RU2561336C1 - Способ измерения параметров элементов многоэлементных нерезонансных линейных двухполюсников - Google Patents

Способ измерения параметров элементов многоэлементных нерезонансных линейных двухполюсников Download PDF

Info

Publication number
RU2561336C1
RU2561336C1 RU2014110151/28A RU2014110151A RU2561336C1 RU 2561336 C1 RU2561336 C1 RU 2561336C1 RU 2014110151/28 A RU2014110151/28 A RU 2014110151/28A RU 2014110151 A RU2014110151 A RU 2014110151A RU 2561336 C1 RU2561336 C1 RU 2561336C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
parameters
voltage
pole
terminal
frequency
Prior art date
Application number
RU2014110151/28A
Other languages
English (en)
Inventor
Вячеслав Андреевич Сергеев
Илья Владимирович Фролов
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет" filed Critical Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет"
Priority to RU2014110151/28A priority Critical patent/RU2561336C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2561336C1 publication Critical patent/RU2561336C1/ru

Links

Images

Abstract

Изобретение относится к технике измерения параметров элементов электрических цепей и может быть использовано для измерения параметров элементов многоэлементных двухполюсников, в том числе параметров элементов эквивалентных схем замещения полупроводниковых приборов. На контролируемый n-элементный двухполюсник подают напряжение в виде случайного сигнала, имеющего равномерный амплитудный спектр в диапазоне частот, перекрывающем диапазон частот, за пределами которого модуль импеданса двухполюсника можно считать не зависящим от частоты с заданной погрешностью. На образцовом резисторе, включенном последовательно с двухполюсником, измеряют напряжение, пропорциональное току двухполюсника. По двум параллельным каналам записывают в память ЭВМ временные реализации сигналов, подаваемого на двухполюсник и снимаемого с образцового резистора, после чего рассчитывают спектральные плотности напряжения и тока, рассчитывают частотные зависимости модуля и фазы импеданса двухполюсника, определяют характерные частоты. Составляют и решают систему из n уравнений относительно параметров эквивалентной схемы замещения n-элементного линейного двухполюсника. Технический результат заключается в сокращении времени измерения параметров эквивалентных схем замещения многоэлементных линейных двухполюсников. 2 ил.

Description

Изобретение относится к технике измерения параметров элементов электрических цепей и может быть использовано для измерения параметров элементов многоэлементных двухполюсников, в том числе параметров элементов эквивалентных схем замещения полупроводниковых приборов.
Известен способ определения параметров элементов многоэлементных двухполюсников, заключающийся в том, что на полюса контролируемого двухполюсника, состоящего из n элементов с неизвестными параметрами, и на полюса эталонного двухполюсника, например резистора сопротивлением RЭТ, поочередно подают синусоидальное напряжение на n частотах, измеряют комплексный ток через контролируемый двухполюсник и эталон на n частотах и по фиксированным результатам измерения на каждой из n заданных частот, используя информацию об амплитуде комплексных токов, производят расчет параметров контролируемого двухполюсника по схеме его замещения путем решения соответствующей системы уравнений (см. Патент №2260809 РФ G01R 27/14).
Недостатком известного способа является большое время измерения, обусловленное необходимостью поочередного измерения комплексных токов через контролируемый двухполюсник и эталонный двухполюсник на n различных частотах.
Известно (см. Кнеллер В.Ю., Боровских Л.П. Определение параметров многоэлементных двухполюсников. - М.: Энергосггокиздат, 1986. - 144 с.), что погрешность определения параметров элементов двухполюсника сильно зависит от выбора частот тестового сигнала, для которых составляется и решается система уравнений, и при произвольном (неоптимальном) выборе частот может достигать десятков процентов. В общем случае для определения параметров элементов произвольного n-элементного двухполюсника с известной эквивалентной схемой замещения в отсутствие априорной информации о диапазоне изменения параметров его элементов необходимо измерять параметры импеданса двухполюсника во всем возможном диапазоне частот.
Известен способ измерения импеданса пассивного двухполюсника на заданной частоте путем измерения протекающего через двухполюсник переменного тока при подсоединении двухполюсника к генератору известного переменного напряжения (Мирский Г.Я. Электронные измерения. - М.: Радио и связь, 1986. - 440 с.). В известном способе с генератора синусоидального напряжения подают сигнал заданной амплитуды U0 и частоты на измеряемый двухполюсник с неизвестным комплексным импедансом Z ˙
Figure 00000001
, преобразователь ток-напряжение формирует пропорциональное комплексному току через двухполюсник I ˙
Figure 00000002
напряжение, которое измеряет фазочувствительный вольтметр. Комплексный импеданс получают по закону Ома: Z ˙ = U I ˙
Figure 00000003
.
Недостатком известного способа является большое время измерения, обусловленное необходимостью проводить измерения на нескольких частотах переменного напряжения, и невысокая точность, поскольку параметры двухполюсника определяются из решения системы нелинейных уравнений, точность решения которой определяется выбором частот измерения.
Прототипом предлагаемого способа является способ оценивания амплитудных и фазовых характеристик систем по наблюдениям входных и выходных случайных процессов (см. Бендат Дж., Пирсол А. Применения корреляционного и спектрального анализа: Пер. с англ. - М.: Мир, 1983. - 312 с.). Суть способа заключается в том, что на вход системы, имеющей комплексную частотную характеристику H(jω), подается случайный процесс UBX(t) со спектральной плотностью мощности GXX(jω), на выходе системы регистрируется случайный процесс UВЫХ(t) со спектральной плотностью мощности GYY(jω) (фиг.1) и частотная характеристика системы определяется из соотношения:
H(jω)=|H(ω)|e-jφ(ω)=GXY(jω)/GXX(jω),
где |Н(ω)| и φ(ω) - амплитудная и фазовая частотные характеристики системы соответственно; GXY(jω) - взаимная спектральная плотность мощности входного и выходного случайных процессов.
В данном методе оценивания под случайным процессом подразумевается множество (ансамбль) функций времени. Как известно (см. Гоноровский И.С. Радиотехнические цепи и сигналы. - М.: Радио и связь, 1986. - 512 с.) усреднение по ансамблю амплитудного и фазового спектров реализаций, получаемых прямым Фурье-преобразованием, приводит к нулевому спектру процесса из-за случайности и независимости фаз спектральных составляющих в различных реализациях. В связи с этим для оценки характеристик случайных процессов используется спектральная плотность мощности случайного процесса. Однако если провести одновременную запись входного UBX(t) и выходного UВЫХ(t) сигналов, например, с использованием ЭВМ, и после этого осуществлять их математические преобразования, то такие сигналы можно считать детерминированными, и для анализа прохождения сигнала через систему (в случае ее линейности) можно использовать спектральный метод анализа прохождения детерминированного сигнала через линейные цепи, тем самым сокращая время вычисления (см. Гоноровский И.С. Радиотехнические цепи и сигналы. - М.: Радио и связь, 1986. - 512 с.).
Технический результат - сокращение времени измерения параметров эквивалентных схем замещения многоэлементных линейных двухполюсников.
Технический результат достигается тем, что на контролируемый n-элементный двухполюсник подают напряжение в виде случайного сигнала, имеющего равномерный амплитудный спектр в диапазоне частот, перекрывающем диапазон частот, за пределами которого модуль импеданса двухполюсника можно считать не зависящим от частоты с заданной погрешностью, и на образцовом резисторе, включенном последовательно с двухполюсником, измеряют напряжение, пропорциональное току двухполюсника, по двум параллельным каналам записывают в память ЭВМ временные реализации сигналов, подаваемого на двухполюсник и снимаемого с образцового резистора, после чего рассчитывают спектральные плотности напряжения и тока, рассчитывают частотные зависимости модуля и фазы импеданса двухполюсника, определяют характерные частоты, составляют и решают систему из n уравнений относительно параметров эквивалентной схемы замещения n-элементного линейного двухполюсника.
Сущность способа состоит в следующем.
Шумовой сигнал UBX(t) с равномерным амплитудным спектром подается на делитель, составленный из контролируемого n-элементного линейного двухполюсника и образцового токосъемного резистора сопротивлением RОБР, и параллельно подается на первый канал устройства сбора данных. При измерении параметров эквивалентной схемы полупроводниковых диодов, представляемых двухполюсником, задается рабочая точка (I0; U0) от дополнительного источника смещения. С образцового резистора снимается выходной сигнал UВЫХ(t) и подается на второй канал устройства сбора данных. Сигналы UBX(t) и UВЫХ(t) подвергаются аналого-цифровому преобразованию и сохраняются в память компьютера в виде дискретной последовательности отсчетов UBX(iΔt) и UВЫХ(iΔt), где интервал Δt определяется частотой дискретизации: Δt=1/FД. Известно, что снизить погрешность оценивания спектральной плотности шумового сигнала можно путем усреднения оценок по ансамблю (см. Бендат Дж., Пирсол А. Применения корреляционного и спектрального анализа: Пер. с англ. - М.: Мир, 1983. - 312 с.). Поскольку белый шум является стационарным эргодическим процессом, то ансамбль реализаций можно получить путем разбиения (в том числе, с перекрытием по времени) исходных последовательностей отсчетов UBX(iΔt) и UВЫХ(iΔt) на K последовательностей U B X m ( i Δ t )
Figure 00000004
и U В Ы Х m ( i Δ t )
Figure 00000005
(1≤m≤K), состоящих из N отсчетов и имеющих длительность (N-1)Δt каждая. Применяя прямое Фурье-преобразование к каждой последовательности, получают K комплексных спектральных плотностей входного и выходного сигналов:
Figure 00000006
Figure 00000007
Для каждой m-й реализации ансамбля рассчитывается импеданс двухполюсника:
Figure 00000008
после чего вычисляются модуль и фаза импеданса:
Figure 00000009
Затем проводится усреднение полученных частотных характеристик по ансамблю:
Figure 00000010
Figure 00000011
Расчет параметров {Xi} n-элементного двухполюсника осуществляется на основании информации о структуре эквивалентной схемы двухполюсника путем составления и решения системы из n уравнений вида:
Figure 00000012
где Ф(ω,X) и Ψ(ω,X) - функциональные зависимости модуля и фазы импеданса от частоты и параметров элементов двухполюсника соответственно. С целью минимизации погрешности определения параметров n-элементного двухполюсника, обусловленной случайной погрешностью измерения частотных зависимостей модуля и фазы импеданса, частоты ωk и ωl выбираются в характерных точках частотной зависимости модуля и фазы импеданса: минимум фазы, точка перегиба модуля импеданса (см., например, A. Wadsworth. The Parametric Measurement Handbook. Third Edition. - USA: Agilent Technologies, Inc. 2012. - 214 p.) или определяются по алгоритму нахождения оптимальных частот (см. Кнеллер В.Ю., Боровских Л.П. Определение параметров многоэлементных двухполюсников. - М.: Энергоатомиздат, 1986. - 144 с.). В общем случае частоты ωk и ωl могут совпадать, поэтому n/2≤k+l≤n.
При использовании гармонического сигнала для сканирования импеданса двухполюсника в частотном диапазоне ΔF с фиксированным разрешением по частоте Δf минимальное время сканирования составляет T С К А Н _ Г А Р М = Δ F Δ f 2
Figure 00000013
. Минимальное время сканирования импеданса двухполюсника предложенным способом определяется нижней частотой заданного диапазона ΔF: T С К А Н _ Ш У М = 1 Δ f
Figure 00000014
. Таким образом, выигрыш по времени сканирования составляет Δ F Δ f
Figure 00000015
.
Способ может быть реализован с помощью устройства, структурная схема которого показана на фиг.2. Устройство содержит две клеммы 1 и 3 для подключения контролируемого двухполюсника 2, источника шумового сигнала 4, источника напряжения смещения 5, сумматора напряжений 6, образцового резистора 7, двухканального блока аналого-цифрового преобразования 8 и компьютера 9.
Шумовой тестовый сигнал UШ(t) с выхода генератора шума 4 и постоянное напряжение смещения U0 от источника напряжения смещения 5 поступают на сумматор напряжений 6. С выхода сумматора напряжений 6 напряжение UBX(t)=UШ(t)+U0 подается на делитель, составленный из исследуемого двухполюсника 2 и образцового резистора 7 с сопротивлением RОБР. Параллельно по опорному каналу напряжение UBX(t) поступает на первый канал блока аналого-цифрового преобразования 8. С токосъемного резистора RОБР напряжение UВЫХ(t) поступает на второй канал блока аналого-цифрового преобразования 8. По сигналу запуска производится измерение сигналов UBX(t) и UВЫХ(t) и пересылка оцифрованных данных UBX(iΔt) и UВЫХ(iΔt) в компьютер, где осуществляется расчет параметров элементов n-элементного двухполюсника по изложенному алгоритму.
Сопротивление образцового резистора RОБР выбирается из условия RОБР<<|Z(ω)| во всем диапазоне частот, при этом величина сопротивления RОБР должна быть такой, чтобы обеспечить требуемую чувствительность блока аналого-цифрового преобразования.

Claims (1)

  1. Способ измерения параметров элементов многоэлементных нерезонансных линейных двухполюсников, состоящий в том, что на контролируемый n-элементный двухполюсник подают напряжение в виде случайного сигнала, имеющего равномерный амплитудный спектр в диапазоне частот, перекрывающем диапазон частот, за пределами которого модуль импеданса двухполюсника можно считать не зависящим от частоты с заданной погрешностью, и на образцовом резисторе, включенном последовательно с двухполюсником, измеряют напряжение, пропорциональное току двухполюсника, по двум параллельным каналам записывают в память ЭВМ временные реализации сигналов, подаваемого на двухполюсник и снимаемого с образцового резистора, после чего рассчитывают спектральные плотности напряжения и тока, рассчитывают частотные зависимости модуля и фазы импеданса двухполюсника, определяют характерные частоты, составляют и решают систему из n уравнений относительно параметров эквивалентной схемы замещения n-элементного линейного двухполюсника.
RU2014110151/28A 2014-03-14 2014-03-14 Способ измерения параметров элементов многоэлементных нерезонансных линейных двухполюсников RU2561336C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2014110151/28A RU2561336C1 (ru) 2014-03-14 2014-03-14 Способ измерения параметров элементов многоэлементных нерезонансных линейных двухполюсников

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2014110151/28A RU2561336C1 (ru) 2014-03-14 2014-03-14 Способ измерения параметров элементов многоэлементных нерезонансных линейных двухполюсников

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2561336C1 true RU2561336C1 (ru) 2015-08-27

Family

ID=54015588

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2014110151/28A RU2561336C1 (ru) 2014-03-14 2014-03-14 Способ измерения параметров элементов многоэлементных нерезонансных линейных двухполюсников

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2561336C1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2623659C1 (ru) * 2016-05-30 2017-06-28 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Северо-Кавказский федеральный университет" Способ получения параметров входного сопротивления линейного пассивного двухполюсника

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4831324A (en) * 1986-03-20 1989-05-16 Hitachi, Ltd. Method and apparatus for analyzing the electrode inpedance
RU2080609C1 (ru) * 1994-07-27 1997-05-27 Юрий Михайлович Мельников Способ определения комплексного сопротивления двухполюсника в диапазоне частот
RU2144196C1 (ru) * 1998-09-11 2000-01-10 Ульяновский государственный технический университет Способ измерения параметров трехэлементных двухполюсников частотно-независимыми мостами переменного тока
RU2260809C2 (ru) * 2003-10-01 2005-09-20 Открытое акционерное общество "Ракетно-космическая корпорация "Энергия" им. С.П. Королева" Способ определения параметров двухполюсника

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4831324A (en) * 1986-03-20 1989-05-16 Hitachi, Ltd. Method and apparatus for analyzing the electrode inpedance
RU2080609C1 (ru) * 1994-07-27 1997-05-27 Юрий Михайлович Мельников Способ определения комплексного сопротивления двухполюсника в диапазоне частот
RU2144196C1 (ru) * 1998-09-11 2000-01-10 Ульяновский государственный технический университет Способ измерения параметров трехэлементных двухполюсников частотно-независимыми мостами переменного тока
RU2260809C2 (ru) * 2003-10-01 2005-09-20 Открытое акционерное общество "Ракетно-космическая корпорация "Энергия" им. С.П. Королева" Способ определения параметров двухполюсника

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2623659C1 (ru) * 2016-05-30 2017-06-28 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Северо-Кавказский федеральный университет" Способ получения параметров входного сопротивления линейного пассивного двухполюсника

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8352204B2 (en) Method of detecting system function by measuring frequency response
CN109425786B (zh) 非线性失真检测
US8854030B2 (en) Method and device for frequency response measurement
US20150142344A1 (en) Method and apparatus for measuring partial discharge charge value in frequency domain
CN111551790B (zh) 用于确定用于电力系统的绝缘的介电质等效电路图的元件的方法和设备
US8154311B2 (en) Method and device for characterizing the linear properties of an electrical component
CN107991536B (zh) 一种频域介电响应测试的温度校正方法及设备
Augustyn et al. Application of ellipse fitting algorithm in incoherent sampling measurements of complex ratio of AC voltages
Augustyn et al. Improved sine-fitting algorithms for measurements of complex ratio of AC voltages by asynchronous sequential sampling
RU2561336C1 (ru) Способ измерения параметров элементов многоэлементных нерезонансных линейных двухполюсников
US11885839B2 (en) Method and system for making time domain measurements of periodic radio frequency (RF) signal using measurement instrument operating in frequency domain
US20180106842A1 (en) Impedance Measurement through Waveform Monitoring
Andreev et al. Complex reflection coefficient determination via digital spectral analysis of multiprobe reflectometer output signals
RU2475766C1 (ru) Способ определения передаточной функции линейной радиоэлектронной системы
RU2537519C1 (ru) Способ определения напряжения локализации тока в мощных вч и свч биполярных транзисторах
Askarova et al. High accuracy impedance measurements of the rootage system used in investigating its condition by the EIS method
Aroge et al. Time-frequency analysis of the chirp response for rapid electrochemical impedance estimation
Martens et al. Phase-increment sampling in chirp signal based impedance measurements
Gücin et al. An impedance analyzer application using cross-correlation method
Troeltzsch et al. C1. 1-Miniaturized Impedance Measurement System for Battery Diagnosis
US10013015B2 (en) Fast auto-balancing AC bridge
Kyriazis Estimating parameters of complex modulated signals from prior information about their arbitrary waveform components
Chen et al. Broadband phase resolving spectrum analyzer measurement for EMI scanning applications
Burtea et al. Frequency Estimation Using an Artificial Neural Network and the Discrete Fourier Transform
US7545155B2 (en) Parallel AC measurement method

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20160315