RU2693839C1 - Field thyristor with non-isolated photosensitive optical gate and light-emitting p-n-junction - Google Patents
Field thyristor with non-isolated photosensitive optical gate and light-emitting p-n-junction Download PDFInfo
- Publication number
- RU2693839C1 RU2693839C1 RU2018144712A RU2018144712A RU2693839C1 RU 2693839 C1 RU2693839 C1 RU 2693839C1 RU 2018144712 A RU2018144712 A RU 2018144712A RU 2018144712 A RU2018144712 A RU 2018144712A RU 2693839 C1 RU2693839 C1 RU 2693839C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- optical gate
- photosensitive optical
- thyristor
- light
- photosensitive
- Prior art date
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 21
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 14
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N gallium phosphide Chemical compound [Ga]#P HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/12—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto
- H01L31/16—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto the semiconductor device sensitive to radiation being controlled by the light source or sources
Abstract
Description
Изобретение относится к электронным компонентам микросхем.The invention relates to the electronic components of the chip.
Известен светотранзистор [1] с низким уровнем тепловыделений, светотранзистор [2] с высоким быстродействием и светотиристор [3]. Во всех этих устройствах используются биполярные полупроводниковые структуры. Для повышения быстродействия целесообразно использовать униполярные полупроводниковые структуры. Known light transistor [1] with a low level of heat generation, light transistor [2] with high speed and light emitter [3]. All of these devices use bipolar semiconductor structures. To increase the speed it is advisable to use unipolar semiconductor structures.
Также известен прецизионный датчик фотонов [4], у которого внутри тиристора сформирована оптическая положительная обратная связь между p-n-переходами для лавинообразного нарастания тока при попадании фотона в фоточувствительный n-p-переход. Недостатком данного устройства является меньшее быстродействие за счет прохождения электронов через p-n-переходы.Also known is a precision photon sensor [4], in which an optical positive feedback between pn-n junctions is formed inside the thyristor for an avalanche-like current increase when a photon hits a photosensitive np-junction. The disadvantage of this device is lower speed due to the passage of electrons through pn-junctions.
Цель изобретения – повышение быстродействия тиристора.The purpose of the invention is to increase the speed of the thyristor.
Это достигается тем, что в отличие от обычного полупроводникового p-n-p-n тиристора, полевой тиристор производится только из полупроводника n-типа с одним неизолированным фоточувствительным оптическим затвором на полупроводнике p-типа изготавливаемым из фоточувствительного материала (металла с малым уровнем работы выхода электронов). При попадании фотонов на фоточувствительный оптический затвор электроны приобретают энергию и могут покинуть фоточувствительный оптический затвор, придав ему положительный заряд. Это, в свою очередь, приведет к прохождению электронов от истока с отрицательным потенциалом к стоку с положительным потенциалом, а также в сторону фоточувствительного оптического затвора через светоизлучающий p-n-переход, что вызовет генерацию фотонов. Попадание этих фотонов на фоточувствительный оптический затвор приведет к еще большему выходу электронов и увеличению на нем положительного потенциала. В результате полевой тиристор полностью будет открыт и через него будет течь максимально допустимый ток. This is achieved by the fact that, unlike conventional semiconductor p-n-p-n thyristors, the field thyristor is produced only from n-type semiconductor with one non-isolated photosensitive optical gate on p-type semiconductor made of photosensitive material (metal with a low level of electron work function). When photons hit a photosensitive optical shutter, electrons acquire energy and can leave the photosensitive optical shutter, giving it a positive charge. This, in turn, will lead to the passage of electrons from a source with a negative potential to a drain with a positive potential, as well as towards the photosensitive optical shutter through a light-emitting pn-junction, which will cause photon generation. The hitting of these photons on the photosensitive optical shutter will lead to an even greater electron yield and an increase in the positive potential on it. As a result, the field thyristor will be fully opened and the maximum allowable current will flow through it.
На фиг. 1 изображена схема полевого тиристора с неизолированным фоточувствительным оптическим затвором и светоизлучающим p-n-переходом.FIG. 1 shows a field thyristor circuit with a non-isolated photosensitive optical shutter and a light-emitting pn-junction.
Тиристор работает следующим образом: через полупроводниковый кристалл n-типа 1 со светоизлучающим p-n-переходом 6 протекает поток электронов от истока 3 с отрицательным потенциалом к стоку 4 с положительным потенциалом под действием приложенной разности потенциалов. Исток 3 с отрицательным потенциалом и сток 4 с положительным потенциалом выполнены в виде металлических электродов с зеркальными поверхностями. В зависимости от заряда на фоточувствительном оптическом затворе 2, находящимся на полупроводнике p-типа 5, величина запрещенной зоны в полупроводниковом кристалле n-типа 1 на светоизлучающем p-n-переходе 6 будет различной. В начальный момент времени на затвор 2 через резистор 8 поступает отрицательный потенциал от источника питания, который создает запирает полевой тиристор. При попадании фотона на затвор 2 электроны приобретут энергию достаточную для покидания поверхности электрода, что придаст ему положительный потенциал для открывания полевого тиристора. Чем больше положительный потенциал на фоточувствительном оптическом затворе 2, тем больший поток электронов будет проходить от истока 3 с отрицательным потенциалом к стоку 4 с положительным потенциалом. Некоторая часть электронов от истока 3 с отрицательным потенциалом будет проходить через светоизлучающий p-n-переход 6 к фоточувствительному оптическому затвору 2. Это приведет к генерации фотонов часть из которых попадет на фоточувствительный оптический затвор 2 сразу, а оставшаяся часть, после отражения от зеркальных поверхностей металлических электродов - исток 3 с отрицательным потенциалом, сток 4 с положительным потенциалом и зеркальной поверхности 7, также попадет на фоточувствительный оптический затвор 2. В результате фоточувствительный оптический затвор 2 потеряет электроны и приобретет больший положительный потенциал. Это, в свою очередь, увеличит поток электронов через полевой тиристор и еще больше усилит генерацию фотонов на светоизлучающем p-n-переходе 6. Такая положительная обратная связь в полевом тиристоре приведет к лавинообразному нарастанию величины тока и полному открываю тиристора с высоким быстродействием за счет того, что потенциалом на затворе управляют не электроны, а фотоны, имеющие максимально возможную скорость. Для возвращения полевого тиристора в исходное закрытое состояние необходимо на короткое время отключить на нем питание, как и на обычном биполярном тиристоре.The thyristor works as follows: an n-type 1 semiconductor crystal with a light-emitting pn-
В качестве материалов для изготовления полевого тиристора с неизолированным фоточувствительным оптическим затвором и светоизлучающим p-n-переходом могут быть использованы любые материалы, традиционно используемые при изготовлении светодиодов, а именно фосфид галлия (GaP), нитрид галлия (GaN), карбид кремния (SiC).As materials for the manufacture of a field thyristor with a non-isolated photosensitive optical shutter and a light-emitting pn-junction, any materials traditionally used in the manufacture of LEDs, namely gallium phosphide (GaP), gallium nitride (GaN), silicon carbide (SiC), can be used.
Разработанный полевой тиристор является логическим продолжением развития светодиодных и светотранзисторных электронных компонентов и имеет широкие перспективы для применения в сверхбольших интегральных схемах. The developed field thyristor is a logical continuation of the development of LED and light transistor electronic components and has broad prospects for use in ultra-large integrated circuits.
ЛитератураLiterature
1. Патент РФ на изобретение №2487436. Светотранзистор / Исмаилов Т.А., Гаджиев Х.М., Гаджиева С.М., Нежведилов Т.Д., Челушкина Т.А., опубл. 10.07.2013.1. RF patent for the invention №2487436. The light transistor / Ismailov T.A., Gadzhiev Kh.M., Gadzhiyeva S.M., Nezhvedilov T.D., Chelushkina T.A., publ. 07/10/2013.
2. Патент РФ на изобретение № 2507632. Светотранзистор с высоким быстродействием / Исмаилов Т.А., Гаджиев Х.М., Нежведилов Т.Д., Юсуфов Ш.А. Опубл. 20.02.2014.2. RF patent for invention No. 2507632. High-speed light transistor / Ismailov TA, Gadzhiev Kh.M., Nezhvedilov TD, Yusufov Sh.A. Publ. 02.20.2014.
3. Патент РФ № 2562744. Светотиристор / Исмаилов Т.А., Гаджиев Х.М., Гаджиева С.М., Челушкина Т.А., Челушкин Д.А. Опубл. 10.09.2015. 3. RF Patent No. 2562744. Light Thyristor / Ismailov, T.A., Gadzhiev, Kh.M., Gadzhiyev, S.M., Chelushkina, T.A., Chelushkin, D.A. Publ. 09/10/2015.
4. Патент РФ № 2673987. Прецизионный датчик фотонов на полупроводниковом тиристоре с одним фоточувствительным n-p-переходом и двумя излучающими p-n-переходами / Гаджиев Х.М., Гаджиева С.М., Иванченко А.А., Челушкина Т.А., Козлов В.В., Михайлов А.К. Опубл. 03.12.2018. Бюл. №34.4. RF patent № 2673987. Precision photon sensor on a semiconductor thyristor with one photosensitive np-transition and two emitting pn-junctions / Gadzhiev Kh.M., Gadzhieva SM, Ivanchenko A.A., Chelushkina TA, Kozlov V.V., Mikhailov A.K. Publ. 12/03/2018. Bul No. 34.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2018144712A RU2693839C1 (en) | 2018-12-17 | 2018-12-17 | Field thyristor with non-isolated photosensitive optical gate and light-emitting p-n-junction |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2018144712A RU2693839C1 (en) | 2018-12-17 | 2018-12-17 | Field thyristor with non-isolated photosensitive optical gate and light-emitting p-n-junction |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2693839C1 true RU2693839C1 (en) | 2019-07-05 |
Family
ID=67251845
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2018144712A RU2693839C1 (en) | 2018-12-17 | 2018-12-17 | Field thyristor with non-isolated photosensitive optical gate and light-emitting p-n-junction |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2693839C1 (en) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5677552A (en) * | 1992-04-23 | 1997-10-14 | Nec Corporation | Optical control circuit for an optical pnpn thyristor |
RU2185690C1 (en) * | 2001-04-26 | 2002-07-20 | Открытое акционерное общество "Оптрон" | Optical thyristor |
RU2562744C2 (en) * | 2014-01-14 | 2015-09-10 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Дагестанский государственный технический университет" | Light thyristor |
RU2673987C1 (en) * | 2018-02-06 | 2018-12-03 | Ооо "Центральный Научно-Исследовательский Институт "Апертура" | Photon precision sensor on semiconductor thyristor with one photosensitive n-p-junction and two light-emitting p-n-junctions |
-
2018
- 2018-12-17 RU RU2018144712A patent/RU2693839C1/en active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5677552A (en) * | 1992-04-23 | 1997-10-14 | Nec Corporation | Optical control circuit for an optical pnpn thyristor |
RU2185690C1 (en) * | 2001-04-26 | 2002-07-20 | Открытое акционерное общество "Оптрон" | Optical thyristor |
RU2562744C2 (en) * | 2014-01-14 | 2015-09-10 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Дагестанский государственный технический университет" | Light thyristor |
RU2673987C1 (en) * | 2018-02-06 | 2018-12-03 | Ооо "Центральный Научно-Исследовательский Институт "Апертура" | Photon precision sensor on semiconductor thyristor with one photosensitive n-p-junction and two light-emitting p-n-junctions |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Grekhov | Pulse power generation in nano-and subnanosecond range by means of ionizing fronts in semiconductors: The state of the art and future prospects | |
Lazarouk et al. | Stable electroluminescence from reverse biased n‐type porous silicon–aluminum Schottky junction device | |
US4295058A (en) | Radiant energy activated semiconductor switch | |
JP2009542004A5 (en) | ||
US20190123215A1 (en) | Control circuit and method of operating a control circuit | |
US5105090A (en) | Semiconductor device with a photodetector switching device | |
RU2693839C1 (en) | Field thyristor with non-isolated photosensitive optical gate and light-emitting p-n-junction | |
Winkler et al. | Utilization of parasitic luminescence from power semiconductor devices for current sensing | |
RU2673987C1 (en) | Photon precision sensor on semiconductor thyristor with one photosensitive n-p-junction and two light-emitting p-n-junctions | |
CN109411468B (en) | Silicon controlled electrostatic protector | |
CN106879107B (en) | A kind of InGaN/GaN LED nanosecond pulse driving circuits | |
US8450127B2 (en) | Light emitting semiconductor diode | |
RU2701184C1 (en) | Bipolar semiconductor transistor with thyristor effect | |
Grekhov et al. | On the possibility of creating a superfast-recovery silicon carbide diode | |
Li et al. | Schottky-on-heterojunction optoelectronic functional devices realized on AlGaN/GaN-on-Si platform | |
CN107293537B (en) | Electrostatic discharge protection device, memory element and electrostatic discharge protection method | |
Khanmohammadi et al. | Monolithically integrated optical random pulse generator in high voltage CMOS technology | |
US3745429A (en) | Controllable junction device and radiationgenerating method of utilizing it | |
Lazarouk et al. | Efficiency of avalanche light-emitting diodes based on porous silicon | |
RU175209U1 (en) | DEVICE FOR PHOTOELECTRIC SWITCHING OF AN AVALANCHE PULSE S-DIODE | |
US3711740A (en) | Response time controlled light emitting devices | |
RU2693834C1 (en) | Semiconductor device for amplification of photon flux with photosensitive and light-emitting p-n-junctions | |
US5686857A (en) | Zero-crossing triac and method | |
Bykov et al. | Investigation of the physical processes in BISPIN structures in pulsation mode | |
Wang et al. | Test Structures to Investigate ESD Robustness of Integrated GaN Devices |