RU2047183C1 - Способ определения параметров тонких магнитных пленок - Google Patents
Способ определения параметров тонких магнитных пленок Download PDFInfo
- Publication number
- RU2047183C1 RU2047183C1 SU5015408A RU2047183C1 RU 2047183 C1 RU2047183 C1 RU 2047183C1 SU 5015408 A SU5015408 A SU 5015408A RU 2047183 C1 RU2047183 C1 RU 2047183C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- field
- specimen
- sample
- magnetic field
- variable
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
Использование: при научных исследованиях и технологическом контроле образцов тонких магнитных пленок, например, гранатовых эпитаксиальных структур. Сущность изобретения: способ включает воздействие на образец постоянным магнитным полем смещения, переменным модулирующим полем и фотоэлектрическую регистрацию переменной компоненты намагниченности, при этом переменное магнитное поле создают с помощью двух синхронных противофазных источников с градиентом, перпендикулярном плоскости образца, и устанавливают образец в положение, при котором смена знака фазы результирующего поля модуляции происходит в заданном слое образца. 1 ил.
Description
Изобретение относится к способам измерений параметров тонких магнитных пленок (ТМП) и может найти применение при научных исследованиях и технологическом контроле образцов ТМП, например, гранатовых эпитаксиальных структур.
Способ поясняется чертежом, на котором представлена функциональная схема устройства для проведения измерений.
Испытуемый образец 1 размещен в соленоиде 2, создающем постоянное поле смещения. Соленоид 2 подключен к источнику 3 регулируемого постоянного тока. Градиентное переменное модулирующее поле создается с помощью двух колец Гельмгольца 4, состоящих из двух одинаковых обмоток, включенных встречно последовательно друг другу и подключенных к генератору 5 переменного тока. С помощью микрометрического устройства (не показано) положение образца по отношению к кольцам Гельмгольца можно регулировать в направлениях, показанных стрелкой. Система фотоэлектрической регистрации переменной компоненты намагниченности образца включает в себя источник 6 света, поляризатор 7, анализатор 8 и фотоприемник 9, подключенный к входу усилителя 10 переменного тока с регистрирующим прибором.
Способ реализуется следующим образом.
С помощью соленоида 2 создают постоянное магнитное поле смещения, величина которого соответствует тому участку кривой намагничивания образца, для которого производится определение дифференциальной магнитной восприимчивости. С помощью устройства образец 1 помещают в такое положение, при котором один из слоев пленки находится в плоскости, в которой происходит смена знака фазы результирующего переменного модулирующего поля, т.е. в плоскости с нулевым полем модуляции. На катушки Гельмгольца 4 подают ток от генератора 5 и устанавливают такое его значение, которое соответствует заданной величине амплитуды поля модуляции для второго слоя пленки, т.е. для слоя, параметры которого подлежат определению. На образец направляют свет от источника 6 света и с помощью регистрирующего прибора 11 измеряют сигнал, пропорциональный переменной компоненте намагниченности заданного слоя.
Описанный процесс измерения может быть повторен для других фиксированных значений поля смещения, в результате после обработки результатов измерений по известным стандартным соотношениям получают, например, зависимость дифференциальной магнитной восприимчивости от величины внешнего постоянного магнитного поля.
Claims (1)
- СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ТОНКИХ МАГНИТНЫХ ПЛЕНОК, включающий воздействие на образец постоянным магнитным полем смещения, переменным модулирующим полем и фотоэлектрическую регистрацию переменной компоненты намагниченности, отличающийся тем, что переменное магнитное поле создают с помощью двух синхронных противофазных источников с градиентом, перпендикулярным плоскости образца, и перемещением их в осевом направлении относительно образца устанавливают его в положение, при котором смена знака фазы результирующего поля модуляции происходит в заданном слое образца.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU5015408 RU2047183C1 (ru) | 1991-10-14 | 1991-10-14 | Способ определения параметров тонких магнитных пленок |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU5015408 RU2047183C1 (ru) | 1991-10-14 | 1991-10-14 | Способ определения параметров тонких магнитных пленок |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2047183C1 true RU2047183C1 (ru) | 1995-10-27 |
Family
ID=21590965
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU5015408 RU2047183C1 (ru) | 1991-10-14 | 1991-10-14 | Способ определения параметров тонких магнитных пленок |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2047183C1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2544276C1 (ru) * | 2013-11-08 | 2015-03-20 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" | Способ измерения параметров наноразмерных магнитных пленок |
-
1991
- 1991-10-14 RU SU5015408 patent/RU2047183C1/ru active
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
1. Ялышев Ю.И., Мурашев Г.Р., Лукаш К.И., Показаньев В.Г. Магнитооптическая установка для резонансных исследований тонких пленок -. ПТЭ, 1983, N 5, с.230-231. * |
2. Journ. Appl. Phys., 1984, v. 55(6), p.2617-2619. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2544276C1 (ru) * | 2013-11-08 | 2015-03-20 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" | Способ измерения параметров наноразмерных магнитных пленок |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5952734A (en) | Apparatus and method for magnetic systems | |
JPH0668508B2 (ja) | 光電流・磁界計測方法及び装置 | |
RU2047183C1 (ru) | Способ определения параметров тонких магнитных пленок | |
Ando et al. | Real-time orientation-sensitive magnetooptic imager for leakage flux inspection | |
US4342962A (en) | Method for measuring coercivity in magnetic materials | |
Bi et al. | A new method of measuring hysteresis loops on local areas of the surface of a ferromagnet | |
SU883825A1 (ru) | Магнитооптический гистериограф | |
SU976410A1 (ru) | Магнитооптический гистериограф | |
SU1580298A1 (ru) | Магнитометр | |
Aroca et al. | Spectrum analyzer for low magnetic field | |
SU974240A1 (ru) | Устройство дл контрол ферромагнитных изделий | |
SU1112328A1 (ru) | Устройство дл определени магнитных характеристик ферромагнитных материалов | |
SU1043481A1 (ru) | Электромагнитный способ измерени диаметра ферромагнитных изделий | |
SU892377A1 (ru) | Устройство дл измерени неоднородности магнитной индукции | |
SU1182449A1 (ru) | Способ измерени коэрцитивной силы | |
Bäckström | A device for the precision measurement of an inhomogenous magnetic field | |
SU901959A1 (ru) | Устройство дл измерени статических магнитных характеристик ферромагнитных материалов | |
JPH0419583A (ja) | 透磁率測定装置 | |
SU970287A1 (ru) | Устройство дл формировани синусоидальных режимов перемагничивани ферромагнитных образцов | |
SU1018070A1 (ru) | Магнитооптический гистериограф | |
US3482158A (en) | Method and nuclear resonance magnetometer apparatus for measuring small differences of magnetic field | |
RU2262712C2 (ru) | Устройство для измерения магнитных характеристик ферромагнитных материалов | |
SU864210A1 (ru) | Способ измерени потерь энергии на вращательный гистерезис | |
SU1585769A1 (ru) | Способ измерени гистерезисных кривых ферромагнетиков | |
SU1023262A1 (ru) | Способ измерени анизотропии тонких магнитных пленок |