RU2012147712A - METHOD FOR DIAGNOSTIC OF DEFECTS ON METAL SURFACES - Google Patents
METHOD FOR DIAGNOSTIC OF DEFECTS ON METAL SURFACES Download PDFInfo
- Publication number
- RU2012147712A RU2012147712A RU2012147712/28A RU2012147712A RU2012147712A RU 2012147712 A RU2012147712 A RU 2012147712A RU 2012147712/28 A RU2012147712/28 A RU 2012147712/28A RU 2012147712 A RU2012147712 A RU 2012147712A RU 2012147712 A RU2012147712 A RU 2012147712A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- luminescence
- line
- crack
- judged
- photon
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
Abstract
1. Способ диагностики дефектов на металлических поверхностях, заключающийся в том, что предварительно на поверхность контролируемого объекта наносят напылением наночастицы золота цилиндрической формы длиной не более 100 нм и с толщиной слоя, обеспечивающей заполнение полостей потенциальных трещин, после чего производят сушку поверхности с последующим удалением с нее слоя напыления, затем осуществляют построчное сканирование поверхности объекта лучом фемтосекундного лазера и одновременно регистрируют интенсивность сигнала двухфотонной люминесценции в каждой исследуемой области с фиксированием местоположения указанной области, соответствующего координате объекта, после чего формируют двумерный массив значений интенсивности сигнала двухфотонной люминесценции с получением карты распределения интенсивностей свечения наночастиц, возбуждамаемых лазерным излучением, выделяют на полученной карте области с максимальным значением интенсивности свечения, по которому судят о наличии трещины, при этом по спектрам вторичного излучения и разности координат крайних точек области свечения определяют размеры трещины, а по форме области свечения судят о ее геометрии.2. Способ по п.1, отличающийся тем, что используют фемтосекундный лазер инфракрасного диапазона спектра.3. Способ по п.1, отличающийся тем, что построчное сканирование поверхности объекта осуществляют с шагом сканирования ~10-10м.1. A method for diagnosing defects on metal surfaces, which consists in preliminarily applying cylindrical gold nanoparticles with a length of not more than 100 nm and a layer thickness to fill the cavities of potential cracks on the surface of the controlled object, then drying the surface and then removing it with of the deposition layer, then a line-by-line scanning of the surface of the object is carried out by a femtosecond laser beam and at the same time the signal intensity of two-photon is recorded luminescence in each studied area with fixing the location of the specified area corresponding to the coordinate of the object, after which a two-dimensional array of two-photon luminescence signal intensity values is formed to obtain a map of the distribution of the luminescence intensities of the nanoparticles excited by laser radiation, the regions with the maximum luminescence intensity are selected on the resulting map according to which is judged by the presence of a crack, while the spectra of secondary radiation and the coordinate difference of the extreme points the size of the crack is determined to the glow region, and its geometry is judged by the shape of the glow region. 2. The method according to claim 1, characterized in that a femtosecond infrared laser is used. The method according to claim 1, characterized in that the line-by-line scanning of the surface of the object is carried out with a scanning step of ~ 10-10 m.
Claims (3)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2012147712/28A RU2522709C2 (en) | 2012-11-09 | 2012-11-09 | Diagnostics of flaws on metal surfaces |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2012147712/28A RU2522709C2 (en) | 2012-11-09 | 2012-11-09 | Diagnostics of flaws on metal surfaces |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2012147712A true RU2012147712A (en) | 2014-05-20 |
RU2522709C2 RU2522709C2 (en) | 2014-07-20 |
Family
ID=50695451
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2012147712/28A RU2522709C2 (en) | 2012-11-09 | 2012-11-09 | Diagnostics of flaws on metal surfaces |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2522709C2 (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2581441C1 (en) * | 2014-12-29 | 2016-04-20 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российский государственный университет нефти и газа имени И.М. Губкина" | Method for diagnosis of defects on metal surfaces |
CN113588657A (en) * | 2021-07-15 | 2021-11-02 | 中冶武汉冶金建筑研究院有限公司 | Device and method for accurately measuring concrete surface cracks |
CN116984628A (en) * | 2023-09-28 | 2023-11-03 | 西安空天机电智能制造有限公司 | Powder spreading defect detection method based on laser feature fusion imaging |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2004786C1 (en) * | 1990-07-10 | 1993-12-15 | нин Лев Николаевич Бел | Inclinometer |
RU2030574C1 (en) * | 1991-06-10 | 1995-03-10 | Раменское приборостроительное конструкторское бюро | Method for determination of well drift angle in successive points and gyroscopic inclinometer |
RU2100594C1 (en) * | 1996-02-09 | 1997-12-27 | Малое инновационное предприятие "АРАС" | Method of determination of well direction and inclination and gyroscopic inclinometer |
RU2130118C1 (en) * | 1997-04-30 | 1999-05-10 | Государственное предприятие "Ижевский механический завод" | Gyroscopic inclinometer |
RU2159331C1 (en) * | 1999-10-05 | 2000-11-20 | Общество с ограниченной ответственностью предприятие "АРКОН" | Method determining azimuth and zenith angle of well and gyroscopic inclinometer |
-
2012
- 2012-11-09 RU RU2012147712/28A patent/RU2522709C2/en active
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2581441C1 (en) * | 2014-12-29 | 2016-04-20 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российский государственный университет нефти и газа имени И.М. Губкина" | Method for diagnosis of defects on metal surfaces |
CN113588657A (en) * | 2021-07-15 | 2021-11-02 | 中冶武汉冶金建筑研究院有限公司 | Device and method for accurately measuring concrete surface cracks |
CN116984628A (en) * | 2023-09-28 | 2023-11-03 | 西安空天机电智能制造有限公司 | Powder spreading defect detection method based on laser feature fusion imaging |
CN116984628B (en) * | 2023-09-28 | 2023-12-29 | 西安空天机电智能制造有限公司 | Powder spreading defect detection method based on laser feature fusion imaging |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
RU2522709C2 (en) | 2014-07-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6595708B2 (en) | Defect inspection apparatus and defect inspection method for plugged honeycomb structure | |
JP5100461B2 (en) | LIGHT SOURCE DEVICE FOR NONLINEAR SPECTROSCOPY MEASUREMENT SYSTEM | |
EA201690517A1 (en) | METHOD OF MANUFACTURING A GLAZING PANEL WITH ELECTRICAL WIRING COATING AND ELECTROINSULATED DEFECTS | |
MY177492A (en) | Wafer producing method | |
MY188444A (en) | Wafer producing method | |
MY181116A (en) | Wafer producing method | |
EP3139213A3 (en) | Defect inspecting method, sorting method and producing method for photomask blank | |
WO2013091607A3 (en) | Method for structuring a surface of a workpiece | |
CN103765567A (en) | Method and apparatus for inspection of light emitting semiconductor devices using photoluminescence imaging | |
JP2015017976A5 (en) | ||
JP2016520202A5 (en) | ||
EP2469598A3 (en) | Sensor chip, detection device, and method of manufacturing sensor chip | |
WO2014155190A3 (en) | Welded portion inspection apparatus and inspection method thereof, with inspection in different zones of the molten pool | |
RU2012147712A (en) | METHOD FOR DIAGNOSTIC OF DEFECTS ON METAL SURFACES | |
EP2353768A3 (en) | Laser beam irradiation apparatus for substrate sealing, substrate sealing method, and method of manufacturing organic light emitting display device using the same | |
WO2018086816A3 (en) | Illumination source for an inspection apparatus, inspection apparatus and inspection method | |
EP3109700A3 (en) | Defect inspecting method, sorting method, and producing method for photomask blank | |
JP2012014066A5 (en) | ||
JP5920427B2 (en) | Through-hole forming method, manufacturing method of glass substrate provided with through-electrode, and manufacturing method of interposer | |
JP2009200480A5 (en) | ||
US20150168703A1 (en) | System, method and computer-accessible medium for providing fluorescence attenuation | |
WO2016062768A3 (en) | Method of coating substrate | |
WO2017067859A3 (en) | Method and apparatus for high-resolution imaging of a structure of a sample, which is marked with fluorescent markers | |
CN105021631B (en) | Structural defect initial damage feature decision method in a kind of transmissive optical substrate | |
CN103900492A (en) | Structured light online hot forging piece detection principle and device based on fluorescence reaction |