RU2328008C2 - Устройство для измерения больших значений комплексной диэлетрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч - Google Patents
Устройство для измерения больших значений комплексной диэлетрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч Download PDFInfo
- Publication number
- RU2328008C2 RU2328008C2 RU2006128859/09A RU2006128859A RU2328008C2 RU 2328008 C2 RU2328008 C2 RU 2328008C2 RU 2006128859/09 A RU2006128859/09 A RU 2006128859/09A RU 2006128859 A RU2006128859 A RU 2006128859A RU 2328008 C2 RU2328008 C2 RU 2328008C2
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- waveguide
- short
- circuited
- dielectric permittivity
- low
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
Изобретение относится к области измерения электрических величин и может быть использовано в производстве существующих и новых поглощающих материалов типа углепластиков, применяется в СВЧ-диапазоне, а также для контроля электрических параметров диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь. Технический результат - получение более точной измерительной информации о значении комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов. Предлагается устройство для измерения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости сильно поглощающих материалов на СВЧ, в котором П-волновод короткозамкнутый на конце, а на боковой стенке напротив гребня выполнена продольная щель большой длины, параллельно оси П-волновода, и снабженная согласующими скосами, ширина щели во всю стенку П-волновода, которая в процессе измерения закрывается эталонным короткозамыкателем или измеряемым образцом. 3 ил.
Description
Изобретение относится к области измерения электрических величин и может быть использовано в производстве существующих и новых поглощающих материалов типа углепластиков, применяется в СВЧ-диапазоне, а также для контроля электрических параметров диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь.
Наиболее близким по технической сущности к заявляемому изобретению является выбранное в качестве прототипа устройство для измерения комплексной диэлектрической проницаемости косвенным методом, включающее короткозамкнутый на конце прямоугольный волновод, имеющий на боковой стенке продольную щель большой длины, параллельно оси волновода, снабженную согласующими скосами, которая в процессе измерения закрывается эталонным короткозамыкателем или измеряемым образцом [см. Патент РФ №2199760, Б.И. №6, 2003 г.]. Измерения проводятся в два этапа, в начале к щели волновода подключается эталонный короткозамыкатель и производится калибровка установки, затем к щели волновода взамен эталонного короткозамыкателя подключается исследуемый плоский образец диэлектрика. От СВЧ-генератора по волноводу подается зондирующая электромагнитная волна. Информация о параметрах материала заключается в амплитудах и фазах отраженных волн, т.е. в комплексном коэффициенте отражения от образца. Для измерения коэффициента отражения могут применяться одиночные и многозондовые измерительные линии, автоматические измерительные линии, автоматические измерители полных сопротивлений и т.п. Обработка результатов производится по способу прототипа [см. Патент РФ №2199760, Б.И. №6, 2003 г.].
Недостатком описанного прототипа являются невысокая точность измерения ε и tgδ для низкоимпедансных материалов, имеющих одновременно большие значения диэлектрической проницаемости ε и тангенса угла диэлектрических потерь tgδ и характеризующиеся большими коэффициентами отражения от образца. Электромагнитная волна при взаимодействии с измеряемым образцом низкоимпедансного композиционного материала испытывает большое затухание, для измерения ε и tgδ используют электромагнитную волну повышенной мощности.
Сущность изобретения заключается в следующем, в уменьшении погрешности измерения относительной диэлектрической проницаемости ε и тангенса угла диэлектрических потерь tgδ низкоимпедансных композиционных материалов и расширения частотного диапазона измерения диэлектрической проницаемости .
Технический результат - получение более точной измерительной информации о значении комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов.
Указанный технический результат достигается тем, что устройство для измерения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на СВЧ, характеризующихся большими значениями комплексной относительной диэлектрической проницаемости, содержит СВЧ-генератор, измерительное устройство комплексного коэффициента отражения, короткозамкнутый на конце волновод, имеющий на боковой стенке продольную щель большой длины, параллельно оси волновода, снабженную согласующими скосами, которая в процессе измерения закрывается эталонным короткозамыкателем или измеряемым образцом, эталонный короткозамыкатель и образец измеряемого материала.
Особенностью является то, что оно содержит короткозамкнутый на конце П-волновод, у которого на боковой стенке напротив гребня выполнена продольная щель большой длины, параллельно оси короткозамкнутого на конце П-волновода, и снабженная согласующими скосами, причем ширина щели - во всю стенку короткозамкнутого на конце П-волновода.
Измерение диэлектрической проницаемости производится в два этапа, в начале щель закрывается эталонным короткозамыкателем, затем щель закрывается пластиной исследуемого материала. От СВЧ-генератора по короткозамкнутому на конце П-волноводу подается зондирующая электромагнитная волна, которая распространяется по короткозамкнутому на конце П-волноводу со щелью и взаимодействует с измеряемым образцом. В обоих случаях производится измерение комплексного коэффициента отражения от короткозамкнутого на конце П-волновода со щелью. Свойства П-волноводов - это более широкая рабочая полоса частот на низшем типе колебаний, к тому же в месте между гребнем и боковой стенкой концентрируется повышенная напряженность электромагнитного поля, что увеличивает чувствительность и точность метода измерения на образцах измеряемого материала малых геометрических размеров.
Сущность изобретения поясняется чертежами, где на Фиг.1 - представлено поперечное сечение П-волновода, на Фиг.2 - его вид сбоку, на Фиг.3 - вид снизу короткозамкнутого на конце П-волновода.
Устройство содержит СВЧ-генератор, измерительное устройство для измерения комплексной относительной диэлектрической проницаемости и короткозамкнутый на конце П-волновод 1, у которого на боковой стенке напротив гребня выполнена продольная щель большой длины, параллельно оси короткозамкнутого на конце П-волновода 1, и снабженная согласующими скосами, ширина щели может быть во всю стенку короткозамкнутого на конце П-волновода 1, эталонный короткозамыкатель и образец измеряемого материала 2.
Устройство работает следующим образом. Короткозамкнутый на конце П-волновод 1 образцом измеряемого материала 2 подключается к измерительной схеме и СВЧ-генератору. От СВЧ-генератора по короткозамкнутому на конце П-волноводу 1 подается зондирующая волна, которая движется по короткозамкнутому на конце П-волноводу 1, у которого на боковой стенке напротив гребня выполнена продольная щель большой длины, параллельно оси короткозамкнутого на конце П-волновода 1, и снабженная согласующими скосами, причем ширина щели может быть во всю стенку короткозамкнутого на конце П-волновода 1, и доходит до короткозамкнутого конца П-волновода 1, отражается и движется в обратном направлении. Сначала производятся измерения комплексного коэффициента отражения зондирующей волны от короткозамкнутого на конце П-волновода 1 с эталонным короткозамыкателем, установленным на место щели, затем производятся измерения коэффициента отражения зондирующей волны, когда установлен образец измеряемого материала 2 (пластина). Из полученных результатов комплексных коэффициентов отражения зондирующей волны от короткозамкнутого на конце П-волновода 1 с образцом измеряемого материала 2 и с эталонным короткозамыкателем вычисляется значение комплексной диэлектрической проницаемости измеряемого материала.
Claims (1)
- Устройство для измерения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на СВЧ, характеризующихся большими значениями комплексной относительной диэлектрической проницаемости, содержащее СВЧ генератор, измерительное устройство комплексного коэффициента отражения, короткозамкнутый на конце волновод, имеющий на одной стенке продольную щель большой длины, параллельно оси волновода, снабженную согласующими скосами, которая в процессе измерения закрывается эталонным короткозамыкателем или измеряемым образцом, эталонный короткозамыкатель и образец измеряемого материала, отличающееся тем, что оно содержит короткозамкнутый на конце П-волновод, у которого на широкой стенке напротив гребня выполнена продольная щель большой длины, параллельно оси короткозамкнутого на конце П-волновода, и снабженная согласующими скосами, причем ширина щели - во всю стенку короткозамкнутого на конце П-волновода.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2006128859/09A RU2328008C2 (ru) | 2006-08-08 | 2006-08-08 | Устройство для измерения больших значений комплексной диэлетрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2006128859/09A RU2328008C2 (ru) | 2006-08-08 | 2006-08-08 | Устройство для измерения больших значений комплексной диэлетрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2006128859A RU2006128859A (ru) | 2008-02-20 |
RU2328008C2 true RU2328008C2 (ru) | 2008-06-27 |
Family
ID=39266755
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2006128859/09A RU2328008C2 (ru) | 2006-08-08 | 2006-08-08 | Устройство для измерения больших значений комплексной диэлетрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2328008C2 (ru) |
-
2006
- 2006-08-08 RU RU2006128859/09A patent/RU2328008C2/ru not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
RU2006128859A (ru) | 2008-02-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5334941A (en) | Microwave reflection resonator sensors | |
US5872447A (en) | Method and apparatus for in-situ measurement of polymer cure status | |
Abd Rahman et al. | Planar microwave sensors for accurate measurement of material characterization: A review | |
US6819121B1 (en) | Method and apparatus for measurement of concrete cure status | |
RU2548064C1 (ru) | Способ измерения диэлектрической проницаемости материалов и устройство для его осуществления | |
Xiao et al. | A dual-scale CSRRs-based sensor for dielectric characterization of solid materials | |
RU2321010C1 (ru) | Устройство для измерения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч | |
RU2328008C2 (ru) | Устройство для измерения больших значений комплексной диэлетрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч | |
Zhang et al. | A CSRR-Based Dual-Peaks Antenna Sensor for Full Characterization of Magneto-Dielectric Materials | |
Ghodgaonkar et al. | Microwave nondestructive testing of composite materials using free-space microwave measurement techniques | |
DE602004006154D1 (de) | Sensor und gesamtvorrichtung zur hydrometrischen messung | |
Hasar | Microwave method for thickness-independent permittivity extraction of low-loss dielectric materials from transmission measurements | |
EP3156784A1 (en) | Enhanced characterization of dielectric properties | |
RU2326392C1 (ru) | Устройство для определения параметров низкоимпедансных материалов на свч с помощью коаксиального резонатора | |
WO2021124393A1 (ja) | 誘電分光測定装置 | |
EP2442096B1 (en) | Determination of electromagnetic properties of samples | |
Casacuberta et al. | Sensitivity Optimization in Single-Frequency Planar Microwave Sensors for Solid and Liquid Characterization and Microfluidics | |
WO2000004375A1 (en) | Microwave measuring instrument and methods of measuring with microwaves | |
JPH0714870Y2 (ja) | シート状物の高周波特性測定装置 | |
Hasar | Procedure for accurate and stable constitutive parameters extraction of materials at microwave frequencies | |
Hanif et al. | Compact maze-shaped meta resonator for high-sensitive S-band low permittivity characterization | |
RU2199760C2 (ru) | Устройство для измерения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости сильно поглощающих материалов на свч | |
RU2247400C1 (ru) | Устройство для измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных материалов на свч | |
RU2787302C1 (ru) | Способ определения мнимой части комплексной диэлектрической проницаемости жидких диэлектриков со слабым поглощением в диапазоне 22-40 ГГц | |
RU2766059C1 (ru) | Способ бесконтактного определения диэлектрической проницаемости жидких диэлектриков в диапазоне 22-40 ГГц |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20080809 |