RU2137148C1 - Electronic circuit inspection device - Google Patents

Electronic circuit inspection device Download PDF

Info

Publication number
RU2137148C1
RU2137148C1 RU97104765A RU97104765A RU2137148C1 RU 2137148 C1 RU2137148 C1 RU 2137148C1 RU 97104765 A RU97104765 A RU 97104765A RU 97104765 A RU97104765 A RU 97104765A RU 2137148 C1 RU2137148 C1 RU 2137148C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
control unit
switch
unit
probe
diagnostic
Prior art date
Application number
RU97104765A
Other languages
Russian (ru)
Other versions
RU97104765A (en
Inventor
Г.А. Пюкке
Н.Н. Портнягин
Original Assignee
Петропавловск-Камчатское высшее морское училище
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Петропавловск-Камчатское высшее морское училище filed Critical Петропавловск-Камчатское высшее морское училище
Priority to RU97104765A priority Critical patent/RU2137148C1/en
Publication of RU97104765A publication Critical patent/RU97104765A/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2137148C1 publication Critical patent/RU2137148C1/en

Links

Images

Landscapes

  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)

Abstract

FIELD: electronic engineering; diagnosing parallel electronic circuits. SUBSTANCE: device has standard generator connected through switch to comparison unit and display system, control unit, and probe. Optimization unit inserted between control unit and switch incorporates diagnostic model and diagnostic program enabling detection of any fault in electronic circuit by taking information off its two channels. EFFECT: improved reliability of fault detection. 3 dwg

Description

Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано для диагностирования разветвленных электронных цепей. The invention relates to the field of electronic technology and can be used to diagnose branched electronic circuits.

Известно устройство для проверки электронных схем [1], которое состоит из блока управления, эталонного генератора, коммутатора, устройства сравнения, системы индикации и позволяет обеспечивать непрерывный допусковый контроль ста параметров с сигнализацией об уходе любого из них за установленные допуски. При этом на экране видеоконтрольного устройства формируется информация о текущих значениях контролируемых параметров с указанием их принадлежности о допусковых границах и номерах параметров, вышедших за поле допуска. Однако использованный здесь режим функционального диагностирования (пассивный эксперимент) не позволяет минимизировать процедуру диагностирования: так, в указанном устройстве для контроля по ста параметрам необходимо иметь сто полюсов съема информации с объекта диагностирования. К тому же контролируется отклонение того или иного параметра, но не выявляется та структурная единица объекта диагностирования, в результате нарушения работоспособности которой произошло отклонение данного параметра. A device for checking electronic circuits [1] is known, which consists of a control unit, a reference generator, a switch, a comparison device, an indication system, and allows continuous tolerance monitoring of a hundred parameters with an alarm about leaving any of them beyond the established tolerances. At the same time, information on the current values of the monitored parameters is formed on the screen of the video monitoring device with an indication of their affiliation about the tolerance limits and parameter numbers that have gone beyond the tolerance field. However, the functional diagnostics mode used here (passive experiment) does not allow minimizing the diagnostic procedure: for example, in the indicated device, for monitoring over a hundred parameters, it is necessary to have one hundred poles of information retrieval from the diagnostic object. In addition, the deviation of a particular parameter is controlled, but the structural unit of the diagnostic object is not detected, as a result of a malfunction of which a deviation of this parameter occurred.

Указанная проблема идентификации места дефекта частично разрешается в устройстве для проверки электронных схем с пробником и датчиком контактного типа [2], состоящем из блока управления, эталонного генератора, коммутатора, устройства сравнения, системы индикации и пробника, работающего по принципу воздействие - отклик, в котором пробник передает сигналы в проверяемую схему и воспринимает выдаваемые схемой напряжения для дальнейшего анализа. При помощи этого устройства, в отличие от аналога, уже можно однозначно идентифицировать место дефекта, в результате которого произошло отклонение того или иного параметра. The indicated problem of defect location identification is partially solved in the device for checking electronic circuits with a probe and a contact type sensor [2], consisting of a control unit, a reference generator, a switch, a comparison device, an indication system and a probe working on the basis of the impact - response principle, in which the probe transmits signals to the circuit under test and senses the voltages generated by the circuit for further analysis. Using this device, unlike the analogue, it is already possible to unambiguously identify the place of the defect, as a result of which a deviation of one or another parameter occurred.

Однако количество полюсов съема информации для однозначной идентификации места дефекта в данном устройстве остается большим. However, the number of poles of information retrieval for unambiguous identification of the location of the defect in this device remains large.

Целью предлагаемого изобретения является минимизирование количества полюсов съема информации и времени диагностирования сложных электронных схем при сохранении возможности контролировать работоспособность всех структурных единиц объекта диагностирования. The aim of the invention is to minimize the number of poles of information retrieval and the time of diagnosis of complex electronic circuits while maintaining the ability to control the health of all structural units of the diagnostic object.

Указанная цель достигается тем, что устройство для проверки электронных схем, состоящее из блока управления, эталонного генератора, коммутатора, устройства сравнения, системы индикации, щупа снабжено блоком оптимизации. Блок оптимизации подключен к блоку управления и электрически связан с щупом. Использование блока оптимизации позволяет путем съема информации всего с двух каналов объекта диагностирования однозначно идентифицировать нарушение работоспособности любой структурной единицы сколь угодно сложной разветвленной электронной цепи, а также определять степень работоспособности, фиксируя величину отклонения диагностируемого параметра от номинального значения. This goal is achieved in that the device for checking electronic circuits, consisting of a control unit, a reference generator, a switch, a comparison device, an indication system, a probe is equipped with an optimization unit. The optimization unit is connected to the control unit and is electrically connected to the probe. Using the optimization unit allows, by retrieving information from only two channels of the diagnostic object, to unambiguously identify the malfunctioning of any structural unit of an arbitrarily complex branched electronic circuit, as well as determine the degree of working capacity by fixing the deviation of the diagnosed parameter from the nominal value.

На фиг. 1 представлена блок-схема устройства для проверки электронных схем; на фиг.2 показан пример выполнения; на фиг. 3 представлено семейство изовар. In FIG. 1 is a block diagram of a device for checking electronic circuits; figure 2 shows an example implementation; in FIG. 3 presents the Izovar family.

Устройство для проверки электронных схем содержит блок управления (1), к которому подключены коммутатор (2) с эталонным генератором (3) и щупом (4), кроме того, к блоку управления подключены устройство сравнения (5), система индикации (6) и блок оптимизации (7). The device for checking electronic circuits contains a control unit (1), to which a switch (2) is connected with a reference generator (3) and a probe (4), in addition, a comparison device (5), an indication system (6) are connected to the control unit optimization block (7).

Устройство работает следующим образом: блок оптимизации (71, работающий по программе реализации алгоритма поиска дефектов, выдает команду на запуск блока управления (1). Блок управления (1) выдает команду на коммутатор (2), и тестовый сигнал от эталонного генератора (3) через коммутатор (2) и щуп контактного типа (4) поступает на вход первого информативного канала объекта диагностирования. Необходимые для дальнейшего анализа напряжения снимаются с входа и выхода первого канала объекта диагностирования и через щуп (4) и коммутатор (2) подаются в блок оптимизации (7) для цифровой обработки, выполнения арифметических операций и хранения полученного кода модели от функции передач первого информативного канала. The device operates as follows: the optimization unit (71, running the program for implementing the defect search algorithm, issues a command to start the control unit (1). The control unit (1) issues a command to the switch (2), and a test signal from the reference generator (3) through the switch (2) and the probe of the contact type (4) enters the input of the first informative channel of the diagnostic object. The voltages necessary for further analysis are removed from the input and output of the first channel of the diagnostic object and fed through the probe (4) and the switch (2) to the unit optimization (7) for digital processing, performing arithmetic operations and storing the resulting model code from the transmission function of the first informative channel.

Далее блок управления выдает одновременно команды на коммутатор (2), устройство сравнения (5), блок оптимизации (7). Тестовый сигнал от эталонного генератора (3) через коммутатор (2) и щуп (4) поступает на вход второго информативного канала объекта диагностирования. Необходимые для дальнейшего анализа напряжения снимаются со входа и выхода второго канала объекта диагностирования и после цифровой обработки выполнения арифметических операций и преобразования кода функции передач второго информативного канала в аналоговый сигнал соответствующего уровня поступают на вход устройства сравнения (5). Одновременно на вход устройства сравнения (5) с регистров памяти блока оптимизации (7) поступает аналоговый сигнал с уровнем, соответствующим коду модели от функции передач первого информативного канала. После сравнения этих уровней система индикации (6) выдает информацию о наличии в объекте диагностирования структурной единицы, имеющей отклонение параметра. Одновременно с устройства сравнения (5) подается команда на остановку в блок оптимизации (7). Если идентификация не наступает, то цикл многократно повторяется до наступления идентификации или ее отсутствия при множественных дефектах. Next, the control unit simultaneously issues commands to the switch (2), the comparison device (5), and the optimization unit (7). The test signal from the reference generator (3) through the switch (2) and the probe (4) is fed to the input of the second informative channel of the diagnostic object. The voltages necessary for further analysis are removed from the input and output of the second channel of the diagnostic object and, after digital processing of arithmetic operations and conversion of the transmission function code of the second informative channel into an analog signal of the corresponding level, are input to the comparison device (5). At the same time, an analog signal with a level corresponding to the model code from the transmission function of the first informative channel is received from the memory registers of the optimization unit (7) at the input of the comparison device (5). After comparing these levels, the display system (6) provides information about the presence in the diagnostic object of a structural unit having a parameter deviation. At the same time, a stop command is sent to the optimization unit (7) from the comparison device (5). If identification does not occur, then the cycle is repeated many times until the occurrence of identification or its absence with multiple defects.

Устройство для проверки электронных схем может быть выполнено, например, как это показано на фиг. 2. Устройство состоит из блока управления (1), коммутатора (2), эталонного генератора (3), щупа (4), устройства сравнения (5), системы индикации (6), блока оптимизации (7), блока выдачи данных (8), арифметико-логического устройства АЛУ-1 (9), арифметико-логического устройства АЛУ-2 (10), цифроаналоговых преобразователей (11), (12), (13), аналого-цифровых преобразователей (14 - 18). A device for checking electronic circuits can be performed, for example, as shown in FIG. 2. The device consists of a control unit (1), a switch (2), a reference generator (3), a probe (4), a comparison device (5), an indication system (6), an optimization unit (7), a data output unit (8 ), arithmetic logic device ALU-1 (9), arithmetic logic device ALU-2 (10), digital-to-analog converters (11), (12), (13), analog-to-digital converters (14 - 18).

Динамика процесса диагностирования состоит в следующем: сначала на основе топологии и спецификации диагностируемой цепи с помощью ПЭВМ (19) фиг. 2 строится модель диагностирования, для этого в память машины вводятся исходная укороченная матрица узловых проводимостей диагностируемой цепи (α) и программа построения диагностической модели (β), согласно которой из множества функций передач, порождаемых матрицей узловых проводимостей и максимально возможных для диагностируемой n-полюсной цепи, пользуясь критерием чувствительности реагирования значений функций передач на изменение проводимостей всех структурных единиц, выбирают две наиболее чувствительные:
TMN = f(g1g2...gn) и TKP = f(g1g2...gn),
где ТMN, ТKP - функции передач от входа "M" к выходу "N" и от входа "K" к выходу "P" соответственно,
g1...gn - проводимости элементов схемы объекта диагностирования.
The dynamics of the diagnostic process is as follows: first, based on the topology and specification of the diagnosed circuit using a PC (19) of FIG. 2, a diagnostic model is constructed, for this, the initial shortened matrix of nodal conductivities of the diagnosed circuit (α) and the program for constructing the diagnostic model (β) are entered into the machine’s memory, according to which, from the set of transmission functions generated by the matrix of nodal conductivities and the maximum possible for the diagnosed n-pole circuit using the sensitivity criterion for the response of the values of the transmission functions to changes in the conductivities of all structural units, two of the most sensitive are selected:
T MN = f (g 1 g 2 ... g n ) and T KP = f (g 1 g 2 ... g n ),
where T MN , T KP - transmission functions from the input "M" to the output "N" and from the input "K" to the output "P", respectively
g 1 ... g n - conductivity of the circuit elements of the diagnostic object.

После выявления информативных полюсов блок индикации (20) выдает информацию о месте подключения щупа к объекту диагностирования. After identifying the informative poles, the display unit (20) provides information about the place where the probe is connected to the diagnostic object.

Разработанная диагностическая модель (Δ) вводится в память блока оптимизации (7), туда же вводится программа диагностирования (γ), состоящая из двух подпрограмм: идентификации структурной единицы и определения ухода параметра за допустимые границы. The developed diagnostic model (Δ) is entered into the memory of the optimization unit (7), and a diagnostic program (γ) is also introduced there, consisting of two subprograms: identification of the structural unit and determination of the parameter going beyond acceptable boundaries.

Figure 00000002

После запуска первой подпрограммы блок оптимизации (7) выдает команду на запуск блока управления (1). Блок управления работает в шеститактном режиме.
Figure 00000002

After starting the first subprogram, the optimization unit (7) issues a command to start the control unit (1). The control unit operates in six-stroke mode.

В течение первого такта блок управления выдает команду на коммутатор (2) и АЛУ-1 (9). Тестовый сигнал от эталонного генератора (3) через коммутатор (2) и щуп контактного типа (4) поступает на вход первого информативного канала объекта диагностирования (21). Необходимые для дальнейшего анализа напряжения снимаются со входа и выхода первого информативного канала и после цифровой обработки в АЦП (16), (17) поступает на вход АЛУ-1 (9). С выхода АЛУ-1 цифровой код функции передач поступает в блок оптимизации (7) для вычисления численного значения функции fn(TKP). Полученная информация поступает и хранится в регистрах памяти блока выдачи данных (8).During the first cycle, the control unit issues a command to the switch (2) and ALU-1 (9). The test signal from the reference generator (3) through the switch (2) and the contact type probe (4) is fed to the input of the first informative channel of the diagnostic object (21). The voltages required for further analysis are removed from the input and output of the first informative channel and, after digital processing in the ADC (16), (17), is fed to the ALU-1 input (9). From the ALU-1 output, the digital code of the transmission function is sent to the optimization unit (7) to calculate the numerical value of the function f n (T KP ). The received information is received and stored in the memory registers of the data output unit (8).

В течение второго такта блок управления выдает команду на коммутатор (2), АЛУ-2 (10), блок выдачи данных (8) и устройство сравнения (5). Тестовый сигнал от эталонного генератора (3) через коммутатор (2) и щуп контактного типа (4) поступает на вход второго информативного канала объекта диагностирования (21). Исследуемые напряжения снимаются со входа и выхода второго информативного канала и после цифровой обработки в АЦП (14), (15) поступают на вход АЛУ-2 (10). С выхода АЛУ-2 цифровой код функции передач TMN через ЦАП (11) поступает на устройство сравнения (5) и после сравнения с уровнем сигнала, поступающего одновременно с регистров памяти блока выдачи данных (8) (предварительно обработанного в ЦАП (12)), система индикации (6) либо регистрирует номер структурной единицы, имеющей отклонение параметра, что соответствует выполнению неравенства

Figure 00000003
, (где δ - абсолютная погрешность), и тогда реализация первой подпрограммы прекращается воздействием остановочного импульса с выхода устройства сравнения (5) через АЦП (18) на блок оптимизации (7), и запускается вторая подпрограмма определения ухода параметра за допустимые границы, либо отклонение параметра не регистрируется и первая подпрограмма продолжает производить перебор оставшихся неравенств
Figure 00000004
на предмет соответствия до тех пор, пока не выйдет на выполняемое неравенство.During the second cycle, the control unit issues a command to the switch (2), ALU-2 (10), the data output unit (8) and the comparison device (5). The test signal from the reference generator (3) through the switch (2) and the contact type probe (4) is fed to the input of the second informative channel of the diagnostic object (21). The studied voltages are removed from the input and output of the second informative channel and, after digital processing in the ADC (14), (15), are input to the ALU-2 (10). From the ALU-2 output, the digital transmission function code T MN through the DAC (11) is sent to the comparison device (5) and after comparison with the signal level coming simultaneously from the memory registers of the data output unit (8) (pre-processed in the DAC (12)) , the display system (6) either registers the number of a structural unit having a parameter deviation, which corresponds to the inequality
Figure 00000003
, (where δ is the absolute error), and then the implementation of the first subprogram is terminated by the action of a stop pulse from the output of the comparison device (5) through the ADC (18) to the optimization block (7), and the second subroutine for determining the parameter goes beyond the permissible limits, or the deviation parameter is not registered and the first subroutine continues to sort through the remaining inequalities
Figure 00000004
on the subject of compliance until it reaches the inequality being fulfilled.

Третий и четвертый такты управляют процессом контроля функции передач TKP. В течение третьего такта блок управления (1) выдает команду коммутатору (2) на перекоммутацию первого информативного канала на АЛУ-2 (10). Одновременно поступает команда на блок выдачи данных (8) и устройство сравнения (5). С блока выдачи данных (8) через ЦАП (12) на устройство сравнения (5) поступает информация о величине нижней границы области работоспособности функции TKP. После сравнения с уровнем сигнала, поступающего с АЛУ-2 (10), система индикации (6) регистрирует выполнение неравенства TKP>α (где α - нижняя граница области работоспособности) по нижней границе.The third and fourth measures control the process of controlling the gear function T KP . During the third cycle, the control unit (1) issues a command to the switch (2) to reconnect the first informative channel to ALU-2 (10). At the same time, a command is sent to the data output unit (8) and the comparison device (5). From the data output unit (8), through the DAC (12), the comparison device (5) receives information about the value of the lower boundary of the operability domain of the function T KP . After comparison with the level of the signal coming from ALU-2 (10), the display system (6) registers the inequality T KP > α (where α is the lower boundary of the working area) at the lower boundary.

В течение четвертого такта производятся те же манипуляции, что и в третьем такте, но сравнение выполняется по верхней границе "b" области работоспособности функции TKP < b.During the fourth step, the same manipulations are performed as in the third step, but the comparison is performed along the upper boundary “b” of the functional area of the function T KP <b.

В течение пятого такта блок управления (1) выдает команду на перекоммутацию второго информативного канала на АЛУ-2 (10). Одновременно поступают команды на блок выдачи данных (8) и устройство сравнения (5). С блока выдачи данных (8) на устройство сравнения (5) поступает информация о величине нижней границы "с" области работоспособности функции TMN. После сравнения с уровнем сигнала, поступающего с АЛУ-2 (10), система индикации (6) регистрирует выполнение неравенства TMN > c по нижней границе.During the fifth cycle, the control unit (1) issues a command to reconnect the second informative channel to ALU-2 (10). At the same time, commands are sent to the data output unit (8) and the comparison device (5). From the data output unit (8), the comparison device (5) receives information about the value of the lower boundary “c” of the functional area of the function T MN . After comparison with the level of the signal coming from ALU-2 (10), the display system (6) registers the inequality T MN > c at the lower boundary.

В течение шестого такта производятся те же манипуляции, что и в пятом такте, но сравнение выполняется по верхней границе "d" области работоспособности функции TMN < d. После выполнения шестого такта блок управления (1) выдает импульс на переход системы в исходное состояние.During the sixth step, the same manipulations are performed as in the fifth step, but the comparison is performed along the upper boundary “d” of the functional area of the function T MN <d. After the sixth cycle, the control unit (1) gives an impulse to the transition of the system to its original state.

Таким образом, система при помощи всего двух обращений к объекту диагностирования однозначно регистрирует любой неисправный элемент схемы и указывает степень отклонения диагностируемого параметра от номинального значения. Thus, with just two calls to the diagnostic object, the system unambiguously registers any faulty circuit element and indicates the degree of deviation of the diagnosed parameter from the nominal value.

В основу работы блока оптимизации положен процесс многократной последовательной проверки тождественности уравнений модели (Δ) при подстановке в них численных значений функций передач выбранных информативных каналов с целью поиска того единственного уравнения, которое соответствует отклонению величины параметра (вследствие нарушения работоспособности), исключенного из данного уравнения, а два значения функций передач выбранных информативных каналов обратят это уравнение в верное равенство (с учетом погрешности). The optimization unit is based on the process of multiple sequential verification of the identity of the model equations (Δ) when substituting the numerical values of the transmission functions of the selected informative channels into them in order to find the only equation that corresponds to the deviation of the parameter value (due to a malfunction) excluded from this equation, and two values of the transmission functions of the selected informative channels will turn this equation into true equality (taking into account the error).

Для построения диагностической модели в выбранных функциях передач TMN = f(g1g2. ..gn) и TKP = f(g1g2...gn) фиксируются в соответствии с номинальными значениями проводимости элементов от g1 до gn-1 и получается система TMN = f(gn); ТKP = f(gn).To construct a diagnostic model selected transmission functions T MN = f (g 1, g 2. ..G n) and T KP = f (g 1, g 2 ... g n) recorded in accordance with nominal values of conduction elements 1 g to g n-1 and we get the system T MN = f (g n ); T KP = f (g n ).

Из полученной системы исключается параметр gn и находится зависимость TMN = f(TKP), устанавливающая однозначное соответствие между множеством значений функций передач TMN и TKP и множеством возможных значений диагностируемого параметра gn (0<gn<∞).The parameter g n is excluded from the resulting system and the dependence T MN = f (T KP ) is found, which establishes a one-to-one correspondence between the set of transmission function values T MN and T KP and the set of possible values of the diagnosed parameter g n (0 <g n <∞).

Все оставшиеся возможные корреляции достигаются аналогично последовательным исключением варьируемых параметров из системы TMN = f(g1g2...gn); TKP = f(g1g2...gn) В результате формируется модель, связывающая функции передач TMN и TKP при вариациях параметров всех структурных единиц на интервале (0,∞)
TMN = f1(TKP)
TMN = f2(TKP)
- - - - - -
- - - - - -
TMN = fn(TKP).
All remaining possible correlations are achieved by similarly sequential exclusion of variable parameters from the system T MN = f (g 1 g 2 ... g n ); T KP = f (g 1 g 2 ... g n ) As a result, a model is formed that relates the transfer functions T MN and T KP with variations in the parameters of all structural units on the interval (0, ∞)
T MN = f 1 (T KP )
T MN = f 2 (T KP )
- - - - - -
- - - - - -
T MN = f n (T KP ).

Полученная система функций в пространстве отобранных функций передач геометрически интерпретируется семейством изовар (гипербол), пересекающихся в общей точке, координаты которой соответствуют значениям TMN1 и TKP1 при отсутствии дефектов в диагностируемом устройстве фиг. 3.The resulting system of functions in the space of selected transmission functions is geometrically interpreted by the family of isovars (hyperbolas) intersecting at a common point whose coordinates correspond to the values of T MN1 and T KP1 in the absence of defects in the diagnosed device of FIG. 3.

При отклонении значения проводимости любой структурной единицы от номинала точка начинает движение по соответствующей изоваре, и неисправность может быть однозначно идентифицирована по принадлежности точки соответствующей изоваре. If the conductivity value of any structural unit deviates from the nominal, the point begins to move along the corresponding isovar, and the malfunction can be uniquely identified by the point belonging to the corresponding isovar.

Таким образом, предлагаемое устройство для проверки электронных схем позволяет путем двукратного съема информации с объекта диагностирования идентифицировать место дефекта и величину отклонения параметра в разветвленной цепи высокого порядка. Учитывая тот факт, что при ремонте электронных устройств большая часть времени (от общего времени ремонта) расходуется именно на определение места дефекта и степени работоспособности объекта диагностирования, экономический эффект, достигаемый при применении устройства очевиден. Thus, the proposed device for checking electronic circuits allows you to identify the location of the defect and the value of the deviation of the parameter in a high-order branched circuit by doubling the information from the diagnostic object. Given the fact that when repairing electronic devices most of the time (of the total repair time) is spent precisely on determining the location of the defect and the degree of operability of the diagnostic object, the economic effect achieved by using the device is obvious.

Claims (1)

Устройство для проверки электронных схем, содержащее эталонный генератор, соединенный через коммутатор с устройством сравнения и системой индикации, блок управления и щуп, отличающееся тем, что оно снабжено включенным между блоком управления и коммутатором блоком оптимизации, в который введена диагностическая модель и программа диагностирования, позволяющая путем съема информации с двух каналов электронной схемы идентифицировать нарушение работоспособности любой структурной единицы разветвленной электронной схемы. A device for checking electronic circuits containing a reference generator connected via a switch to a comparison device and an indication system, a control unit and a probe, characterized in that it is equipped with an optimization unit connected between the control unit and the switch, into which a diagnostic model and a diagnostic program are introduced, allowing by taking information from two channels of the electronic circuit to identify a malfunction of any structural unit of a branched electronic circuit.
RU97104765A 1997-03-24 1997-03-24 Electronic circuit inspection device RU2137148C1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU97104765A RU2137148C1 (en) 1997-03-24 1997-03-24 Electronic circuit inspection device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU97104765A RU2137148C1 (en) 1997-03-24 1997-03-24 Electronic circuit inspection device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU97104765A RU97104765A (en) 1999-04-27
RU2137148C1 true RU2137148C1 (en) 1999-09-10

Family

ID=20191239

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU97104765A RU2137148C1 (en) 1997-03-24 1997-03-24 Electronic circuit inspection device

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2137148C1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2450309C1 (en) * 2010-11-26 2012-05-10 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Тихоокеанский государственный университет" Method of searching for faults in dynamic unit in continuous system

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2450309C1 (en) * 2010-11-26 2012-05-10 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Тихоокеанский государственный университет" Method of searching for faults in dynamic unit in continuous system

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106844775B (en) Spacecraft fault rapid detection system
US4857833A (en) Diagnosis of faults on circuit board
US4841286A (en) Apparatus and method for detection of an open thermocouple in a process control network
US4242751A (en) Automatic fault-probing method and apparatus for checking electrical circuits and the like
US11269322B2 (en) Failure diagnosis system
KR950012269A (en) Fault diagnosis device and method
JP3980760B2 (en) Plant monitoring device
CN113533949B (en) Rapid detection device and method for large-scale switch matrix
CN110441669A (en) The gradual failure diagnosis of uncertain sophisticated circuitry system and life-span prediction method
RU2137148C1 (en) Electronic circuit inspection device
JP2003098226A (en) Printed board failure determination method
JP2554282B2 (en) Fault diagnosis device for sequence controller
SU386399A1 (en) DEVICE FOR PREVENTIVE DIAGNOSTICS
RU2279703C1 (en) Device for inspecting technical condition of object to be diagnosed from residual resource
RU2109329C1 (en) Digital block diagnosing device
RU2196340C2 (en) Device for regular-periodic test of serviceability of electric automatization means
SU911531A1 (en) System for testing and diagnosis of digital units
SU1681310A1 (en) Device for malfunction diagnosis of technical objects
SU744582A2 (en) Device for diagnosis of faults in logic circuits
JP2633378B2 (en) Self-failure occurrence / learning device
KR20230038899A (en) Reliability environmental test system of the device based on AI image recognition
JPH0365514B2 (en)
SU868776A1 (en) Device for detecting faults of an object
JPH03273404A (en) Automatic test equipment
RU2179729C2 (en) Device testing electronic circuits