RU2114416C1 - Способ атомно-эмиссионного спектрального анализа твердых материалов и устройство для его осуществления - Google Patents

Способ атомно-эмиссионного спектрального анализа твердых материалов и устройство для его осуществления Download PDF

Info

Publication number
RU2114416C1
RU2114416C1 RU97108923A RU97108923A RU2114416C1 RU 2114416 C1 RU2114416 C1 RU 2114416C1 RU 97108923 A RU97108923 A RU 97108923A RU 97108923 A RU97108923 A RU 97108923A RU 2114416 C1 RU2114416 C1 RU 2114416C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
sample
coupled plasma
gas
analysis
spectra
Prior art date
Application number
RU97108923A
Other languages
English (en)
Other versions
RU97108923A (ru
Inventor
В.П. Букарь
Н.А. Павлов
Original Assignee
Бронницкая геолого-геохимическая экспедиция института минералогии, геохимии и кристаллохимии редких элементов
Букарь Виктор Петрович
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Бронницкая геолого-геохимическая экспедиция института минералогии, геохимии и кристаллохимии редких элементов, Букарь Виктор Петрович filed Critical Бронницкая геолого-геохимическая экспедиция института минералогии, геохимии и кристаллохимии редких элементов
Priority to RU97108923A priority Critical patent/RU2114416C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2114416C1 publication Critical patent/RU2114416C1/ru
Publication of RU97108923A publication Critical patent/RU97108923A/ru

Links

Landscapes

  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

Изобретение может быть использовано в геологии и минералогии при многоэлементном анализе. Сущность способа заключается в подготовке пробы к анализу, взятии навески, введении навески в газоразрядную камеру, транспортировке образовавшейся в камере газопылевой смеси в индуктивно-связанную плазму, возбуждении и эмиссии спектров в оптической системе, регистрации спектров и получении элементного состава исследуемого объекта. Основными блоками устройства для осуществления данного способа являются: система пробоподачи с блоком управления, газоразрядная камера с высоковольтным искровым разрядом и блоком питания, горелка индуктивно-связанной плазмы, спектральный прибор с системой регистрации, управляющая и обрабатывающая ПЭВМ. Технический результат - повышение эффективности, точности и воспроизводимости. 1 з.п.ф-лы, 1 ил.

Description

Изобретение относится к способам анализа твердых материалов, в частности к атомно-эмиссионному спектральному анализу, и может найти применение в геологии и минералогии при многоэлементном анализе образцов горных пород, руд, грунта, почв и минералов, в экологии для контроля загрязнения в различных природных средах и в продуктах питания, в металлургии для контроля компонентов любых шлаков.
Известны способы спектрального анализа твердых материалов, в которых осуществляют подготовку пробы, взятие навески, растворение ее и подачи аэрозоля в индуктивно-связанную плазму (ИСП) [1].
Наиболее близким по технической сущности и предлагаемому способу является способ введения порошковой пробы в разряд на установках с ИСП, в котором пробу в виде порошка, запрессованного в легкоплавкую оболочку, устанавливают в узкой части держателя, выполненного в виде трубки. Трубку помещают в горелку коаксиально на расстоянии 5 - 20 мм от витков индуктора и подают газ. После включения разряда в горелке на пробу подают получение лазера непрерывного или импульсивного действия, разогревая пробу до 300 - 500oC. Избыточное давление газа выбрасывает пробу из трубки, после чего поток рабочего газа подхватывает пробу и выносит ее в аналитическую зону ИСП [2].
Недостатком известного способа является то, что перед введением навески пробы в ИСП ее заключают в легкоплавкую оболочку, испаряя полученную капсулу лазерным излучением, что усложняет проведение анализа. Подача навески пробы в виде газопылевой смеси в ИСП в предложенном способе позволяет сократить время проведения анализа в десятки раз. Повышается точность и воспроизводимость анализа за счет дозирования во времени, равномерной подачи навески в ИСП и отсутствия фракционирования.
С целью повышения эффективности, точности и воспроизводимости предлагается данный способ атомно-эмиссионного спектрального анализа твердых материалов, включающего подготовку пробы к анализу, взятие навески, введение навески в ИСП, возбуждение и эмиссию спектров в оптической системе, регистрацию спектров и получение элементного состава исследуемого объекта. Отличительной особенностью способа является то, что вводят навеску пробы в газоразрядную камеру с искровым высоковольтным разрядом, транспортируют образовавшуюся газопылевую смесь по подводящему каналу в ИСП.
Сущность способа заключается в следующем:
подготовка пробы твердого материала путем истирания ее до 300 меш;
взятие навески массой порядка 50 мг;
введение навески в газоразрядную камеру;
транспортировка образовавшейся в камере газопылевой смеси по подводящему каналу в горелку индуктивно-связанной плазмы;
диссоциация, ионизация, возбуждение и эмиссия спектров газопылевой смеси в плазме горелки;
регистрация спектров в оптической системе;
получение элементного состава исследуемого материала.
Известно устройство для осуществления спектрального анализа, состоящее из системы пробоподачи с блоком управления, питающего генератора с согласующим блоком, горелки ИСП, спектрального прибора с системой регистрации, управляющей и обрабатывающей ПЭВМ [3|.
Для ввода проб твердых материалов устройство дополнительно снабжено газоразрядной камерой с высоковольтным искровым разрядом, соединенной подводящим каналом с горелкой ИСП.
На чертеже изображена схема устройства для осуществления предложенного способа; 1 - система пробоподачи с блоком управления; 2 - газоразрядная камера с высоковольтным искровым разрядом и блоком питания; 3 - питающий генератор с согласующим блоком; 4 - горелка индуктивно-связанной плазмы; 5 - спектральный прибор с системой регистрации; 6 - управляющая и обрабатывающая ПЭВМ.
Изобретение осуществляется следующим образом.
Навеску пробы через систему пробоподачи с блоком управления - 1 подают в газоразрядную камеру - 2, с блоком питания, который обеспечивает частоту разряда 5 - 200 Гц при напряжении 2 - 12 кВ.
Газоразрядная камера - 2 подводящим каналом соединена с горелкой индуктивно-связанной плазмы - 4, в которой газопылевая смесь, образовавшаяся в газоразрядной камере, подвергается диссоциации, ионизации, возбуждению и эмиссии спектров.
Оптическое излучение плазмы поступает в спектральный прибор с системой регистрации - 5 для разложения в спектр оптического излучения плазмы и последующего измерения интенсивности спектральных линий анализируемых элементов в пробе.
Из спектрального прибора оптические спектры попадают на фотодиодную матрицу, преобразующую их в электрический ток, который измеряется электронными блоками и преобразуется в цифровую форму.
Цифровые отсчеты поступают в управляющую и обрабатывающую ПЭВМ-6, которая помимо хранения данных спектральных измерений, управляет работой спектрального прибора и обеспечивает обработку данных многоэлементного атомно-эмиссионного спектрального анализа твердых материалов.
Пример. Берут порошковую пробу, например, алюмо-силикатного состава и истирают ее на магнитном истирателе до крупности не более - 300 меш. Затем дозирующим устройством отбирают навеску пробы массой - 50 кг и вместе с дозирующим устройством помещают в газоразрядную камеру с высоковольтным искровым разрядом.
Включают установку, на электроды газоразрядной камеры подают электрический ток - напряжением 11 кВ и частотой 15 Гц. Одновременно в газоразрядную камеру поступает рабочий газ, например, аргон с расходом 0,6 л/мин. Вследствие электродинамических ударов электрического разряда и турбулентного движения рабочего газа образуется газопылевая смесь, которая транспортируется по подводящему каналу в центральную трубку горелки индуктивно-связанной плазмы.
Попадая в плазму, частицы анализируемой пробы подвергаются диссоциации, ионизации, возбуждению и эмиссии спектров, которые регистрируют с помощью спектрального прибора, например, ДФС-8 на фотодиодную матрицу. После чего полученные спектры, с помощью программно-математического аппарата, обрабатываются и на принтер выдаются концентрации элементного состава анализируемой пробы.
Изобретение по сравнению с известным способом позволяет значительно сократить время проведения анализа, повысит точность и воспроизводимость анализа твердых материалов.
Использованная литература:
1. Томпсон Т. , Уолш Д.Н. Руководство по спектрометрическому анализу с индуктивно-связанной плазмой. М.: Недра, 1988, с. 183 - 187.
2. Авторское свидетельство N 1492247, кл. G 01 N 21/73, Бюл. N 25, 1989.
3. Итоги науки и техники. Серия Аналитическая химия, том 2. ВИНИТИ. М.: 1990, с. 12 - 13.

Claims (2)

1. Способ атомно-эмиссионного спектрального анализа твердых материалов, включающий подготовку пробы к анализу, взятие навески, введение навески в индуктивно-связанную плазму, возбуждение и эмиссию спектров в оптической системе, регистрацию спектров и получение элементного состава исследуемого объекта, отличающийся тем, что вводят навеску пробы в газоразрядную камеру с высоковольтным искровым разрядом, транспортируют образовавшуюся газопылевую смесь по подводящему каналу в индуктивно-связанную плазму.
2. Устройство для осуществления способа по п. 1, содержащее систему пробоподачи с блоком управления, питающий генератор с согласующим блоком, горелку индуктивно-связанной плазмы, спектральный прибор с системой регистрации, управляющую и обрабатывающую ПЭВМ, отличающееся тем, что устройство дополнительно снабжено газоразрядной камерой с высоковольтным искровым разрядом и блоком питания, соединенной подводящим каналом с горелкой индуктивно-связанной плазмы.
RU97108923A 1997-05-27 1997-05-27 Способ атомно-эмиссионного спектрального анализа твердых материалов и устройство для его осуществления RU2114416C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU97108923A RU2114416C1 (ru) 1997-05-27 1997-05-27 Способ атомно-эмиссионного спектрального анализа твердых материалов и устройство для его осуществления

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU97108923A RU2114416C1 (ru) 1997-05-27 1997-05-27 Способ атомно-эмиссионного спектрального анализа твердых материалов и устройство для его осуществления

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2114416C1 true RU2114416C1 (ru) 1998-06-27
RU97108923A RU97108923A (ru) 1998-12-10

Family

ID=20193516

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU97108923A RU2114416C1 (ru) 1997-05-27 1997-05-27 Способ атомно-эмиссионного спектрального анализа твердых материалов и устройство для его осуществления

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2114416C1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2538364C2 (ru) * 2010-09-03 2015-01-10 Термо Фишер Сайентифик (Экубленс) Сарл Усовершенствованная искровая камера для оптико-эмиссионного анализа

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Итоги науки и техники. Серия Аналити ческая химия, т. 2 - М.: ВИНИТИ 1990, с. 12 - 13. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2538364C2 (ru) * 2010-09-03 2015-01-10 Термо Фишер Сайентифик (Экубленс) Сарл Усовершенствованная искровая камера для оптико-эмиссионного анализа

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Fassel Quantitative Elemental Analyses by Plasma Emission Spectroscopy: Atomic spectra excited in inductively coupled plasmas are used for simultaneous multielement analyses.
Broekaert State of the art of glow discharge lamp spectrometry. Plenary lecture
Matusiewicz Thermal vaporisation for inductively coupled plasma optical emission spectrometry. A review
CN107664633B (zh) 一种直接分析固体样品的微波等离子体原子发射光谱法及其系统
Vysetti et al. Analysis of geochemical samples by microwave plasma-AES
US20130267035A1 (en) Isotopic Chemical Analysis using Optical Spectra from Laser Ablation
US20120224175A1 (en) Microwave plasma atomic fluorescence mercury analysis system
Frentiu et al. A novel analytical system with a capacitively coupled plasma microtorch and a gold filament microcollector for the determination of total Hg in water by cold vapour atomic emission spectrometry
WO2018050090A1 (zh) 微波等离子体炬质谱分析装置及分析方法
Scott Spark elutriation of powders into an inductively coupled plasma
Broekaert et al. Recent trends in atomic spectrometry with microwave-induced plasmas
Jankowski et al. Determination of precious metals in geological samples by continuous powder introduction microwave induced plasma atomic emission spectrometry after preconcentration on activated carbon
RU2114416C1 (ru) Способ атомно-эмиссионного спектрального анализа твердых материалов и устройство для его осуществления
Blades et al. Application of weakly ionized plasmas for materials sampling and analysis
Palásti et al. Laser-induced breakdown spectroscopy signal enhancement effect for argon caused by the presence of gold nanoparticles
RU2252412C2 (ru) Способ эмиссионного спектрального анализа состава вещества и устройство для его осуществления
Ali et al. Direct solid sampling in capacitively coupled microwave plasma atomic emission spectrometry
Cope et al. Use of inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP–OES) for the analysis of doped cadmium mercury telluride employing a graphite rod electrothermal vaporisation device for sample introduction
Cordos et al. Capacitively coupled plasma with tip-ring electrode geometry for atomic emission spectrometry. Analytical performance and matrix effect of sodium chloride and potassium chloride
Steffan et al. ICP-AES analysis of nonconductive materials after spark ablation
Frentiu et al. Preliminary investigation of a medium power argon radiofrequency capacitively coupled plasma as atomization cell in atomic fluorescence spectrometry of cadmium
Vander Wal et al. Spectroscopic characterization and comparison between biologics, organics and mineral compounds using pulsed micro-hollow glow discharge
JPS60233538A (ja) 水素化物生成炭素,燐,硫黄成分の迅速分析方法および装置
Marshall et al. Atomic spectrometry update—atomic emission spectrometry
RU2090867C1 (ru) Способ спектроаналитического определения состава дымов