RU2017114345A

RU2017114345A - Система визуализации для одновоксельной спектроскопии

Info

Publication number: RU2017114345A
Application number: RU2017114345A
Authority: RU
Inventors: Иван ДИМИТРОВ
Original assignee: Конинклейке Филипс Н.В.
Priority date: 2014-09-26
Filing date: 2015-09-11
Publication date: 2018-10-29
Also published as: EP3198292A1; CN106796275A; US10761166B2; US20170299677A1; JP6568210B2; JP2017528262A; CN106796275B; WO2016046686A1; EP3198292B1; RU2689893C2; RU2017114345A3

Claims

1. Способ проведения одновоксельной магнитно-резонансной спектроскопии (MRS) в системе (1) магнитно-резонансной визуализации (MRI), способ включает этапы, на которых:

воздействуют на область, представляющую интерес, магнитным полем из системы MRI;

получают изображение области, представляющей интерес, для анатомического планирования из сигналов, испускаемых областью, представляющей интерес, в результате воздействия на нее магнитным полем;

анализируют магнитное поле на предмет его однородности на протяжении области, представляющей интерес; и на основании анализа магнитного поля, получают карту участков изображения для анатомического планирования с различными степенями однородности магнитного поля;

вычисляют размер одного спектроскопического вокселя, чтобы достигать пользовательских требований к шиммированию магнитного поля, для использования в MRS процессе, на основании карты; и

располагают один спектроскопический воксель вычисленного размера внутри анатомической области, представляющей интерес, на основании карты.

2. Способ по п. 1, в котором магнитное поле получают с использованием локализатора системы MRI.

3. Способ по п. 1, в котором изображение для анатомического планирования и спектр магнитного резонанса получают последовательно или в котором изображение для анатомического планирования получают в виде сканирования, отдельного от сканирования, в котором получают спектр магнитного резонанса.

4. Способ по п. 1, в котором анализ включает пошаговое перемещение спектроскопического вокселя по области, представляющей интерес, измерение характеристики магнитного поля в спектроскопическом вокселе каждый раз, когда спектроскопический воксель локализуют в новом положении в результате пошагового перемещения, и вычисление FWHM в характеристике магнитного поля в каждом положении спектроскопического вокселя.

5. Способ по п. 1, в котором получение карты включает разграничение по меньшей мере трех участков изображения для анатомического планирования, в которых степени однородности магнитного поля отличаются друг от друга.

6. Способ по п. 5, в котором получение карты включает отображение контуров по меньшей мере трех участков или получение карты включает цветовое кодирование по меньшей мере трех участков.

7. Способ по п. 1, в котором размер одного вокселя вычисляют на основании размера области перекрытия между участком карты, где однородность магнитного поля является наибольшей, и разграниченной областью изображения для анатомического планирования.

8. Способ по п. 1, в котором пользовательские требования к шиммированию точно определяют посредством требований к шиммированию полной ширины на уровне полумаксимума (FWHM).

9. Система (1) магнитно-резонансной визуализации, содержащая:

магнитное/катушечное устройство (4), выполненное с возможностью воздействовать на область магнитным полем; и

систему (5) управления, которая содержит блок (7) управления, который управляет работой магнитного/катушечного устройства и принимает сигналы, излучаемые областью в результате воздействия на нее магнитным полем, и процессор (8), выполненный с возможностью получать один спектроскопический воксель, и

при этом система управления выполнена с использованием данных наложения, репрезентативных для участков изображения для анатомического планирования с различными степенями однородности магнитного поля, используемыми для того, чтобы создавать изображение для анатомического планирования, и

процессор и блок управления функционально связаны так, что система магнитно-резонансной визуализации выполнена с возможностью работать в режиме одновоксельной спектроскопии, в котором один воксель можно располагать внутри области, представляющей интерес, изображения для анатомического планирования на основании данных наложения, причем магнитным/катушечным устройством управляют с помощью блока управления для того, чтобы воздействовать магнитным полем на область, ограниченную одним спектроскопическим вокселем, а блок управления получает спектр магнитного резонанса, излучаемого этой областью, ограниченной одним спектроскопическим вокселем, вычисляет размер одного спектроскопического вокселя для того, чтобы достигать пользовательских требований к шиммированию магнитного поля, для использования в MRS процессе, на основании однородности магнитного поля; и располагает один спектроскопический воксель вычисленного размера внутри анатомической области, представляющей интерес.

10. Система по п. 9, которая дополнительно содержит консоль (12), содержащую дисплей (12.2), и при этом система управления выполнена с возможностью генерировать карту участков изображения для анатомического планирования с различными степенями однородности магнитного поля, и функционально связана с консолью так, что карту можно отображать на дисплее во время режима одновоксельной спектроскопии.

11. Система по п. 9, в которой карта содержит по меньшей мере три участка изображения для анатомического планирования, в которых степени однородности магнитного поля отличаются друг от друга, или карта содержит контурные линии на границах между смежными по меньшей мере тремя участками.

12. Система по п. 9, в которой размер одного вокселя вычисляют на основании размера области перекрытия между участком, где однородность магнитного поля является наибольшей, и разграниченной областью изображения для анатомического планирования.

13. Система по п. 12, в которой система управления выполнена с возможностью обрабатывать изображение для анатомического планирования и тем самым разграничивать область, представляющую интерес, на изображении для анатомического планирования, вычислять размер одного спектроскопического вокселя и определять местоположение одного спектроскопического вокселя внутри области, представляющей интерес, на основании данных наложения, все автоматически, пока система находится в режиме одновоксельной спектроскопии.

14. Система по п. 9, в которой пользовательские требования к шиммированию точно определяют посредством требований к шиммированию полной ширины на уровне полумаксимума (FWHM).