RU2626404C1 - Способ определения высотного профиля электронной концентрации неоднородной ионосферы - Google Patents

Способ определения высотного профиля электронной концентрации неоднородной ионосферы Download PDF

Info

Publication number
RU2626404C1
RU2626404C1 RU2016128443A RU2016128443A RU2626404C1 RU 2626404 C1 RU2626404 C1 RU 2626404C1 RU 2016128443 A RU2016128443 A RU 2016128443A RU 2016128443 A RU2016128443 A RU 2016128443A RU 2626404 C1 RU2626404 C1 RU 2626404C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
ionosphere
small
electron concentration
scale
average
Prior art date
Application number
RU2016128443A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Петрович Пашинцев
Владимир Михайлович Смирнов
Александр Федорович Чипига
Владимир Анатольевич Цимбал
Вячеслав Анатольевич Шевченко
Елена Владимировна Смирнова
Владимир Иванович Стрекозов
Станислав Андреевич Коваль
Алексей Владимирович Ляхов
Марк Владимирович Песков
Данил Павлович Киселев
Original Assignee
федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Северо-Кавказский федеральный университет"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Северо-Кавказский федеральный университет" filed Critical федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Северо-Кавказский федеральный университет"
Priority to RU2016128443A priority Critical patent/RU2626404C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2626404C1 publication Critical patent/RU2626404C1/ru

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S1/00—Beacons or beacon systems transmitting signals having a characteristic or characteristics capable of being detected by non-directional receivers and defining directions, positions, or position lines fixed relatively to the beacon transmitters; Receivers co-operating therewith
    • G01S1/02—Beacons or beacon systems transmitting signals having a characteristic or characteristics capable of being detected by non-directional receivers and defining directions, positions, or position lines fixed relatively to the beacon transmitters; Receivers co-operating therewith using radio waves
    • G01S1/08—Systems for determining direction or position line
    • G01S1/20—Systems for determining direction or position line using a comparison of transit time of synchronised signals transmitted from non-directional antennas or antenna systems spaced apart, i.e. path-difference systems
    • G01S1/30—Systems for determining direction or position line using a comparison of transit time of synchronised signals transmitted from non-directional antennas or antenna systems spaced apart, i.e. path-difference systems the synchronised signals being continuous waves or intermittent trains of continuous waves, the intermittency not being for the purpose of determining direction or position line and the transit times being compared by measuring the phase difference
    • G01S1/32—Systems in which the signals received, with or without amplification, or signals derived therefrom, are compared in phase directly contains no documents
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S13/00—Systems using the reflection or reradiation of radio waves, e.g. radar systems; Analogous systems using reflection or reradiation of waves whose nature or wavelength is irrelevant or unspecified
    • G01S13/88—Radar or analogous systems specially adapted for specific applications
    • G01S13/95—Radar or analogous systems specially adapted for specific applications for meteorological use
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01W—METEOROLOGY
    • G01W1/00—Meteorology
    • G01W1/08—Adaptations of balloons, missiles, or aircraft for meteorological purposes; Radiosondes
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02A—TECHNOLOGIES FOR ADAPTATION TO CLIMATE CHANGE
    • Y02A90/00—Technologies having an indirect contribution to adaptation to climate change
    • Y02A90/10—Information and communication technologies [ICT] supporting adaptation to climate change, e.g. for weather forecasting or climate simulation

Landscapes

  • Position Fixing By Use Of Radio Waves (AREA)

Abstract

Изобретение относится к радиотехнике и геофизике, а именно к средствам мониторинга состояния ионосферы и измерения ее параметров с использованием космических аппаратов спутниковых радионавигационных систем. Достигаемый технический результат - обеспечение возможности одновременного определения высотных профилей средней электронной концентрации
Figure 00000039
и среднеквадратического отклонения мелкомасштабных флуктуаций электронной концентрации
Figure 00000040
в неоднородной ионосфере. Сущность изобретения: по принятым радиосигналам от навигационных спутников на двух когерентных частотах ƒ1 и ƒ2 определяется полное электронное содержание NT в неоднородной ионосфере, вычисляется его среднее значение
Figure 00000041
и определяется высотный профиль средней электронной концентрации
Figure 00000042
ионосферы путем применения итерационной процедуры решения обратной задачи, потом вычисляется среднеквадратическое отклонение мелкомасштабных флуктуаций полного электронного содержания
Figure 00000043
и интенсивность неоднородностей βи ионосферы, и затем определяется высотный профиль среднеквадратического отклонения мелкомасштабных флуктуаций электронной концентрации

Description

Изобретение относится к радиотехнике и геофизике, а именно к средствам мониторинга состояния ионосферы и измерения ее параметров с использованием двухчастотного приемника спутниковых навигационных систем. Подобные средства мониторинга и определения параметров ионосферы могут использоваться, например, для планирования сеансов коротковолновой радиосвязи на оптимальной рабочей частоте, а также для прогнозирования показателей качества систем спутниковой связи и навигации в условиях ионосферных возмущений.
Известен способ определения параметров ионосферы и устройство для его осуществления (Патент РФ №2421753 - [1]). Последовательность действий этого способа представлена на фиг. 1 и включает в себя:
1) прием радиосигналов от навигационных спутников на двух когерентных частотах ƒ1 и ƒ2;
2) определение псевдодальностей до навигационного спутника Р1 и Р2, измеренных на частотах ƒ1 и ƒ2, и соответствующих значений фаз ϕ1 и ϕ2 принятых радиосигналов;
3) определение разности псевдодальностей ΔР1,2 по комбинации выполненных измерений псевдодальностей до навигационного спутника Р1 и Р2 и соответствующих значений фаз ϕ1 и ϕ2 принятых радиосигналов;
4) определение полного электронного содержания ионосферы NT вдоль трассы «спутник-наземный пункт»;
5) определение высотного профиля электронной концентрации ионосферы N(z) путем применения итерационной процедуры решения обратной задачи, основанной на использовании метода сопряженных градиентов и априорной информации о фоновом состоянии ионосферы. На фиг. 1 представлена последовательность действий известного способа [1].
Недостатком известного способа [1] являются его ограничения при определении высотного профиля электронной концентрации N(z) в условиях возмущений ионосферы, сопровождаемых образованием мелкомасштабных неоднородностей электронной концентрации ΔN(z). В этом случае высотный профиль электронной концентрации ионосферы N(z) становится случайной величиной, описываемой суммой регулярной и флуктуационной составляющих
Figure 00000001
. Следовательно, полное электронное содержание ионосферы NT при ее возмущениях также будет представлять собой сумму
Figure 00000002
его среднего значения
Figure 00000003
и мелкомасштабных флуктуаций ΔNT~ΔN(z). Последние характеризуются величиной среднеквадратического отклонения мелкомасштабных флуктуаций полного электронного содержания ионосферы
Figure 00000004
, которая определяется высотным профилем среднеквадратического отклонения мелкомасштабных флуктуаций электронной концентрации σΔN(z) в неоднородной ионосфере.
Изменения во времени мелкомасштабных флуктуаций полного электронного содержания ионосферы ΔNT~ΔN(z) описываются характерным (средним) периодом флуктуаций
Figure 00000005
, который может составлять от сотых долей до единиц секунд. Он намного меньше периода
Figure 00000006
флуктуаций среднего значения полного электронного содержания ионосферы
Figure 00000003
, обусловленных ее суточными вариациями или крупномасштабными неоднородностями электронной концентрации (величина
Figure 00000006
обычно составляет несколько часов).
Очевидно, что реализованный в способе [1] алгоритм определения высотного профиля электронной концентрации ионосферы N(z) применим только при условии tф>>tp, когда период tф изменений ее полного электронного содержания
Figure 00000007
во времени превосходит время решения tp обратной задачи определения высотного профиля электронной концентрации ионосферы N(z). При этом время решения tp составляет десятки секунд из-за использования итерационной процедуры решения обратной задачи.
Отсюда следует, что в условиях ионосферных возмущений с помощью данного способа можно определить только высотный профиль средней электронной концентрации ионосферы
Figure 00000008
, который практически не изменяется в течение времени решения tp обратной задачи, что обусловлено соотношением
Figure 00000009
. Определить с помощью известного способа [1] высотный профиль среднеквадратического отклонения мелкомасштабных флуктуаций электронной концентрации
Figure 00000010
в неоднородной ионосфере нельзя, поскольку характерный период их флуктуаций меньше времени решения обратной задачи
Figure 00000011
.
Таким образом, недостатком известного способа [1] является отсутствие возможности определения высотного профиля среднеквадратического отклонения мелкомасштабных флуктуаций электронной концентрации σΔN(z) в неоднородной ионосфере. Знание высотного профиля средней электронной концентрации ионосферы
Figure 00000012
и высотного профиля среднеквадратического отклонения мелкомасштабных флуктуаций электронной концентрации σΔN(z) необходимо для расчета оптимальных рабочих частот при планировании сеансов коротковолновой радиосвязи в условиях возмущений (диффузности) ионосферы.
Известно (Черенкова Л.Е., Чернышов О.В. Распространение радиоволн. - М.: Радио и связь, 1984. - 272 с.), что отношение высотного профиля среднеквадратического отклонения мелкомасштабных флуктуаций электронной концентрации σΔN(z) к высотному профилю средней электронной концентрации ионосферы
Figure 00000012
характеризует интенсивность мелкомасштабных неоднородностей электронной концентрации ионосферы βи, которая на всех ее высотах z остается практически постоянной:
Figure 00000013
. Поэтому существует возможность определения высотного профиля среднеквадратического отклонения мелкомасштабных флуктуаций электронной концентрации σΔN(z) в неоднородной ионосфере согласно выражению
Figure 00000014
на основе данных об интенсивности мелкомасштабных неоднородностей электронной концентрации ионосферы βи и высотном профиле средней электронной концентрации
Figure 00000012
неоднородной ионосферы.
Наиболее близким к предлагаемому является способ, реализованный в устройстве двухчастотного измерения интенсивности неоднородностей ионосферы (Патент РФ на полезную модель №108150, опубликованный 10.09.2011 - [2]). В устройстве [2] на основе вычисления величин полного электронного содержания NT ионосферы, его среднего значения
Figure 00000015
и среднеквадратического отклонения мелкомасштабных флуктуаций полного электронного содержания ионосферы
Figure 00000016
определяется значение интенсивности мелкомасштабных неоднородностей электронной концентрации ионосферы βи.
Недостаток устройства [2] заключается в том, что оно определяет только величину интенсивности мелкомасштабных неоднородностей электронной концентрации ионосферы βи, но не позволяет определить высотный профиль средней электронной концентрации ионосферы
Figure 00000012
и среднеквадратического отклонения мелкомасштабных флуктуаций электронной концентрации σΔN(z) относительно высотного профиля средней электронной концентрации ионосферы
Figure 00000012
.
Устройство [2] работает следующим образом. Приемная антенна принимает электромагнитные колебания, излучаемые навигационными спутниками. С выхода приемной антенны напряжение uВХ(t) поступает на вход двухчастотного приемника, предназначенного для усиления и селекции принятых сигналов. С выхода двухчастотного приемника на вход аналого-цифрового процессора первичной обработки подается вектор оценки цифровых сигналов y(tj), состоящий из сигналов j=1…n видимых навигационных спутников. Опорный генератор и синтезатор частот формирует номиналы рабочих частот ƒ1 и ƒ2 на входы двухчастотного приемника, аналого-цифрового процессора первичной обработки и блока вычисления полного электронного содержания NT ионосферы. В аналого-цифровом процессоре первичной обработки реализованы схемы поиска и слежения за параметрами сигнала. С выхода аналого-цифрового процессора оценки фазового времени распространения сигнала на частотах ƒ1 и ƒ2 поступают на вход блока вычисления фазового пути сигнала для вычисления псевдодальностей до навигационного спутника Р1 и Р2. С выхода блока вычисления фазового пути сигнала значения псевдодальностей до навигационного спутника Р1 и Р2 поступают на вход блока вычисления полного электронного содержания NT ионосферы. Далее с выхода блока вычисления полного электронного содержания ионосферы оценки полного электронного содержания NT поступают на вход блока вычисления среднеквадратического отклонения мелкомасштабных флуктуаций полного электронного содержания ионосферы
Figure 00000017
и на вход блока вычисления среднего значения полного электронного содержания ионосферы
Figure 00000018
. С выходов блоков вычисления среднеквадратического отклонения мелкомасштабных флуктуаций полного электронного содержания ионосферы
Figure 00000019
и среднего значения полного электронного содержания ионосферы значения
Figure 00000018
поступают на входы блока вычисления интенсивности мелкомасштабных неоднородностей электронной концентрации ионосферы βи. В этом блоке определяется значение интенсивности мелкомасштабных неоднородностей электронной концентрации ионосферы согласно выражению
Figure 00000020
, где zэ - эквивалентная толщина ионосферы,
Figure 00000021
- характерный размер мелкомасштабных неоднородностей. Рассчитанное значение интенсивности мелкомасштабных неоднородностей электронной концентрации ионосферы βи отображается в устройстве вывода информации.
Техническим результатом настоящего изобретения является обеспечение возможности одновременного определения высотных профилей средней электронной концентрации ионосферы
Figure 00000012
и среднеквадратического отклонения мелкомасштабных флуктуаций электронной концентрации σΔN(z) в неоднородной ионосфере.
Технический результат достигается благодаря тому, что на основе приема радиосигналов от навигационных спутников на двух когерентных частотах ƒ1 и ƒ2 и определения полного электронного содержания NT в неоднородной ионосфере сначала вычисляется его среднее значение
Figure 00000018
и определяется высотный профиль средней электронной концентрации
Figure 00000012
ионосферы путем применения итерационной процедуры решения обратной задачи, потом вычисляется среднеквадратическое отклонение мелкомасштабных флуктуаций полного электронного содержания ионосферы
Figure 00000017
, и интенсивность мелкомасштабных неоднородностей электронной концентрации ионосферы
Figure 00000022
, и затем определяется высотный профиль среднеквадратического отклонения мелкомасштабных флуктуаций электронной концентрации
Figure 00000023
в неоднородной ионосфере.
В предлагаемом способе определения высотного профиля электронной концентрации неоднородной ионосферы используются действия (из которых действия 1-4 и 6 аналогичны соответствующим пунктам патента [1]), представленные на фиг. 2, включающие в себя:
1) прием радиосигналов от навигационных спутников на двух когерентных частотах ƒ1 и ƒ2;
2) определение псевдодальностей до навигационного спутника Р1 и Р2, измеренных соответственно на частотах ƒ1 и ƒ2, и соответствующих значений фаз ϕ1 и ϕ2 принятых радиосигналов;
3) определение разности псевдодальностей ΔР1,2 по комбинации выполненных измерений псевдодальностей до навигационного спутника Р1 и Р2 и соответствующих значений фаз ϕ1 и ϕ2 принятых радиосигналов;
4) определение полного электронного содержания ионосферы NT вдоль трассы «спутник-наземный пункт»;
5) вычисление среднего значения полного электронного содержания ионосферы
Figure 00000024
вдоль трассы «спутник-наземный пункт»;
6) определение высотного профиля средней электронной концентрации ионосферы
Figure 00000012
путем применения итерационной процедуры решения обратной задачи, основанной на использовании метода сопряженных градиентов и априорной информации о фоновом состоянии ионосферы;
7) вычисление среднеквадратического отклонения мелкомасштабных флуктуаций полного электронного содержания ионосферы
Figure 00000019
;
8) вычисление интенсивности мелкомасштабных неоднородностей электронной концентрации ионосферы βи;
9) определение высотного профиля среднеквадратического отклонения мелкомасштабных флуктуаций электронной концентрации ионосферы σΔN(z) в неоднородной ионосфере.
В предлагаемом способе определение разности псевдодальностей ΔP1,2 по комбинации выполненных измерений псевдодальностей до навигационного спутника P1, Р2 и значений фаз ϕ1 и ϕ2 принятых радиосигналов производится следующим образом [1]: в каждый i-й момент времени после определения псевдодальностей до навигационного спутника Р1(i) и Р2(i), измеренных соответственно на частотах ƒ1 и ƒ2, и соответствующих значений фаз ϕ1(i), ϕ2(i) принятых радиосигналов, производится определение разности псевдодальностей ΔР1,2 по формуле:
Figure 00000025
где М - количество временных измерений, принятых в обработку; λ1, λ2 - длина волны излучения соответственно на частотах ƒ1 и ƒ2.
Определение полного электронного содержания ионосферы NT вдоль трассы «спутник-наземный пункт» осуществляется по формуле [1]:
Figure 00000026
где δ - погрешность фазовых измерений (реально величина погрешности в линейной мере составляет единицы миллиметров).
Рассчитанные значения полного электронного содержания ионосферы NT(i) используются для вычисления среднего значения полного электронного содержания ионосферы:
Figure 00000027
.
По результатам вычисления разности псевдодальностей ΔР1,2 определяется высотный профиль средней электронной концентрации ионосферы
Figure 00000012
путем применения известной [1] итерационной процедуры решения обратной задачи, основанной на использовании метода сопряженных градиентов и априорной информации о фоновом состоянии ионосферы.
Среднеквадратическое отклонение мелкомасштабных флуктуаций полного электронного содержания ионосферы рассчитывается по формуле:
Figure 00000028
Вычисление интенсивности мелкомасштабных неоднородностей электронной концентрации ионосферы производится согласно выражению [2]
Figure 00000029
при заданных значениях эквивалентной толщины ионосферы zэ и характерного размера мелкомасштабных неоднородностей
Figure 00000030
.
Данные о высотном профиле средней электронной концентрации ионосферы
Figure 00000012
и интенсивности мелкомасштабных неоднородностей электронной концентрации ионосферы βи используются для определения высотного профиля среднеквадратического отклонения мелкомасштабных флуктуаций электронной концентрации σΔN(z) в неоднородной ионосфере согласно выражению
Figure 00000031
.
Таким образом, благодаря заявленной совокупности существенных признаков, реализованной в разработанном алгоритме (фиг. 2), достигается технический результат изобретения, заключающийся в возможности одновременного определения высотных профилей средней электронной концентрации
Figure 00000012
и среднеквадратического отклонения мелкомасштабных флуктуаций электронной концентрации σΔN(z) в неоднородной ионосфере.

Claims (1)

  1. Способ определения параметров ионосферы, заключающийся в том, что принимают радиосигналы от навигационных спутников на двух когерентных частотах
    Figure 00000032
    и
    Figure 00000033
    ; определяют псевдодальности до навигационного спутника Р1 и Р2, измеренные соответственно на частотах
    Figure 00000034
    и
    Figure 00000035
    , и соответствующие значения фаз ϕ1 и ϕ2 принятых радиосигналов; определяют разности псевдодальностей ΔР1,2 по комбинации выполненных измерений псевдодальностей до навигационного спутника Р1 и Р2 и соответствующих значений фаз ϕ1 и ϕ2 принятых радиосигналов; определяют полное электронное содержание ионосферы NT вдоль трассы «спутник-наземный пункт»; вычисляют среднее значения полного электронного содержания ионосферы
    Figure 00000036
    вдоль трассы «спутник-наземный пункт»; определяют высотный профиль средней электронной концентрации ионосферы
    Figure 00000037
    путем применения итерационной процедуры решения обратной задачи, основанной на использовании метода сопряженных градиентов и априорной информации о фоновом состоянии ионосферы; вычисляют среднеквадратическое отклонение мелкомасштабных флуктуаций полного электронного содержания ионосферы
    Figure 00000038
    ; вычисляют интенсивность мелкомасштабных неоднородностей электронной концентрации ионосферы βи и определяют высотный профиль среднеквадратического отклонения мелкомасштабных флуктуаций электронной концентрации ионосферы σΔN(z) в неоднородной ионосфере.
RU2016128443A 2016-07-12 2016-07-12 Способ определения высотного профиля электронной концентрации неоднородной ионосферы RU2626404C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2016128443A RU2626404C1 (ru) 2016-07-12 2016-07-12 Способ определения высотного профиля электронной концентрации неоднородной ионосферы

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2016128443A RU2626404C1 (ru) 2016-07-12 2016-07-12 Способ определения высотного профиля электронной концентрации неоднородной ионосферы

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2626404C1 true RU2626404C1 (ru) 2017-07-27

Family

ID=59495901

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2016128443A RU2626404C1 (ru) 2016-07-12 2016-07-12 Способ определения высотного профиля электронной концентрации неоднородной ионосферы

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2626404C1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110275183A (zh) * 2019-06-18 2019-09-24 中国科学院国家空间科学中心 基于电离层电子密度的gnss掩星电离层残差修正方法及系统

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2018872C1 (ru) * 1990-06-18 1994-08-30 Харьковский политехнический институт Способ определения электронной концентрации в заданной области ионосферы и устройство для его осуществления
JPH07260918A (ja) * 1994-03-26 1995-10-13 Kenichi Kawamata 電波伝搬経路のフォローによる電離層及び大気ガス層の電波屈折率の測定と物標と観測点との間の相対位置の測定
US20030142011A1 (en) * 2001-11-12 2003-07-31 Telstra Corporation Limited Surface wave radar
RU108150U1 (ru) * 2011-04-14 2011-09-10 Межрегиональное общественное учреждение "Институт инженерной физики" Устройство двухчастотного измерения интенсивности неоднородностей ионосферы
US8089392B2 (en) * 2007-06-15 2012-01-03 Qinetiq Limited Radar coordinate registration
RU2529355C2 (ru) * 2013-01-09 2014-09-27 федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Научно-исследовательский радиофизический институт" Способ определения пространственного распределения ионосферных неоднородностей
RU154138U1 (ru) * 2015-03-10 2015-08-20 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Северо-Кавказский федеральный университет" Устройство обнаружения ионосферных образований с мелкомасштабными неоднородностями

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2018872C1 (ru) * 1990-06-18 1994-08-30 Харьковский политехнический институт Способ определения электронной концентрации в заданной области ионосферы и устройство для его осуществления
JPH07260918A (ja) * 1994-03-26 1995-10-13 Kenichi Kawamata 電波伝搬経路のフォローによる電離層及び大気ガス層の電波屈折率の測定と物標と観測点との間の相対位置の測定
US20030142011A1 (en) * 2001-11-12 2003-07-31 Telstra Corporation Limited Surface wave radar
US8089392B2 (en) * 2007-06-15 2012-01-03 Qinetiq Limited Radar coordinate registration
RU108150U1 (ru) * 2011-04-14 2011-09-10 Межрегиональное общественное учреждение "Институт инженерной физики" Устройство двухчастотного измерения интенсивности неоднородностей ионосферы
RU2529355C2 (ru) * 2013-01-09 2014-09-27 федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Научно-исследовательский радиофизический институт" Способ определения пространственного распределения ионосферных неоднородностей
RU154138U1 (ru) * 2015-03-10 2015-08-20 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Северо-Кавказский федеральный университет" Устройство обнаружения ионосферных образований с мелкомасштабными неоднородностями

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110275183A (zh) * 2019-06-18 2019-09-24 中国科学院国家空间科学中心 基于电离层电子密度的gnss掩星电离层残差修正方法及系统
CN110275183B (zh) * 2019-06-18 2021-03-09 中国科学院国家空间科学中心 基于电离层电子密度的gnss掩星电离层残差修正方法及系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2565386C2 (ru) Способ, устройство и система для определения позиции объекта, имеющего приемник глобальной навигационной спутниковой системы, посредством обработки неразностных данных, подобных измерениям фазы несущей, и внешних данных, подобных ионосферным данным
JP5305416B2 (ja) 衛星航法システムにおける電離圏異常を検出する方法及びその装置。
US20150362596A1 (en) State detecting method, correction value processing device, positioning system, and state detection program
US9389317B2 (en) Method and apparatus for determining position in a global navigation satellite system
EP2738574A1 (en) Systems and methods for monitoring broadband radio frequency interference
RU108150U1 (ru) Устройство двухчастотного измерения интенсивности неоднородностей ионосферы
US20120314733A1 (en) Method of estimating pseudorange, gnss receiving apparatus, and mobile terminal
RU2421753C1 (ru) Способ определения параметров ионосферы и устройство для его осуществления
RU93995U1 (ru) Аппаратно-программный комплекс ионосферного мониторинга
Strangeways Determining scintillation effects on GPS receivers
EP4242693A1 (en) Method for estimating multipath error of pseudo-range measurement value, and positioning method using same
RU2626404C1 (ru) Способ определения высотного профиля электронной концентрации неоднородной ионосферы
Zhang et al. Assessment of the effect of GNSS sampling rate on GNSS/INS relative accuracy on different time scales for precision measurements
Hong et al. Efficient GPS receiver DCB estimation for ionosphere modeling using satellite-receiver geometry changes
Park et al. Performance of ionospheric maps in support of long baseline GNSS kinematic positioning at low latitudes
Petit et al. Use of IGS products in TAI applications
RU110841U1 (ru) Устройство измерения интенсивности неоднородностей ионосферы
RU169567U1 (ru) Устройство измерения высотного распределения электронной концентрации неоднородной ионосферы
RU2523912C1 (ru) Устройство пеленгации исскуственных ионосферных образований
Strangeways et al. Prediction and mitigation of ionospheric scintillation and tracking jitter for GNSS positioning
RU187712U1 (ru) Устройство для определения ошибки слежения за временем прихода навигационного радиосигнала при его распространении через искусственное ионосферное образование
RU154138U1 (ru) Устройство обнаружения ионосферных образований с мелкомасштабными неоднородностями
US10877159B2 (en) Method and system for satellite signal processing
Cai et al. Geopotential determination based on precise point positioning time comparison: A case study using simulated observation
Zhu et al. A formal dynamic stochastic model for single-frequency precise point positioning constrained by global ionosphere map