RU2046843C1 - Способ получения поликристаллического селенида цинка - Google Patents
Способ получения поликристаллического селенида цинка Download PDFInfo
- Publication number
- RU2046843C1 RU2046843C1 SU5057463A RU2046843C1 RU 2046843 C1 RU2046843 C1 RU 2046843C1 SU 5057463 A SU5057463 A SU 5057463A RU 2046843 C1 RU2046843 C1 RU 2046843C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- zinc selenide
- concentration
- selenide
- zinc
- laser
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
Изобретение относится к силовой ИК-оптике, получению пассивных элементов мощных CO2 -лазеров. Сущность изобретения: на подложки из стеклоуглерода, нагретые до 650-750°С, осаждают промежуточный слой селенида цинка в течение 5 ч при концентрации исходных реагентов 40-50 моль/м3 а основной слой при концентрации 20-26 моль/м3. 1 табл.
Description
Изобретение относится к силовой ИК-оптике и касается разработки способа получения селенида цинка, используемого в качестве пассивных элементов высокомощных СО2-лазеров и других приборов, работающих с мощным ИК-излучением.
Известен способ получения поликристаллического селенида цинка химическим осаждением из паровой фазы путем подачи паров цинка в потоке аргона и селеноводорода, включающий нанесение промежуточного слоя, состоящего из графитового порошка, на графитовую подложку, нагретую до 700оС, при общем давлении в реакционной зоне 13,3 кПа с последующим осаждением основного слоя селенида цинка [1]
По данным лазерной калориметрии на рабочей волне СО2 лазера (10,6 мкм) коэффициент общего оптического поглощения колеблется по геометрии образца от 0,8 до 5 м-1. Лазерную стойкость определяли прямым разрушением образцов в импульсном режиме работы одномодового СО2-лазера (длина импульса 200 нс, диаметр пучка 0,9 мм). Лазерная стойкость составляет 100 кДж/м2.
По данным лазерной калориметрии на рабочей волне СО2 лазера (10,6 мкм) коэффициент общего оптического поглощения колеблется по геометрии образца от 0,8 до 5 м-1. Лазерную стойкость определяли прямым разрушением образцов в импульсном режиме работы одномодового СО2-лазера (длина импульса 200 нс, диаметр пучка 0,9 мм). Лазерная стойкость составляет 100 кДж/м2.
Неоднородность оптического поглощения по геометрии образца и низкая лазерная стойкость обусловлены главным образом неконтролируемыми включениями частиц графитового порошка в основной слой селенида цинка.
Наиболее близким к предлагаемому является способ получения поликристаллического селенида цинка химическим осаждением из паровой фазы путем подачи паров цинка в потоке аргона и селеноводорода, включающий нанесение промежуточного слоя тонкодисперсного порошка селенида цинка на графитовую подложку, нагретую до 850оС, при общем давлении в реакционной зоне 6,7 кПа с последующим осаждением основного слоя селенида цинка [2]
Коэффициент общего оптического поглощения на рабочей волне СО2-лазера колеблется по геометрии образца от 0,8 до 5 м-1. Лазерная стойкость составляет 12 кДж/м2. В этом случае неоднородность оптического поглощения и низкая лазерная стойкость обусловлены прорастанием пор с шероховатой поверхности порошкообразного селенида цинка в объем поликристаллического селенида цинка.
Коэффициент общего оптического поглощения на рабочей волне СО2-лазера колеблется по геометрии образца от 0,8 до 5 м-1. Лазерная стойкость составляет 12 кДж/м2. В этом случае неоднородность оптического поглощения и низкая лазерная стойкость обусловлены прорастанием пор с шероховатой поверхности порошкообразного селенида цинка в объем поликристаллического селенида цинка.
Недостатками способов получения селенида цинка [1, 2] являются непостоянное значение коэффициента оптического поглощения, меняющееся от точки к точке по геометрии образца, и низкая лазерная стойкость, что ограничивает, а порой исключает область его практического применения в качестве пассивных элементов высокомощных СО2-лазеров.
Для снижения общего оптического поглощения и повышения лазерной стойкости в известном способе получения поликристаллического селенида цинка, включающем нанесение промежуточного слоя селенида цинка химическим осаждением из паровой фазы путем подачи паров цинка в потоке аргона и селеноводорода к нагретым подложкам с последующим осаждением основного слоя поликристаллического селенида цинка, промежуточный слой выполнен из поликристаллического селенида цинка, который наносят на подложки из стеклоуглерода, нагретые до 650-750оС, при общем давлении в реакционной зоне 0,5-1,3 кПа, время осаждения не менее 5 ч при концентрации исходных реагентов 40-50 моль/м3, а осаждение основного слоя селенида цинка ведут при концентрации 20-26 моль/м3.
По предлагаемому способу получают массивные (105х800 мм) поликристаллические слои селенида цинка с лазерной стойкостью 200-220 кДж/м2 (20-22 Дж/см2), коэффициентом общего оптического поглощения на рабочей волне СО2-лазера (10,6 мкм) 1˙10-3 см-1, постоянным по всей геометрии образца и размером зерна 50-100 мкм, что свидетельствует о высокой механической прочности материала.
Совокупность всех этих показателей является необходимой и достаточной для использования полученного поликристал- лического селенида цинка в высокомощных СО2-лазерах.
Температура подложки 650-750оС, общее давление в реакционной зоне 0,5-1,3 кПа, концентрация исходных реагентов при осаждении промежуточного и основного слоев 40-50 и 20-26 моль/м3 cоответственно, а также время осаждения не менее 5 ч были подобраны экспериментальным путем и, как показали опыты, являются оптимальными для достижения технического результата.
При температуре ниже 650оС коэффициент общего оптического поглощения увеличивается до 1 м-1 (1˙10-2 см-1), лазерная стойкость снижается до 100-120 кДж/м2 за счет включения микрочастиц порошкообразного селенида цинка, образующегося в результате гомогенной реакции в газовой фазе.
При температуре выше 750оС коэффициент оптического поглощения непостоянен до геометрии образца, а лазерная прочность также понижается за счет образования пор, вызванных развитой морфологией поверхности роста.
При давлении ниже 4 мм рт.ст. реагенты уносятся за зону осаждения за счет высокой скорости газового потока в реакторе и образования промежуточного слоя не происходит. Лазерная прочность в данном случае снижается.
При давлении выше 10 мм рт.ст. коэффициент общего оптического поглощения непостоянен и колеблется по геометрии образца от 0,8 до 5 м-1.
В данном случае это происходит в результате внедрения в материал порошкообразных частиц селенида цинка.
При концентрации исходных реагентов ниже 40 моль/м3 поры в основном слое селенида цинка исчезают незначительно, а при концентрации выше 50 моль/м3 промежуточным слоем является порошкообразный селенид цинка, со стороны которого прорастают поры. В обоих случаях лазерная стойкость материала понижается до 100-120 кДж/м2, а коэффициент общего оптического поглощения непостоянен и его значение меняется от точки к точке по всей геометрии образца.
Осаждение промежуточного слоя селенида цинка менее 5 ч не приводит к исчезновению пор в основном слое селенида цинка, а осаждение более 5 ч нецелесообразно, так как лазерная стойкость не увеличивается и коэффициент оптического поглощения не снижается.
При осаждении основного слоя селенида цинка концентрация исходных реагентов также имеет существенное значение. При концентрации ниже 20 моль/м3 в селениде цинка образуются поры, а при концентрации выше 26 моль/м3 в слое образуются микровключения порошкообразных частиц селенида цинка. В обоих случаях лазерная стойкость снижается, а коэффициент общего оптического поглощения увеличивается.
П р и м е р 1. Выращивание массивных поликристаллических слоев селенида цинка проводят на установке, состоящей из горизонтальной кварцевой трубы, в которую помещены резервуар с цинком и реактор квадратного сечения, состоящий из четырех стеклоуглеродных пластин марки СУ-2000.
С помощью форвакуумного насоса достигают остаточного давления 1,3 ˙10 кПа и регуляторами расхода газов устанавливают следующие потоки: поток аргона через резервуар с цинком, поток аргона через резервуар с цинком, поток аргона по трубке, через которую подают селеноводород, и поток аргона, подаваемый по отдельной трубке в рабочую зону осаждения. С помощью вентиля на выходе из трубы устанавливают давление в системе 0,9 кПа.
Затем включают нагрев девятизонного внешнего резистивного нагревателя. При достижении температуры в зоне цинка 570оС и в зоне реактора 700оС подают селеноводород с концентрацией 50 моль/м3. Изменением температуры в зоне источника цинка устанавливают его концентрацию 50 моль/м3 и ведут осаждение промежуточного слоя в течение 7 ч. Затем концентрацию селеноводорода понижают до 2-4 моль/м3. Вентилем тонкой регулировки устанавливают первоначальное давление в реакционной зоне 7 мм рт.ст. и проводят осаждение основного слоя.
Полученные предлагаемым способом поликристаллические слои селенида цинка не имеют пор и включений, оптически однородны и визуально прозрачны.
Путем прямых испытаний в одномодовом импульсном СО2-лазере (с длиной импульса 200 нс) было найдено значение лазерной стойкости, которое составило 220 кДж/м2. По данным лазерной калориметрии на рабочей волне СО2-лазера коэффициент общего оптического поглощения составляет 0,1 м-1, средний размер зерна 50-100 мкм, что свидетельствует о высокой механической прочности.
В таблице представлены свойства образцов поликристаллического селенида цинка, полученных при различных значениях температуры, давления и концентрации исходных реагентов.
Из таблицы видно, что получение селенида цинка с лазерной стойкостью 200-220 кДж/м2, коэффициентом общего оптического поглощения 0,1 м-1 (1 ˙10-3 см-1), постоянным по всей геометрии образца, возможно только в том случае, когда осаждение поликристаллического селенида цинка ведут на стеклоуглеродную подложку, нагретую до 650-750оС, при давлении в реакционной зоне не менее 5 ч при концентрации исходных реагентов при осаждении промежуточного и основного слоев 40-50 и 20-26 моль/м3 соответственно (примеры 1, 2, 5, 6, 9, 10, 14-18). При температуре ниже 650оС и выше 750оС коэффициент общего оптического поглощения увеличивается, а лазерная прочность снижается (примеры 7, 8, 21, 22).
При давлении ниже 0,5 и выше 1,3 кПа коэффициент оптического поглощения либо увеличивается (примеры 11, 12, 23, 24), либо его значение непостоянно. Лазерная прочность в обоих случаях снижается.
При концентрации исходных реагентов ниже 40 и выше 50 моль/м3 лазерная стойкость снижается, а значение коэффициента оптического поглощения непостоянно (примеры 3, 4).
При осаждении промежуточного слоя селенида цинка менее 5 ч лазерная прочность снижается, а коэффициент оптического поглощения увеличивается (пример 13).
При осаждении основного слоя селенида цинка при концентрации исходных реагентов ниже 20 и выше 2,6 моль/м3 происходят понижение лазерной стойкости и повышение коэффициента общего оптического поглощения (примеры 19, 20).
Таким образом, все вышеперечисленные признаки являются существенными, так как каждый из них необходим, а все вместе они достаточны для достижения технического результата понижения лазерной стойкости и повышения коэффициента общего оптического поглощения.
В сравнении с прототипом предлагаемый способ позволяет снизить коэффициент общего оптического поглощения с 1 до 0,1 м-1 (с 1˙10-2 до 1˙10-3 см-1), величина которого постоянна по всей геометрии образца, повысить лазерную стойкость с 12 до 200-220 кДж/м2.
Claims (1)
- СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО СЕЛЕНИДА ЦИНКА химическим осаждением из паровой фазы путем подачи паров цинка в потоке аргона и селеноводорода в реакционную зону к нагретым подложкам, включающий нанесение промежуточного и основного поликристаллического слоев селенида цинка, отличающийся тем, что подложки используют из стеклоуглерода, нагрев их ведут до 650-750oС, общее давление в реакционной зоне поддерживают 0,5-1,3 кПа, промежуточный слой выполняют из селенида цикла осаждением в течение не менее 5 ч при концентрации исходных реагентов 40-50 моль/м3, а основной слой при концентрации 20-26 моль/м3.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU5057463 RU2046843C1 (ru) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | Способ получения поликристаллического селенида цинка |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU5057463 RU2046843C1 (ru) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | Способ получения поликристаллического селенида цинка |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2046843C1 true RU2046843C1 (ru) | 1995-10-27 |
Family
ID=21610969
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU5057463 RU2046843C1 (ru) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | Способ получения поликристаллического селенида цинка |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2046843C1 (ru) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102400212A (zh) * | 2010-08-02 | 2012-04-04 | 天津津航技术物理研究所 | 获取多晶体光学硒化锌的方法 |
EP2674792B1 (en) * | 2012-03-09 | 2019-09-18 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | MANUFACTURING METHOD FOR OPTICAL COMPONENT OF ZnSe |
CN115961350A (zh) * | 2022-12-29 | 2023-04-14 | 安徽光智科技有限公司 | 一种高均匀性多晶硒化锌红外材料的生长方法 |
-
1992
- 1992-07-31 RU SU5057463 patent/RU2046843C1/ru active
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
1. Заявка Японии N 56-141829, кл.C 01B 19/04, 1981. * |
2. Заявка Японии N 59-27725, кл. C 01B 19/04, 1984. * |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102400212A (zh) * | 2010-08-02 | 2012-04-04 | 天津津航技术物理研究所 | 获取多晶体光学硒化锌的方法 |
CN102400212B (zh) * | 2010-08-02 | 2014-06-18 | 天津津航技术物理研究所 | 获取多晶体光学硒化锌的方法 |
EP2674792B1 (en) * | 2012-03-09 | 2019-09-18 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | MANUFACTURING METHOD FOR OPTICAL COMPONENT OF ZnSe |
CN115961350A (zh) * | 2022-12-29 | 2023-04-14 | 安徽光智科技有限公司 | 一种高均匀性多晶硒化锌红外材料的生长方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100942279B1 (ko) | 다이아몬드 생산 장치 및 방법 | |
CA2385621A1 (en) | Method and apparatus for growing silicon carbide crystals | |
US6045613A (en) | Production of bulk single crystals of silicon carbide | |
KR20080044206A (ko) | 신속한 성장 속도의 무색 단결정 cvd 다이아몬드 | |
US20100012022A1 (en) | Diamond Uses/Applications Based on Single-Crystal CVD Diamond Produced at Rapid Growth Rate | |
WO2022123084A2 (en) | Method and device for producing a sic solid material | |
RU2046843C1 (ru) | Способ получения поликристаллического селенида цинка | |
EP0201696B1 (en) | Production of carbon films | |
Choudhary et al. | Manufacture of gem quality diamonds: a review | |
AU1862392A (en) | Plasma assisted diamond synthesis | |
US5055280A (en) | Process for producing transition metal boride fibers | |
US3224840A (en) | Methods and apparatus for producing crystalline materials | |
EP0132618A1 (en) | Process for preparing ZnSe single crystal | |
CA2042269A1 (en) | Radiation-hard optical articles from single-crystal diamond of high isotopic purity | |
Wallenberger et al. | Amorphous silicon nitride fibers grown from the vapor phase | |
JPS5936927A (ja) | 半導体気相成長装置 | |
Goto et al. | Synthesis of diamond films by laser-induced chemical vapor deposition | |
EP1666644B1 (en) | Method for producing crystal of fluoride | |
RU2253705C1 (ru) | Способ получения поликристаллического селенида цинка | |
RU2031986C1 (ru) | Способ получения поликристаллического селенида цинка | |
US3053639A (en) | Method and apparatus for growing crystals | |
Ursu et al. | Growth of large ultratransparent KCl single crystals | |
US20240034635A1 (en) | Method and Device for Producing a SiC Solid Material | |
JP3247838B2 (ja) | 熱分解窒化ほう素ルツボ及びその製造方法 | |
RU2019586C1 (ru) | Способ получения оптических поликристаллических блоков селенида цинка |