RU2060456C1 - Triangulation method of measurement of deviation of object - Google Patents
Triangulation method of measurement of deviation of object Download PDFInfo
- Publication number
- RU2060456C1 RU2060456C1 SU4926919A RU2060456C1 RU 2060456 C1 RU2060456 C1 RU 2060456C1 SU 4926919 A SU4926919 A SU 4926919A RU 2060456 C1 RU2060456 C1 RU 2060456C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- deviation
- distance
- measurement
- examined object
- centers
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
Description
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении, приборостроении, оптической промышленности при разработке систем неразрушающего контроля отклонений объектов. The invention relates to measuring equipment and can be used in mechanical engineering, instrumentation, the optical industry in the development of non-destructive testing systems for deviations of objects.
Наиболее близким техническим решением является триангуляционный способ измерений отклонений объекта, заключающийся в том, что освещают исследуемую точку объекта узким световым пучком, пропускают рассеянный объектом пучок в плоскость экрана и определяют величину отклонения по смещению центра изображения точки с учетом средневзвешенного значения координаты пятна. The closest technical solution is the triangulation method of measuring the deviations of the object, which consists in illuminating the studied point of the object with a narrow light beam, passing the beam scattered by the object into the plane of the screen, and determining the deviation value from the center of the image of the point taking into account the weighted average value of the coordinate of the spot.
Недостатком известного устройства является невысокая точность определения внешних смещений центра полученного изображения вследствие того, что помимо его смещения, связанного с отклонением исследуемой точки объекта, происходит еще дополнительное случайное смещение, связанное с изменением формы самого освещенного пятна (например, вследствие перепада рельефа или попадания в область пятна мельчайших песчинок, капель масла и пр.). A disadvantage of the known device is the low accuracy of determining the external displacements of the center of the obtained image due to the fact that in addition to its displacement associated with the deviation of the studied point of the object, there is an additional random displacement associated with a change in the shape of the illuminated spot itself (for example, due to a difference in relief or getting into the region spots of the smallest grains of sand, drops of oil, etc.).
Целью изобретения является повышение точности измерений отклонений объекта. The aim of the invention is to improve the accuracy of measuring deviations of the object.
На фиг. 1 представлено изображение, наблюдаемое в плоскости экрана при проведении измерений по предлагаемому способу; на фиг. 2 схема экспериментальной установки; на фиг. 3 принципиальная оптическая схема. In FIG. 1 presents the image observed in the plane of the screen during measurements by the proposed method; in FIG. 2 diagram of the experimental setup; in FIG. 3 principle optical scheme.
На фиг. 1 использованы следующие обозначения: 2x1' расстояние между центрами изображений A1 и A2, полученными до отклонения объекта; 2x1 расстояние между центрами изображений A1' и A2' после отклонения объекта. Искомое отклонение исследуемой точки определяют, исходя из величины x1'-x1 и геометрических параметров установки.In FIG. 1, the following notation is used: 2 x1 'the distance between the centers of the images A 1 and A 2 obtained before the deflection of the object; 2 x1 the distance between the centers of the images A 1 'and A 2 ' after the deflection of the object. The desired deviation of the investigated point is determined based on the value of x 1 '-x 1 and the geometric parameters of the installation.
Измерительная система, реализующая способ (фиг. 2), состоит из лазера 1 (ЛГ-52-1), оптической системы 2 фокусировки луча (использование этой оптической системы не обязательно), объекта 3 исследования (3' и 3'' до и после отклонения), поворотных зеркал 4 или других оптических элементов для совмещения двух изображений исследуемого объекта в плоскости экрана одной оптической системы (использование одной оптической системы для наблюдения удобно, но не обязательно), оптической системы 5 наблюдения и плоскости экрана 6. The measuring system that implements the method (Fig. 2) consists of a laser 1 (LG-52-1), an
Способ измерения заключается в следующем. The measurement method is as follows.
Настраивают оптическую систему таким образом, что на экране 6 получают два изображения исходной точки. Точная формулировка оптической системы не требуется. Необходимо лишь получить оба изображения в поле зрения объектива. Некоторая размытость изображения будет только способствовать более точному определению его весового центра. Затем определяют расстояние между центрами полученных изображений. Эта величина и есть 2x1'. Затем производят отклонение объекта. Вновь измеряют расстояние между полученными изображениями 2x1. Таким образом в ходе процесса определяют лишь два параметра x1 и x1'.The optical system is set up so that on
Искомой величиной отклонения является расстояние вдоль оптической оси между точками В и В', соответствующими двум положениям объекта до и после нагрузки. На фиг. 3 отсутствуют поворотные зеркала 4. Это объясняется тем, что важно не собственное наличие зеркал, а то, что они формируют мнимые изображения точек В и В'. Этими мнимыми изображениями являются точки В, В2, В1' и В2'.The desired deviation is the distance along the optical axis between points B and B 'corresponding to two positions of the object before and after the load. In FIG. 3 there are no turning
Средневзвешенное значение координаты каждого пятна определяют по формуле, и оно равняется (r1 + r2)/2 для левого пятна и (r3 + r4)/2 для правого соответственно. Отклонение объекта определяется расстоянием между центрами полученных изображений, равным
M= M(r4-r2)The weighted average coordinate value of each spot is determined by the formula, and it is equal to (r 1 + r 2 ) / 2 for the left spot and (r 3 + r 4 ) / 2 for the right, respectively. The deviation of the object is determined by the distance between the centers of the obtained images equal to
M = M (r 4 -r 2 )
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU4926919 RU2060456C1 (en) | 1991-04-08 | 1991-04-08 | Triangulation method of measurement of deviation of object |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU4926919 RU2060456C1 (en) | 1991-04-08 | 1991-04-08 | Triangulation method of measurement of deviation of object |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2060456C1 true RU2060456C1 (en) | 1996-05-20 |
Family
ID=21569435
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU4926919 RU2060456C1 (en) | 1991-04-08 | 1991-04-08 | Triangulation method of measurement of deviation of object |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2060456C1 (en) |
-
1991
- 1991-04-08 RU SU4926919 patent/RU2060456C1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Патент Франции N2621999, кл. G 01B 11/00, 1989. "Optics and Laser technology", v.21, N 5, 1985, p.335-338. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Rastogi | Techniques of displacement and deformation measurements in speckle metrology | |
DE4108944A1 (en) | Contactless measurement of surface shape of diffusely scattering objects e.g. semiconductor wafers - using interferometric arrangement for three=dimensional measurement with minimal coherence length and illumination aperture angle less than observation aperture angle | |
CN102072710B (en) | Optical angle measuring device and angle measuring method | |
Su et al. | New 3D profilometry based on modulation measurement | |
Albrecht | Estimation of the 2D measurement error introduced by in-plane and out-of-plane electronic speckle pattern interferometry instruments | |
RU2060456C1 (en) | Triangulation method of measurement of deviation of object | |
US5075560A (en) | Moire distance measurements using a grating printed on or attached to a surface | |
US10801834B2 (en) | Fringe projection for determining topography of a body | |
Xie et al. | Four-map absolute distance contouring | |
US3989378A (en) | Method for no-contact measurement | |
Cielo et al. | Improvement of subpixel resolution in triangulation ranging by astigmatic spot projection and wide-aperture line array imaging | |
RU2027144C1 (en) | Parallax method of measuring coordinates of object | |
RU2769305C1 (en) | Autocollimator | |
JPS62191704A (en) | Apparatus for measuring laser speckle strain | |
JPS6358106A (en) | Straightness measuring apparatus for feed table | |
Mashimo et al. | Development of optical noncontact sensor for measurement of three-dimensional profiles using depolarized components of scattered light | |
Indebetouw | A simple optical noncontact profilometer | |
RU2191348C2 (en) | Contactless three-coordinate meter | |
Patorski et al. | Optical alignment using Fourier imaging phenomenon and Moire technique | |
Bručas et al. | Increasing of the accuracy of vertical angle measurements of geodetic instrumentation | |
CN115854926A (en) | Three-degree-of-freedom self-aligning angle measuring device and method based on cross-hair reticle | |
SU397750A1 (en) | PHOTOELECTRIC METHOD OF RADIATION OF OBJECTS MUTUALITY | |
DE19620419A1 (en) | Optical contact free measurement of surface displacement | |
RU2351895C2 (en) | Method of determination of individual linear measuring weight | |
JPS61159102A (en) | Two-dimensional measuring method |