RU2013135653A - Анализ энергий при обратном рассеянии для классификации материалов на основании позиционной некоммутативности - Google Patents
Анализ энергий при обратном рассеянии для классификации материалов на основании позиционной некоммутативности Download PDFInfo
- Publication number
- RU2013135653A RU2013135653A RU2013135653/28A RU2013135653A RU2013135653A RU 2013135653 A RU2013135653 A RU 2013135653A RU 2013135653/28 A RU2013135653/28 A RU 2013135653/28A RU 2013135653 A RU2013135653 A RU 2013135653A RU 2013135653 A RU2013135653 A RU 2013135653A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- penetrating radiation
- energy
- distribution
- radiation
- creating
- Prior art date
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract 28
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims abstract 24
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims abstract 16
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract 8
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 claims 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 abstract 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/203—Measuring back scattering
-
- G01V5/222—
Abstract
1. Способ получения характеристик областей в исследуемом объекте, в котором обеспечена возможность расположения рассеивающего материала с низким значением Z и материала с высоким значением Z вдоль одной линии зрения, включающий:a. сканирование исследуемого объекта проникающим излучением, испускаемым источником, характеризуемым распределением энергий,b. регистрацию проникающего излучения, рассеянного исследуемым объектом, путем создания сигнала первого датчика, различающего материалы с высоким и низким эффективным атомным числом при первом наборе условий относительно распределения энергий проникающего излучения,c. регистрацию проникающего излучения, рассеянного исследуемым объектом, путем создания сигнала второго датчика, различающего материалы с высоким и низким эффективным атомным числом при втором наборе условий по отношению к распределению энергий проникающего излучения,d. создание разностного изображения на основании функции сигналов первого и второго датчиков, ие. определение расположения материалов с низким значением Z и высоким значением Z по одной линии зрения относительно источника на основании по меньшей мере созданного разностного изображения.2. Способ по п.1, согласно которому сканирование исследуемого объекта проникающим излучением, характеризуемым распределением энергий, включает последовательное сканирование исследуемого объекта проникающим излучением, характеризуемым первым и вторым распределениями энергий.3. Способ по п.1 или 2, дополнительно включающий этап определения относительного расположения области с низким значением Z и области с высоким значением Z в исследуемом об�
Claims (10)
1. Способ получения характеристик областей в исследуемом объекте, в котором обеспечена возможность расположения рассеивающего материала с низким значением Z и материала с высоким значением Z вдоль одной линии зрения, включающий:
a. сканирование исследуемого объекта проникающим излучением, испускаемым источником, характеризуемым распределением энергий,
b. регистрацию проникающего излучения, рассеянного исследуемым объектом, путем создания сигнала первого датчика, различающего материалы с высоким и низким эффективным атомным числом при первом наборе условий относительно распределения энергий проникающего излучения,
c. регистрацию проникающего излучения, рассеянного исследуемым объектом, путем создания сигнала второго датчика, различающего материалы с высоким и низким эффективным атомным числом при втором наборе условий по отношению к распределению энергий проникающего излучения,
d. создание разностного изображения на основании функции сигналов первого и второго датчиков, и
е. определение расположения материалов с низким значением Z и высоким значением Z по одной линии зрения относительно источника на основании по меньшей мере созданного разностного изображения.
2. Способ по п.1, согласно которому сканирование исследуемого объекта проникающим излучением, характеризуемым распределением энергий, включает последовательное сканирование исследуемого объекта проникающим излучением, характеризуемым первым и вторым распределениями энергий.
3. Способ по п.1 или 2, дополнительно включающий этап определения относительного расположения области с низким значением Z и области с высоким значением Z в исследуемом объекте на основании по меньшей мере значений соответствующих областей в разностном изображении.
4. Способ по п.1 или 2, согласно которому
соответствующие области полностью или частично определены на основании сегментации.
5. Способ по п.1 или 2, согласно которому проникающее излучение представляет собой рентгеновское излучение.
6. Система для получения характеристик областей в исследуемом объекте, содержащая:
a. источник проникающего излучения для создания пучка проникающего излучения,
b. сканер для сканирования исследуемого объекта проникающим излучением,
c. средства различения энергий для различения рассеянного проникающего излучения, зарегистрированного при первом наборе условий относительно распределения энергий рассеянного проникающего излучения, при втором наборе условий относительно распределения энергий рассеянного проникающего излучения,
d. формирователь изображения для создания первого изображения на основании функции излучения, зарегистрированного только при первом или втором наборе условий относительно распределения энергий, и
е. формирователь разностных изображений для создания разностного изображения на основании функции излучения, зарегистрированного при первом наборе условий, и излучения, зарегистрированного при втором наборе условий относительно распределения энергий.
7. Система по п.6, в которой средства различения энергий содержат
a. первый датчик, характеризуемый первым распределением отклика в виде функции зарегистрированной энергии, и
b. второй датчик, характеризуемый вторым распределением отклика в виде функции зарегистрированной энергии.
8. Система по п.6, в которой источник проникающего излучения представляет собой рентгеновскую трубку.
9. Система по п.6, в которой первый и второй датчики расположены на соответствующих сторонах источника проникающего излучения.
10. Система по п.6, в которой первый и второй датчики расположены на каждой стороне источника проникающего излучения.
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US201161440491P | 2011-02-08 | 2011-02-08 | |
| US61/440,491 | 2011-02-08 | ||
| PCT/US2012/024248 WO2012109307A1 (en) | 2011-02-08 | 2012-02-08 | Backscatter energy analysis for classification of materials based on positional non-commutativity |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2013135653A true RU2013135653A (ru) | 2015-03-20 |
| RU2550319C2 RU2550319C2 (ru) | 2015-05-10 |
Family
ID=46600623
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2013135653/28A RU2550319C2 (ru) | 2011-02-08 | 2012-02-08 | Анализ энергий при обратном рассеянии для классификации материалов на основании позиционной некоммутативности |
Country Status (9)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8442186B2 (ru) |
| EP (1) | EP2673623B1 (ru) |
| BR (1) | BR112013019697A2 (ru) |
| MX (1) | MX2013009142A (ru) |
| MY (1) | MY166352A (ru) |
| PL (1) | PL2673623T3 (ru) |
| RU (1) | RU2550319C2 (ru) |
| SG (1) | SG192265A1 (ru) |
| WO (1) | WO2012109307A1 (ru) |
Families Citing this family (27)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9958569B2 (en) | 2002-07-23 | 2018-05-01 | Rapiscan Systems, Inc. | Mobile imaging system and method for detection of contraband |
| US7856081B2 (en) | 2003-09-15 | 2010-12-21 | Rapiscan Systems, Inc. | Methods and systems for rapid detection of concealed objects using fluorescence |
| US8766764B2 (en) | 2010-09-23 | 2014-07-01 | Rapiscan Systems, Inc. | Automated personnel screening system and method |
| US10670740B2 (en) | 2012-02-14 | 2020-06-02 | American Science And Engineering, Inc. | Spectral discrimination using wavelength-shifting fiber-coupled scintillation detectors |
| RU2606698C2 (ru) | 2012-02-14 | 2017-01-10 | Американ Сайенс Энд Инжиниринг, Инк. | Рентгеновское обследование с использованием волоконных сцинтилляционных датчиков со сдвигом длин волн |
| EP2941775A4 (en) | 2013-01-07 | 2016-08-24 | Rapiscan Systems Inc | X-RAY SCANNING DEVICE WITH PARTIAL ENERGY DISCRIMINATION DETECTOR ARRAY |
| US11280898B2 (en) | 2014-03-07 | 2022-03-22 | Rapiscan Systems, Inc. | Radar-based baggage and parcel inspection systems |
| US9851312B2 (en) * | 2014-05-07 | 2017-12-26 | The Boeing Company | Backscatter inspection systems, and related methods |
| WO2015175751A1 (en) | 2014-05-16 | 2015-11-19 | American Science And Engineering, Inc. | Source for intra-pulse multi-energy x-ray cargo inspection |
| US11266006B2 (en) | 2014-05-16 | 2022-03-01 | American Science And Engineering, Inc. | Method and system for timing the injections of electron beams in a multi-energy x-ray cargo inspection system |
| WO2016003547A1 (en) | 2014-06-30 | 2016-01-07 | American Science And Engineering, Inc. | Rapidly relocatable modular cargo container scanner |
| US9594033B2 (en) | 2014-07-22 | 2017-03-14 | The Boeing Company | Visible X-ray indication and detection system for X-ray backscatter applications |
| GB2548299B (en) | 2014-11-25 | 2022-04-27 | Rapiscan Systems Inc | Intelligent security management system |
| PL3271709T3 (pl) | 2015-03-20 | 2023-02-20 | Rapiscan Systems, Inc. | Ręczny przenośny system kontroli rozpraszania wstecznego |
| US10955367B2 (en) | 2015-09-08 | 2021-03-23 | American Science And Engineering, Inc. | Backscatter imaging for precision agriculture |
| CN108450030B (zh) | 2015-09-10 | 2021-02-26 | 美国科学及工程股份有限公司 | 使用行间自适应电磁x射线扫描的反向散射表征 |
| US10345479B2 (en) | 2015-09-16 | 2019-07-09 | Rapiscan Systems, Inc. | Portable X-ray scanner |
| CN105807328B (zh) * | 2016-04-29 | 2019-03-08 | 同方威视技术股份有限公司 | 基于背散射成像的检测系统和方法 |
| WO2018144630A1 (en) | 2017-01-31 | 2018-08-09 | Rapiscan Systems, Inc. | High-power x-ray sources and methods of operation |
| EP3528012A1 (en) * | 2018-02-15 | 2019-08-21 | BAE SYSTEMS plc | Radiation detector |
| AU2019220603A1 (en) * | 2018-02-15 | 2020-08-27 | Bae Systems Plc | Radiation detector |
| WO2019245636A1 (en) | 2018-06-20 | 2019-12-26 | American Science And Engineering, Inc. | Wavelength-shifting sheet-coupled scintillation detectors |
| US11650338B2 (en) | 2018-11-23 | 2023-05-16 | Bae Systems Plc | Scintillation detector |
| GB2586487B (en) * | 2019-08-21 | 2024-03-06 | Bae Systems Plc | Materials Classifier |
| US11193898B1 (en) | 2020-06-01 | 2021-12-07 | American Science And Engineering, Inc. | Systems and methods for controlling image contrast in an X-ray system |
| US11175245B1 (en) | 2020-06-15 | 2021-11-16 | American Science And Engineering, Inc. | Scatter X-ray imaging with adaptive scanning beam intensity |
| US11340361B1 (en) | 2020-11-23 | 2022-05-24 | American Science And Engineering, Inc. | Wireless transmission detector panel for an X-ray scanner |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6151381A (en) * | 1998-01-28 | 2000-11-21 | American Science And Engineering, Inc. | Gated transmission and scatter detection for x-ray imaging |
| US6249567B1 (en) | 1998-12-01 | 2001-06-19 | American Science & Engineering, Inc. | X-ray back scatter imaging system for undercarriage inspection |
| US6459764B1 (en) | 1999-01-27 | 2002-10-01 | American Science And Engineering, Inc. | Drive-through vehicle inspection system |
| US7072440B2 (en) | 2001-10-19 | 2006-07-04 | Control Screening, Llc | Tomographic scanning X-ray inspection system using transmitted and Compton scattered radiation |
| US7110493B1 (en) * | 2002-02-28 | 2006-09-19 | Rapiscan Security Products (Usa), Inc. | X-ray detector system having low Z material panel |
| US7856081B2 (en) * | 2003-09-15 | 2010-12-21 | Rapiscan Systems, Inc. | Methods and systems for rapid detection of concealed objects using fluorescence |
| US7809109B2 (en) * | 2004-04-09 | 2010-10-05 | American Science And Engineering, Inc. | Multiple image collection and synthesis for personnel screening |
| PL1733213T3 (pl) * | 2004-04-09 | 2010-07-30 | American Science & Eng Inc | Eliminowanie przesłuchu w bramce kontrolnej z rozpraszaniem wstecznym, zawierającej wiele źródeł, przez zapewnienie, że tylko jedno źródło emituje promieniowanie w tym samym czasie |
| RU40482U1 (ru) * | 2004-04-20 | 2004-09-10 | Алексеев Михаил Витальевич | Устройство для обнаружения взрывчатых и наркотических веществ |
| CA2597731A1 (en) | 2005-02-22 | 2007-08-02 | Passport Systems, Inc. | Use of nearly monochromatic and tunable photon sources with nuclear resonance fluorescence in non-intrusive inspection of containers for material detection and imaging |
| KR101034753B1 (ko) | 2006-08-11 | 2011-05-17 | 아메리칸 사이언스 앤 엔지니어링, 인크. | 동시에 발생하며 근접한 투과 및 후방 산란 영상화를 이용한 엑스레이 검사 |
| US7561666B2 (en) | 2006-08-15 | 2009-07-14 | Martin Annis | Personnel x-ray inspection system |
| US20090168958A1 (en) * | 2008-01-02 | 2009-07-02 | Cristina Francesca Cozzini | Apparatus and method for identifying components in a container |
-
2012
- 2012-02-08 US US13/368,610 patent/US8442186B2/en active Active
- 2012-02-08 RU RU2013135653/28A patent/RU2550319C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2012-02-08 MX MX2013009142A patent/MX2013009142A/es active IP Right Grant
- 2012-02-08 MY MYPI2013002847A patent/MY166352A/en unknown
- 2012-02-08 WO PCT/US2012/024248 patent/WO2012109307A1/en active Application Filing
- 2012-02-08 SG SG2013058722A patent/SG192265A1/en unknown
- 2012-02-08 EP EP12744587.2A patent/EP2673623B1/en active Active
- 2012-02-08 BR BR112013019697-1A patent/BR112013019697A2/pt not_active IP Right Cessation
- 2012-02-08 PL PL12744587T patent/PL2673623T3/pl unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| SG192265A1 (en) | 2013-09-30 |
| BR112013019697A2 (pt) | 2018-07-17 |
| MX2013009142A (es) | 2013-10-01 |
| MY166352A (en) | 2018-06-25 |
| EP2673623A4 (en) | 2017-05-03 |
| RU2550319C2 (ru) | 2015-05-10 |
| EP2673623B1 (en) | 2020-07-22 |
| US20120201356A1 (en) | 2012-08-09 |
| US8442186B2 (en) | 2013-05-14 |
| PL2673623T3 (pl) | 2020-12-28 |
| EP2673623A1 (en) | 2013-12-18 |
| WO2012109307A1 (en) | 2012-08-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2013135653A (ru) | Анализ энергий при обратном рассеянии для классификации материалов на основании позиционной некоммутативности | |
| JP5340524B2 (ja) | 放射線検出器及び放射線検出方法 | |
| GB201315273D0 (en) | Covert surveillance using multi-modality sensing | |
| US8000440B2 (en) | Target composition determination method and apparatus | |
| JP2007309929A (ja) | 検知器アレイおよびそれを用いた設備 | |
| EP2282197A3 (en) | Particle beam systems and methods | |
| US10132764B2 (en) | System and method for reconstructing the surface topography of an object embedded within a scattering medium | |
| JP5583993B2 (ja) | 小型多焦点ｘ線源、ｘ線回折イメージングシステム、及び小型多焦点Ｘ線源を製作するための方法 | |
| EP1739413A3 (en) | X-ray diffraction apparatus | |
| RU2009131045A (ru) | Системы обнаружения | |
| ATE476142T1 (de) | Verfahren und system zur binokularen stereoskopischen bildgebung durch scanning- radiographie | |
| RU2013106147A (ru) | Способ и система регистрации нарушений в изделиях посредством обратнорассеянных рентгеновских лучей | |
| MX361122B (es) | Aparato de difracción de rayos x y método de medición de difracción de rayos x. | |
| WO2011163108A2 (en) | Detector with active collimators | |
| US20190049399A1 (en) | Dielectric constant microscope and method of observing organic specimen | |
| JP2017519971A5 (ru) | ||
| RU2013131283A (ru) | Послепациентный динамический фильтр для компьютерной томографии (ст) | |
| KR20140059012A (ko) | 비파괴 검사 장치 | |
| JP5072972B2 (ja) | 体に配置された物体の検出、特にセキュリティチェックを実施するための装置及び方法 | |
| CN109946329B (zh) | X射线测量装置 | |
| JP5047389B2 (ja) | 車両検査装置 | |
| US20190025231A1 (en) | A method of detection of defects in materials with internal directional structure and a device for performance of the method | |
| US9063056B2 (en) | Imaging detector and method for operating an image detector | |
| EP3821811A3 (en) | Systems and methods for coherent scatter imaging using a segmented photon-counting detector for computed tomography | |
| KR20170075101A (ko) | 강판 검사 장치 및 방법 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20170209 |