RU2681434C1 - Устройство для аттестации электроискровых дефектоскопов изоляции кабельных изделий - Google Patents

Устройство для аттестации электроискровых дефектоскопов изоляции кабельных изделий Download PDF

Info

Publication number
RU2681434C1
RU2681434C1 RU2017137868A RU2017137868A RU2681434C1 RU 2681434 C1 RU2681434 C1 RU 2681434C1 RU 2017137868 A RU2017137868 A RU 2017137868A RU 2017137868 A RU2017137868 A RU 2017137868A RU 2681434 C1 RU2681434 C1 RU 2681434C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
capacitor
output
insulation
voltage relay
effect transistor
Prior art date
Application number
RU2017137868A
Other languages
English (en)
Inventor
Надежда Сергеевна Галеева
Виталий Владимирович Редько
Людмила Анатольевна Редько
Евгений Михайлович Фёдоров
Original Assignee
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Томский политехнический университет"
Общество с ограниченной ответственностью "НПО Редвилл"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Томский политехнический университет", Общество с ограниченной ответственностью "НПО Редвилл" filed Critical Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Томский политехнический университет"
Priority to RU2017137868A priority Critical patent/RU2681434C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2681434C1 publication Critical patent/RU2681434C1/ru

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/12Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R35/00Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Relating To Insulation (AREA)

Abstract

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при аттестации электроискровых дефектоскопов, используемых для контроля изоляции кабельных изделий. Сущность: устройство содержит задающий генератор, который подключен к затвору и истоку полевого транзистора, к стоку которого подключен первый вход высоковольтного реле, второй вход которого соединен с источником питания, к которому подключен катод полупроводникового диода, анод которого соединен со стоком полевого транзистора. Первый и второй конденсаторы соединены последовательно. Второй вывод первого конденсатора соединен с истоком полевого транзистора, образуя общую точку заземления. Второй вывод второго конденсатора соединен с выводом третьего конденсатора и выводом газового разрядника, место соединения которых выполнено с возможностью подключения к высоковольтному электроду дефектоскопа. Первый выход высоковольтного реле подключен к подвижному контакту трехпозиционного однополюсного переключателя, первый неподвижный контакт которого соединен со вторым выводом газового разрядника. Второй неподвижный контакт однополюсного переключателя соединен с выводом третьего конденсатора. Третий неподвижный контакт однополюсного переключателя подключен к точке соединения первого и второго конденсаторов. Параллельно первому конденсатору подсоединен ключ. Второй вывод высоковольтного реле соединен с общей точкой заземления и выполнен с возможностью подключения к заземленной части дефектоскопа. Технический результат: возможность аттестации электроискровых дефектоскопов с функцией контроля емкости за счет имитации, помимо пробоев изоляции кабельного изделия, изменения толщины его изоляции. 1 ил.

Description

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно устройствам для электрических испытаний и может быть использовано при аттестации электроискровых дефектоскопов, используемых для контроля изоляции кабельных изделий.
Известно устройство для аттестации электроискровых дефектоскопов изоляции кабельных изделий [ГОСТ Р 54813-2011. Кабели, провода и шнуры электрические. Электроискровой метод контроля.], содержащее иглу с острием и металлическую пластину. Геометрические параметры острия иглы строго регламентированы. Пластина установлена на вращающемся диэлектрическом диске, который через передачу приводится во вращение от двигателя, а игла зафиксирована неподвижно. Испытательное напряжение от электрода дефектоскопа подают между иглой и заземленной металлической пластиной. При каждом полном обороте диска между острием иглы и металлической пластиной в одной точке создается искровой зазор. Размер искрового зазора составляет 0,25±0,05 мм. Размеры металлической пластины и скорость вращения должны быть такими, чтобы продолжительность разряда составляла не более 0,025 с (для переменного и высокочастотного напряжения) или 0,0005 с (для постоянного напряжения) при скорости вращения 1 об/с.
При проведении аттестации дефектоскопов с помощью известного устройства запускают серию из не менее, чем 20 разрядов, а аттестуемый дефектоскоп настраивают таким образом, чтобы при формировании одного разряда был зарегистрирован один дефект.
Перед каждой процедурой аттестации необходима настройка искрового зазора. С помощью этого устройства возможна имитация только режима пробоя изоляции кабельного изделия для аттестации традиционных электроисковых дефектоскопов.
Предложенное устройство позволяет проводить аттестацию не только традиционных электроискровых дефектоскопов, но и электроискровых дефектоскопов с функцией контроля емкости за счет имитации как пробоев изоляции кабельного изделия, так и имитации увеличения или уменьшения толщины изоляции кабельного изделия.
Устройство для аттестации электроискровых дефектоскопов изоляции кабельных изделий содержит задающий генератор, который подключен к затвору и истоку полевого транзистора, к стоку которого подключен первый вход высоковольтного реле, второй вход которого соединен с источником питания, к которому подключен катод полупроводникового диода, анод которого соединен со стоком полевого транзистора. Первый и второй конденсаторы соединены последовательно. Второй вывод первого конденсатора соединен с истоком полевого транзистора, образуя общую точку заземления. Второй вывод второго конденсатора соединен с выводом третьего конденсатора и выводом газового разрядника, место соединения которых выполнено с возможностью подключения к высоковольтному электроду дефектоскопа. Первый выход высоковольтного реле подключен к подвижному контакту трехпозиционного однополюсного переключателя, первый неподвижный контакт которого соединен со вторым выводом газового разрядника. Второй неподвижный контакт однополюсного переключателя соединен с выводом третьего конденсатора. Третий неподвижный контакт однополюсного переключателя подключен к точке соединения первого и второго конденсаторов. Параллельно первому конденсатору подсоединен ключ. Второй вывод высоковольтного реле соединен с общей точкой заземления и выполнен с возможностью подключения к заземленной части дефектоскопа.
Использование газового разрядника вместо искрового зазора, реализованного с помощью иглы и пластины в прототипе, позволяет не проводить процедуру настройки размеров искрового зазора перед проведением аттестации дефектоскопа, а также дает возможность более точно устанавливать регламентированную продолжительность разряда. Изменение номиналов конденсаторов позволяет варьировать размеры имитируемых дефектов.
На фиг. 1 представлена структурная схема предложенного устройства.
Устройство для аттестации электроискровых дефектоскопов содержит задающий генератор 1 (ЗГ), выходы которого подключены к затвору и истоку полевого транзистора 2. К стоку полевого транзистора 2 подключен первый вход высоковольтного реле 3 (BP). Второй вход высоковольтного реле 3 (BP) подключен к источнику питания (на фиг. 1 не показан). К источнику питания подключен катод полупроводникового диода 4, анод которого соединен со стоком полевого транзистора 2. Первый 5, второй 6 и третий 7 конденсаторы с помощью контактных зажимов установлены на диэлектрической пластине (на фиг. 1 не показана). Первый 5 и второй 6 конденсаторы соединены последовательно. Второй вывод первого конденсатора 5 соединен с истоком полевого транзистора 2, образуя общую точку заземления. Второй вывод второго конденсатора 6 соединен с выводом третьего конденсатора 7 и выводом разрядника 8 с образованием общей точки, оснащенной первым металлическим зажимом «крокодил» 9. Первый выход высоковольтного реле 3 (BP) подключен к подвижному контакту трехпозиционного однополюсного переключателя 10, первый неподвижный контакт которого соединен со вторым выводом газового разрядника 8 (ГР). Второй неподвижный контакт однополюсного переключателя 10 соединен с выводом третьего конденсатора 7. Третий неподвижный контакт однополюсного переключателя 10 подключен к точке соединения первого 5 и второго 6 конденсаторов. Ключ 11 подключен параллельно первому конденсатору 5. Второй вывод высоковольтного реле 3 (BP) соединен с общей точкой заземления и оснащен вторым металлическим зажимом «крокодил» 12.
В качестве задающего генератора 1 (ЗГ) может быть использован микроконтроллер STM32F103. В качестве высоковольтного реле 3 (BP) может быть использовано реле типа G41A или высоковольтное реле с рабочим напряжением более 5 кВ. В качестве газового разрядника 10 (ГР) может быть использован разрядник типа B88069-X3820-S102.
Для проведения аттестации электроискрового дефектоскопа, например, ЗАСИ-15 ООО «НПО Редвилл» [RU 2491562], в режиме имитации пробоев изоляции кабельного изделия первый зажим «крокодил» 9 подключают к проводящей части высоковольтного электрода дефектоскопа. Соединяя подвижный контакт однополюсного переключателя 10 с его первым неподвижным контактом, выход высоковольтного реле 3 (BP) через переключатель 10 подключается ко второму выводу газового разрядника 8 (ГР). Ключ 11 остается разомкнутым. Второй зажим «крокодил» 12 подключают к заземленной проводящей части, например, к электроду или корпусу дефектоскопа.
Далее задающий генератор 1 (ЗГ) устанавливают в режим подачи прямоугольных импульсов с длительностью, зависящей от типа испытательного напряжения аттестуемого электроискрового дефектоскопа. Длительность импульса задается более 0,025 с для переменного и высокочастотного напряжения или более 0,0005 с для постоянного напряжения. Частота импульсов не менее 1 Гц. После этого включают аттестуемый электроискровой дефектоскоп и прикладывают напряжение 3 кВ для электроискровых дефектоскопов переменного и высокочастотного напряжения или 5 кВ для электроискровых дефектоскопов постоянного напряжения, или минимальное испытательное напряжение, если оно больше указанных значений [ГОСТ Р 54813-2011. Кабели, провода и шнуры электрические. Электроискровой метод контроля.].
В режиме имитации пробоев изоляции кабельного изделия активным является уровень логической единицы. Этот сигнал от задающего генератора 1 (ЗГ) подают на входы транзистора 2, где он усиливается по току, а затем поступает на управляющие входы высоковольтного реле 3 (BP). При появлении логической единицы на входах высоковольтного реле 3 (BP) выходы устройства замыкаются, вследствие чего высокое испытательное напряжение прикладывается к выходам газового разрядника 8 (ГР). В газовом разряднике 8 (ГР) происходит серия дуговых пробоев, которые регистрируются автоматикой аттестуемого электроискрового дефектоскопа.
При подаче логического нуля с выходов задающего генератора 1 (ЗГ) на транзистор 2 на управляющих входах высоковольтного реле 3 (BP) также устанавливается уровень логического нуля и выходы высоковольтного реле 3 (BP) размыкаются. Пробои в газовом разряднике 8 (ГР) прекращаются.
При подаче логического нуля на транзистор 2 ток в цепи стока не уменьшается мгновенно и, протекая через переход сток-исток, обладающим в данный момент высоким сопротивлением, может вывести из строя транзистор 2. Для предотвращения данной ситуации в цепи стока предусмотрен диод 4, через который протекает ток стока при закрытии перехода сток-исток.
Для аттестации электроискрового дефектоскопа необходимо подать 20 или более прямоугольных импульсов на входы высоковольтного реле 3 (BP) и, соответственно, дефектоскоп должен зарегистрировать 20 или более пробоев, что свидетельствует о его пригодности к эксплуатации и, соответственно, положительных результатах аттестации.
При проведении аттестации электроискрового дефектоскопа в режиме имитации уменьшения толщины изоляции кабельного изделия первый 9 и второй 12 зажимы «крокодил» подключают к высоковольтному электроду и к заземленной проводящей части дефектоскопа. Соединяя подвижный контакт однополюсного переключателя 10 с его вторым неподвижным контактом, первый выход высоковольтного реле 3 (BP) через переключатель 10 подключается ко второму выводу третьего конденсатора 7. Ключ 11 замкнут.
Емкость второго конденсатора 6 выбирают по формуле:
Figure 00000001
где С6 - емкость второго конденсатора 6, Ф;
Сn - погонная емкость провода, контролируемого аттестуемым электроискровым дефектоскопом, Ф/м;
Figure 00000002
- длина высоковольтного электрода аттестуемого электроискрового дефектоскопа, м.
Емкость третьего конденсатора 7 выбирают согласно формуле:
С7
где С7 - емкость третьего конденсатора 7, Ф;
Δ - минимальное изменение емкости, при котором контролируемый провод считается дефектным, Ф.
После того, как схема собрана, включают аттестуемый электроискровой дефектоскоп с уровнем испытательного напряжения, равным уровню испытательного напряжения в режиме имитации пробоев.
В этом режиме активным считается уровень логической единицы. При логической единице на выходах задающего генератора 1 (ЗГ) через входы высоковольтного реле 3 (BP) протекает ток и выходы высоковольтного реле 3 (BP) замыкаются. После замыкания выходов высоковольтного реле 3 (BP) второй конденсатор 6 и третий конденсатор 7 соединяются параллельно и суммарная емкость конденсаторов в цепи составляет:
CΣ67,
где CΣ - суммарная емкость конденсаторов в цепи, Ф.
При логическом нуле на выходах задающего генератора 1 (ЗГ) через входы высоковольтного реле 3 (BP) не протекает ток и выходы высоковольтного реле 3 (BP) остаются не замкнутыми. В данном случае суммарная емкость конденсаторов в цепи становится равной емкости второго конденсатора 6.
В режиме имитации уменьшения толщины изоляции кабельного изделия суммарная емкость конденсаторов в цепи равна емкости бездефектного провода при появлении на выходах задающего генератора 1 (ЗГ) уровня логической единицы, при появлении уровня логического нуля - емкости провода с дефектом. Для аттестации электроискрового дефектоскопа задающий генератор 1 (ЗГ) должен сгенерировать определенное число импульсов, но не меньше 20. Аттестуемый электроискровой дефектоскоп должен зарегистрировать отклонения суммарной емкости. Если количество зарегистрированных отклонений равно числу импульсов, сгенерированных задающим генератором 1 (ЗГ), то электроискровой дефектоскоп является пригодным к эксплуатации и, соответственно, результаты аттестации являются положительными.
Для проведения аттестации электроискрового дефектоскопа в режиме имитации увеличения толщины изоляции кабельного изделия первый зажим «крокодил» 9 подключают к высоковольтному электроду, а второй зажим «крокодил» 12 - к заземленной проводящей части аттестуемого электроискрового дефектоскопа. Соединяя подвижный контакт однополюсного переключателя 10 с его третьим неподвижным контактом, первый выход высоковольтного реле 3 (BP) через переключатель 10 подключается к точке соединения первого 5 и второго 6 конденсаторов. Ключ 11 разомкнут.
Емкость первого конденсатора 5 определяют с учетом выбранного пользователем параметра Δ по формуле:
Figure 00000003
,
где С5 - емкость первого конденсатора 5, Ф.
После того, как схема собрана, включают аттестуемый электроискровой дефектоскоп с уровнем испытательного напряжения, равным уровню испытательного напряжения в режиме имитации пробоев.
В режиме имитации увеличения толщины изоляции кабельного изделия активным считается уровень логического нуля. При логическом нуле на выходах задающего генератора 1 (ЗГ) через входы высоковольтного реле 3 (BP) не протекает ток и выходы высоковольтного реле 3 (BP) остаются не замкнутыми. В данном случае первый 5 и второй 6 конденсаторы соединены последовательно и суммарная емкость конденсаторов в цепи составляет:
Figure 00000004
.
При логической единице на выходах задающего генератора 1 (ЗГ) через входы высоковольтного реле 3 (BP) протекает ток и выходы высоковольтного реле 3 (BP) замыкаются. После замыкания выходов высоковольтного реле 3 (BP) первый конденсатор 5 шунтируется, и суммарная емкость конденсаторов СΣ, в цепи становится равной емкости второго конденсатора 6.
В данном режиме суммарная емкость конденсаторов в цепи равна емкости бездефектного провода при появлении на выходах задающего генератора 1 (ЗГ) уровня логического нуля, при появлении уровня логической единицы - емкости провода с дефектом. Для аттестации электроискрового дефектоскопа задающий генератор 1 (ЗГ) генерирует не менее 20 импульсов. Аттестуемый электроискровой дефектоскоп должен зарегистрировать отклонения суммарной емкости. Количество зарегистрированных отклонений должно быть равно числу импульсов, сгенерированных задающим генератором 1 (ЗГ). Если данное условие выполняется, то электроискровой дефектоскоп является пригодным к эксплуатации и, соответственно, результаты аттестации являются положительными.
Длительность импульсов активного уровня напряжения задающего генератора 1 (ЗГ) для режимов имитации увеличения толщины изоляции и имитации уменьшения толщины изоляции выбирается исходя из формулы:
Figure 00000005
где V - максимальная скорость работы технологической линии для производства кабельных изделий, на которой будет установлен аттестуемый электроискровой дефектоскоп, м/с.
Период повторения импульсов активного уровня напряжения выбирается произвольным.
Аттестацию электроискровых дефектоскопов с использованием предложенного устройства необходимо проводить не реже, чем раз в год и после устранения любых неполадок оборудования или после проведения основных регулировок оборудования.

Claims (1)

  1. Устройство для аттестации электроискровых дефектоскопов изоляции кабельных изделий, отличающееся тем, что задающий генератор подключен к затвору и истоку полевого транзистора, к стоку которого подключен первый вход высоковольтного реле, второй вход которого подключен к источнику питания, к которому подключен катод полупроводникового диода, анод которого соединен со стоком полевого транзистора, при этом первый и второй конденсаторы соединены последовательно, второй вывод первого конденсатора соединен с истоком полевого транзистора, образуя общую точку заземления, а второй вывод второго конденсатора соединен с выводом третьего конденсатора и выводом газового разрядника, место соединения которых выполнено с возможностью подключения к высоковольтному электроду дефектоскопа, причем первый выход высоковольтного реле подключен к подвижному контакту трехпозиционного однополюсного переключателя, первый неподвижный контакт которого соединен со вторым выводом газового разрядника, второй неподвижный контакт однополюсного переключателя соединен с выводом третьего конденсатора, третий неподвижный контакт однополюсного переключателя подключен к точке соединения первого и второго конденсаторов, при этом параллельно первому конденсатору подсоединен ключ, второй вывод высоковольтного разрядника соединен с общей точкой заземления и выполнен с возможностью подключения к заземленной части дефектоскопа.
RU2017137868A 2017-10-30 2017-10-30 Устройство для аттестации электроискровых дефектоскопов изоляции кабельных изделий RU2681434C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2017137868A RU2681434C1 (ru) 2017-10-30 2017-10-30 Устройство для аттестации электроискровых дефектоскопов изоляции кабельных изделий

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2017137868A RU2681434C1 (ru) 2017-10-30 2017-10-30 Устройство для аттестации электроискровых дефектоскопов изоляции кабельных изделий

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2681434C1 true RU2681434C1 (ru) 2019-03-06

Family

ID=65632854

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2017137868A RU2681434C1 (ru) 2017-10-30 2017-10-30 Устройство для аттестации электроискровых дефектоскопов изоляции кабельных изделий

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2681434C1 (ru)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU966632A1 (ru) * 1980-11-10 1982-10-15 Рижское высшее военное авиационное инженерное училище им.Якова Алксниса Устройство дл автоматизированной поверки приборов
CA2267005C (en) * 1998-03-27 2010-09-14 Eaton Corporation Test circuit for verifying operation of an arc fault detector
CN104502876A (zh) * 2014-12-12 2015-04-08 国家电网公司 一种高压电缆附件高频局部放带电检测的校验方法
CN104898081A (zh) * 2015-06-05 2015-09-09 北京兴迪仪器有限责任公司 一种交流高压电缆分布式局部放电检测系统的现场校验方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU966632A1 (ru) * 1980-11-10 1982-10-15 Рижское высшее военное авиационное инженерное училище им.Якова Алксниса Устройство дл автоматизированной поверки приборов
CA2267005C (en) * 1998-03-27 2010-09-14 Eaton Corporation Test circuit for verifying operation of an arc fault detector
CN104502876A (zh) * 2014-12-12 2015-04-08 国家电网公司 一种高压电缆附件高频局部放带电检测的校验方法
CN104898081A (zh) * 2015-06-05 2015-09-09 北京兴迪仪器有限责任公司 一种交流高压电缆分布式局部放电检测系统的现场校验方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
ГОСТ Р 54813-2011. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101865939B (zh) 一种快速暂态过电压的生成装置
CN110736905A (zh) 一种110kV XLPE高压电缆绝缘老化评估方法
Qi et al. Severity diagnosis and assessment of the partial discharge provoked by high-voltage electrode protrusion on GIS insulator surface
Ye et al. Simulation of partial discharges under influence of impulse voltage
JP2011215145A (ja) 放電試験器を用いた欠陥シミュレーション方法および放電試験器
Chang et al. Assessment of creeping discharge initiated by metal particles on the silicone rubber/XLPE interface in cable joints
JP2017096831A (ja) 電力ケーブルの絶縁劣化診断方法、および絶縁劣化診断装置
RU2681434C1 (ru) Устройство для аттестации электроискровых дефектоскопов изоляции кабельных изделий
Andrea et al. Arc fault model of conductance. Application to the UL1699 tests modeling
Wang et al. Enhanced distinction of surface and cavity discharges by trapezoid-based arbitrary voltage waveforms
CN106771902B (zh) 一种gis电晕放电程度的确定方法
Negm et al. Investigation of partial discharge frequency dependence in distribution system cables
Forssén et al. Influence of cavity size and cavity location on partial discharge frequency dependence [polymer insulation]
CN205176205U (zh) 一种多类型局部放电模型装置
Xia et al. Applying S-transform and SVM to evaluate insulator's pollution condition based on leakage current
Ghosh et al. Investigation on the Effect of Simulated Standard and Non-Standard Lightning Impulse Voltage on the Conventional Oil-Paper Insulation
Singhasivanon et al. The classification of regular and defected low voltage XLPE cable by using polarization and depolarization current method
Gudzius et al. Investigation of influence of short duration overvoltage disturbances on partial discharge characteristics
Nikjoo et al. Effect of high voltage impulses on surface discharge characteristics of polyethylene
Pihera et al. Pulse sequence analysis of corona discharge at DC voltage
US1652538A (en) Testing apparatus
Nguyen et al. Cavity discharge behaviors under trapezoid-based voltage at very low frequency
Wang et al. The influence of relative humidity on partial discharge and endurance features under short repetitive impulsive voltages
CN114137281B (zh) 基于电导电流的空间电荷评估方法
WO2019003411A1 (ja) インパルス電圧試験装置

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20201031