RU2208262C2 - Способ получения электронного луча - Google Patents

Способ получения электронного луча Download PDF

Info

Publication number
RU2208262C2
RU2208262C2 RU2000109349/09A RU2000109349A RU2208262C2 RU 2208262 C2 RU2208262 C2 RU 2208262C2 RU 2000109349/09 A RU2000109349/09 A RU 2000109349/09A RU 2000109349 A RU2000109349 A RU 2000109349A RU 2208262 C2 RU2208262 C2 RU 2208262C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
electron beam
cathode
monopolar
lenses
electron
Prior art date
Application number
RU2000109349/09A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2000109349A (ru
Inventor
Л.Л. Андреева
Е.Н. Ивашов
С.В. Степанчиков
Original Assignee
Московский государственный институт электроники и математики (технический университет)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский государственный институт электроники и математики (технический университет) filed Critical Московский государственный институт электроники и математики (технический университет)
Priority to RU2000109349/09A priority Critical patent/RU2208262C2/ru
Publication of RU2000109349A publication Critical patent/RU2000109349A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2208262C2 publication Critical patent/RU2208262C2/ru

Links

Landscapes

  • Electron Beam Exposure (AREA)

Abstract

Изобретение относится к области электроники, а именно к способам получения электронного пучка. В способе получения электронного луча путем облучения катода электромагнитным излучением катод облучают лазерным лучом, а полученный электронный луч пропускают через одну магнитную линзу, полюса которой располагают по направлению движения электронов, две монополярные конденсаторные линзы и две диполярные, причем первую от катода монополярную конденсаторную линзу заряжают положительно, а вторую - отрицательно, первую и вторую диполярные линзы устанавливают во взаимно перпендикулярных направлениях с возможностью механической коррекции их взаимного расположения. Техническим результатом является получение электронного луча с электронами практически одинаковых кинетичеких энергий и импульсов, что обеспечивает минимальную хроматическую оберрацию и повышает разрешающую способность электронно-оптической системы. 1 ил.

Description

Изобретение относится к области электроники, а именно к способам получения электронного пучка.
Известен способ получения электронного пучка путем термоэлектронной эмиссии. (Черняев В.Н. Технология производства интегральных микросхем и микропроцессоров: Учебник для вузов - 2-е изд., перераб. и доп. - М., Радио и связь, 1987 г., - 484 стр.: ил. стр. 248, рис. 11.1б).
Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату является способ получения электронного луча путем облучения катода электромагнитным излучением (Черняев В.Н. Технология производства интегральных микросхем и микропроцессоров: Учебник для вузов - 2-е изд., перераб. и доп. -М., Радио и связь, 1987 г., -484 стр.: ил. стр. 248, рис. 11. la).
Недостатком вышеописанных способов является наличие хроматической аберрации, которая ограничивает разрешающую способность электронно-оптической системы.
Изобретение направлено на решение следующей технической задачи: добиться минимальной хроматической аберрации при увеличении разрешающей способности реальной оптической системы.
Поставленная задача достигается тем, что в способе получения электронного луча путем облучения катода электромагнитным излучением катод облучают лазерным лучом, а полученный электронный луч пропускают через одну магнитную линзу, полюса которой располагают по направлению движения электронов, две монополярные конденсаторные линзы и две диполярные, причем первую от катода монополярную конденсаторную линзу заряжают положительно, а вторую - отрицательно, первую и вторую диполярные линзы устанавливают во взаимно перпендикулярных направлениях с возможностью механической коррекции их взаимного расположения. Это позволяет получать электронный луч с электронами практически одинаковых кинетических энергий и импульсов, что и обеспечивает минимальную хроматическую аберрацию и повышает разрешающую способность электронно-оптической системы.
Изобретение поясняется чертежом, где представлена схема электронно-оптической системы, реализующей предлагаемый способ получения электронного луча.
Электронно-оптическая система содержит вакуумный объем 1, катод 2, анод 3, источник лазерного излучения 4. Катод 2, анод 3 и источник лазерного излучения 4 расположены в вакуумном объеме 1. Внутри вакуумного объема 1 расположена магнитная линза 5, полюса 6 и 7 которой расположены вдоль тракта движения электронов 8. После магнитной линзы 5 по тракту движения электронов 8 расположены две монополярные конденсаторные линзы 9 и 10, причем линза 9 заряжена положительно, а линза 10 - отрицательно. После монополярных линз 9 и 10 по тракту движения электронов 8 расположены две диполярные линзы 11 и 12, установленные во взаимно перпендикулярных направлениях с возможностью механической коррекции их взаимного расположения посредством двухкоординатной системы корректировки 13.
Способ реализуется следующим образом.
На катод 2 подают луч лазера от источника излучения 4, который обладает высокой когерентностью. Образованный за счет фотоэффекта луч пропускают через магнитную линзу 5, две монополярные конденсаторные линзы 9, 10 и две диполярные линзы 11 и 12.
При движении электронов в магнитном поле линзы 5 строго параллельно силовым магнитным линиям сила Лоренца на них не действует, а будет действовать лишь на те электроны, которые имеют отклонение от параллельного движения вдоль силовых магнитных линий. Эти "неправильные электроны" будут удаляться из электронного луча 8. При движении электронного луча 8 через монополярную конденсаторную линзу 9 электроны ускоряются, а при движении электронного луча 8 через монополярную конденсаторную линзу 10 образуется узконаправленный пучок, отклонение которого осуществляется посредством диполярных линз 11, 12 и двухкоординатной системой корректировки 13.
Применение предложенного способа получения электронного луча обеспечивает снижение хроматической аберрации электронного луча за счет использования лазерного источника излучения и особым образом расположенных монополярных и диполярных конденсаторных линз. При этом данный способ позволяет существенно повысить разрешающую способность всей электронно-оптической системы.

Claims (1)

  1. Способ получения электронного луча путем облучения катода электромагнитным излучением, отличающийся тем, что катод облучают лазерным лучом, а полученный электронный луч пропускают через одну магнитную линзу, полюса которой располагают по направлению движения электронов, две монополярные конденсаторные линзы и две диполярные, причем первую от катода монополярную конденсаторную линзу заряжают положительно, а вторую - отрицательно, первую и вторую диполярные линзы устанавливают во взаимно перпендикулярных направлениях с возможностью механической коррекции их взаимного расположения.
RU2000109349/09A 2000-04-14 2000-04-14 Способ получения электронного луча RU2208262C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2000109349/09A RU2208262C2 (ru) 2000-04-14 2000-04-14 Способ получения электронного луча

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2000109349/09A RU2208262C2 (ru) 2000-04-14 2000-04-14 Способ получения электронного луча

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2000109349A RU2000109349A (ru) 2002-02-27
RU2208262C2 true RU2208262C2 (ru) 2003-07-10

Family

ID=29208982

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2000109349/09A RU2208262C2 (ru) 2000-04-14 2000-04-14 Способ получения электронного луча

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2208262C2 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
ЧЕРНЯЕВ В.Н. Технология производства интегральных микросхем и микропроцессов, Учебник для вузов - 2-е изд. - М.: Радио и связь, 1987, с. 484. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4661712A (en) Apparatus for scanning a high current ion beam with a constant angle of incidence
US5729028A (en) Ion accelerator for use in ion implanter
JPS6213789B2 (ru)
JP6341680B2 (ja) 集束イオン・ビームの低kV強化
EP1429587A8 (en) X-ray generator
US4254340A (en) High current ion implanter
CN108807118B (zh) 一种扫描电子显微镜系统及样品探测方法
KR101439208B1 (ko) X선관 튜브 구조
US9355818B2 (en) Reflection electron beam projection lithography using an ExB separator
US5045705A (en) Charged particle beam apparatus with charge-up compensation
SE7904360L (sv) Svepsystem for laddade och neutrala partikelstralar
JP6453756B2 (ja) イオンビーム処理装置
JP2006351312A (ja) イオン注入装置
US9230789B2 (en) Printed circuit board multipole for ion focusing
RU2208262C2 (ru) Способ получения электронного луча
US4918358A (en) Apparatus using charged-particle beam
US3577026A (en) Method for producing ions utilizing a charge-transfer collision
US4020387A (en) Field emission electron gun
CN110556280B (zh) 等离子体产生装置和离子注入设备
CN210535623U (zh) X射线源和x射线成像设备
CN108024439A (zh) 一种离子rf加速结构及应用该结构的离子注入机
US3925664A (en) Field emission electron gun
JPH02112140A (ja) 低速イオン銃
JPS6297241A (ja) X線発生装置
RU2002105838A (ru) Устройство для электронно-лучевой сварки

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20060415