RU2016120217A - METHOD FOR EXAMINING THE SURFACE OF AN OBJECT BY INFRARED INSTRUMENT - Google Patents

METHOD FOR EXAMINING THE SURFACE OF AN OBJECT BY INFRARED INSTRUMENT Download PDF

Info

Publication number
RU2016120217A
RU2016120217A RU2016120217A RU2016120217A RU2016120217A RU 2016120217 A RU2016120217 A RU 2016120217A RU 2016120217 A RU2016120217 A RU 2016120217A RU 2016120217 A RU2016120217 A RU 2016120217A RU 2016120217 A RU2016120217 A RU 2016120217A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
temperature
marker
emissivity
examining
reflected radiation
Prior art date
Application number
RU2016120217A
Other languages
Russian (ru)
Other versions
RU2659457C2 (en
Inventor
Евгений Владимирович Левин
Александр Юрьевич Окунев
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное учреждение "Научно-исследовательский институт строительной физики Российской академии архитектуры и строительных наук" (НИИСФ РААСН)
Евгений Владимирович Левин
Александр Юрьевич Окунев
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное учреждение "Научно-исследовательский институт строительной физики Российской академии архитектуры и строительных наук" (НИИСФ РААСН), Евгений Владимирович Левин, Александр Юрьевич Окунев filed Critical Федеральное государственное бюджетное учреждение "Научно-исследовательский институт строительной физики Российской академии архитектуры и строительных наук" (НИИСФ РААСН)
Priority to RU2016120217A priority Critical patent/RU2659457C2/en
Publication of RU2016120217A publication Critical patent/RU2016120217A/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2659457C2 publication Critical patent/RU2659457C2/en

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K15/00—Testing or calibrating of thermometers
    • G01K15/005—Calibration

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Claims (1)

Способ обследования поверхности объекта инфракрасным прибором, включающий измерение температуры отраженного излучения, выбор реперного участка на поверхности и измерение на нем коэффициента излучения, ввод в прибор измеренных величин температуры отраженного излучения и коэффициента излучения и последующее обследование объекта, отличающийся тем, что для измерения температуры отраженного излучения используют маркер с известным коэффициентом излучения, в прибор вводят значение коэффициента излучения маркера, проводят измерение температуры маркера и последующее наблюдение маркера прибором, при котором последовательно изменяют вводимую в прибор температуру отраженного излучения, при достижении наблюдаемой прибором величины температуры маркера, близкой к его измеренной температуре, температуру отраженного излучения прекращают изменять и фиксируют в приборе, причем в качестве маркера используют материал с относительной шероховатостью поверхности в рабочем спектральном диапазоне прибора, аналогичной относительной шероховатости поверхности обследуемого объекта.A method for examining the surface of an object with an infrared device, including measuring the temperature of the reflected radiation, selecting a reference area on the surface and measuring the emissivity on it, inputting the measured values of the temperature of the reflected radiation and emissivity into the device and then examining the object, characterized in that for measuring the temperature of the reflected radiation use a marker with a known emissivity, enter the value of the emissivity of the marker into the device, measure marker temperature and subsequent observation of the marker with the device, in which the reflected temperature introduced into the device is successively changed when the temperature of the marker observed by the device is close to its measured temperature, the temperature of the reflected radiation is stopped changing and fixed in the device, and material with relative surface roughness in the working spectral range of the device, similar to the relative surface roughness of the examined object a.
RU2016120217A 2016-05-25 2016-05-25 Method of investing the object surface by the infrared device RU2659457C2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2016120217A RU2659457C2 (en) 2016-05-25 2016-05-25 Method of investing the object surface by the infrared device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2016120217A RU2659457C2 (en) 2016-05-25 2016-05-25 Method of investing the object surface by the infrared device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2016120217A true RU2016120217A (en) 2017-11-30
RU2659457C2 RU2659457C2 (en) 2018-07-02

Family

ID=60580753

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2016120217A RU2659457C2 (en) 2016-05-25 2016-05-25 Method of investing the object surface by the infrared device

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2659457C2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2727349C1 (en) * 2019-12-13 2020-07-21 Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д.И. Менделеева" Method of thermography of a remote object
RU2755075C1 (en) * 2020-11-23 2021-09-14 Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д.И. Менделеева" Method for over-horizontal detection of man-general marine objects

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU412496A1 (en) * 1971-07-20 1974-01-25 Пак Ванбо , П. С. Глазырин METHOD OF RELATIVE MEASUREMENT OF THE DEGREE OF BLACKNESS OF SOLID TELTIJObi "l ;; .- ^! - ':? -?; ^ * ^?". WIJ in S, -' • <. -, - '.- ^ r ^ V •• fi 'L' ^ - * r-; • ..-- • .-.; ^ N ,. "s (f'J
SU770333A1 (en) * 1979-05-31 2005-11-20 В.Н. Жигалов METHOD OF MEASURING THE DEGREE OF BLACKNESS OF SOLID BODIES
US5868496A (en) * 1994-06-28 1999-02-09 Massachusetts Institute Of Technology Non-contact surface temperature, emissivity, and area estimation
US7186978B2 (en) * 2004-10-15 2007-03-06 Millennium Enginerring And Integration Company Compact emissivity and temperature measuring infrared detector
RU2382340C1 (en) * 2008-03-31 2010-02-20 Государственное научное учреждение "Институт технологии металлов Национальной академии наук Беларуси" ГНУ "ИТМ НАН Беларуси" Method for remote measurement of temperature and device for its realisation
DE102010013142B4 (en) * 2010-03-27 2013-10-17 Testo Ag Method for IR radiation-based temperature measurement and IR radiation-based temperature measuring device
DE102012201061B4 (en) * 2011-07-15 2013-06-06 Von Ardenne Anlagentechnik Gmbh Method and arrangement for calibrating a pyrometer
RU2548921C1 (en) * 2013-10-09 2015-04-20 Федеральное государственное унитарное предприятие "Крыловский государственный научный центр" (ФГУП "Крыловский государственный научный центр") Method to determine extent of material surface blackness

Also Published As

Publication number Publication date
RU2659457C2 (en) 2018-07-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2016063284A3 (en) Accessories for handheld spectrometer
WO2015132412A3 (en) Sensor device for high-resolution detection of target substances
CO2017006795A2 (en) Impedance sensors to detect and monitor moisture in absorbent articles
EA201592216A1 (en) METHOD AND MEASUREMENT SYSTEM
EP3229014A3 (en) Measuring device for measuring a surface lining on a measurement object, specifically on a foodstuff
JP2018533013A5 (en)
IL282328A (en) Integrated optics quantum weak measurement amplification sensor for remote sensing
EP3147656A3 (en) Coefficient-of-thermal-expansion measurement
RU2017100254A (en) TOUCH DEVICE, MEASUREMENT DEVICE AND METHOD OF MEASUREMENTS
JP2018066712A5 (en)
JP2017516075A5 (en)
WO2013108260A3 (en) Measurement of a body part
RU2016120217A (en) METHOD FOR EXAMINING THE SURFACE OF AN OBJECT BY INFRARED INSTRUMENT
FR3027106B1 (en) PROBE FOR MEASURING THE TEMPERATURE REGULATING AT THE OUTPUT OF THE HELICOPTER TURBINE
JP2015229022A5 (en)
EP3427003C0 (en) Compact interferometer, related bio-chemical sensor and measurement device
RU2012128079A (en) METHOD FOR MEASURING THE LENGTH OF DISTRIBUTION OF INFRARED SURFACE PLASMONS ON A REAL SURFACE
MY188664A (en) Determining an electrical property of interest of materials in a target region
WO2015166495A3 (en) Method for analyzing an object using a combination of long and short coherence interferometry
EP3767258A4 (en) Wavelength detection device and confocal measurement device
FR3048500B1 (en) DEFORMATION SENSOR PERMITTING DISCRIMINATION OF MEASUREMENT ACCORDING TO THE DIRECTION OF THE DEFORMATION
EP3758592A4 (en) Thermographic device for measurement of differential temperatures in tissue
RU2013145400A (en) METHOD FOR DETERMINING THE DEGREE OF BLACK SURFACE OF MATERIALS
Peřina et al. The Elimination of Reflected Radiation in an Infrared Thermographic Measurement in the Exterior
Wu et al. Influence of sampling point distribution in freeform surfaces fitting with radial based function model