RU2011988C1 - Method for determining light sensitivity characteristics of photographic glass ceramic - Google Patents

Method for determining light sensitivity characteristics of photographic glass ceramic Download PDF

Info

Publication number
RU2011988C1
RU2011988C1 SU4903991A RU2011988C1 RU 2011988 C1 RU2011988 C1 RU 2011988C1 SU 4903991 A SU4903991 A SU 4903991A RU 2011988 C1 RU2011988 C1 RU 2011988C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
sample
heat treatment
light sensitivity
glass ceramic
sensitivity characteristics
Prior art date
Application number
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Б.И. Юдин
Original Assignee
Юдин Борис Игоревич
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Юдин Борис Игоревич filed Critical Юдин Борис Игоревич
Priority to SU4903991 priority Critical patent/RU2011988C1/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2011988C1 publication Critical patent/RU2011988C1/en

Links

Images

Landscapes

  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

FIELD: optical instrumentation engineering. SUBSTANCE: method involves exposure to ultraviolet radiation and subsequent heat treatment. During the exposure and heat treatment an electric charge on the surface of the sample under test is measured. The characteristics of light sensitivity of the sample, required, are determined on the basis of calibration relationships, previously found. EFFECT: enhanced result accuracy. 2 dwg

Description

Изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности к способам контроля параметров при изготовлении фотоситаллов, и может быть использовано для изготовления элементов интегральной и градиентной оптики. The invention relates to optical instrumentation, in particular to methods for controlling parameters in the manufacture of photo-metals, and can be used for the manufacture of elements of integrated and gradient optics.

Известен способ определения параметров стекол по электросопротивлению в процессе их ситаллизации [1] . A known method for determining the parameters of glasses by electrical resistance in the process of their crystallization [1].

Однако данный способ позволяет осуществить контроль и управление только в процессе отжига стекла. В процессе облучения этот метод не дает информацию, так как во время облучения не образуется кристаллическая фаза. However, this method allows monitoring and control only in the process of annealing the glass. During irradiation, this method does not provide information, since no crystalline phase forms during irradiation.

Наиболее близким по технической сущности к заявляемому способу определения параметров является Метод определения светочувствительных характеристик исходных стекол для получения фотоситалла. Closest to the technical nature of the claimed method for determining the parameters is the Method for determining the photosensitive characteristics of the source glass to obtain photosetall.

В данном способе образец получают, подвергают термообработке и определяют параметры по непосредственному измерению зависимости коэффициента поглощения от длины волны и экспериментальным микрофотометрированием проявляемого изображения [2] . In this method, a sample is obtained, subjected to heat treatment, and parameters are determined by directly measuring the dependence of the absorption coefficient on the wavelength and experimental microphotometry of the developed image [2].

Данный метод невозможно применить в процессе облучения образца и последующей термообработки. Кроме того, этот метод сложен, не дает достаточной точности и невозможен для получения образцов с заранее заданными параметрами. This method cannot be applied in the process of sample irradiation and subsequent heat treatment. In addition, this method is complex, does not provide sufficient accuracy, and is impossible to obtain samples with predetermined parameters.

Целью изобретения является повышение точности и упрощение способа определения параметров. The aim of the invention is to improve the accuracy and simplification of the method for determining the parameters.

Цель достигается тем, что в процессе облучения и термообработки измеряют электрический заряд на поверхности образца, а искомые характеристики определяют по предварительно полученным калибровочным зависимостям. The goal is achieved by the fact that in the process of irradiation and heat treatment measure the electric charge on the surface of the sample, and the desired characteristics are determined by the previously obtained calibration dependencies.

Сущность изобретения заключается в следующем. The invention consists in the following.

При облучении светочувствительного стекла в ультрафиолетовом свете число образуемых центров кристаллизации определяется временем экспозиции. When irradiating a photosensitive glass in ultraviolet light, the number of crystallization centers formed is determined by the exposure time.

Экспериментально была выявлена зависимость величины электрического заряда облученной поверхности образца от времени экспозиции. В процессе термообработки в облученном образце образуется кристаллическая фаза. The dependence of the electric charge of the irradiated surface of the sample on the exposure time was experimentally revealed. During the heat treatment, a crystalline phase forms in the irradiated sample.

Экспериментально была выявлена зависимость величины электрического заряда облученной поверхности от температуры и времени кристаллизации. The dependence of the electric charge of the irradiated surface on the temperature and crystallization time was experimentally revealed.

Способ осуществляется с помощью устройств, изображенных схематично на фиг. 1 и 2, где показаны образец 1 измерительная камера 2, электропечь 3, электрометр 4, самописец 5, оптическая щелочь 6, ртутная лампа 7. The method is carried out using the devices shown schematically in FIG. 1 and 2, where sample 1 is shown, measuring chamber 2, electric furnace 3, electrometer 4, recorder 5, optical alkali 6, mercury lamp 7.

Реализация способа происходит в двухстадийной технологической обработке: облучение образца в ультрафиолетовом свете с последующим термическим отжигом. The implementation of the method takes place in a two-stage processing: irradiation of the sample in ultraviolet light, followed by thermal annealing.

На первой стадии на образец 1 устанавливается металлический электрод и производится непрерывное измерение заряда поверхности. При достижении расчетного значения заряда процесс облучения прерывается. На второй стадии образец 1, находящийся в экранированной металлической камере 2 с электродом на поверхности помещают в электронагревательную печь 3. В процессе непрерывного измерения заряда поверхности определяют момент начала кристаллизации и время, за которое концентрация кристаллической фазы достигает расчетного значения. После этого процесс отжига прекращается. At the first stage, a metal electrode is mounted on sample 1 and a continuous measurement of the surface charge is performed. When the calculated value of the charge is reached, the irradiation process is interrupted. In the second stage, a sample 1 located in a shielded metal chamber 2 with an electrode on the surface is placed in an electric heating furnace 3. In the process of continuous measurement of the surface charge, the moment of crystallization onset and the time for which the concentration of the crystalline phase reaches the calculated value are determined. After this, the annealing process is terminated.

Claims (1)

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СВЕТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ФОТОСИТАЛЛОВ, включающий облучение образца ультрафиолетовым излучением с последующей термообработкой образца и определение искомых характеристик, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, в процессе облучения и термообработки измеряют электрический заряд на поверхности образца, а искомые характеристики определяют по предварительно полученным калибровочным зависимостям. METHOD FOR DETERMINING LIGHT-SENSITIVE PHOTOSITAL CHARACTERISTICS, including irradiating the sample with ultraviolet radiation followed by heat treatment of the sample and determining the desired characteristics, characterized in that, in order to improve accuracy, the electric charge on the surface of the sample is measured in the process of irradiation and heat treatment, and the desired characteristics are determined by previously obtained calibrators dependencies.
SU4903991 1990-10-26 1990-10-26 Method for determining light sensitivity characteristics of photographic glass ceramic RU2011988C1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4903991 RU2011988C1 (en) 1990-10-26 1990-10-26 Method for determining light sensitivity characteristics of photographic glass ceramic

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4903991 RU2011988C1 (en) 1990-10-26 1990-10-26 Method for determining light sensitivity characteristics of photographic glass ceramic

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2011988C1 true RU2011988C1 (en) 1994-04-30

Family

ID=21556441

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU4903991 RU2011988C1 (en) 1990-10-26 1990-10-26 Method for determining light sensitivity characteristics of photographic glass ceramic

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2011988C1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4890245A (en) Method for measuring temperature of semiconductor substrate and apparatus therefor
KR20000011356A (en) Heating apparatus and a test method of the heating apparatus
JP2010107506A (en) Method of determining laser stabilities of optical material, crystals obtained with this method, and uses of the crystals
RU2011988C1 (en) Method for determining light sensitivity characteristics of photographic glass ceramic
US3790784A (en) Method and apparatus for treating thermoluminescent dosimeters during read-out to enable their immediate reuse
JP4806522B2 (en) Method for quantitative measurement of stability of crystals used in optical elements exposed to high energy density, crystals graded by the method, and methods of using the crystals
JPH04229994A (en) X-rays film exposure time automatic de- cision method and embodied device
US7688444B2 (en) Method of determining laser stabilities of optical materials, crystals selected according to said method, and uses of said selected crystals
JPH0318340B2 (en)
JPH0640027B2 (en) Method for measuring the temperature of an object to be heated in an optical heat treatment apparatus
JPH01124726A (en) Heating device
US20050237523A1 (en) Determining the suitability of an optical material for the production of optical elements, corresponding device, and use of said material
JPH01114727A (en) Radiation temperature measuring instrument
JPS63182528A (en) Ultraviolet-ray illuminance measuring instrument for ultraviolet-ray irradiating device for optical fiber drawing device
JP2000036468A (en) Substrate processor and substrate processing method therefor
JPS61228637A (en) Method and device for temperature measurement of semiconductor substrate
JP2004109023A (en) Method and apparatus for measuring surface temperature of steel product
JPS6379339A (en) Method and apparatus for measuring temperature of semiconductor substrate
SU927036A1 (en) Method and apparatus for detecting radiation-induced defects in dielectrics
JPS63166241A (en) Equipment for annealing semiconductor substrate
JPS6223126A (en) Dose determining method
JPH0521566A (en) Measuring method for ion implantation amount in semiconductor crystal
SU451004A1 (en) Method of measuring heat capacity and small effects during pulsed heating
SU998927A1 (en) Nuclear adsorption analysis method
US3726592A (en) Method and apparatus for detecting moisture