RU2589525C1 - Способ дистанционного измерения температуры - Google Patents

Способ дистанционного измерения температуры Download PDF

Info

Publication number
RU2589525C1
RU2589525C1 RU2015115848/28A RU2015115848A RU2589525C1 RU 2589525 C1 RU2589525 C1 RU 2589525C1 RU 2015115848/28 A RU2015115848/28 A RU 2015115848/28A RU 2015115848 A RU2015115848 A RU 2015115848A RU 2589525 C1 RU2589525 C1 RU 2589525C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
temperature
light
brightness
fixed
laser diode
Prior art date
Application number
RU2015115848/28A
Other languages
English (en)
Inventor
Анатолий Борисович Власов
Михаил Михайлович Кореннов
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Мурманский государственный технический университет" (ФГБОУ ВПО "МГТУ")
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Мурманский государственный технический университет" (ФГБОУ ВПО "МГТУ") filed Critical Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Мурманский государственный технический университет" (ФГБОУ ВПО "МГТУ")
Priority to RU2015115848/28A priority Critical patent/RU2589525C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2589525C1 publication Critical patent/RU2589525C1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Radiation Pyrometers (AREA)

Abstract

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для дистанционного измерения температуры среды или объектов в различных сферах промышленности, в том числе при криогенных температурах. Согласно заявленному изобретению используют полупроводниковый лазерный диод. Помещают его в среду или устанавливают на объект для измерения их температуры. Наблюдают за излучением светоизлучающего прибора. Определяют значения яркости Е(Т0) излучения при исходной температуре T0 и яркости Е(Tx) излучения при температуре Тх среды, и по калибровочной (градуировочной) зависимости δE(T)=Е(Т)/Е(Т0) оценивают температуру Тх среды. Технический результат - упрощение способа дистанционного определения температуры среды. 1 з.п. ф-лы, 2 ил.

Description

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к технике измерения температуры объектов. Изобретение может быть использовано при дистанционном оперативном контроле сред с различной температурой, в том числе при криогенных температурах.
Разработанный способ может быть использован в различных сферах промышленности.
Известны способы измерения температуры (Козлов М.Г. Метрология и стандартизация: Учебник, М.:, СПб.: Изд-во «Петербургский ин-т печати», 2001. - 372 с.) на основе контактной термометрии (газовой, терморезистивной, шумовой, емкостной, магнитной), применения контактных термопар, термоиндикаторов и схем на их основе. Подобные методы, в которых используются, в частности, термопары, терморезисторы, конденсаторы в ряде случаев неэффективны в качестве дистанционных приемников, в том числе из-за того, что требуется наличие электрических проводов, соединяющих температурный датчик, находящийся в среде, с приемником сигнала.
Способ определения теплофизических характеристик материалов (Пат. РФ №2224245, опубл. 20.02.2004) с применением тепловизионной техники является неприменимым в области криогенных температур (ниже 100 K), поскольку диапазон действия современных пирометров и тепловизоров выше 243 K.
Известен способ измерения температуры (Власов А.Б. Модели и методы термографической диагностики объектов энергетики. - М.: Колос, 2006. - 280 с.), основанный на том, что прямой и обратный токи диодов изменяется при изменении температуры. Поэтому, зная функциональную зависимость величины тока от температуры полупроводникового диода, можно оценить температуру среды, в которую помещен полупроводниковый диод.
Недостатком диодных термометров с измерением прямого или обратного токов является сильная нелинейная зависимость измеряемого тока от температуры и зависимость его от величины напряжения, поданного на диод.
Известен способ дистанционного измерения температуры (Пат. РФ №2410654, опубл. 27.11.2011), в котором производят сбор и обработку излучения, выделение трех спектральных диапазонов и оценку температуры на основе обработки значений длин волн. К недостаткам способа измерения температуры на основе выделения трех спектральных диапазонов можно отнести его сложность, в т.ч. сложность математической обработки.
Известен способ дистанционного измерения температуры (Пат. РФ №2534452, опубл. 27.11.2014), заключающийся в том, что по мере изменения температуры среды измеряют длину волны излучения светоизлучающего прибора, помещенного в исследуемую среду, рассчитывают изменение длины волны и оценивают температуру по математической зависимости.
Недостатком способа является необходимость использования в качестве контролирующего элемента дорогостоящие и громоздкие устройства типа монохроматоров (спектрофотометров) для количественной оценки величины изменяющейся длины волны излучения.
Технический результат, на достижение которого направлено заявляемое изобретение, состоит в упрощении способа.
Для достижения указанного технического результата в заявляемом изобретении используют светоизлучающий прибор, в качестве которого служит полупроводниковый лазерный диод, оценивают яркость излучения от лазерного диода и рассчитывают искомую температуру среды по калибровочной градуировочной характеристике.
Таким образом, дистанционный контроль температуры производят дистанционно с помощью светоизлучающего прибора (полупроводникового лазерного диода), который выступает как датчик температуры.
Предлагаемый способ дистанционного измерения температуры иллюстрируется чертежами, представленными на фиг. 1, 2.
На фиг. 1 показана условная схема градуировки светоизлучающего полупроводникового прибора, на фиг. 2 - зависимость относительного изменения яркости δE(T) излучения лазерного диода LD630587L от температуры Т.
Сущность изобретения заключается в следующем.
Известно, что при подаче напряжения прямого смещения на светоизлучающий полупроводниковый прибор в объеме материала генерируется световое излучение за счет процессов рекомбинации основных носителей заряда в области p-n-перехода.
При уменьшении температуры полупроводникового лазера яркость Е(Т) излучения многократно возрастает, что связано с уменьшением тепловых потерь и увеличением доли энергии, расходуемой на излучение квантов света. Аналогично, увеличение температуры прибора приводит к уменьшению яркости излучения.
Яркость Е(Т) излучения прибора как излучателя при температуре Т может дистанционно контролироваться с достаточной степенью точности различными оптоэлектрическими приборами: фоторезисторами, фототранзисторами, фотодиодами и другими, имеющими известные фотоэлектрические параметры (Власов А.Б. Электроника. Часть 1. - Мурманск: МГТУ, 2009. - 157 с.).
Для использования лазерного диода в качестве дистанционного датчика температуры предварительно проводят градуировку прибора: метрологические испытания градуировочной зависимости яркости Е=f(T) и зависимости относительного изменения яркости δE(T)=E(T)/E(T0)=f(T) в исследуемом диапазоне температур.
Градуировку прибора производят способом, условная схема которого представлена на фиг. 1. Лазерный диод 1 помещают в термостат 2, температура которого может изменяться выше или ниже комнатной температуры, вплоть до температуры жидкого азота (-195°С=78 K). Через лазерный диод 1 пропускают фиксированный прямой ток I0, например I0=30 мА. При фиксированной температуре Т0, например T0=300 K измеряют значение яркости Е(Т0) (в люксах) излучения с помощью прибора 4, например люксметра, приемное устройство 3 которого расположено на фиксированном расстоянии l0 от излучающего лазерного диода (фиг. 1). Значения яркости Е(Т0), расстояние l0, ток I0, как условия калибровки, фиксированы для полупроводникового лазерного диода, используемого в качестве датчика.
По мере изменения температуры термостата, и, соответственно, лазерного диода, при зафиксированном значении прямого тока I0, протекающего через лазерный диод, производят измерение яркости Е(Т) излучения лазерного диода при различных температурах. На основе проведенных испытаний рассчитывают значения величины относительного изменения яркости δE(T) по соотношению
Figure 00000001
и строят градуировочную зависимость δЕ(7) при различных температурах.
На фиг. 2 приведена экспериментальная зависимость значений относительного изменения яркости δЕ(T)=Е(Т)/Е(300) полупроводникового лазерного диода типа LD65075TL от температуры Т термостата при фиксированном токе I0=30 мА, l0=2 см.
Видно, что уменьшение температуры Т лазерного диода приводит к увеличению яркости Е(Т) более чем в 20 раз по сравнению со значением яркости Е(Т0) при температуре T0=300 K.
Зависимость значений относительного изменения яркости δE(T) лазерного диода от температуры используют как градуировочную (калибровочную) зависимость δE(Т) для конкретного типа лазерного диода при дистанционном измерении температуры окружающей среды или объектов.
Способ осуществляется следующим образом.
Используют полупроводниковый лазерный диод, для которого определена калибровочная характеристика δE(T) относительного изменения яркости, полученной при известных значениях яркости Е(Т0) излучения при температуре Т0, фиксированном токе диода I0 и расстоянии l0 между приемным элементом люксметра и лазерным диодом. Полупроводниковый диод, как датчик для дистанционного измерения температуры, устанавливают на объект или помещают в среду, температура Тх которых измеряют дистанционно. Через лазерный диод пропускают фиксированный прямой ток I0, аналогичный току градуировки. Фиксируют яркость излучения Е(Т) лазерного диода с помощью приемного устройства люксметра, расположенного на фиксированном расстоянии l0 от лазера. По результатам испытаний рассчитывают экспериментальное значение δEэксп(Tx)=E/E(T0). Значение температуры Тх среды, в которую помещен лазерный диод, определяют по калибровочной характеристике прибора, аналогичной, представленной на фиг. 2.
Например, если в качестве датчика температуры используют лазерный диод LD63075TL с известной калибровочной зависимостью 5f(7), аналогичной представленной на фиг. 2, то при относительном изменении яркости в δEэксп=18 раз исследуемая температура среды равна Тх=-170°С=103 K.
В данном случае светоизлучающий прибор выступает как датчик температуры, физические параметры которого изменяются при изменении температуры среды.

Claims (2)

1. Способ дистанционного измерения температуры, основанный на использовании светоизлучающего полупроводникового прибора в качестве дистанционного датчика температуры, характеризующийся тем, что предварительно проводят метрологические испытания калибровочной зависимости яркости Е=f(T) и зависимости относительного изменения яркости δE(T)=Е(Т)/Е(Т0)=f(T) светоизлучающего прибора в исследуемом диапазоне температур, для этого светоизлучающий полупроводниковый прибор помещают в термостат и пропускают через него фиксированный прямой ток I0 при фиксированной температуре Т0, измеряют значения яркости Е(Т0) при температуре Т0 и Е(Т) при различных температурах с помощью люксметра, приемное устройство которого устанавливают на фиксированном расстоянии l0 от светоизлучающего прибора, на основе полученных данных рассчитывают значения величин относительного изменения яркости δE(Т) по формуле δЕ(Т)=Е(Т)/Е(Т0) и строят калибровочную зависимость δЕ(Т) при различных температурах, которую затем используют для определения искомой температуры Тх среды или объекта, для этого светоизлучающий прибор помещают в среду или устанавливают на объект, пропускают через прибор фиксированный прямой ток I0, фиксируют яркость излучения Е(Т) с помощью установленного на фиксированном расстоянии l0 приемного устройства люксметра, рассчитывают экспериментальные значения δEэксп(Tx)=Е(Тх)/Е(Т0) светоизлучающего прибора и определяют искомую температуру среды или объекта Тх по калибровочной зависимости.
2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что в качестве светоизлучающего прибора используют лазерный диод.
RU2015115848/28A 2015-04-27 2015-04-27 Способ дистанционного измерения температуры RU2589525C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2015115848/28A RU2589525C1 (ru) 2015-04-27 2015-04-27 Способ дистанционного измерения температуры

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2015115848/28A RU2589525C1 (ru) 2015-04-27 2015-04-27 Способ дистанционного измерения температуры

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2589525C1 true RU2589525C1 (ru) 2016-07-10

Family

ID=56371219

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2015115848/28A RU2589525C1 (ru) 2015-04-27 2015-04-27 Способ дистанционного измерения температуры

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2589525C1 (ru)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2149366C1 (ru) * 1998-04-14 2000-05-20 Институт физики полупроводников СО РАН Способ бесконтактного измерения температуры
RU2338166C1 (ru) * 2007-01-29 2008-11-10 Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский институт промышленного телевидения "Растр" Способ измерения яркостной температуры объекта
RU2410654C1 (ru) * 2009-09-10 2011-01-27 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Сибирская государственная геодезическая академия" Способ измерения температуры
US8274644B2 (en) * 2006-08-15 2012-09-25 X-Rite, Inc. Sensing temperature of a light emitting diode
RU2534452C1 (ru) * 2013-06-25 2014-11-27 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Мурманский государственный технический университет" (ФГБОУВПО "МГТУ") Способ дистанционного измерения температуры среды
RU2552599C1 (ru) * 2014-02-24 2015-06-10 Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" - Госкорпорация "Росатом" Способ бесконтактного измерения яркостной температуры теплового поля исследуемого объекта

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2149366C1 (ru) * 1998-04-14 2000-05-20 Институт физики полупроводников СО РАН Способ бесконтактного измерения температуры
US8274644B2 (en) * 2006-08-15 2012-09-25 X-Rite, Inc. Sensing temperature of a light emitting diode
RU2338166C1 (ru) * 2007-01-29 2008-11-10 Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский институт промышленного телевидения "Растр" Способ измерения яркостной температуры объекта
RU2410654C1 (ru) * 2009-09-10 2011-01-27 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Сибирская государственная геодезическая академия" Способ измерения температуры
RU2534452C1 (ru) * 2013-06-25 2014-11-27 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Мурманский государственный технический университет" (ФГБОУВПО "МГТУ") Способ дистанционного измерения температуры среды
RU2552599C1 (ru) * 2014-02-24 2015-06-10 Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" - Госкорпорация "Росатом" Способ бесконтактного измерения яркостной температуры теплового поля исследуемого объекта

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6738327B2 (ja) 製造プロセスラインに沿ったウェハの放射線および温度暴露を測定するための方法およびシステム
CN109313080B (zh) 用于无接触式确定温度的方法以及红外测量系统
US10704963B2 (en) Infrared contrasting color emissivity measurement system
Šebök et al. Diagnostics of electric equipments by means of thermovision
RU2577389C1 (ru) Способ калибровки термоэлектрических датчиков тепловых потоков
US9980336B2 (en) Light receiving device, light emitting device and light receiving/emitting device
TW200936996A (en) Temperature sensing module
EP3598090A1 (en) Apparatus for temperature sensing of an object of interest
Araújo et al. Monte Carlo uncertainty simulation of surface emissivity at ambient temperature obtained by dual spectral infrared radiometry
RU2589525C1 (ru) Способ дистанционного измерения температуры
US20190154510A1 (en) Method for Determining a Temperature without Contact and Infrared Measuring System
US7884329B2 (en) Device and method for detecting electromagnetic radiation
Shimizu et al. Fine-temperature-resolution imaging luminescence thermometry demonstrated with Ce3+-doped Y3Al5O12
RU2534452C1 (ru) Способ дистанционного измерения температуры среды
Zhang et al. Overview of radiation thermometry
CN216815761U (zh) 用于人造肠衣的挤出生产线的在线检查系统
Hartmann New developments in high-temperature measurement techniques
US9970821B2 (en) Characterization of spectral emissivity via thermal conductive heating and in-situ radiance measurement using a low-e mirror
KR101578374B1 (ko) 써모파일 센서 모듈
Sutton et al. Imaging luminescence thermometry: Recent developments at NPL
Ghosh Principles of Temperature Measurement with Temperature Probes in Bioheat Transfer Applications
US7591586B2 (en) Method of temperature measurement and temperature-measuring device using the same
Dubas Noncontact thermal pyrometry for condensed materials
RU2616721C1 (ru) Широкополосный измерительный приемник излучения миллиметрового диапазона с независимой калибровкой
RU2597937C1 (ru) Способ измерения интегральной излучательной способности с помощью прямого лазерного нагрева (варианты)

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20170428