RU2345332C1 - Устройство для регистрации инфракрасного спектра эмиссии образца - Google Patents

Устройство для регистрации инфракрасного спектра эмиссии образца Download PDF

Info

Publication number
RU2345332C1
RU2345332C1 RU2007112801/28A RU2007112801A RU2345332C1 RU 2345332 C1 RU2345332 C1 RU 2345332C1 RU 2007112801/28 A RU2007112801/28 A RU 2007112801/28A RU 2007112801 A RU2007112801 A RU 2007112801A RU 2345332 C1 RU2345332 C1 RU 2345332C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
radiation
sample
mirror
diaphragm
plane
Prior art date
Application number
RU2007112801/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2007112801A (ru
Inventor
Евгений Львович Терпугов (RU)
Евгений Львович Терпугов
рева Ольга Васильевна Дегт (RU)
Ольга Васильевна Дегтярева
Александр Иванович Хорохорин (RU)
Александр Иванович Хорохорин
Валерий Васильевич Савранский (RU)
Валерий Васильевич Савранский
Игорь Анатольевич Митрохин (RU)
Игорь Анатольевич Митрохин
Виталий Аскарович Ахметов (RU)
Виталий Аскарович Ахметов
Original Assignee
Евгений Львович Терпугов
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Евгений Львович Терпугов filed Critical Евгений Львович Терпугов
Priority to RU2007112801/28A priority Critical patent/RU2345332C1/ru
Publication of RU2007112801A publication Critical patent/RU2007112801A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2345332C1 publication Critical patent/RU2345332C1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

Устройство для регистрации инфракрасного спектра эмиссии образца содержит источник излучения, сферическое зеркало, оптически связанное с плоскостью образца и первым плоским зеркалом, расположенным на одной оптической оси с воспринимающей системой, приемник, регистрирующий излучение, и компьютер, обрабатывающий сигналы. Также в устройство введены последовательно расположенные на одной оптической оси с источником излучения система конденсоров и дополнительное плоское зеркало, установленное в фокальной плоскости системы конденсоров и оптически связанное с плоскостью образца. Воспринимающая система установлена за первым плоским зеркалом по ходу оптических лучей от него и содержит последовательно расположенные диафрагму с программным управлением шага ее раскрытия и собирающее зеркало, оптически связанные друг с другом. При этом диаметры сферического зеркала и диафрагмы и расстояние между ними согласованы между собой и определены тем, что излучение со сферического зеркала не выходит за пределы диаметра диафрагмы. В качестве источника излучения использована, например, ксеноновая лампа мощностью 100 Вт. Технический результат - повышение информативности регистрируемых эмиссионных спектров и упрощение устройства. 1 з.п. ф-лы, 3 ил.

Description

Изобретение относится к области нелинейной оптики, а именно к спектральной измерительной технике, и может быть использовано для исследования структуры различных веществ, в том числе биологических объектов, по полученным эмиссионным спектрам в ИК (инфракрасном) среднем диапазоне.
Возможность регистрировать ИК-эмиссию от образцов возникла в 90-х годах с появлением ИК-Фурье техники. Устройства регистрировали ИК-эмиссию от образца (пленки), нанесенного на металлическую подложку, и содержали нагревательный элемент или источник излучения - лазер, который нагревал подложку до температуры 100° и выше. При этом регистрируемые спектры не были чистыми, а представляли собой суммарные спектры излучения металлической подложки и собственных спектров ИК-эмиссии образца.
Известно устройство для регистрации спектра эмиссии образца [1], в котором внешний источник излучения установлен под углом к предметной плоскости (с образцом), помещенной в вакуумной камере с обеспечением подогрева, а сферическое зеркало, собирающее эмиссию от образца, расположено на пересечении под прямым углом оптических осей, проходящих через предметную плоскость и интерферометр.
Использование аргонового лазера с длиной волны 514,5 нм вызывало подъем температуры в образце до 170°С, что приводило к деструкции образца, поэтому получить качественные спектры могли только в вакууме.
Наиболее близким техническим решением к заявляемому решению, выбранным в качестве прототипа, является устройство для регистрации инфракрасного спектра эмиссии образца [2], содержащее внешний источник монохроматического излучения, предметную плоскость, тороидное зеркало, оптически связанное с предметной плоскостью и плоским зеркалом, которое расположено на одной оси с воспринимающей оптической системой.
Недостатками устройства являются сложность оптической схемы и технических процедур по обслуживанию оптики, а также недостаточное получение информации о спектре.
Технической задачей решения является повышение информативности регистрируемых эмиссионных спектров и упрощение устройства.
Также технической задачей является расширение класса исследуемых объектов.
Поставленная задача достигается тем, что в известном устройстве для регистрации ИК-спектра эмиссии образца, содержащем внешний источник излучения, сферическое зеркало, оптически связанное с предметной плоскостью и плоским зеркалом, расположенным на одной оптической оси с воспринимающей системой, в него введены последовательно расположенные на одной оптической оси после источника излучения система конденсоров, оптически связанная с источником излучения, и дополнительное плоское зеркало, установленное в фокальной плоскости системы конденсоров и оптически связанное с предметной плоскостью, при этом воспринимающая система включает диафрагму и следующее за ней собирающее зеркало, установленные на одной оптической оси за первым плоским зеркалом и оптически связанные друг с другом. Диаметры сферического зеркала и диафрагмы, а также расстояние между ними согласованы между собой и определены тем, что излучение из плоского зеркала не выходит за пределы диаметра диафрагмы
В качестве источника излучения использована газоразрядная лампа, например ксеноновая (Хе) лампа.
Сущность изобретения поясняется фиг.1, на которой изображена оптическая схема устройства.
На фиг.2 изображены снятые с помощью устройства эмиссионные инфракрасные спектры: а) образца кремния с возбуждением через разные светофильтры; б) образца детского мыла.
Видно, что каждое исследуемое вещество характеризуется набором своих спектральных линий инфракрасной эмиссии.
На фиг.3 изображена схема устройства, выбранного за прототип.
Устройство (фиг.1) содержит источник излучения 1 (источник света когерентного или некогерентного, любая газоразрядная лампа - ртутная, ксеноновая, глобар); систему конденсоров 2, дополнительное плоское зеркало 3, расположенное под 45° к горизонтали, предметную плоскость 4 - металлическая подложка с исследуемым образцом (пленкой), сферическое зеркало 5, первое плоское зеркало 6, воспринимающую систему - ирисовую диафрагму 7 с программным управлением шага раскрытия диафрагмы и собирающее зеркало 8, приемник 9, регистрирующий излучение, и PC компьютер 10, обрабатывающий сигналы.
Устройство работает следующим образом: излучение от источника 1 фокусируется системой конденсоров 2 на плоское зеркало 3, которое отражает сфокусированное излучение на предметную плоскость с образцом 4. Образец может быть любой толщины и прозрачности, жидким или твердым. Под действием излучения оптического диапазона в образце происходит возбуждение и испускание ИК-квантов. Это эмиссия ИК-излучения, которая собирается сферическим зеркалом 5, формируется в слабо расходящийся пучок и направляется на плоское зеркало 6. Оно направляет полученную ИК-эмиссию на диафрагму 7. Меняя диаметр отверстия диафрагмы, получают соответствующие спектральные кольца, которые собираются зеркалом 8, регистрируются приемником 9 и обрабатываются компьютером 10. С помощью устройства получают и регистрируют спектры исследуемого образца в ИК-области.
Сущность технического решения заключается в следующем. Слабоинтенсивное, частично когерентное излучение от источника видимого света фокусируется в плоскости образца, в котором происходит раскачка молекулярных колебаний, сфазированных в объеме светового пятна возбуждающего излучения. Вследствие этого возбуждения диполи молекул образца испускают под различным углом ИК-кванты эмиссии. С помощью оптических зеркал излучение направляется на диафрагму, шаг раскрытия которой управляется программой. Зарегистрированные приемником и обработанные компьютером спектры дают сразу полную картину об образце, а использование в качестве источника излучения газоразрядной лампы с полихроматическим излучением (широким участком спектра видимого света) возбуждает все моды при воздействии на образец. Это дает возможность расширить класс исследуемых объектов.
Было создано и испытано устройство для регистрации спектра эмиссии. Источник видимого света - ксеноновая лампа мощностью 100 Вт, лучи от нее фокусировались системой короткофокусных линз диаметром 20 мм. Первое сферическое зеркало устанавливалось на расстоянии 5 см от диафрагмы. Это предотвращало попадание на приемник паразитных излучений.
Предлагаемое устройство по сравнению с прототипом обладает следующими преимуществами:
- устройство имеет повышенные технические возможности, поскольку использование широкополосной накачки от лампы позволяет получать полную информацию о спектре исследуемого вещества (при использовании лазера не все колебания активны) по ориентации дипольных моментов, определять структуру вещества без использования изотопов;
- расширение спектральных границ, т.е. регистрация большего количества спектральных линий в диапазоне от 400 до 2000 см-1 и возможность регистрировать обертона и составные частоты. Возможность наблюдать не только ИК-переходы, а также переходы в комбинационном рассеянии;
- получать более достоверные и точные спектры, поскольку вышедший свет от образца используется полностью;
- расширяется класс исследуемых объектов: можно при комнатной температуре и атмосферном давлении без специальной подготовки исследовать биологические структуры и объекты без их деструкции, а также пленки, газы, кристаллы, жидкости;
- по сравнению с громоздким, сложным в изготовлении прототипом с многочисленными технологическими операциями по подготовке устройства к работе (с чувствительной оптикой к акустическим шумам, звукам, колебаниям, температуре и влажности, что требует многократной юстировки и специально обученного персонала), предлагаемое устройство имеет упрощенную оптическую схему, компактно (размеры устройства 300×20×100 мм), его легко переносить, оно дешевле в изготовлении, просто и удобно в работе;
- взаимодействие оптических элементов дает возможность получить пространственное разделение частот, что позволяет обходиться без ИК-Фурье спектрометра, дисперсионных оптических элементов интерферометра.
Источники информации
1. «Applications of Laser-Induced Thermal Emission Spectroscopy to Various Samples», A.Tsuge, V.Uwamino, and T.Ishisuka, Applied Spectroscopy, Volume 43, №7, 89.
2. «Preliminary Studies of Laser-Induced Thermal Emission Spectroscopy of Condensed Phases», L.T.Lin, D.D.Archibald and D.E.Honigs, Applied Spectroscopy, Volume 42, №3, 1988 - прототип.

Claims (2)

1. Устройство для регистрации инфракрасного спектра эмиссии образца, содержащее источник излучения, сферическое зеркало, оптически связанное с плоскостью образца и первым плоским зеркалом, расположенным на одной оптической оси с воспринимающей системой, приемник, регистрирующий излучение и компьютер, обрабатывающий сигналы, отличающееся тем, что в него введены последовательно расположенные на одной оптической оси с источником излучения система конденсоров и дополнительное плоское зеркало, установленное в фокальной плоскости системы конденсоров и оптически связанное с плоскостью образца, а воспринимающая система установлена за первым плоским зеркалом по ходу оптических лучей от него и содержит последовательно расположенные диафрагму с программным управлением шага ее раскрытия и собирающее зеркало, оптически связанные друг с другом, при этом диаметры сферического зеркала и диафрагмы и расстояние между ними согласованы между собой и определены тем, что излучение со сферического зеркала не выходит за пределы диаметра диафрагмы.
2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что в качестве источника излучения использована, например, ксеноновая лампа мощностью 100 Вт.
RU2007112801/28A 2007-04-06 2007-04-06 Устройство для регистрации инфракрасного спектра эмиссии образца RU2345332C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2007112801/28A RU2345332C1 (ru) 2007-04-06 2007-04-06 Устройство для регистрации инфракрасного спектра эмиссии образца

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2007112801/28A RU2345332C1 (ru) 2007-04-06 2007-04-06 Устройство для регистрации инфракрасного спектра эмиссии образца

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2007112801A RU2007112801A (ru) 2008-10-20
RU2345332C1 true RU2345332C1 (ru) 2009-01-27

Family

ID=40040838

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2007112801/28A RU2345332C1 (ru) 2007-04-06 2007-04-06 Устройство для регистрации инфракрасного спектра эмиссии образца

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2345332C1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2640751C2 (ru) * 2014-09-29 2018-01-11 Евгений Львович Терпугов Устройство для регистрации эмиссии образца в среднем диапазоне инфракрасного спектра

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2640751C2 (ru) * 2014-09-29 2018-01-11 Евгений Львович Терпугов Устройство для регистрации эмиссии образца в среднем диапазоне инфракрасного спектра

Also Published As

Publication number Publication date
RU2007112801A (ru) 2008-10-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2019056709A (ja) エンドユーザ食品分析のための低費用分光分析システム
JP3628017B2 (ja) 結像方法および結像装置
TWI343995B (en) Multigas monitoring and detection system, and related measuring method
US7812311B2 (en) Method and apparatus for two-dimensional spectroscopy
CN103776815B (zh) 一种便携式可调节的拉曼探头
JP2005524079A (ja) 超高感度分光光度計
JP6145090B2 (ja) 真空紫外(vuv)またはより短波長の円偏光二色性分光のための方法および装置
WO2002048660A1 (en) Multiplex coherent raman spectroscopy detector and method
US7414717B2 (en) System and method for detection and identification of optical spectra
JP2008541134A (ja) 光学マイクロ分光計
KR20150037977A (ko) 이중 분광계
US6943884B2 (en) Laser system for detection and identification of chemical and biological agents and method therefor
EP2344862B1 (en) An arrangement adapted for spectral analysis of high concentrations of gas
JP2014526686A (ja) 放出及び透過光学分光計
RU2345332C1 (ru) Устройство для регистрации инфракрасного спектра эмиссии образца
CN113281323A (zh) 一种复杂体系中有机污染物特征信息提取方法及其快速检测方法、系统
US11378450B2 (en) Compact infrared spectrometer systems and methods for measuring vibrational spectrum of materials and substances
US20200217788A1 (en) Compact fourier transform infrared spectrometer
JPH1151855A (ja) 円二色性蛍光励起スペクトル測定装置
US20220381681A1 (en) Miniature multispectral detection system having multiple spectrometers for enhanced photodetection spectroscopy for detection of pathogens, biomarkers, or any compound
US20150330902A1 (en) Gas-Phase Delivery System for Molecule Sensing Apparatus
RU2640751C2 (ru) Устройство для регистрации эмиссии образца в среднем диапазоне инфракрасного спектра
JPH09257578A (ja) ラマン散乱光増強装置
WO1996000887A1 (en) An improved optical sensor and method
EP4413350A1 (en) Apparatus and method for multi-characteristic measurement of radiation properties

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20090407

NF4A Reinstatement of patent

Effective date: 20100310

QB4A Licence on use of patent

Effective date: 20100802

MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20110407

RZ4A Other changes in the information about an invention
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20200407