RU2525668C1 - Способ изготовления сквозных отверстий в кремниевой подложке - Google Patents

Способ изготовления сквозных отверстий в кремниевой подложке Download PDF

Info

Publication number
RU2525668C1
RU2525668C1 RU2013104905/28A RU2013104905A RU2525668C1 RU 2525668 C1 RU2525668 C1 RU 2525668C1 RU 2013104905/28 A RU2013104905/28 A RU 2013104905/28A RU 2013104905 A RU2013104905 A RU 2013104905A RU 2525668 C1 RU2525668 C1 RU 2525668C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
substrate
sample
holes
silicon substrate
aluminum
Prior art date
Application number
RU2013104905/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2013104905A (ru
Inventor
Дмитрий Алексеевич Пузанков
Руслан Ильфатович Давутов
Фаат Хасанович Вахитов
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н. Туполева-КАИ" (КНИТУ-КАИ)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н. Туполева-КАИ" (КНИТУ-КАИ) filed Critical Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н. Туполева-КАИ" (КНИТУ-КАИ)
Priority to RU2013104905/28A priority Critical patent/RU2525668C1/ru
Publication of RU2013104905A publication Critical patent/RU2013104905A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2525668C1 publication Critical patent/RU2525668C1/ru

Links

Images

Landscapes

  • ing And Chemical Polishing (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

Использование: для формирования сквозных отверстий или углублений в кремниевой подложке. Сущность изобретения заключается в том, что формирование сквозных отверстий в кремниевой подложке осуществляют путем размещения на кремниевой подложке алюминиевого образца с заданной формой поперечного сечения рабочей части образца, соответствующей форме формируемого в подложке отверстия, и высотой рабочей части образца, не меньшей толщины подложки, далее осуществляют нагрев подложки с размещенным на ней алюминиевым образцом до температуры эвтектики, равной 570±10°С, обеспечивая высокоскоростную диффузию атомов кремния в алюминиевый образец, выдерживают подложку с алюминиевым образцом при температуре эвтектики не менее 10 минут, после чего охлаждают подложку с алюминиевым образцом до комнатной температуры. Технический результат: обеспечение возможности снижения рабочей температуры процесса, осуществление технологического процесса при атмосферной среде, исключение необходимости создания температурного градиента, а также увеличение диапазона размеров поперечного сечения отверстий. 2 ил.

Description

Изобретение относится к технологии изменения форм поверхности полупроводниковых приборов и может быть использовано для формирования сквозных отверстий или углублений в кремниевой подложке.
Известен способ формирования отверстий преимущественно в печатных платах с помощью воздействия на поверхность печатной платы мощным импульсным лазерным излучением [Авторское свидетельство СССР №1591338, 30.05.1994]. Способ заключается в том, что импульс контроля посылается в формируемое отверстие непосредственно после каждого импульса обработки и по возрастанию уровня отраженного излучения от медной подложки под печатной платой определяют момент получения отверстия в плате. К недостаткам данного способа можно отнести высокую стоимость оборудования, зависимость времени технологического процесса от количества отверстий.
Ближайшим из известных способов к данному изобретению относится способ формирования сквозных отверстий в кремниевой подложке [Э.Ю. Бучин, Ю.И. Денисенко, В.И. Рудаков, «Формирование сквозных отверстий в кремниевой подложке» « Письма в ЖТФ», Ярославль 2002, с.75-79], основанный на избирательном электрохимическом травлении p+-областей, сформированных в кремнии n-типа способом термомиграции алюминия, р-области образуются в подложке за счет сквозного локального легирования алюминием. Кремниевая подложка n-типа с нанесенной на нее электронно-лучевым способом алюминиевыми площадками, нагревалась с обратной стороны до температуры t=1100°C. В процессе нагрева образца алюминий переходит в жидкую фазу и продвигается в глубь подложки в направлении температурного градиента с выходом на противоположную поверхность. Данный способ характеризуется сложностью процесса, применением высоких температур (1100-1200°С), определенными ограничениями: во-первых, форма поперечного сечения сквозных отверстий получается более округлой по сравнению с исходным рисунком; во-вторых, для характерных размеров поперечного сечения отверстий существует ограниченный диапазон от 20 до 200 мкм.
Решаемая техническая задача изобретения - повышение технологичности (снижение рабочей температуры процесса, отсутствие необходимости создания температурного градиента, технологический процесс происходит при атмосферной среде) формирования отверстий в кремниевой подложке, увеличение диапазона размеров поперечного сечения отверстий.
Решаемая техническая задача в способе изготовления сквозных отверстий в кремниевой подложке, включающем формирование сквозных отверстий в кремниевой подложке при термическом воздействии на нее, достигается тем, что формирование сквозных отверстий в кремниевой подложке осуществляют путем размещения на кремниевой подложке алюминиевого образца с заданной формой поперечного сечения рабочей части образца, соответствующей форме формируемого в подложке отверстия, и высотой рабочей части образца, не меньшей толщины подложки, далее осуществляют нагрев подложки с размещенным на ней алюминиевым образцом до температуры эвтектики, равной 570±10°С, обеспечивая высокоскоростную диффузию атомов кремния в алюминиевый образец, выдерживают подложку с алюминиевым образцом при температуре эвтектики не менее 10 минут, после чего охлаждают подложку с алюминиевым образцом до комнатной температуры.
На фиг.1 схематично изображена кремниевая подложка с расположенным на ней алюминиевым образцом, где 1 - кремниевая подложка, 2 - алюминиевый образец. На фиг.2 схематично изображен алюминиевый образец, состоящий из 3 - нерабочей части и 4 - рабочей части.
Рассмотрим осуществление способа изготовления сквозных отверстий в кремниевой подложке. Первоначально алюминиевый образец 2, например, цилиндрической формой рабочей части образца 4 диаметром 5 мм и высотой 2 мм, располагают на кремниевой подложке 2, например, марки 1А2КДБ10 размерами 30х10х0,38 мм. Нерабочая часть 3 алюминиевого образца 2 необходима для удобства отделения алюминиевого образца 2 от кремниевой подложки 1. Форма и высота нерабочей части 3 выбирается произвольно. Рабочая часть 4 алюминиевого образца 2 является частью, формирующей отверстие в кремниевой подложке 1, непосредственно в которую диффундируют атомы кремния. Рабочая часть образца 4 и нерабочая часть образца 3 могут иметь как различную, так и одинаковую форму поперечного сечения, и могут быть изготовлены различными способами, например литьем, фрезерованием, точением, нарезкой и т.д. Например, цилиндрическую форму рабочей части 4 алюминиевого образца 2 применяют для получения отверстий круглой формы. Далее кремниевую подложку 1 с алюминиевым образцом 2 помещают в печь - электропечь сопротивления камерная лабораторная СНОЛ 6/11,000 «Технотерм». Далее осуществляют нагрев подложки 1 и образца 2 до температуры 570±10°С. ±10°С - это допустимая норма отклонения, при которой достигается высокоскоростная диффузия атомов кремния в алюминиевый образец 2. При данной температуре подложку 1 и алюминиевый образец 2 выдерживают 15 минут. Время выдержки не менее 10 минут необходимо для реализации технической задачи. После чего подложку 1 с алюминиевым образцом 2 медленно охлаждают, например, в течение 20 минут, до комнатной температуры 23±2°С и аккуратно отделяют алюминиевый образец 2 от кремниевой подложки 1.
Решаемая техническая задача - повышение технологичности по сравнению с прототипом - будет достигнута за счет:
упрощения процесса нагрева подложки 1 с алюминиевым образцом 2. В предлагаемом изобретении применяется стандартная лабораторная печь, вместо печи, создающей температурный градиент путем охлаждения лицевой стороны подложки за счет кондукции в среде аргона;
снижения рабочей температуры до температуры эвтектики, при которой алюминиевый образец 2 не переходит в жидкую фазу. Это обеспечивает форму поперечного сечения отверстия, соответствующую исходной форме рабочей части 4 алюминиевого образца 2, и значительное расширение диапазона размеров поперечного сечения отверстий;
отсутствия жидкостного химического, либо электрохимического травления, снижающего точность отверстий.

Claims (1)

  1. Способ изготовления сквозных отверстий в кремниевой подложке, включающий формирование сквозных отверстий в кремниевой подложке при термическом воздействии на нее, отличающийся тем, что формирование сквозных отверстий в кремниевой подложке осуществляют путем размещения на кремниевой подложке алюминиевого образца с заданной формой поперечного сечения рабочей части образца, соответствующей форме формируемого в подложке отверстия, и высотой рабочей части образца, не меньшей толщины подложки, далее осуществляют нагрев подложки с размещенным на ней алюминиевым образцом до температуры эвтектики, равной 570±10°С, обеспечивая высокоскоростную диффузию атомов кремния в алюминиевый образец, выдерживают подложку с алюминиевым образцом при температуре эвтектики не менее 10 минут, после чего охлаждают подложку с алюминиевым образцом до комнатной температуры.
RU2013104905/28A 2013-02-05 2013-02-05 Способ изготовления сквозных отверстий в кремниевой подложке RU2525668C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2013104905/28A RU2525668C1 (ru) 2013-02-05 2013-02-05 Способ изготовления сквозных отверстий в кремниевой подложке

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2013104905/28A RU2525668C1 (ru) 2013-02-05 2013-02-05 Способ изготовления сквозных отверстий в кремниевой подложке

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2013104905A RU2013104905A (ru) 2014-08-10
RU2525668C1 true RU2525668C1 (ru) 2014-08-20

Family

ID=51355030

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2013104905/28A RU2525668C1 (ru) 2013-02-05 2013-02-05 Способ изготовления сквозных отверстий в кремниевой подложке

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2525668C1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2629926C1 (ru) * 2016-06-15 2017-09-04 Акционерное общество "Российская корпорация ракетно-космического приборостроения и информационных систем" (АО "Российские космические системы") Способ изготовления сквозных металлизированных микроотверстий в кремниевой подложке
RU2692112C1 (ru) * 2018-11-09 2019-06-21 Акционерное общество "Российская корпорация ракетно-космического приборостроения и информационных систем" (АО "Российские космические системы") Способ изготовления сквозных микроотверстий в кремниевой подложке

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU355697A1 (ru) * В. А. Лепилин , В. С. Черн Способ селективного нанесения металла на полупроводниковую пластину
US4154632A (en) * 1977-08-12 1979-05-15 Hitachi, Ltd. Method of diffusing aluminum into silicon substrate for manufacturing semiconductor device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU355697A1 (ru) * В. А. Лепилин , В. С. Черн Способ селективного нанесения металла на полупроводниковую пластину
US4154632A (en) * 1977-08-12 1979-05-15 Hitachi, Ltd. Method of diffusing aluminum into silicon substrate for manufacturing semiconductor device

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Д.Г. Громов, Учебное пособие по дисциплине, Металлизация в системах с наноразмерными элементами, Москва 2011, стр. 5-14. *
Э.Ю. Бучин, Ю. И. Денисенко, В.И. Рудаков, Формирование сквозных отверстий в кремниевой подложке, Письма в ЖТФ, Ярославль, 19.07.2002, с.75-79. *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2629926C1 (ru) * 2016-06-15 2017-09-04 Акционерное общество "Российская корпорация ракетно-космического приборостроения и информационных систем" (АО "Российские космические системы") Способ изготовления сквозных металлизированных микроотверстий в кремниевой подложке
RU2692112C1 (ru) * 2018-11-09 2019-06-21 Акционерное общество "Российская корпорация ракетно-космического приборостроения и информационных систем" (АО "Российские космические системы") Способ изготовления сквозных микроотверстий в кремниевой подложке

Also Published As

Publication number Publication date
RU2013104905A (ru) 2014-08-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Gouda et al. Pool boiling heat transfer enhancement with segmented finned microchannels structured surface
Rahman et al. Increasing boiling heat transfer using low conductivity materials
Patil et al. Pool boiling enhancement through microporous coatings selectively electrodeposited on fin tops of open microchannels
Li et al. Endoscopic visualization of contact line dynamics during pool boiling on capillary‐activated copper microchannels
Nimkar et al. Effect of nucleation site spacing on the pool boiling characteristics of a structured surface
Sun et al. Pool boiling performance and bubble dynamics on microgrooved surfaces with reentrant cavities
Jo et al. Enhancement of critical heat flux and superheat through controlled wettability of cuprous-oxide fractal-like nanotextured surfaces in pool boiling
RU2525668C1 (ru) Способ изготовления сквозных отверстий в кремниевой подложке
Yang et al. Nanosecond laser surface processing of AlN ceramics
JP2014045186A (ja) 不融解性薄膜ウェハのレーザアニール方法
Basu et al. Transient microscale flow boiling heat transfer characteristics of HFE-7000
Li et al. Influence of rapid thermal annealing on the wafer warpage in 3D NAND flash memory
WO2017090563A1 (ja) 酸性銅めっき液、酸性銅めっき物および半導体デバイスの製造方法
Hai et al. Enhanced pool boiling performance of microchannel patterned surface with extremely low wall superheat through capillary feeding of liquid
Ramakrishnan et al. Effect of system and operational parameters on the performance of an immersion-cooled multichip module for high performance computing
Nikolaenko et al. Using laser radiation for the formation of capillary structure in flat ceramic heat pipes
Rana et al. Precise removal of ultra-thin SiNx layer deposited on silicon substrate using nanosecond green laser for PERC solar cell fabrication
Buzynin et al. High Hole Mobility of Polycrystalline GeSn Layers Grown by Hot‐Wire Chemical Vapor Deposition on Diamond Substrates
Zhu et al. Electropulsing Aging Treatment of Cu–Ni–Si Sheet for Microforming
Skvortsov et al. The electrothermal impact on a contact metal-semiconductor: applications to the germanium–silver system
Tan et al. The evolution of microstructure and resistance in electroplated copper films by linear integrated laser scanning annealing
JP2018165375A (ja) 酸性銅めっき液、酸性銅めっき物および半導体デバイスの製造方法
Honda et al. Enhanced boiling heat transfer from silicon chips with micro-pin fins immersed in FC-72
JP2022533146A (ja) 炉内でのシリコンリボンのガス曝露
Deng et al. Study on TSV-Cu protrusion under different annealing conditions and optimization

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20180206