпературной магнитоактивной плазме содержит высокочастотный магнитный зонд в виде трех двухсекционных обмоток, выполненных витой парой, размещенных ортогонально на немагнитном кубическом каркасе. Секции каждой обмотки подключены к своему дифференциальному усилителю, все дифференциальные усилители подключены к многоканальному регистратору напряжения и к источнику питания. Для достижения технического результата источник питания усилителей гальванически развязан с сетью переменного напряжения, а каждая секция обмотки состоит из четного количества слоев с одинаковым числом витков и с односторонним направлением намотки, при этом нечетные слои намотаны в одну сторону по оси обмотки, а четные - в обратном направлении. 4 ил.

Description

Изобретение относится к области физики плазмы, газового разряда, радиоэлектроники и т.д. и может быть использовано для измерения параметров слабых магнитных полей и МГД-волн в низкотемпературной магнитоактивной плазме.
Из предшествующего уровня техники известен индуктивный магнитный зонд для измерения слабых магнитных полей в плазме [1]. Зонд представляет собой двухсекционную катушку, помещаемую в плазму. Выводы секций катушки подключаются к дифференциальному усилителю, выход которого в свою очередь соединяется с осциллографом.
Недостатком устройства является невозможность единовременного измерения нескольких компонент магнитного поля в точке расположения зонда.
Наиболее близким к заявляемому устройству является устройство для измерения параметров слабого магнитного поля в низкотемпературной магнитоактивной плазме, содержащее высокочастотный магнитный зонд [2]. Зонд состоит из миниатюрного пластикового кубического каркаса, на котором в трех ортогональных плоскостях размещены двухсекционные обмотки. Секции намотаны на каркас витой парой в один слой в одном направлении намотки. Выводы каждой обмотки соединяются с отдельным дифференциальным усилителем. Все дифференциальные усилители подключены к многоканальному регистратору напряжения и к источнику питания.
При формировании плазмы посредством газового разряда в цепях питания усилителей индуцируются интенсивные высокочастотные помехи, которые передаются на вход регистратора напряжения и тем самым ухудшают качество измерения полезных сигналов. Также электростатические плазменные шумы, наведенные на секциях обмоток магнитного зонда, полностью взаимно не уничтожаются в дифференциальных усилителях и потому оказывают негативное влияние на результаты измерения.
Задачей, на решение которой направлено заявляемое изобретение, является создание устройства для точечного измерения амплитудно-временных характеристик Х-, Y- и Z-компонент слабого магнитного поля в плазме с меньшей погрешностью.
Техническим результатом предложенного изобретения является уменьшение погрешности измерения характеристик переменного магнитного поля за счет снижения в измерительном контуре паразитных сигналов.
Технический результат достигается тем, что в устройстве для измерения параметров слабого магнитного поля в низкотемпературной магнитоактивной плазме, содержащем высокочастотный магнитный зонд в виде трех двухсекционных обмоток, выполненных витой парой, размещенных ортогонально на немагнитном кубическом каркасе, причем секции каждой обмотки подключены к своему дифференциальному усилителю, все дифференциальные усилители подключены к многоканальному регистратору напряжения и к источнику питания, новым является то, что источник питания усилителей гальванически развязан с сетью переменного напряжения, а каждая секция обмотки состоит из четного количества слоев с одинаковым числом витков и с односторонним направлением намотки, при этом нечетные слои намотаны в одну сторону по оси обмотки, а четные - в обратном направлении.
Использование гальванически развязанного с электросетью источника питания усилителей позволяет избавиться от проникновения в измерительные цепи через цепи питания усилителей высокочастотных электростатических шумов, наводимых в близлежащих проводах электросети при формировании плазмы посредством сильноточного газового разряда, и, соответственно, уменьшить погрешность измерения параметров слабого магнитного поля.
Намотка секций магнитного зонда четным количеством слоев с одинаковым числом витков и с односторонним направлением намотки (по часовой либо против часовой стрелке), при этом нечетные слои намотаны в одну сторону по оси обмотки, а четные - в обратном направлении, позволяет получать на выводах секций обмоток сигналы с меньшими плазменными электростатическими шумами и, как следствие, уменьшить погрешность измерения параметров магнитного поля за счет того, что наводимые на слоях секций обмоток полезные индуктивные компоненты суммируются, а паразитные компоненты электростатического поля, направленного вдоль осей обмоток, взаимно уничтожаются.
На Фиг. 1 представлена принципиальная электрическая схема устройства, где 1 - двухсекционные обмотки, 2 - источник питания усилителей, 3 - дифференциальные усилители, 4 - многоканальный регистратор напряжения, 5 - понижающий трехобмоточный трансформатор, 6 - диодные мосты, 7 - широкополосные высокочастотные усилители.
На Фиг. 2 приведена схема намотки одной секции магнитного зонда устройства. Жирной линией показан первый (нечетный) слой, тонкой линией - второй (четный).
На Фиг. 3 приведена осциллограмма тока в витке возбуждения колебаний слабого магнитного поля в магнитоактивной плазме.
На Фиг. 4 представлена осциллограмма сигнала, зарегистрированного с помощью устройства.
Устройство для измерения параметров слабого магнитного поля в низкотемпературной магнитоактивной плазме (Фиг. 1) содержит высокочастотный магнитный зонд в виде трех двухсекционных обмоток 1, выполненных витой парой, размещенных ортогонально на немагнитном кубическом каркасе, причем секции каждой обмотки 1 подключены к своему дифференциальному усилителю 3 через согласующие резисторы, все дифференциальные усилители подключены к многоканальному регистратору напряжения 4 и к источнику питания 2. Каждая секция обмотки 1 состоит из четного количества слоев с одинаковым числом витков и с односторонним направлением намотки, при этом нечетные слои намотаны в одну сторону по оси обмотки, а четные - в обратном направлении. На Фиг. 2 показана одна секция, предназначенная для измерения Z-компоненты магнитного поля, намотанная в два слоя с одинаковым числом витков по часовой стрелке, причем нижний слой намотан против направления векторов В и Е, а верхний - по направлению векторов В и Е. Каждый дифференциальный усилитель собран из трех одинаковых широкополосных высокочастотных усилителей 7 по стандартной схеме измерительного усилителя, выполненного на трех операционных усилителях [3]. Выводы дифференциальных усилителей 3 соединяются с входами многоканального регистратора напряжения 4. Запитка дифференциальных усилителей 3 осуществляется от двуполярного источника питания 2, гальванически развязанного с сетью переменного напряжения. Источник 2 выполнен на основе маломощного сетевого понижающего трансформатора 5 с тремя обмотками и двух диодных мостов 6. Низковольтные обмотки трансформатора 5 присоединены к входам мостов 6. К выходам мостов 6 присоединены высокоомные сопротивления и сглаживающие конденсаторы. Выводы конденсаторов являются выходными клеммами источника питания 2, причем их общая точка является точкой с нулевым потенциалом, т.е. схемной «землей».
Устройство работает следующим образом. Магнитный зонд помещается в плазменный столб внутри вакуумной камеры таким образом, чтобы плоскости обмоток 1 были перпендикулярны X-, Y- и Z-компонентам измеряемого магнитного поля. Каркас выполнен из фторопласта и имеет размер 2,5×2,5×2,5 мм3. Намотка выполнена медным проводом марки ПЭВТЛК-ОС в лаковой изоляции с диаметром 0,1 мм. С целью дополнительной изоляции от плазмы обмотки покрыты тонким слоем эпоксидной смолы. Каркас крепится к вакуумной камере посредством стеклянного стержня диаметром 3 мм.
Измеряемое переменное магнитное поле наводит на отдельной секции обмотки ЭДС, величина которой определяется выражением:
Figure 00000001
где ε - ЭДС на выводах секции обмотки;
S=6,25 мм2 - площадь одного витка секции обмотки;
N=4 - число витков в секции обмотки;
dB - изменение индукции измеряемого магнитного поля;
dt - время изменения магнитного поля.
Электростатические осевые компоненты напряжения, наводимые на слоях секции, из-за встречной намотки слоев вдоль их оси противоположно направлены и потому взаимно уничтожаются.
Наведенные на обмотках сигналы транслируются с помощью витых пар внутри вакуумной камеры и коаксиальных кабелей снаружи камеры на входы соответствующих внешних дифференциальных усилителей 3. Каждый дифференциальный усилитель собран из трех широкополосных высокочастотных усилителей 7 (AD829JN) и имеет коэффициент усиления k=100. Питание отдельного дифференциального усилителя осуществляется от двуполярного источника постоянного напряжения 2, выполненного на основе маломощного трансформатора 5 (ТПГ-1-2×9 В) с одной первичной и двумя идентичными вторичными обмотками. Трансформатор понижает сетевое напряжение до необходимого уровня, а также обеспечивает гальваническую развязку схемы питания усилителя от внешней электросети. Переменное напряжение вторичных обмоток выпрямляется с помощью диодных мостов 6 (W06M) и затем сглаживается парами электролитических конденсаторов (1000 мкФ, 35 В), причем одна вторичная обмотка обеспечивает положительную полярность источника, а другая - отрицательную. Средняя точка источника является схемной «землей», относительно которой измеряются сигналы.
С выходов дифференциальных усилителей усиленные сигналы поступают на входы многоканального регистратора 4. В качестве регистратора 4 используется четырехканальный цифровой осциллограф, в каждый канал которого встроен подключаемый фильтр с полосой пропускания 20 МГц. Искомое магнитное поле находится посредством интегрирования сигналов регистратора с последующим делением на величину -2kSN.
В примере конкретного исполнения на предприятии ФГУП «РФЯЦ-ВНИИЭФ» при проведении экспериментов в столбе низкотемпературной магнитоактивной гелиевой плазмы длинной 6 м и объемом ≈1 м3 для измерения параметров МГД-волн одновременно использованы пять заявляемых устройств. Столб плазмы нарабатывался ВаО-термокатодом. Концентрация плазмы в столбе составляла ~1012 см-3 при давлении газа в вакуумной камере 5⋅10-4 Тор. Индукция внешнего осевого магнитного поля составляла 95 мТл. В конце столба плазмы располагался виток с током диаметром 4 см, возбуждающий МГД-волны в замагниченной плазме. Магнитные зонды устройств располагались на оси плазменного столба на расстояниях 0,5 м друг от друга. С помощью этих устройств были зарегистрированы МГД-волны в плазменном столбе и определены их амплитудные и временные характеристики. В частности, при импульсе тока в витке в виде полусинусоиды длительностью 2,1 мкс и амплитудой 70 А (Фиг. 3) на устройстве, отдаленном от витка с током на 0,5 м, зарегистрирован сигнал в виде затухающей синусоиды (Фиг. 4), характеризующий МГД-волну в плазме.
Источники информации:
[1] Кнопфель. Сверхсильные импульсные магнитные поля. Москва, 1972, с. 314-329.
[2] Е.Т Everson, P. Pribyl, C.G. Constantin, A. Zylstra, D. Schaeffer, N.L. Kugland, and C. Niemann., Design, construction, and calibration of a three-axis, high-frequency magnetic probe (B-dot probe) as a diagnostic for exploding plasmas. Rev. Sci. Instrum. 80, 113505 (2009).
[3] Волович Г.И. Схемотехника аналоговых и аналого-цифровых электронных устройств. - М.: Издательский дом «Додэка-XXI», 2005., с. 118-120.

Claims (1)

  1. Устройство для измерения параметров слабого магнитного поля в низкотемпературной магнитоактивной плазме, содержащее высокочастотный магнитный зонд в виде трех двухсекционных обмоток, выполненных витой парой, размещенных ортогонально на немагнитном кубическом каркасе, причем секции каждой обмотки подключены к своему дифференциальному усилителю, все дифференциальные усилители подключены к многоканальному регистратору напряжения и к источнику питания, отличающееся тем, что источник питания усилителей гальванически развязан с сетью переменного напряжения, а каждая секция обмотки состоит из четного количества слоев с одинаковым числом витков и с односторонним направлением намотки, при этом нечетные слои намотаны в одну сторону по оси обмотки, а четные - в обратном направлении.
RU2018145158A 2018-12-18 2018-12-18 Устройство для измерения параметров слабого магнитного поля в низкотемпературной магнитоактивной плазме RU2700287C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2018145158A RU2700287C1 (ru) 2018-12-18 2018-12-18 Устройство для измерения параметров слабого магнитного поля в низкотемпературной магнитоактивной плазме

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2018145158A RU2700287C1 (ru) 2018-12-18 2018-12-18 Устройство для измерения параметров слабого магнитного поля в низкотемпературной магнитоактивной плазме

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2700287C1 true RU2700287C1 (ru) 2019-09-16

Family

ID=67990012

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2018145158A RU2700287C1 (ru) 2018-12-18 2018-12-18 Устройство для измерения параметров слабого магнитного поля в низкотемпературной магнитоактивной плазме

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2700287C1 (ru)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1093996A1 (ru) * 1983-02-21 1984-05-23 Белорусский Ордена Трудового Красного Знамени Государственный Университет Им.В.И.Ленина Устройство дл приема вертикальной компоненты магнитного пол
JPH0668825A (ja) * 1992-04-15 1994-03-11 Texas Instr Inc <Ti> プラズマ密度監視装置及び方法
RU2051476C1 (ru) * 1992-04-20 1995-12-27 Центральный научно-исследовательский институт машиностроения Способ диагностики плазмы и устройство для его осуществления
WO2007026859A1 (ja) * 2005-08-31 2007-03-08 National University Corporation Nagoya University プラズマ電子密度測定用の面状共振素子並びにプラズマ電子密度測定方法及び装置
US20110309823A1 (en) * 2010-05-05 2011-12-22 Ysi Incorporated Replaceable Probe Head Having An Operational Amplifier
RU2503158C1 (ru) * 2012-08-01 2013-12-27 Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" Способ зондовой диагностики плазмы и устройство для его осуществления
JP6068825B2 (ja) * 2011-05-04 2017-01-25 ノードソン コーポレーションNordson Corporation 複数電極間に高周波電力を均一に分配するプラズマ処理システム及び方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1093996A1 (ru) * 1983-02-21 1984-05-23 Белорусский Ордена Трудового Красного Знамени Государственный Университет Им.В.И.Ленина Устройство дл приема вертикальной компоненты магнитного пол
JPH0668825A (ja) * 1992-04-15 1994-03-11 Texas Instr Inc <Ti> プラズマ密度監視装置及び方法
RU2051476C1 (ru) * 1992-04-20 1995-12-27 Центральный научно-исследовательский институт машиностроения Способ диагностики плазмы и устройство для его осуществления
WO2007026859A1 (ja) * 2005-08-31 2007-03-08 National University Corporation Nagoya University プラズマ電子密度測定用の面状共振素子並びにプラズマ電子密度測定方法及び装置
US20110309823A1 (en) * 2010-05-05 2011-12-22 Ysi Incorporated Replaceable Probe Head Having An Operational Amplifier
JP6068825B2 (ja) * 2011-05-04 2017-01-25 ノードソン コーポレーションNordson Corporation 複数電極間に高周波電力を均一に分配するプラズマ処理システム及び方法
RU2503158C1 (ru) * 2012-08-01 2013-12-27 Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" Способ зондовой диагностики плазмы и устройство для его осуществления

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20080007258A1 (en) Sensor for Measuring Magnetic Flux
Yan et al. An optimization method for induction magnetometer of 0.1 mHz to 1 kHz
Prance et al. Compact room-temperature induction magnetometer with superconducting quantum interference device level field sensitivity
CN113341211A (zh) 一种磁通门电流传感器及其测量方法
Yang et al. A new compact fluxgate current sensor for AC and DC application
RU2700287C1 (ru) Устройство для измерения параметров слабого магнитного поля в низкотемпературной магнитоактивной плазме
CN108427085B (zh) 一种测量磁性材料磁化特性的方法
Hemmati et al. Evaluation of unshielded Rogowski coil for measuring partial discharge signals
CN106646288B (zh) 一种电磁感应装置
Grobler et al. Low cost power lead extended pre-compliance conducted EMI measurement setup and diagnostics with compact LISN
KR100724101B1 (ko) 공심코어를 사용한 교류전류 센서
Grandi et al. Magnetic-field transducer based on closed-loop operation of magnetic sensors
Lee et al. Geometrical effects in the current measurement by Rogowski sensor
Xiaohua et al. Improved performance Rogowski coils for power system
Messer et al. Broadband calibration of radio-frequency magnetic induction probes
Park et al. AC magnetic flux density standards in the low frequency range
JPH0224476B2 (ru)
Mariscotti et al. A Rogowski coil for high voltage applications
Pulz A calibration facility for search coil magnetometers
CN207440159U (zh) 一种新型便携式信号测试仪
Appelman et al. Comparison of time-domain measurement techniques for interference analysis in power line communication
Ulvr Calibration of magnetic field meters up to 50 kHz at CMI
Chankji et al. A method for mapping magnetic fields generated by current coils
JP6960655B2 (ja) 磁性材料の磁気特性測定方法および磁性材料の磁気特性測定装置
Mariscotti A Rogowski winding with high voltage immunity