RU2507495C1 - Способ контроля параметров оптико-электронных систем в рабочем диапазоне температур - Google Patents

Способ контроля параметров оптико-электронных систем в рабочем диапазоне температур Download PDF

Info

Publication number
RU2507495C1
RU2507495C1 RU2012134295/28A RU2012134295A RU2507495C1 RU 2507495 C1 RU2507495 C1 RU 2507495C1 RU 2012134295/28 A RU2012134295/28 A RU 2012134295/28A RU 2012134295 A RU2012134295 A RU 2012134295A RU 2507495 C1 RU2507495 C1 RU 2507495C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
oes
plane
eco
strokes
image
Prior art date
Application number
RU2012134295/28A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Михайлович Демидов
Альберт Леонидович Логутко
Евгений Николаевич Федонов
Original Assignee
Открытое акционерное общество Центральный научно-исследовательский институт "ЦИКЛОН"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Открытое акционерное общество Центральный научно-исследовательский институт "ЦИКЛОН" filed Critical Открытое акционерное общество Центральный научно-исследовательский институт "ЦИКЛОН"
Priority to RU2012134295/28A priority Critical patent/RU2507495C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2507495C1 publication Critical patent/RU2507495C1/ru

Links

Images

Abstract

Изобретение относится к области измерений и касается способа контроля параметров оптико-электронных систем (ОЭС). Способ основан на формировании изображения калиброванных источников излучения (мир) в плоскости матричного фотоприемного устройства (МФПУ), воспроизведении получаемой видеоинформации в одном из телевизионных стандартов и измерении сигналов на выходе ОЭС. При проведении измерений ОЭС крепят к турникету и размещают систему «ОЭС-турникет» в термокамере. Изображение миры перемещают по плоскости МФПУ за счет наклона линии визирования ОЭС в вертикальной и поворота системы «мира-коллиматор» в горизонтальной плоскостях. Число штрихов миры устанавливается достаточно большим (более 50 штрихов). Кроме того, в миру вводят дополнительную пару штрихов с низкой пространственной частотой. Пространственное разрешение ОЭС определяют путем сравнения амплитуд импульсов на низкой и высокой пространственных частотах. Технический результат заключается в повышении точности контроля параметров ОЭС в рабочем диапазоне температур. 4 ил.

Description

Предлагаемое изобретение относится к области измерений и может быть использовано при измерении параметров оптико-электронных систем (ОЭС), использующих матричные фотоприемные устройства (МФПУ) в диапазоне температурных воздействий.
ХАРАКТЕРИСТИКА ПРЕДШЕСТВУЮЩЕГО УРОВНЯ ТЕХНИКИ
И ЕГО НЕДОСТАТКИ
В известном способе параметры ОЭС с МФПУ контролируются с помощью универсальной миры, содержащей несколько групп штрихов (4 штриха в группе) с различной пространственной частотой.
Объективом ОЭС создается на поверхности МФПУ уменьшенное (увеличенное) в k=f0/fk раз изображение миры. Здесь:
fk - фокусное расстояние объектива коллиматора;
f0 - фокусное расстояние объектива ОЭС.
Отметим, что до появления МФПУ стандартная мира, содержащая 4 штриха, была вполне достаточной для панорамных ОЭС, с одиночными ФПУ или их линейками, поскольку необходимой принадлежностью таких ОЭС являлось устройство строчной развертки, плавно прописывающей все возможные сочетания положения изображения миры и ФПУ.
С появлением МФПУ отпала необходимость в устройстве развертки, но одновременно появились специфические трудности и ошибки настройки ОЭС вследствие дискретных геометрических параметров МФПУ и стандартных дискретных мир с ограниченным числом штрихов, геометрические параметры которых не связаны жестко с параметрами ОЭС, их объективами и МФПУ.
На фиг.1А показана типичная блок-схема установки для контроля параметров ОЭС известным способом.
На фиг.1Б представлен типичный сигнал, образующийся на выходе ОЭС, для случая, когда просматривается строка, в которой содержится изображение миры с 4 штрихами в плоскости МФПУ, создающей как высокую, так и низкую (ВЧ и НЧ) пространственную частоту.
При изучении результатов измерения, приведенных на фиг.1Б, обращают на себя внимание следующие обстоятельства:
- постепенное вертикальное смещение как ВЧ, так и НЧ сигналов от штриха к штриху;
- смещение верхних и нижних границ, а также изменение амплитуды сигнала от НЧ миры, особенно от последнего, четвертого штриха.
Эти эффекты возникают вследствие неопределенности как начального положения в изображении первого штриха миры относительно пиксела МФПУ, так и соотношения между шагами изображения миры и пикселов МФПУ, приводящие к неопределенности в измерении размаха сигнала. Ошибка измерения UВЧ в этом способе может достигать 50% и зависит от взаимной ориентации оптических осей коллиматора и ОЭС, от разности их шаговых расстояний и от величины начального смещения изображения первого по счету штриха миры на поверхности пиксела МФПУ.
Дополнительно, следует ожидать ряда эффектов, связанных с изменением рабочей температуры и обусловленных изменением базовых длин в конструкции объектив ОЭС - МФПУ, а также радиусов кривизны и коэффициентов преломления линз объектива, а также возможным смещением МФПУ относительно линии визирования объектива. Однако в способе-прототипе эффекты, связанные с изменением температуры, не рассматривались.
В целом, известным способом:
- с большой ошибкой измеряется фокусное расстояние объективов ОЭС, это не позволяет оценить его изменения в диапазоне рабочих температур и, соответственно, изменение границ поля зрения и дефокусировки ОЭС;
- с большой ошибкой измеряется соотношение полей зрения в многоканальных комбинированных ОЭС (КОЭС);
- не измеряется температурное разрешение (ΔТВЧ) ОЭС на граничной частоте (частоте Найквиста) в различных участках поля зрения и зависимость ΔТВЧ от температуры;
- не измеряется нарушение симметрии поверхности изображения относительно линии визирования ОЭС.
Кроме того, известным способом не контролируются локальные параметры ОЭС:
- распределение пространственного разрешения по полю зрения;
- распределение фокусного расстояния по полю зрения и кривизна поля изображения;
- изменение названных параметров в диапазоне рабочих температур, поскольку такой контроль изначально требует изменения взаимной ориентации ЛВ ОЭС и коллиматора, что в известном методе приводит к большой ошибке.
Точное знание названных параметров необходимо либо для создания компенсирующих механизмов, либо для учета изменения названных параметров программным способом; это знание существенно повысило бы устойчивость ОЭС к изменяющимся условиям их эксплуатации.
Предлагается способ контроля параметров ОЭС в рабочем диапазоне температур при котором:
1. ОЭС (или партию ОЭС) крепят к турникету с электроприводом, угловое положение турникета и, соответственно, ЛВ в первой из плоскостей (например, в вертикальной плоскости) точно определяют; всю систему «ОЭС-турникет» размещают в термокамере, оборудованной окном для входа калиброванного излучения; выходной сигнал ОЭС анализируют известным способом.
2. Источник калиброванного излучения формируют при постоянной (комнатной) температуре с помощью системы «мира-коллиматор», при этом система «мира-коллиматор» имеет возможность точного калиброванного поворота во второй плоскости, перпендикулярной первой (в горизонтальной плоскости).
3. Шаг штрихов миры на поверхности изображения рассчитывается так, чтобы он отличался от шага пары пикселов МФПУ на 2-10%;
- число штрихов миры n0 должно быть достаточно большим (n0≥50);
- мира должна содержать пару штрихов с низкой пространственной частотой;
- изображение миры перемещается по плоскости МФПУ за счет соответствующего пространственного наклона ОЭС относительно оптической оси коллиматора;
- контраст изображения штрихов миры создается парой штрих-подложка, имеющих одинаковую температуру, но различный коэффициент серости; для изменения контраста изображения варьируется температура подложки.
ТЕХНИЧЕСКАЯ ЗАДАЧА, РЕШАЕМАЯ ИЗОБРЕТЕНИЕМ
Целью предлагаемого изобретения являются измерения в диапазоне рабочих температур:
1. Изменения фокусного расстояния объективов ОЭС (ошибка не более 0,1%).
2. Искривления поверхности изображения и нарушения ее симметрии относительно центра матричного фотоприемного устройства (МФПУ).
3. Изменения размеров поля зрения ОЭС.
4. Изменения пространственного разрешения ОЭС по полю зрения.
5. Изменение температурного разрешения ОЭС в различных участках поля зрения.
6. Изменение пространственной ориентации линии визирования (ЛВ) ОЭС.
СУЩНОСТЬ ИЗОБРЕТЕНИЯ
Настройку и объективный контроль параметров ОЭС, использующих МФПУ, осуществляют на установке, у которой:
- в азимутальном измерении создается калиброванный по интенсивности и пространственной частоте поток энергии; калиброванный поток энергии остается неизменным в процессе всех измерений;
- пространственная частота потока энергии создается соответствующим подбором шаговых расстояний штрихов миры и близка к частоте Найквиста для расчетных фокусных расстояний объектива ОЭС и коллиматора;
- пространственный угол потока энергии, формируемого коллиматором, существенно (в 3…6 раз) меньше поля зрения ОЭС по азимуту;
- азимутальное смещение потока энергии по всему полю зрения ОЭС осуществляется путем поворота объектива коллиматора и миры вокруг вертикальной оси, при этом взаимное расположение миры и объектива относительно оптической оси коллиматора остается неизменным;
- угломестное смещение (в вертикальной плоскости) положения изображения миры осуществляют путем калиброванного наклона оптической оси ОЭС;
- общее положение калиброванного потока энергии в поле зрения ОЭС определяется путем измерения местоположения изображения сигнала на экране монитора, либо измерением местоположения сигнала на строке с данным номером и калиброванной задержке сигнала относительно начала строки по цифровому осциллографу.
Предлагаемый способ позволяет путем измерения пространственного угла между оптическими осями коллиматора и ОЭС и повторения процедуры измерения для любого сектора поля зрения ОЭС определять с высокой точностью в любом секторе поля зрения ОЭС в диапазоне рабочих температур:
1. Фокусное расстояние объектива ОЭС.
2. Величину искривления поверхности изображения и нарушение ее симметрии относительно центра матричного фотоприемного устройства (МФПУ).
3. Размеры поля зрения ОЭС.
4. Пространственное разрешение ОЭС по полю зрения ОЭС.
5. Изменение NEDT ОЭС по полю зрения.
6. Изменение пространственной ориентации линии визирования (ЛВ) относительно базовых элементов конструкции ОЭС
КРАТКОЕ ОПИСАНИЕ ФИГУР ЧЕРТЕЖА
На фиг.1А приведена известная оптическая схема системы «мира-коллиматор - объектив ОЭС - МФПУ» при измерениях по способу прототипа; известная система не предполагает оптических измерений в диапазоне рабочих температур ОЭС;
- на фиг.1Б показана форма ВЧ и НЧ сигналов на выходе ОЭС при измерении ее параметров известным способом (показан типичный сигнал на входе регистрирующего цифрового осциллографа).
На фиг.2 показана оптическая схема предлагаемой установки, позволяющей производить необходимые измерения параметров ОЭС в диапазоне температур. Здесь:
1 - блок излучателя (повернуто на 90° вокруг оптической оси зеркала)
2 - зеркало (линза) коллиматора
3 - мира
4 - термокамера
5 - турель термокамеры с ОЭС
6-i - i-я ОЭС
7-i - i-й МФПУ
8 - оптическое входное окно термокамеры.
На фиг.3 показаны контрольные местоположения четырех изображений миры в поле зрения ОЭС.
На фиг.4 показаны сигналы на выходе цифрового осциллографа, полученные на установке, работающей по заявляемому способу. Мира содержит контрастные штрихи на частоте, близкой к частоте Найквиста (отклонение не более 10%). Шаговое расстояние изображения штрихов миры в фокальной плоскости объектива ОЭС составляло хш=38,5 мкм (при f=100 мм и размере пиксела МФПУ δ=35 мкм).
Мира также содержит 2 штриха с пространственной частотой, в 5 раз меньшей, чем частота Найквиста, что позволяет производить сравнение размаха сигнала на высокочастотной (ВЧ) и низкочастотной (НЧ) компонентах сигнала.
Из фиг.4 видно, что в центре поля зрения и на его краю отношение компонент ВЧ к НЧ может существенно меняться, как правило, уменьшаясь при смещении положения изображения миры от центра к краям поля зрения. Из фиг.4 также видно, что фокусное расстояние в зависимости от направления измерения в пределах поля зрения f (ε, β) изменяется более чем на ±1% от номинальной величины.

Claims (1)

  1. Способ контроля параметров оптико-электронных систем (ОЭС), в рабочем диапазоне температур, основанный на формировании действительного изображения калиброванных источников излучения (мир), в картинной плоскости, т.е. в плоскости матричного фотоприемного устройства (МФПУ), воспроизведении получаемой видеоинформации в одном из телевизионных стандартов и измерении параметров сигналов на выходе ОЭС
    отличается тем, что с целью повышения точности измерения параметров ОЭС в диапазоне рабочих температур:
    - создают калиброванный по интенсивности и пространственной частоте поток энергии в азимутальном измерении при постоянной комнатной температуре;
    - ОЭС (или партию ОЭС) крепят к турникету с электроприводом, угловое положение турникета и, соответственно, линии визирования (ЛВ) каналов ОЭС, в первой из плоскостей (например, в вертикальной плоскости) точно определяют; всю систему «ОЭС-турникет» размещают в термокамере, оборудованной окном, прозрачным в диапазоне чувствительности ОЭС, для входа калиброванного излучения; при этом система «мира-коллиматор» имеет возможность точного калиброванного поворота во второй плоскости, перпендикулярной первой (в горизонтальной плоскости); шаг изображения штрихов миры в плоскости МФПУ рассчитывают так, чтобы он отличался от шага пары пикселов МФПУ на 2-10%; при этом:
    - число штрихов миры устанавливают достаточно большим (n0≥50);
    - мира содержит пару штрихов с низкой пространственной частотой;
    - изображение миры перемещают по плоскости МФПУ как за счет пространственного наклона ЛВ ОЭС в вертикальной плоскости, так и за счет поворота системы "мира-коллиматор" в горизонтальной плоскости;
    - пространственное разрешение ОЭС по полю зрения определяют путем сравнения амплитуд импульсов на низкой и высокой пространственных частотах.
RU2012134295/28A 2012-08-13 2012-08-13 Способ контроля параметров оптико-электронных систем в рабочем диапазоне температур RU2507495C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2012134295/28A RU2507495C1 (ru) 2012-08-13 2012-08-13 Способ контроля параметров оптико-электронных систем в рабочем диапазоне температур

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2012134295/28A RU2507495C1 (ru) 2012-08-13 2012-08-13 Способ контроля параметров оптико-электронных систем в рабочем диапазоне температур

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2507495C1 true RU2507495C1 (ru) 2014-02-20

Family

ID=50113360

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2012134295/28A RU2507495C1 (ru) 2012-08-13 2012-08-13 Способ контроля параметров оптико-электронных систем в рабочем диапазоне температур

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2507495C1 (ru)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU170232U1 (ru) * 2016-08-03 2017-04-18 Евгений Витальевич Алтухов Мира для настройки и определения параметров оптико-электронных систем
RU185057U1 (ru) * 2018-07-09 2018-11-19 Акционерное общество "Научно-производственное объединение "Государственный институт прикладной оптики" (АО "НПО ГИПО") Стенд измерения параметров тепловизионных каналов
RU2686155C1 (ru) * 2018-07-09 2019-04-24 Акционерное общество "Научно-производственное объединение "Государственный институт прикладной оптики" (АО "НПО ГИПО") Стенд измерения параметров тепловизионных каналов
RU2689457C1 (ru) * 2018-07-16 2019-05-29 Акционерное общество "Научно-производственное объединение "Государственный институт прикладной оптики" (АО "НПО ГИПО") Стенд измерения параметров тепловизионных каналов

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1520353A1 (ru) * 1987-07-06 1989-11-07 МВТУ им.Н.Э.Баумана Способ контрол качества изображени , формируемого визуальными оптикоэлектронными системами
EP1628492A1 (en) * 2004-08-17 2006-02-22 Dialog Semiconductor GmbH A camera test system
RU2368925C1 (ru) * 2007-08-08 2009-09-27 Открытое Акционерное Общество "Пеленг" Прибор для контроля параметров оптико-электронных систем
RU115516U1 (ru) * 2011-12-26 2012-04-27 Закрытое акционерное общество "МНИТИ" (ЗАО "МНИТИ") Устройство контроля параметров тепловизионных приборов

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1520353A1 (ru) * 1987-07-06 1989-11-07 МВТУ им.Н.Э.Баумана Способ контрол качества изображени , формируемого визуальными оптикоэлектронными системами
EP1628492A1 (en) * 2004-08-17 2006-02-22 Dialog Semiconductor GmbH A camera test system
RU2368925C1 (ru) * 2007-08-08 2009-09-27 Открытое Акционерное Общество "Пеленг" Прибор для контроля параметров оптико-электронных систем
RU115516U1 (ru) * 2011-12-26 2012-04-27 Закрытое акционерное общество "МНИТИ" (ЗАО "МНИТИ") Устройство контроля параметров тепловизионных приборов

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU170232U1 (ru) * 2016-08-03 2017-04-18 Евгений Витальевич Алтухов Мира для настройки и определения параметров оптико-электронных систем
RU185057U1 (ru) * 2018-07-09 2018-11-19 Акционерное общество "Научно-производственное объединение "Государственный институт прикладной оптики" (АО "НПО ГИПО") Стенд измерения параметров тепловизионных каналов
RU2686155C1 (ru) * 2018-07-09 2019-04-24 Акционерное общество "Научно-производственное объединение "Государственный институт прикладной оптики" (АО "НПО ГИПО") Стенд измерения параметров тепловизионных каналов
RU2689457C1 (ru) * 2018-07-16 2019-05-29 Акционерное общество "Научно-производственное объединение "Государственный институт прикладной оптики" (АО "НПО ГИПО") Стенд измерения параметров тепловизионных каналов

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105021211B (zh) 一种基于自准直仪的姿态测试装置及方法
CN103149558B (zh) 基于望远镜的三维光学扫描仪校准
CN102239421B (zh) 基于望远镜的三维光学扫描仪校准
US10107624B2 (en) Geodetic surveying device with a microlens array
RU2507495C1 (ru) Способ контроля параметров оптико-электронных систем в рабочем диапазоне температур
CN106768391B (zh) 成像仪不同焦面谱段配准精度测试方法
CN108956099A (zh) 双经纬仪测量多波段光学系统光轴一致性的方法
US20140375795A1 (en) Determination of a measurement error
CN110501026A (zh) 基于阵列星点的相机内方位元素标定装置及方法
CN105387996B (zh) 多光轴地面恒星观测系统光轴一致性检校方法
CN105450912B (zh) 扫描法面阵ccd探测器实时视场拼接方法
CN104006885B (zh) 时空联合调制傅里叶变换成像光谱仪及制作方法
CN104006883B (zh) 基于多级微反射镜的成像光谱仪及制作方法
CN103162674A (zh) 测量仪
CN110779469B (zh) 一种地平式光电跟踪系统的轴系垂直度检测装置及方法
RU2507494C2 (ru) Мира для настройки и определения параметров оптико-электронных систем с матричными фотоприемными устройствами и способ ее использования
CN109631948B (zh) 一种用于全站仪校准的光纤传递装置及方法
CN112461508B (zh) 一种基于惯性参考单元的相机视轴扰动测量设备及方法
Yuan et al. Laboratory geometric calibration of non-metric digital camera
CN112272272B (zh) 一种成像方法及其装置
CN107238438A (zh) 多普勒差分式干涉仪的装调方法
Kyle et al. Compensating for the effects of refraction in photogrammetric metrology
CN107727003B (zh) 基于结构光照明的面形测量装置和方法
RU2587531C2 (ru) Способ контроля взаимной пространственной юстировки оптико-электронных систем с матричным фотоприемниками
CN112432614A (zh) 一种通用型机载多传感器校轴装置及校轴方法

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20190814

NF4A Reinstatement of patent

Effective date: 20201027