RU2013148901A - Способ удаленного контроля формы поверхности и толщины покрытий, получаемых в процессе магнетронного вакуумного напыления, и устройство для его осуществления - Google Patents
Способ удаленного контроля формы поверхности и толщины покрытий, получаемых в процессе магнетронного вакуумного напыления, и устройство для его осуществления Download PDFInfo
- Publication number
- RU2013148901A RU2013148901A RU2013148901/28A RU2013148901A RU2013148901A RU 2013148901 A RU2013148901 A RU 2013148901A RU 2013148901/28 A RU2013148901/28 A RU 2013148901/28A RU 2013148901 A RU2013148901 A RU 2013148901A RU 2013148901 A RU2013148901 A RU 2013148901A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- light beam
- light
- interferometer
- interferograms
- beams
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Abstract
1. Способ удаленного контроля формы поверхности и толщины покрытий, получаемых в процессе магнетронного вакуумного напыления, включающий создание пучка света от источника когерентного излучения, пропускание пучка света через двулучевой фазосмещающий интерферометр, где он делится на два пучка света приблизительно равной интенсивности, модуляцию оптической разности хода интерферометра и регистрацию полученной интерференционной картины, отличающийся тем, что дополнительно излучение от источника формируют в виде точечного источника пространственного когерентного излучения, которое затем преобразовывают в параллельный пучок света, освещают им контролируемую поверхность, расположенную на удаленном расстоянии от двулучевого интерферометра, отраженный от контролируемой поверхности пучок света пропускают через двулучевой интерферометр, направляют на фокусирующую оптическую систему, строят изображение контролируемой поверхности в интерферирующих пучках света, регистрируют интерференционные картины и измеряют фазы интерферограмм в каждой детектируемой точке изображения, при этом процесс измерения фаз интереферограмм повторяют несколько раз, и в каждом последующем измерении предварительно выполняют взаимные смещения первого и второго пучков относительно их первоначального направления и/или взаимный поворот пучков относительно друг друга, далее по распределению фаз интерферограмм, полученных по серии измерений, получают информацию о взаимном перепаде высот профиля поверхности от разных областей одной и той же отражающей поверхности объекта и решают задачу восстановления абсолютного трехме�
Claims (4)
1. Способ удаленного контроля формы поверхности и толщины покрытий, получаемых в процессе магнетронного вакуумного напыления, включающий создание пучка света от источника когерентного излучения, пропускание пучка света через двулучевой фазосмещающий интерферометр, где он делится на два пучка света приблизительно равной интенсивности, модуляцию оптической разности хода интерферометра и регистрацию полученной интерференционной картины, отличающийся тем, что дополнительно излучение от источника формируют в виде точечного источника пространственного когерентного излучения, которое затем преобразовывают в параллельный пучок света, освещают им контролируемую поверхность, расположенную на удаленном расстоянии от двулучевого интерферометра, отраженный от контролируемой поверхности пучок света пропускают через двулучевой интерферометр, направляют на фокусирующую оптическую систему, строят изображение контролируемой поверхности в интерферирующих пучках света, регистрируют интерференционные картины и измеряют фазы интерферограмм в каждой детектируемой точке изображения, при этом процесс измерения фаз интереферограмм повторяют несколько раз, и в каждом последующем измерении предварительно выполняют взаимные смещения первого и второго пучков относительно их первоначального направления и/или взаимный поворот пучков относительно друг друга, далее по распределению фаз интерферограмм, полученных по серии измерений, получают информацию о взаимном перепаде высот профиля поверхности от разных областей одной и той же отражающей поверхности объекта и решают задачу восстановления абсолютного трехмерного профиля всей поверхности по данным относительных измерений интерферограмм, определяют толщину покрытия путем вычисления разности абсолютных трехмерных профилей поверхностей: профиля, полученного до начала измерений (подложка без покрытия), и последующих профилей (подложка с нанесенным покрытием).
2. Устройство удаленного контроля формы поверхности и толщины покрытий, получаемых в процессе магнетронного вакуумного напыления, включающее источник когерентного излучения, двулучевой интерферометр, образованный из первого светоделителя, первого поворотного зеркала, второго светоделителя, пьезоэлектрического актюатора, а также второе поворотное зеркало, фотоприемник излучения и контролируемая поверхность, отличающееся тем, что в устройство дополнительно введены: одномодовый световод, оптическая система, третье поворотное зеркало, устройство для поворота пучка света, устройство сдвига пучка света, выходной объектив и компьютер, при этом вход одномодового световода совмещен с выходом источника когерентного излучения, а выход одномодового световода, формирующий точечный источник пространственно когерентного излучения, совмещен с передним фокусом оптической системы, формирующей параллельный пучок света, на пути которого расположено второе поворотное зеркало, направляющее параллельный пучок света на контролируемую поверхность, а на пути отраженного от контролируемой поверхности пучка света расположено третье поворотное зеркало, направляющее отраженный пучок света на двулучевой фазосдвигающий интерферометр, в котором отраженный пучок света с помощью первого светоделителя разделяется на два пучка света приблизительно равной интенсивности, на пути одного из пучков света (первого) установлено первое поворотное зеркало с подключенным к нему пьезоэлектрическим актюатором, направляющее первый пучок света на второй светоделитель, а на пути другого пучка света (второго) установлено устройство сдвига второго пучка света относительно его первоначального направления, отражающее второй пучок света на второй светоделитель, при этом устройство поворота пучка света вокруг первоначального направления этого пучка света установлено между первым и вторым светоделителями на пути или первого пучка света, или второго пучка света, далее после второго светоделителя на пути следования первого и второго пучков света последовательно установлены выходной объектив, фотоприемник излучения, и подключенный к фотоприемнику компьютер.
3. Устройство по п.2, отличающееся тем, что в качестве устройства сдвига второго пучка света относительно его первоначального направления применено четвертое поворотное зеркало с возможностью его смещения вдоль первоначального направления второго пучка.
4. Устройство по п.2, отличающееся тем, что в качестве устройства поворота пучка света вокруг первоначального направления этого пучка света применена призма Дове.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2013148901/28A RU2549211C1 (ru) | 2013-11-05 | 2013-11-05 | Способ удаленного контроля формы поверхности и толщины покрытий, получаемых в процессе магнетронного вакуумного напыления, и устройство для его осуществления |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2013148901/28A RU2549211C1 (ru) | 2013-11-05 | 2013-11-05 | Способ удаленного контроля формы поверхности и толщины покрытий, получаемых в процессе магнетронного вакуумного напыления, и устройство для его осуществления |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2549211C1 RU2549211C1 (ru) | 2015-04-20 |
RU2013148901A true RU2013148901A (ru) | 2015-05-10 |
Family
ID=53283428
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2013148901/28A RU2549211C1 (ru) | 2013-11-05 | 2013-11-05 | Способ удаленного контроля формы поверхности и толщины покрытий, получаемых в процессе магнетронного вакуумного напыления, и устройство для его осуществления |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2549211C1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111174737A (zh) * | 2018-11-09 | 2020-05-19 | 本田技研工业株式会社 | 涂覆量的计测方法 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2665356C1 (ru) * | 2017-11-16 | 2018-08-29 | Российская Федерация, От Имени Которой Выступает Министерство Промышленности И Торговли Российской Федерации | Способ контроля толщины покрытия в процессе его химического осаждения на деталь |
RU2698495C2 (ru) * | 2017-12-20 | 2019-08-28 | Публичное акционерное общество "Северский трубный завод" (ПАО "СТЗ") | Способ калибровки лазерного толщиномера |
CN113118043B (zh) * | 2021-03-10 | 2023-05-02 | 华奈克(武汉)汽车部件有限公司 | 一种点火线圈铁芯的表面涂层厚度检测装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SU1627836A1 (ru) * | 1988-09-19 | 1991-02-15 | Предприятие П/Я А-1742 | Двойной двухлучевой интерферометр дл измерени толщины покрытий |
RU2221989C2 (ru) * | 2001-12-24 | 2004-01-20 | Российский Университет Дружбы Народов | Способ измерения толщины металлической пленки |
RU2303237C2 (ru) * | 2005-04-26 | 2007-07-20 | Общество с ограниченной ответственностью "ОПТИС" | Интерферометрическое устройство для измерения оптической толщины прозрачного слоя или зазора |
US8068234B2 (en) * | 2009-02-18 | 2011-11-29 | Kla-Tencor Corporation | Method and apparatus for measuring shape or thickness information of a substrate |
-
2013
- 2013-11-05 RU RU2013148901/28A patent/RU2549211C1/ru active
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111174737A (zh) * | 2018-11-09 | 2020-05-19 | 本田技研工业株式会社 | 涂覆量的计测方法 |
US10982956B2 (en) * | 2018-11-09 | 2021-04-20 | Honda Motor Co., Ltd. | Method for measuring amount of applied coating |
CN111174737B (zh) * | 2018-11-09 | 2021-08-24 | 本田技研工业株式会社 | 涂覆量的计测方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
RU2549211C1 (ru) | 2015-04-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN108844492B (zh) | 一种基于光谱调制度深度编码的微结构形貌测量方法及其装置 | |
JP7082137B2 (ja) | スペクトル制御干渉法による曲率半径測定 | |
CN102589440B (zh) | 连续变角度数字全息干涉测量的方法 | |
CN103115585B (zh) | 基于受激辐射的荧光干涉显微测量方法与装置 | |
EP3118571B1 (en) | Instantaneous phase-shift interferometer and measurement method | |
CN206311061U (zh) | 一种多波长可调谐显微干涉的测量装置 | |
RU2013148901A (ru) | Способ удаленного контроля формы поверхности и толщины покрытий, получаемых в процессе магнетронного вакуумного напыления, и устройство для его осуществления | |
CN114502912B (zh) | 混合式3d检验系统 | |
CN114397092B (zh) | 一种测量超表面相位的方法及系统 | |
US20180149468A1 (en) | True heterodyne spectrally controlled interferometry | |
JP2022129385A (ja) | 干渉法による間隔測定のための装置 | |
US11274915B2 (en) | Interferometer with multiple wavelength sources of different coherence lengths | |
Langehanenberg et al. | Highly accurate measurement of lens surface distances within optical assemblies for quality testing | |
CN108254086B (zh) | 一种随机光纤点衍射测量方法 | |
JP2997765B2 (ja) | 高感度空間位置決め方法 | |
TW202129222A (zh) | 混合式3d檢測系統 | |
Yang et al. | A three-dimensional measuring system with stroboscopic laser grating fringe | |
RU2554598C2 (ru) | Дифракционный способ измерения угловых перемещений и устройство для его осуществления | |
KR101792632B1 (ko) | 측정 불가 구간과 방향 모호성이 없는 절대거리 측정을 위한 분광형 간섭계 시스템 | |
Sun et al. | The design of a non-cube beam-splitter used for electronic speckle pattern interferometry | |
RU2502951C1 (ru) | Устройство контроля положения объекта нано- и субнанометровой точности | |
RU2606245C1 (ru) | Способ измерения линейной и угловых составляющих малых перемещений поверхностей объектов контроля | |
CN110360923B (zh) | 一种被测面可旋转的相移干涉仪及测量方法 | |
RU210617U1 (ru) | Устройство для измерения плоскостности полированных плоскопараллельных пластин | |
Huo et al. | A technique of phase-shifting for 3-D measurement using spectral-transform |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PC43 | Official registration of the transfer of the exclusive right without contract for inventions |
Effective date: 20170718 |