RU2076387C1 - Charged-particle spectrometer - Google Patents
Charged-particle spectrometer Download PDFInfo
- Publication number
- RU2076387C1 RU2076387C1 RU94025312A RU94025312A RU2076387C1 RU 2076387 C1 RU2076387 C1 RU 2076387C1 RU 94025312 A RU94025312 A RU 94025312A RU 94025312 A RU94025312 A RU 94025312A RU 2076387 C1 RU2076387 C1 RU 2076387C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- axis
- planes
- input
- plane
- cones
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Description
Изобретение относится к физической электронике, в частности, к электронной и ионной спектроскопии, и может быть использовано для анализа по энергиям и направлениям движения потоков заряженных частей, эмиттируемых поверхностью твердого тела или испускаемых из объема газа. The invention relates to physical electronics, in particular, to electronic and ion spectroscopy, and can be used for analysis by energies and directions of motion of flows of charged parts emitted by the surface of a solid or emitted from a gas volume.
Основной частью известного устройства являются два полезадающих осесимметричных концентрических электрода тороидальной формы: внутренний и внешний; ось Z является осью симметрии тороидов. Кроме них предусмотрены две линзы: цилиндрическая входная и коническая выходная, а также плоский позиционно-чувствительный детектор (ПЧД). The main part of the known device is two climbing axially symmetric concentric electrodes of toroidal shape: internal and external; the Z axis is the axis of symmetry of the toroids. In addition to them, two lenses are provided: a cylindrical input and a conical output, as well as a flat position-sensitive detector (PSD).
Прибор работает следующим образом. Образец располагается так, что его поверхность (если он твердый, а не газообразный) находится в одной из меридиональных плоскостей всей анализирующей системы, т.е. вдоль поверхности образца проходит ось симметрии анализатора Z. При таком расположении полярный угол эмиссии θe из центральной точки эмиссии образца S с точностью до постоянного слагаемого совпадает с азимутом θ изображенного на рисунке сечения всей системы меридиональной плоскостью YZ. Диапазон азимутальных углов эмиссии J ограничивается в пределах нескольких градусов размером входной диафрагмы. Входная линза формирует полукольцевое изображение источника эмиссии вблизи поверхности электрода, компенсирующего искажение потенциала у краев тороидальных полезадающих электродов. Двигаясь в зазоре между этими электродами, анализируемый пучок под действием диспергирующего поля тороида подвергается разложению на моноэнергетические составляющие, причем составляющая, соответствующая энергии настройки анализатора Еo, фокусируется на выходной щели, вблизи выходного компенсирующего электрода. Выходная линза переносит это промежуточное изображение на поверхность ПЧД, азимутальная координата точек которого с точностью до постоянного слагаемого равна полярному углу эмиссии из образца.The device operates as follows. The sample is positioned so that its surface (if it is solid, not gaseous) is in one of the meridional planes of the entire analyzing system, i.e. along the surface of the sample, the axis of symmetry of the analyzer Z passes. With this arrangement, the polar emission angle θ e from the central point of emission of the sample S coincides, up to a constant term, with the azimuth θ of the entire system section shown in the figure by the meridional plane YZ. The range of azimuthal emission angles J is limited to a few degrees by the size of the input diaphragm. The input lens forms a semicircular image of the emission source near the electrode surface, which compensates for the potential distortion at the edges of the toroidal falling electrodes. Moving in the gap between these electrodes, the analyzed beam under the influence of the dispersing field of the toroid is decomposed into monoenergetic components, and the component corresponding to the analyzer tuning energy E o is focused on the exit slit, near the output compensating electrode. The output lens transfers this intermediate image to the surface of the PSD, the azimuthal coordinate of the points of which, up to a constant term, is equal to the polar angle of emission from the sample.
Создание такого спектрометра представляет значительные трудности. Сложно изготовить и взаимно съюстировать полезадающие электроды тороидальной геометрии. The creation of such a spectrometer presents significant difficulties. It is difficult to make and mutually align the climbing electrodes of toroidal geometry.
Принципиальным недостатком прототипа является то, что запись энергетического спектра происходит последовательно. В каждый конкретный момент времени через выходную диафрагму к ПЧД пролетают лишь электроны, энергии которых лежат в узком интервале, определяемом энергией настройки Еo и разрешающейспособностью энергоанализатора. Таким образом, в прототипе для записи спектра используется лишь один энергетический канал. Скорость записи пропорциональна числу таких каналов. Следовательно, включив каким-либо образом дополнительно "n-1" каналов регистрации, можно в "n" раз увеличить скорость записи. Сделать это можно, либо совместив линию фокусов (фокальную поверхность) с плоскостью ПЧД, либо уменьшив размытие изображения на детекторе до размеров, при которых это размытие сильно не сказывается на разрешении прибора.The principal disadvantage of the prototype is that the energy spectrum is recorded sequentially. At any given moment in time, only electrons fly through the output diaphragm to the PSD, whose energies lie in a narrow interval determined by the tuning energy E o and the resolution of the energy analyzer. Thus, in the prototype for recording the spectrum uses only one energy channel. The recording speed is proportional to the number of such channels. Therefore, by including in some way an additional "n-1" registration channels, you can "n" times increase the recording speed. This can be done either by combining the focus line (focal surface) with the PSD plane, or by reducing the image blur on the detector to sizes at which this blur does not greatly affect the resolution of the device.
Техническим результатом является увеличение скорости записи энергетических спектров заряженных частиц с угловым разрешением по полярным углам эмиссии в 20-30 раз, упрощение конструкции собственно энергоанализатора и всего спектрометра в целом, увеличение разрешающей способности спектрометра. The technical result is to increase the recording speed of the energy spectra of charged particles with an angular resolution of the polar angles of emission by 20-30 times, simplifying the design of the energy analyzer itself and the entire spectrometer as a whole, and increasing the resolution of the spectrometer.
Для достижения указанного результата предлагается использовать осесимметричный энергоанализатор зеркального типа следующей геометрии (фиг. 1). Внутренний 1 и внешний 2 полезадающие электроды имеют форму двух соосных круговых конических поверхностей с общей вершиной в точке О. Хотя в идеале поверхности пересекаются в этой точке, в реальном приборе они электрически изолированы друг от друга. Исследуемый образец 3 (фиг. 2) располагается так, что общая ось симметрии электродов OZ проходит через его поверхность и параллельна ей. Входная 4 и выходная 5 диафрагмы вырезаны во внутреннем электроде. Каждая граница каждой диафрагмы представляет собой линию пересечения внутреннего конусообразного электрода и плоскости, перпендикулярной оси OZ. Ширина входной диафрагмы определяется несколькими факторами: размером пятна эмиссии (на фиг. 2, он равен нулю, т.е. источник точечный), диапазоном захватываемых диафрагмой азимутальных углов эмиссии Dv1 и выбранными условиями фокусировки, т.е. режимом работы анализатора.To achieve this result, it is proposed to use an axisymmetric energy analyzer of the mirror type of the following geometry (Fig. 1). The inner 1 and outer 2 climbing electrodes are in the form of two coaxial circular conical surfaces with a common vertex at point O. Although ideally the surfaces intersect at this point, in a real device they are electrically isolated from each other. The studied sample 3 (Fig. 2) is located so that the common axis of symmetry of the OZ electrodes passes through its surface and is parallel to it.
Плоский ПЧД 6 расположен перпендикулярно оси Z, так что точка А фокусировки частиц с начальной энергией Eo, соответствующей середине исследуемого диапазона энергий δE, находится на середине рабочей области ПЧД, т.е. приблизительно на половине радиуса ПЧД. При этом область ПЧД с минимальным радиусом соотносится с нижним краем исследуемого диапазона, т.е. с энергией электронов , а область ПЧД с максимальным значением радиуса рабочей поверхности с верхним краем, т.е. с
Согласно расчетам, вдоль радиуса плоского круглого ПЧД 6 можно разложить участок энергетического спектра δE, составляющего несколько процентов от средней энергии настройки Ео при разрешении ΔE/Eo= 0,05-0,2% и ΔΦ1 1-2 градуса. Это означает, что одновременно можно регистрировать 10-30 точек энергетического спектра при одновременном полном угловом анализе по полярным углам эмиссии. Таким образом, достигается цель изобретения.The
According to calculations, along the radius of a flat
Ранее анализатор предлагаемой геометрии не применялся для анализа потоков заряженных частиц одновременно по энергиям и полярным углам эмиссии. Previously, the analyzer of the proposed geometry was not used to analyze the flows of charged particles simultaneously by the energies and polar angles of emission.
Рассмотрим теперь, как работает предлагаемое устройство. Выберем систему физических единиц, в которой единицей массы является масса частицы из анализируемого потока, а единицей электрического заряда ее заряд. Пусть (r, z, θ цилиндрические координаты, а (ρ,γ,θ) сферические координаты, так что ρ2= r2+z2. Тогда электростатический потенциал анализатора будет иметь вид
Очевидно, что при γ = π/2 φ = 0, а при γ, стремящемся к нулю, f стремится к минус бесконечности. Уравнения динамики в цилиндрических координатах
где две точки означают двойное дифференцирование по времени, аналитически не решаются.We now consider how the proposed device works. We choose a system of physical units in which the unit mass is the mass of the particle from the analyzed stream, and its charge is the unit of electric charge. Let (r, z, θ be cylindrical coordinates, and (ρ, γ, θ) be spherical coordinates, so that ρ 2 = r 2 + z 2. Then the electrostatic potential of the analyzer will have the form
Obviously, for γ = π / 2 φ = 0, and for γ tending to zero, f tends to minus infinity. The equations of dynamics in cylindrical coordinates
where two points mean double differentiation in time, they are not analytically solved.
Все параметры и характеристики спектрометра определялись на основе анализа траекторий движения частиц в потенциале φ, рассчитанных численно на ЭВМ методом Рунге-Кутта. All parameters and characteristics of the spectrometer were determined on the basis of the analysis of particle motion paths in potential φ calculated numerically on a computer using the Runge-Kutta method.
Пусть анализируемые частицы эмиттируются из одной точки на поверхности образца (фиг. 2) так, что сначала они летят вблизи плоскости, проходящей через эту точку и перпендикулярной сразу и поверхности образца и оси Z (назовем эту плоскость"плоскостью эмиссии"). Азимутальный угол эмиссии v1 при этом мало отличается от нуля, а азимутальный угловой разброс пучка ΔΦ1 составляет не более нескольких градусов. Таким образом, осевые траектории пучка на начальных участках, т.е. до влета частиц в область поля, лежат в плоскости эмиссии. Полярный угол эмиссии θe с точностью до постоянного слагаемого равен азимутальному углу θ всей цилиндрической системы координат, и пусть в дальнейшем это слагаемое равно нулю, т.е. qe= θ.Let the analyzed particles be emitted from one point on the surface of the sample (Fig. 2) so that first they fly near a plane passing through this point and immediately perpendicular to both the surface of the sample and the Z axis (we will call this plane the “emission plane”). The azimuthal emission angle v 1 in this case differs little from zero, and the azimuthal angular spread of the beam ΔΦ 1 is not more than a few degrees. Thus, the axial trajectories of the beam in the initial sections, i.e. before the particles enter the field, they lie in the emission plane. Up to a constant term, the polar emission angle θ e is equal to the azimuthal angle θ of the entire cylindrical coordinate system, and let this term be zero in the future, i.e. q e = θ.
Пусть теперь анализатор настроен таким образом, что через его входную и выходную диафрагму пролетают частицы с энергиями, лежащими внутри диапазона , и с азимутальными углами эмиссии из диапазона . Назовем Еo энергией настройки анализатора, δE его энергетическим диапазоном, а главными осевыми траекториями траектории частиц, у которых начальная энергия эмиссии Е Еo, а азимутальный угол эмиссии Φ1= 0. Для частиц с энергиями, отличными от Еo, будут свои (не главные) осевые траектории, начальные участки которых лежат в плоскости эмиссии. Рассмотрим частицы (например, электроны) с начальной энергией Еo. Те из них, траектории которых лежат в одной меридиональной плоскости, например, в плоскости фиг. 2, после вылета из области поля анализатора, пролетят в окрестности точки фокусировки первого порядка А. Все частицы, эмиттированные под другим полярным углом θ1, и траектории которых лежат в другой меридиональной плоскости сечения спектрометра, пролетят вблизи своей точки фокусировки А1, находящейся на таком же расстоянии от оси Z, как и точка А. Обобщая это рассуждение, можно сказать, что частицы с энергией Еo будут фокусироваться вблизи линии фокусировки, представляющей собой отрезок окружности, перпендикулярной оси Z и концентричной с ней. Электроны с энергиями Еo 1/2 δE сфокусируются на своей окружности, большего радиуса и расположенной ближе к началу координат. На фиг. 2, точка В изображает след пересечения этой окружности с плоскостью рисунка. Электроны с энергией Еo + 1/2 δE сфокусируются на окружности, дающей на фиг. 2, точку С. Множество линий фокусировки образует непрерывную поверхность фокусов, по форме близкую к круговой конической поверхности с углом раствора 2β. На фиг. 2, пересечение поверхности фокусов с плоскостью рисунка дает линию ВАС, близкую к прямой.Now let the analyzer be configured in such a way that particles with energies lying inside the range fly through its input and output apertures , and with azimuthal emission angles from the range . We call E o the analyzer tuning energy, δE its energy range, and the main axial trajectories of the particle paths, with the initial emission energy E E o and the azimuthal emission angle Φ 1 = 0. For particles with energies different from E o , there will be ( not main) axial trajectories, the initial sections of which lie in the emission plane. Consider particles (for example, electrons) with an initial energy E o . Those of them whose trajectories lie in the same meridional plane, for example, in the plane of FIG. 2, after leaving the analyzer’s field, they will fly in the vicinity of the first-order focus point A. All particles emitted at a different polar angle θ 1 , and whose trajectories lie in another meridional plane of the spectrometer’s cross-section, will fly near their focus point A 1 located on the same distance from the Z axis as point A. Summarizing this argument, we can say that particles with energy E o will be focused near the focus line, which is a segment of a circle perpendicular to the Z axis and concentric with her. Electrons with
Расположим теперь ПЧД 6 так, чтобы его плоская воспринимающая поверхность была перпендикулярна оси Z, и на этой поверхности находилась точка А. Тогда, как видно из рисунка, вдоль радиуса на плоскости ПЧД будет разложен на составляющие весь спектр анализируемых частиц от Е Еo 1/2 dЕ до Е . По азимуту же на детекторе будут распределены частицы, стартовавшие с поверхности образца под разными полярными углами θ. Очевидно, что разрешение анализатора будет различным для разных участков спектра. Наилучшее (наименьшее) разрешение достигается при Е Еo, так как для энергии настройки размытие изображения точечного источника на поверхности детектора вызвано лишь аберрациями второго порядка по v1. Аберрационное размытие ничтожно, так как ΔΦ1/ мал (составляет несколько градусов). По краям спектрального диапазона, при E = Eo±1/2δE, разрешение будет наихудшим, так как размытие изображения Δr определяется в основном не аберрациями, а расстоянием от точки фокусировки до детектора и углом расходимости пучка на выходе. Так, для низкоэнергетического края диапазона Δrl≃ AB•sin(ΔΦ2), а для высокоэнергетической границы Δrh≃ AC•sin(ΔΦ2). Здесь АВ, АС расстояния между соответствующими точками фокусировки. Если бы угол расходимости пучка на выходе ΔΦ2 был равен углу расходимости пучка на входе ΔΦ1 или мало отличался от последнего: ΔΦ2≃ ΔΦ1, спектрометр описываемой конструкции было бы нецелесообразно делать. Действительно, поскольку угол β не превышает 15o, образующая фокальной поверхности почти перпендикулярна плоскости ПЧД, а наилучшие условия работы последнего реализуются в прямо противоположной ситуации, т.е. когда ПЧД и фокальная поверхность параллельны.We now arrange the
Однако потенциал (1) представляет собой однородную функцию ортогональных координат нулевой кратности, и поэтому в нем специфическим образом проявляет себя принцип подобия траекторий, так что пучок, удаляющийся в аксиальной плоскости от начала координат, увеличивается в аксиальном сечении ("распухает"), но в такое же число раз уменьшается и угол его расходимости Dv. Расчеты показывают, что реально в предлагаемом устройстве отношение 4 ≲ ΔΦ1/ΔΦ2≲ 5.. Поэтому при азимутальном угловом разбросе эмиттируемых частиц ΔΦ1 2-3 градуса, что реализуется, например, в методах фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением, на выходе величина ΔΦ2 составит всего 0,4-0,75 градуса. Именно по этой причине Δrh и Δrl оказываются величинами такого порядка, который обеспечивает разрешающую способность, достаточную для большинства методов электронной и ионной спектроскопии.However, potential (1) is a homogeneous function of orthogonal coordinates of zero multiplicity, and therefore the principle of similarity of trajectories manifests itself in a specific way, so that the beam moving away in the axial plane from the coordinate origin increases in the axial section (“swells”), but in the same number of times decreases and its divergence angle Dv. Calculations show that the
В тех методах, где диаметр зондирующего пучка мал и источник эмиссии можно считать точечным, наихудшее по диапазону δE разрушение определяется двумя факторами: аберрационным размытием изображения ξ и величиной Drl (или Δrh, причем последний фактор, как было показано, значительно существеннее. К таким методам относится, например, оже-электронная спектроскопия, где диаметр зондирующего пучка электронов может измеряться нанометрами, в худшем случае, десятками микрон.In those methods where the diameter of the probe beam is small and the emission source can be considered point-wise, the worst-case damage in the range δE is determined by two factors: the aberration image blur ξ and the value Dr l (or Δr h , and the last factor, as was shown, is much more significant. Such methods include, for example, Auger electron spectroscopy, where the diameter of the probe electron beam can be measured by nanometers, in the worst case, tens of microns.
В случае точечного источника ни δE, ни ΔE не зависят от абсолютного габаритного размера прибора. Относительное разрешение ΔE/E определяется лишь величиной ΔΦl.In the case of a point source, neither δE nor ΔE depend on the absolute overall size of the device. The relative resolution ΔE / E is determined only by ΔΦ l .
Для того чтобы корректно сравнить с прототипом предлагаемое устройство, необходимо принять во внимание конечный размер источника эмиссии. В прототипе он равен 0,35 мм при базовом размере (расстоянии от источника до изображения) около 100 мм и разрешении .In order to correctly compare the proposed device with the prototype, it is necessary to take into account the final size of the emission source. In the prototype, it is 0.35 mm with a base size (distance from source to image) of about 100 mm and resolution .
Как было сказано выше, в предлагаемом спектрометре весь диапазон энергий δE/E составляет несколько процентов. Следовательно, делать такой прибор с ПЧД при разрешении (то есть таком же, как в прототипе) бессмысленно, так как количество одновременно регистрируемых точек спектра n≃1, и выигрыша в скорости записи спектра по сравнению с прототипом не будет.As mentioned above, in the proposed spectrometer, the entire energy range δE / E is several percent. Therefore, to make such a device with PSD at resolution (that is, the same as in the prototype) is meaningless, since the number of simultaneously registered points of the spectrum is n≃1, and there will be no gain in the speed of recording the spectrum compared to the prototype.
Согласно расчетам, если диаметр пятна эмиссии в предлагаемом спектрометре равен 0,35 мм, то при базовом размере 700 мм разрешение в различных режимах работы 0,08% , а . Соответствующее количество точек спектра 20 ≲ n ≲ 30.. Разрешение прототипа с базовым размером, увеличенным в семь раз, то есть до 700 мм, составит около 0,3% что заметно хуже, чем в предлагаемом приборе. Но наиболее существенное отличие между двумя приборами состоит в том, что в предлагаемом спектрометре можно одновременно регистрировать около 20-30 точек спектра, вместо одной точки в прототипе. Следовательно, скорость регистрации спектра также будет в 20-30 раз выше. Очевидно также, что конструкция предлагаемого прибора значительно проще, чем конструкция прототипа.According to calculations, if the diameter of the emission spot in the proposed spectrometer is 0.35 mm, then with a base size of 700 mm, the resolution in various operating modes is 0.08% , a . The corresponding number of spectrum points is 20 ≲ n ≲ 30 .. The resolution of the prototype with the base size increased by seven times, that is, up to 700 mm, will be about 0.3%, which is noticeably worse than in the proposed device. But the most significant difference between the two devices is that in the proposed spectrometer it is possible to simultaneously register about 20-30 points of the spectrum, instead of one point in the prototype. Consequently, the speed of spectrum recording will also be 20-30 times higher. It is also obvious that the design of the proposed device is much simpler than the design of the prototype.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU94025312A RU2076387C1 (en) | 1994-07-06 | 1994-07-06 | Charged-particle spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU94025312A RU2076387C1 (en) | 1994-07-06 | 1994-07-06 | Charged-particle spectrometer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU94025312A RU94025312A (en) | 1996-05-27 |
RU2076387C1 true RU2076387C1 (en) | 1997-03-27 |
Family
ID=20158133
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU94025312A RU2076387C1 (en) | 1994-07-06 | 1994-07-06 | Charged-particle spectrometer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2076387C1 (en) |
-
1994
- 1994-07-06 RU RU94025312A patent/RU2076387C1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
R.C.G.Leckey, J.D.Rieley. A toroidal angle-resolving etectron spectromcter for susface studies. Appl. Surf Sci, 1985, 22/23, p.1 - pp.196-205. * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
RU94025312A (en) | 1996-05-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7947951B2 (en) | Multi-beam ion/electron spectra-microscope | |
US7141800B2 (en) | Non-dispersive charged particle energy analyzer | |
US8013298B2 (en) | Electrostatic electron spectrometry apparatus | |
CA1263766A (en) | Electron spectrometer | |
US6104029A (en) | Spectrometer and method of spectroscopy | |
US3783280A (en) | Method and apparatus for charged particle spectroscopy | |
CN112305002A (en) | Spectroscopy and imaging system | |
JP2018006339A (en) | Scanning electron microscope | |
US3949221A (en) | Double-focussing mass spectrometer | |
EP1793410B1 (en) | Spherical aberration correction electrostatic lens, input lens, electron spectroscopic device, photoelectron microscope, and measurement system | |
US11791148B2 (en) | Variable reduction ratio spherical aberration correction electrostatic lens, wide angle energy analyzer, and two-dimensional electron spectrometer | |
RU2076387C1 (en) | Charged-particle spectrometer | |
JPH0766767B2 (en) | Charged particle device and its focusing lens | |
JPS5830696B2 (en) | charged particle energy analyzer | |
RU2144237C1 (en) | Optical particle-emitting column | |
JP7017437B2 (en) | Devices and methods for measuring the energy spectrum of backscattered electrons | |
US4367406A (en) | Cylindrical mirror electrostatic energy analyzer free of third-order angular aberrations | |
US4128763A (en) | Energy analyzer for charged particles | |
EP4170694A1 (en) | Electrostatic deflection convergence-type energy analyzer, imaging-type electron spectroscopic device, reflecting imaging-type electron spectroscopic device, and spin vector distribution imaging device | |
US4942298A (en) | Electron spectrometer | |
SU1191981A1 (en) | Ion microanalyzer | |
JP3452867B2 (en) | Charged particle spectrometer | |
JPH0269692A (en) | Spherical mirror analyzer of energy of charged particle beam | |
Krasnova et al. | An analysing system for concurrent energy and angular distribution measurements of charged particles' emission | |
SU175584A1 (en) | ANALYZER OF CHARGED PARTICLES BY KINETIC ENERGY |