RU210879U1 - Высокотемпературный преобразователь давления с повышенной прочностью - Google Patents

Высокотемпературный преобразователь давления с повышенной прочностью Download PDF

Info

Publication number
RU210879U1
RU210879U1 RU2021139141U RU2021139141U RU210879U1 RU 210879 U1 RU210879 U1 RU 210879U1 RU 2021139141 U RU2021139141 U RU 2021139141U RU 2021139141 U RU2021139141 U RU 2021139141U RU 210879 U1 RU210879 U1 RU 210879U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
silicon
stop
semiconductor crystal
hole
pressure
Prior art date
Application number
RU2021139141U
Other languages
English (en)
Inventor
Денис Михайлович Пригодский
Original Assignee
Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт автоматики им. Н.Л. Духова" (ФГУП "ВНИИА")
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт автоматики им. Н.Л. Духова" (ФГУП "ВНИИА") filed Critical Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт автоматики им. Н.Л. Духова" (ФГУП "ВНИИА")
Application granted granted Critical
Publication of RU210879U1 publication Critical patent/RU210879U1/ru

Links

Images

Abstract

Полезная модель относится к области измерительной техники, а именно к преобразователям давления, и может быть использована в разработке и изготовлении малогабаритных сверхпрочных полупроводниковых преобразователей давления, работоспособных в условиях жестких внешних воздействий. Техническим результатом полезной модели является повышение прочности преобразователя давления к перегрузочному давлению со стороны мембраны и с лицевой стороны полупроводникового кристалла. Технический результат достигается тем, что высокотемпературный преобразователь давления с повышенной прочностью содержит полупроводниковый кристалл, имеющий лицевую сторону с четырьмя тонкопленочными кремниевыми тензорезисторами р-типа, средствами электрических соединений и алюминиевыми контактными площадками, объединенными в мостовую измерительную схему, которая изолирована от подложки из монокристаллического кремния n-типа слоем термическим оксидом кремния, и тыльную сторону с квадратной кремниевой мембраной, имеющей утолщенную часть, утоненную часть и жесткий центр; также содержит основание с отверстием и тыльный и лицевой упоры, являющиеся защитными ограничителями, благодаря которым при превышении номинального давления тонкопленочные тензорезисторы р-типа соприкасаются с лицевым упором, а жесткий центр квадратной кремниевой мембраны соприкасается с тыльным упором, и механические напряжения в утоненной части квадратной мембраны перестают увеличиваться с ростом подаваемого давления и предотвращают разрушение всего устройства. 4 ил.

Description

Полезная модель относится к области измерительной техники, а именно к преобразователям давления, и может быть использована в разработке и изготовлении малогабаритных сверхпрочных полупроводниковых преобразователей давления, работоспособных в условиях жестких внешних воздействий.
Известен преобразователь давления, содержащий выполненный из кремния и имеющий лицевую и тыльную стороны полупроводниковый кристалл, с тыльной стороны которого анизотропным травлением сформирована квадратная кремниевая мембрана с жестким центром, а на лицевой стороне находится мостовая измерительная схема, каждое плечо которой сформировано из тонкопленочного кремниевого тензорезистора p-типа, соединенного концами с кремниевыми токоведущими дорожками, при этом тензорезисторы на лицевой стороне полупроводникового кристалла располагаются в местах концентрации механических напряжений, первое плечо соединяется со вторым алюминиевой контактной площадкой, третье плечо соединяется с четвертым алюминиевой контактной площадкой, первое плечо соединяется с третьим последовательно соединенными алюминиевой токоведущей дорожкой и контактной площадкой, четвертое плечо соединяется со вторым последовательно соединенными алюминиевой токоведущей дорожкой и контактной площадкой, причем мостовая измерительная схема, содержащая тензорезисторы, кремниевые и алюминиевые токоведущие дорожки и алюминиевые контактные площадки, изолирована от подложки из монокристаллического кремния n-типа слоем термического оксида кремния, а поверхность полупроводникового кристалла с лицевой стороны и мостовая измерительная схема, кроме алюминиевых контактных площадок, покрыты пассивирующим слоем оксида кремния, отличающийся тем, что плечи мостовой измерительной схемы расположены параллельно друг другу, величина угла между стенками тензорезисторов и слоем термического оксида кремния составляет от 85° до 95°, величина угла между стенками кремниевых токоведущих дорожек и слоем термического оксида кремния составляет от 85° до 95°, толщина квадратной кремниевой мембраны составляет от 20 мкм до половины толщины полупроводникового кристалла (Патент РФ №167463, МПК G01L 9/04, 10.01.2017). Данное техническое решение принято в качестве прототипа.
Недостатком прототипа является низкая прочность преобразователя давления к перегрузочному давлению со стороны мембраны и с лицевой стороны полупроводникового кристалла.
Полезная модель устраняет недостаток прототипа.
Техническим результатом полезной модели является повышение прочности преобразователя давления к перегрузочному давлению со стороны мембраны и с лицевой стороны полупроводникового кристалла.
Технический результат достигается тем, что высокотемпературный преобразователь давления с повышенной прочностью содержит выполненный из кремния и имеющий лицевую и тыльную стороны полупроводниковый кристалл, с тыльной стороны которого сформирована квадратная кремниевая мембрана, имеющая утолщенную часть, утоненную часть и жесткий центр, а на лицевой стороне находится мостовая измерительная схема, каждое плечо которой сформировано из тонкопленочного кремниевого тензорезистора p-типа, соединенного концами с кремниевыми токоведущими дорожками, при этом тензорезисторы на лицевой стороне полупроводникового кристалла располагаются в местах концентрации механических напряжений, первое плечо соединяется со вторым алюминиевой контактной площадкой, третье плечо соединяется с четвертым алюминиевой контактной площадкой, первое плечо соединяется с третьим последовательно соединенными алюминиевой токоведущей дорожкой и контактной площадкой, четвертое плечо соединяется со вторым последовательно соединенными алюминиевой токоведущей дорожкой и контактной площадкой, причем мостовая измерительная схема, содержащая тензорезисторы, кремниевые и алюминиевые токоведущие дорожки и алюминиевые контактные площадки, изолирована от подложки из монокристаллического кремния n-типа слоем термического оксида кремния содержит лицевой упор в виде четырехугольной правильной призмы с четырьмя симметричными сквозными прямоугольными вырезами в угловых частях призмы, соединенный с полупроводниковым кристаллом с помощью легкоплавкого стекла, при этом длина каждой оставшейся части основания призмы меньше, чем расстояние между алюминиевыми контактными площадками полупроводникового кристалла и больше, чем половина стороны полупроводникового кристалла, длина и ширина лицевого упора равны длине и ширине полупроводникового кристалла; устройство также содержит тыльный упор, имеющий выступ, в центре выступа соосно с осью жесткого центра выполнено отверстие для подвода давления измеряемой среды к квадратной кремниевой мембране, выступ с отверстием расположен напротив жесткого центра квадратной кремниевой мембраны с тыльной стороны полупроводникового кристалла, длина и ширина выступа с отверстием может отличаться от длины и ширины жесткого центра не более чем на 20%, толщина выступа с отверстием должна быть не больше половины толщины тыльного упора, длина и ширина тыльного упора равны длине и ширине полупроводникового кристалла; устройство так же содержит основание с отверстием для подвода давления измеряемой среды к квадратной кремниевой мембране, отверстие в основании расположено соосно с отверстием в выступе тыльного упора; при этом лицевой упор, полупроводниковый кристалл, тыльный упор и основание с отверстием сформированы из кремния и соединены соосно равнотолщинным легкоплавким стеклом в вакууме в следующей последовательности начиная с лицевой стороны: лицевой упор, легкоплавкое стекло, полупроводниковый кристалл, легкоплавкое стекло, тыльный упор, легкоплавкое стекло, основание с отверстием; при этом первая область соединения легкоплавким стеклом находится между лицевым упором и лицевой стороной полупроводникового кристалла в области утолщенной части квадратной кремниевой мембраны, расположенной между алюминиевыми контактными площадками, вторая область соединения находится между тыльной стороной полупроводникового кристалла в области утолщенной части квадратной кремниевой мембраны и тыльным упором, третья область соединения находится между тыльным упором и основанием с отверстием в области контактирования; толщина легкоплавкого стекла выбирается в зависимости от номинального давления преобразователя таким образом, что при измерении номинального давления перемещение утоненной части и жесткого центра квадратной кремниевой мембраны осуществляется в пределах зазора между тонкопленочными кремниевыми тензорезисторами р-типа и лицевым упором или в пределах зазора между жестким центром и тыльным упором, в зависимости от направления давления, а при превышении номинального давления тонкопленочные тензорезисторы р-типа соприкасаются с лицевым упором, а жесткий центр квадратной кремниевой мембраны соприкасается с тыльным упором.
Сущность полезной модели поясняется чертежами.
На фиг. 1 изображен высокотемпературный преобразователь давления с повышенной прочностью, вид сверху.
На фиг. 2 изображен ломаный разрез А-А высокотемпературного преобразователя давления с повышенной прочностью.
На фиг. 3 изображена квадратная кремниевая мембрана полупроводникового кристалла.
На фиг. 4 приведена расчетно-экспериментальная зависимость максимального давления, которое выдерживает преобразователь давления, от величин зазоров между тонкопленочными кремниевые тензорезисторами р-типа и лицевым упором, между жестким центром и тыльным упором.
Цифрами на чертежах обозначены
1 - полупроводниковый кристалл;
2 - алюминиевые токоведущие дорожки;
3 - алюминиевые контактные площадки;
4 - лицевой упор;
5 - тонкопленочные кремниевые тензорезисторы р-типа;
6 - подложка из монокристаллического кремния n-типа;
7 - слой термического оксида кремния;
8 - квадратная кремниевая мембрана;
9 - утолщенная часть квадратной мембраны;
10 - утоненная часть квадратной мембраны;
11 - жесткий центр;
12 - основание с отверстием;
13 - тыльный упор;
14 - выступ с отверстием;
15 - легкоплавкое стекло;
16 - зазор между тонкопленочными кремниевые тензорезисторами 5 р-типа и лицевым упором 4;
17 - зазор между жестким центром 11 и тыльным упором 13.
Устройство содержит полупроводниковый кристалл 1, лицевой упор 4, тыльный упор 13 и основание 12 с отверстием для подвода давления измеряемой среды к квадратной кремниевой мембране 8.
Полупроводниковый кристалл 1 выполнен из кремния, на лицевой стороне которого находится мостовая измерительная схема (позиция не указана на фиг.), каждое плечо которой сформировано из тонкопленочного кремниевого тензорезистора 5 p-типа, соединенного концами с кремниевыми токоведущими дорожками, при этом тонкопленочные кремниевые тензорезисторы 5 p-типа на лицевой стороне полупроводникового кристалла 1 располагаются в местах концентрации механических напряжений, первое плечо соединяется со вторым алюминиевой контактной площадкой 3, третье плечо соединяется с четвертым алюминиевой контактной площадкой 3, первое плечо соединяется с третьим последовательно соединенными алюминиевой токоведущей дорожкой 2 и алюминиевой контактной площадкой 3, четвертое плечо соединяется со вторым последовательно соединенными алюминиевой токоведущей дорожкой 2 и алюминиевой контактной площадкой 3, причем мостовая измерительная схема, содержащая тонкопленочные кремниевые тензорезисторы 5 p-типа, кремниевые и алюминиевые токоведущие дорожки 2 и алюминиевые контактные площадки 3, изолирована от подложки 6 из монокристаллического кремния n-типа слоем 7 термического оксида кремния. С тыльной стороны полупроводникового кристалла 1 вытравлена квадратная кремниевая мембрана 8, имеющая утолщенную часть 9, утоненную часть 10 и жесткий центр 11 таким образом, что тонкопленочные кремниевые тензорезисторы 5 р-типа на лицевой стороне полупроводникового кристалла 1 располагаются в местах концентрации механических напряжений на утоненной части 10, а именно: тонкопленочные кремниевые тензорезисторы 5 р-типа первого и четвертого плеч мостовой измерительной схемы находятся в местах соединения дна квадратной кремниевой мембраны 8 и боковых стенок квадратной кремниевой мембраны 8, а тонкопленочные кремниевые тензорезисторы 5 р-типа второго и третьего плеч мостовой измерительной схемы находятся в местах соединения дна квадратной кремниевой мембраны 8 и боковых стенок жесткого центра 11.
Полупроводниковый кристалл 1 содержит последовательные слои: подложку 6 из монокристаллического кремния n-типа, в которой вытравлена квадратная кремниевая мембрана 8 с жестким центром 11, слой 7 термического оксида кремния, слой кремния, из которого сформированы токоведущие дорожки и тонкопленочные кремниевые тензорезисторы 5 р-типа, слой алюминия, из которого сформированы алюминиевые токоведущие дорожки 2 и алюминиевые контактные площадки 3. Тонкопленочные кремниевые тензорезисторы 5 р-типа и кремниевые токоведущие дорожки сформированы селективным плазмохимическим травлением, обеспечивающим угол (90±5)° между стенками тонкопленочных кремниевых тензорезисторов 5 р-типа и слоем 7 термического оксида кремния, а также угол (90±5)° между стенками кремниевых токоведущих дорожек и слоем 7 термического оксида кремния. Квадратная кремниевая мембрана 8, создается анизотропным или комбинированным травлением, включающим сухое глубинное травление и жидкостное изотропное травление кремния. Жесткий центр 11 квадратной кремниевой мембраны 8 имеет, например, квадратное основание, но может иметь основание и другой формы. Полупроводниковый кристалл 1 может быть прямоугольным, в конкретном случае - квадратный с произвольной толщиной.
Лицевой упор 4 выполнен в виде четырехугольной правильной призмы с четырьмя симметричными сквозными прямоугольными вырезами в угловых частях призмы (фиг. 1) и соединен с полупроводниковым кристаллом 1 с помощью легкоплавкого стекла 15. При изготовлении четырех симметричных сквозных прямоугольных вырезов в лицевом упоре 4 образуются четыре симметричных части основания призмы. При этом длина каждой оставшейся части основания призмы должна быть меньше, чем расстояние между алюминиевыми контактными площадками 3 полупроводникового кристалла 1 для электрического соединения алюминиевых контактных площадок 3 и больше, чем половина стороны полупроводникового кристалла 1 для увеличения прочности лицевого упора 4. Длина и ширина лицевого упора 4 равны длине и ширине полупроводникового кристалла 1, а толщина лицевого упора 4 может иметь произвольную величину в зависимости от необходимого уровня прочности преобразователя давления. Вырезы в угловых частях призмы в общем случае прямоугольные, а в конкретном примере - квадратные с соотношением сторон 1:1, при этом ориентация сторон необязательно должна быть параллельна сторонам полупроводникового кристалла (фиг.1). Вырезы должны быть ориентированы так, чтобы алюминиевые контактные площадки 3 имели свободную монтажную плоскость для разварки. Такая симметричная форма лицевого упора 4 с закреплением по четырем сторонам позволяет снизить негативное влияние упора на тонкопленочные кремниевые тензорезисторы 5 р-типа и уменьшить дополнительную погрешность преобразователя давления.
Тыльный упор 13 имеет выступ 14 с отверстием для подвода давления измеряемой среды к квадратной кремниевой мембране 8, расположенный напротив жесткого центра 11 с тыльной стороны полупроводникового кристалла 1. Отверстие расположено в центре выступа соосно с осью жесткого центра 11. Исходя из сохранения прочности тыльного упора 13, длина и ширина выступа 14 с отверстием может отличаться от длины и ширины жесткого центра 11 не более чем на 20%, а толщина выступа 14 с отверстием должна быть не больше половины толщины тыльного упора 13. Длина и ширина тыльного упора 13 равны длине и ширине полупроводникового кристалла 1, толщина тыльного упора 13 может быть произвольной.
Вырезы в лицевом упоре 4, отверстие в тыльном упоре 13 и выступ 14 с отверстием могут выполняться анизотропным или сухим глубинным травлением кремния. В конкретном примере (фиг.1) вырезы в лицевом упоре 4 выполнены сухим глубинным травлением кремния, а тыльный упор 13 и выступ 14 с отверстием (фиг.2) - анизотропным травлением кремния.
Основание 12 с отверстием для подвода давления измеряемой среды к квадратной мембране 8 служит термомеханической развязкой при корпусировании полупроводникового кристалла 1, упоров 13, 4 и может иметь произвольную длину, ширину и высоту. Отверстие в основании 12 расположено соосно с отверстием в выступе 14 тыльного упора 13.
Лицевой упор 4, полупроводниковый кристалл 1, тыльный упор 13 и основание 12 с отверстием сформированы из кремния и соединены соосно равнотолщинным легкоплавким стеклом 15 в вакууме в следующей последовательности начиная с лицевой стороны: лицевой упор 4, легкоплавкое стекло 15, полупроводниковый кристалл 1, легкоплавкое стекло 15, тыльный упор 13, легкоплавкое стекло 15, основание 12 с отверстием; при этом первая область соединения легкоплавким стеклом 15 находится между лицевым упором 4 и лицевой стороной полупроводникового кристалла 1 в области утолщенной части 9 квадратной кремниевой мембраны 8, расположенной между алюминиевыми контактными площадками 3, вторая область соединения находится между тыльной стороной полупроводникового кристалла 1 в области утолщенной части 9 квадратной кремниевой мембраны 8 и тыльным упором 13, третья область соединения находится между тыльным упором 13 и основанием 12 с отверстием в области контактирования.
Толщина легкоплавкого стекла 15 выбирается в зависимости от номинального давления преобразователя таким образом, что при измерении номинального давления перемещение утоненной части 10 и жесткого центра 11 квадратной кремниевой мембраны 8 (фиг.3) осуществляется в пределах зазора 16 между тонкопленочными кремниевыми тензорезисторами 5 р-типа и лицевым упором 4 или в пределах зазора 17 между жестким центром 11 и тыльным упором 13, в зависимости от направления давления, а при превышении номинального давления тонкопленочные тензорезисторы 5 р-типа соприкасаются с лицевым упором 4, а жесткий центр 11 квадратной кремниевой мембраны 8 соприкасается с тыльным упором 13.
Устройство работает следующим образом.
При подаче номинального давления на полупроводниковый кристалл 1, оно воздействует со стороны тонкопленочных кремниевых тензорезисторов 5 р-типа или квадратной кремниевой мембраны 8, которая, изгибаясь, деформирует тонкопленочные кремниевые тензорезисторы 5 р-типа. При этом в утоненной части 10 квадратной кремниевой мембраны 8 формируются механические напряжения, а в тонкопленочных кремниевых тензорезисторах 5 р-типа возникает тензоэффект и изменяется их сопротивление, увеличивая разбаланс мостовой измерительной схемы, в которую объединены тонкопленочные кремниевые тензорезисторы 5 р-типа, кремниевые токоведущие дорожки, алюминиевые токоведущие дорожки 2 и алюминиевые контактные площадки 3.
Величина разбаланса снимается в виде выходного сигнала с помощью алюминиевых контактных площадок 3. Слой 7 термического оксида кремния, изолирующий мостовую измерительную схему от подложки 6 из монокристаллического кремния n-типа, повышает работоспособность высокотемпературного преобразователя давления с повышенной прочностью в условиях жестких внешних воздействий (радиационных, температурных).
Утоненная часть 10 квадратной мембраны 8 и жесткий центр 11 квадратной кремниевой мембраны 8 полупроводникового кристалла 1 свободно перемещаются под действием номинального давления, подаваемого как со стороны квадратной кремниевой мембраны 8, через основание 12 с отверстием и выступ 14 с отверстием, так и со стороны тонкопленочных кремниевых тензорезисторов 5 р-типа за счет зазора 16 между тонкопленочными тензорезисторами 5 и лицевым упором 4, и зазора 17 между жестким центром 11 и тыльным упором 13, образованными с помощью легкоплавкого стекла 15. С помощью утолщенной части 9 квадратной кремниевой мембраны 8 упоры 4, 13 крепятся к полупроводниковому кристаллу 1. Легкоплавкое стекло 15 наносится прецизионно с помощью роботизированного дозатора в автоматическом режиме, позволяющем с достаточной точностью и повторяемостью наносить легкоплавкое стекло 15 на упоры 4, 13. Некачественная технология нанесения может привести к попаданию легкоплавкого стекла 15 на утоненную часть 10 квадратной кремниевой мембраны 8 и к возникновению дополнительных механических напряжений, приводящих к росту погрешности преобразования сигнала.
При превышении номинального давления со стороны квадратной кремниевой мембраны 8 тонкопленочные тензорезисторы 5 р-типа соприкасаются с лицевым упором 4, а при превышении номинального давления со стороны тонкопленочных кремниевых тензорезисторов 5 р-типа, жесткий центр 11 квадратной кремниевой мембраны 8 соприкасается с тыльным упором 13, тем самым перемещение утоненной части 10 и жесткого центра 11 квадратной кремниевой мембраны 8 ограничивается.
Упоры 4, 13 являются защитными ограничителями, благодаря которым механические напряжения в утоненной части 10 квадратной кремниевой мембраны 8 перестают увеличиваться с ростом подаваемого давления, и предотвращают разрушение всего устройства. Упоры 4, 13 изготавливаются с прочностью, превышающей прочность квадратной кремниевой мембраны 8 при воздействии перегрузочного давления.
Моделированием методом конечных элементов и экспериментальным путем установлено, что максимальная прочность преобразователя давления растет при уменьшении величины зазора 16 между тонкопленочными тензорезисторами 5 и лицевым упором 4, и величины зазора 17 между жестким центром 11 и тыльным упором 13 (фиг. 4). Расчет устройства проведен исходя из сохранения метрологических характеристик и улучшения прочностных параметров. Необратимые деформации могут возникнуть при циклических нагрузках датчика, когда появляется эффект усталости материала и мембрана может разрушиться раньше предела прочности. Учитывая конструктивно-технологические ограничения при изготовлении устройства, например, с толщиной утоненной части 10 квадратной кремниевой мембраны 8 равной 36 мкм и площадью 4 мм2, среднее оптимальное достижимое значение зазоров 16 и 17 равняется 6±1 мкм.
Таким образом, благодаря использованию упоров 4, 13, ограничивающим перемещение утоненной части 10 и жесткого центра 11 квадратной кремниевой мембраны 8 при воздействии перегрузочного давления, устройство способно выдержать примерно семикратное увеличение номинального давления при сохранении толщины и площади квадратной кремниевой мембраны 8, а соответственно, и чувствительности выходного сигнала неизменными.
У прототипа прочность к повышенному давлению растет с увеличением толщины или уменьшением площади квадратной кремниевой мембраны 8, что приводит к существенному снижению чувствительности выходного сигнала преобразователя давления, и, соответственно, к росту приведенной погрешности преобразователя давления.
Таким образом, достигается заявленный технический результат, а именно использование разработанных упоров 4, 13 позволяет повысить прочность преобразователя давления к перегрузочному давлению со стороны квадратной кремниевой мембраны 8 и с лицевой стороны, со стороны тонкопленочных кремниевых тензорезисторов 5 р-типа полупроводникового кристалла 1.

Claims (1)

  1. Высокотемпературный преобразователь давления содержит выполненный из кремния и имеющий лицевую и тыльную стороны полупроводниковый кристалл, с тыльной стороны которого сформирована квадратная кремниевая мембрана, имеющая утолщенную часть, утоненную часть и жесткий центр, а на лицевой стороне находится мостовая измерительная схема, каждое плечо которой сформировано из тонкопленочного кремниевого тензорезистора p-типа, соединенного концами с кремниевыми токоведущими дорожками, при этом тензорезисторы на лицевой стороне полупроводникового кристалла располагаются в местах концентрации механических напряжений, первое плечо соединяется со вторым алюминиевой контактной площадкой, третье плечо соединяется с четвертым алюминиевой контактной площадкой, первое плечо соединяется с третьим последовательно соединенными алюминиевой токоведущей дорожкой и контактной площадкой, четвертое плечо соединяется со вторым последовательно соединенными алюминиевой токоведущей дорожкой и контактной площадкой, причем мостовая измерительная схема, содержащая тензорезисторы, кремниевые и алюминиевые токоведущие дорожки и алюминиевые контактные площадки, изолирована от подложки из монокристаллического кремния n-типа слоем термического оксида кремния, отличающийся тем, что содержит лицевой упор в виде четырехугольной правильной призмы с четырьмя симметричными сквозными прямоугольными вырезами в угловых частях призмы, соединенный с полупроводниковым кристаллом с помощью легкоплавкого стекла, при этом длина каждой оставшейся части основания призмы меньше, чем расстояние между алюминиевыми контактными площадками полупроводникового кристалла, и больше, чем половина стороны полупроводникового кристалла, длина и ширина лицевого упора равны длине и ширине полупроводникового кристалла; устройство также содержит тыльный упор, имеющий выступ, в центре выступа соосно с осью жесткого центра выполнено отверстие для подвода давления измеряемой среды к квадратной кремниевой мембране, выступ с отверстием расположен напротив жесткого центра квадратной кремниевой мембраны с тыльной стороны полупроводникового кристалла, длина и ширина выступа с отверстием отличается от длины и ширины жесткого центра не более чем на 20 %, толщина выступа с отверстием должна быть не больше половины толщины тыльного упора, длина и ширина тыльного упора равны длине и ширине полупроводникового кристалла; устройство также содержит основание с отверстием для подвода давления измеряемой среды к квадратной кремниевой мембране, отверстие в основании расположено соосно с отверстием в выступе тыльного упора; при этом лицевой упор, полупроводниковый кристалл, тыльный упор и основание с отверстием сформированы из кремния и соединены соосно равнотолщинным легкоплавким стеклом в вакууме в следующей последовательности, начиная с лицевой стороны: лицевой упор, легкоплавкое стекло, полупроводниковый кристалл, легкоплавкое стекло, тыльный упор, легкоплавкое стекло, основание с отверстием; при этом первая область соединения легкоплавким стеклом находится между лицевым упором и лицевой стороной полупроводникового кристалла в области утолщенной части квадратной кремниевой мембраны, расположенной между алюминиевыми контактными площадками, вторая область соединения находится между тыльной стороной полупроводникового кристалла в области утолщенной части квадратной кремниевой мембраны и тыльным упором, третья область соединения находится между тыльным упором и основанием с отверстием в области контактирования; толщина легкоплавкого стекла выбирается в зависимости от номинального давления преобразователя таким образом, что при измерении номинального давления перемещение утоненной части и жесткого центра квадратной кремниевой мембраны осуществляется в пределах зазора между тонкопленочными кремниевыми тензорезисторами р-типа и лицевым упором или в пределах зазора между жестким центром и тыльным упором, в зависимости от направления давления, а при превышении номинального давления тонкопленочные тензорезисторы р-типа соприкасаются с лицевым упором, а жесткий центр квадратной кремниевой мембраны соприкасается с тыльным упором.
RU2021139141U 2021-12-28 Высокотемпературный преобразователь давления с повышенной прочностью RU210879U1 (ru)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU210879U1 true RU210879U1 (ru) 2022-05-12

Family

ID=

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU44384U1 (ru) * 2004-11-01 2005-03-10 Зао "Нпп Тормо" Полупроводниковый чувствительный элемент датчика давления
RU2478193C1 (ru) * 2011-11-15 2013-03-27 федеральное государственное бюджетное учреждение "Научно-производственный комплекс "Технологический центр "МИЭТ" Способ изготовления чувствительного элемента преобразователя давления на кни-структуре
RU167463U1 (ru) * 2016-08-10 2017-01-10 Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" Радиационно стойкий высокотемпературный тензочувствительный элемент преобразователя давления
RU187531U1 (ru) * 2018-12-26 2019-03-12 Федеральное Государственное Унитарное Предприятие "Всероссийский Научно-Исследовательский Институт Автоматики Им.Н.Л.Духова" (Фгуп "Внииа") Чувствительный элемент давления с повышенной механической прочностью

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU44384U1 (ru) * 2004-11-01 2005-03-10 Зао "Нпп Тормо" Полупроводниковый чувствительный элемент датчика давления
RU2478193C1 (ru) * 2011-11-15 2013-03-27 федеральное государственное бюджетное учреждение "Научно-производственный комплекс "Технологический центр "МИЭТ" Способ изготовления чувствительного элемента преобразователя давления на кни-структуре
RU167463U1 (ru) * 2016-08-10 2017-01-10 Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" Радиационно стойкий высокотемпературный тензочувствительный элемент преобразователя давления
RU187531U1 (ru) * 2018-12-26 2019-03-12 Федеральное Государственное Унитарное Предприятие "Всероссийский Научно-Исследовательский Институт Автоматики Им.Н.Л.Духова" (Фгуп "Внииа") Чувствительный элемент давления с повышенной механической прочностью

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10768064B2 (en) MEMS pressure gauge sensor and manufacturing method
CN107941385B (zh) 一种基于石墨烯压阻结的压力传感器
US3513430A (en) Semiconductor strain gage transducer and method of making same
US8397579B2 (en) Compact pressure-sensing device
US10737929B2 (en) Trench-based microelectromechanical transducer and method for manufacturing the microelectromechanical transducer
US20030057447A1 (en) Acceleration sensor
RU2362133C1 (ru) Микроэлектронный датчик абсолютного давления и чувствительный элемент абсолютного давления
EP0303875A2 (en) Si crystal force transducer
RU210879U1 (ru) Высокотемпературный преобразователь давления с повышенной прочностью
CN113218544B (zh) 具有应力集中结构的微压传感器芯片及其制备方法
RU167463U1 (ru) Радиационно стойкий высокотемпературный тензочувствительный элемент преобразователя давления
RU2362236C1 (ru) Матрица интегральных преобразователей давления
CN111521304B (zh) 一种微压传感器芯片及其制备方法
CN105300573B (zh) 一种梁膜结构压电传感器及其制作方法
RU183909U1 (ru) Малогабаритный радиационно стойкий высокотемпературный тензочувствительный элемент преобразователя давления
RU2284613C1 (ru) Полупроводниковый преобразователь давления и способ его изготовления
JPH08107219A (ja) 半導体加速度センサ及び半導体加速度センサの製造方法
CN114323406A (zh) 基于倒装技术的压力传感器芯片、封装结构与制备方法
RU2818501C1 (ru) Интегральный преобразователь давления
RU2362132C1 (ru) Интегральный преобразователь давления
RU219932U1 (ru) Датчик абсолютного давления с модернизированной структурой основания для повышения стабильности
RU2293955C1 (ru) Тензопреобразователь давления
SU960559A2 (ru) Датчик давлени
RU223684U1 (ru) Механически сверхвысокопрочный датчик абсолютного давления
RU224499U1 (ru) Датчик абсолютного давления со стабилизирующим вакуум слоем геттера