Claims (2)
1. Двухфотонный сканирующий микроскоп с автоматической точной фокусировкой изображения, характеризующийся тем, что содержит платформу для размещения исследуемого образца, выполненную с возможностью перемещения по крайней мере в вертикальном и горизонтальном направлениях, источник лазерного излучения для направления излучения, падающего на исследуемый образец через полуволновую пластинку, установленную на автоматизированной вращающейся платформе, систему зеркал, и фокусатор, представляющий собой систему линз или расширитель светового пучка и градиентную линзу или объектив, закрепленные на автоматизированном микрометрическом трансляторе, связанном с контроллером перемещения фокусатора, приемную часть для автоматической настройки положения исследуемой точки поверхности образца точно в фокусе фокусатора при приеме отраженного от исследуемого образца излучения на частотах второй гармоники и двухфотонной люминесценции, включающую в себя детектор, используемый для приема отраженного излучения через поляризатор, устройство спектральной фильтрации и короткофокусную линзу на входную апертуру оптического волокна, связанного с устройством спектральной фильтрации, путем измерения интенсивности генерации второй гармоники и двухфотонной люминесценции при изменении положения фокусатора и автоматического выбора и последующего фиксирования точки максимальной интенсивности для получения изображения в положении точного фокуса фокусатора.1. Two-photon scanning microscope with automatic precise focusing of the image, characterized in that it contains a platform for placement of the test sample, configured to move at least in the vertical and horizontal directions, a laser source for directing radiation incident on the test sample through a half-wave plate, mounted on an automated rotating platform, a system of mirrors, and a focuser, which is a lens system or a light expander beam and a gradient lens or objective mounted on an automated micrometric translator connected to a focuser movement controller, a receiving part for automatically adjusting the position of the studied point of the sample surface exactly in the focus of the focuser when receiving radiation reflected from the studied sample at the second harmonic and two-photon luminescence frequencies, including a detector used to receive reflected radiation through a polarizer, a spectral filtering device and short-range waistband lens onto the entrance aperture of the optical fiber associated with the spectral filtering device, by measuring the intensity of the second harmonic generation and two-photon luminescence by changing the position and focusator automatic selection and subsequent fixation of the point of maximum intensity for the images in exact focus position focusator.
2. Способ автоматической точной фокусировки изображения на двухфотонном сканирующем микроскопе, заключающийся в размещении исследуемого образца на расстоянии от фокусатора, равном фокусному расстоянию по паспорту этого микроскопа, направлении излучения на исследуемый образец и приеме отраженного излучения на длине волны второй гармоники, затем смещают фокусатор для его выхода из точки фокуса и смещают фокусатор вдоль оптической оси в направлении к точке фокуса по паспорту с шагом, меньшим первого смещения и с переходом через точку фокуса по паспорту, и регистрируют отраженное излучение на длине волны второй гармоники и двухфотонной люминесценции в каждом шаге смещения с регистрацией по крайней мере одной координаты положения фокусатора в каждой точке шагового смещения, а затем выстраивают график зависимости мощности, измеряемой детектором на длине волны второй гармоники и двухфотонной люминесценции, и определяют положение точного фокуса на линии оптической оси по координате на графике, абсолютные значения которой меньше значений каждой из всех остальных координат на этом графике.
2. A method of automatically automatically focusing the image on a two-photon scanning microscope, which consists in placing the test sample at a distance from the focuser equal to the focal length according to the passport of this microscope, directing the radiation to the test sample and receiving the reflected radiation at a second harmonic wavelength, then the focuser is shifted for it exit from the focal point and shift the focuser along the optical axis in the direction of the focal point according to the passport with a step smaller than the first offset and with the transition through the f mustache according to the passport, and the reflected radiation is recorded at the second harmonic and two-photon luminescence wavelengths at each bias step with recording at least one coordinate of the focuser position at each step bias point, and then a graph of the power measured by the detector at the second harmonic wavelength and two-photon luminescence, and determine the position of the exact focus on the line of the optical axis by the coordinate on the graph, the absolute values of which are less than the values of each of all other coordinates so in this chart.