RU2010142912A - Двухмерная решетка излучающих точек для оптического сканирующего устройства - Google Patents
Двухмерная решетка излучающих точек для оптического сканирующего устройства Download PDFInfo
- Publication number
- RU2010142912A RU2010142912A RU2010142912/28A RU2010142912A RU2010142912A RU 2010142912 A RU2010142912 A RU 2010142912A RU 2010142912/28 A RU2010142912/28 A RU 2010142912/28A RU 2010142912 A RU2010142912 A RU 2010142912A RU 2010142912 A RU2010142912 A RU 2010142912A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- scanning
- scanning microscope
- microscope according
- lattice
- detector
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0036—Scanning details, e.g. scanning stages
- G02B21/004—Scanning details, e.g. scanning stages fixed arrays, e.g. switchable aperture arrays
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/10—Scanning systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)
Abstract
1. Сканирующий микроскоп (10), содержащий: ! генератор (20) точки для генерации двухмерной решетки (8) излучающих точек в узлах решетки ! Pmn=mT1+nT2 (m= от 1 до L 1; n= от 1 до L 2), ! где T1 есть первый вектор решетки, а T2 есть второй вектор решетки; ! сканирующее средство для сканирования образца (26) по решетке излучающих точек в направлении сканирования таким образом, чтобы излучающие точки относительно образца оставляли след в виде, по существу, эквидистантных линий (81, 82, 83); ! в котором максимальный угол γ между направлением сканирования и первым вектором T1 решетки столь же велик, что и угол между направлением сканирования и вторым вектором T2 решетки, а отношение L 1 /L 2 меньше чем 0,6. ! 2. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором отношение L 1 /L 2 меньше чем 0,4. ! 3. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором отношение L 1 /L 2 меньше чем 0,2. ! 4. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором L 1 равно 2, 3 или 4. ! 5. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором произведение L 1 L 2 является максимальным, или площадь единичной ячейки решетки является минимальной с допуском в 10%, при ограничении, что форма единичной ячейки, разрешение и длина диагонали решетки являются фиксированными. ! 6. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором единичная ячейка решетки является квадратной или шестиугольной. ! 7. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором L 1 отличается от Λ менее чем на 1,0 или же L 1 равно Λ с допуском в 10%, причем Λ определяется уравнением ! ! где D - длина диагонали решетки, а R - разрешение. ! 8. Сканирующий микроскоп по п.1, дополнительно содержащий ! детектор (34) и ! формирующую оптику (32) для формирования изображения решетки излучающих точек на детекторе. ! 9. Сканирующий микроскоп по п.8, в
Claims (14)
1. Сканирующий микроскоп (10), содержащий:
генератор (20) точки для генерации двухмерной решетки (8) излучающих точек в узлах решетки
Pmn=mT1+nT2 
(m= от 1 до L 1; n= от 1 до L 2),
где T1 есть первый вектор решетки, а T2 есть второй вектор решетки;
сканирующее средство для сканирования образца (26) по решетке излучающих точек в направлении сканирования таким образом, чтобы излучающие точки относительно образца оставляли след в виде, по существу, эквидистантных линий (81, 82, 83);
в котором максимальный угол γ между направлением сканирования и первым вектором T1 решетки столь же велик, что и угол между направлением сканирования и вторым вектором T2 решетки, а отношение L 1 /L 2 меньше чем 0,6.
2. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором отношение L 1 /L 2 меньше чем 0,4.
3. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором отношение L 1 /L 2 меньше чем 0,2.
4. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором L 1 равно 2, 3 или 4.
5. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором произведение L 1 L 2 является максимальным, или площадь единичной ячейки решетки является минимальной с допуском в 10%, при ограничении, что форма единичной ячейки, разрешение и длина диагонали решетки являются фиксированными.
6. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором единичная ячейка решетки является квадратной или шестиугольной.
7. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором L 1 отличается от Λ менее чем на 1,0 или же L 1 равно Λ с допуском в 10%, причем Λ определяется уравнением
где D - длина диагонали решетки, а R - разрешение.
8. Сканирующий микроскоп по п.1, дополнительно содержащий
детектор (34) и
формирующую оптику (32) для формирования изображения решетки излучающих точек на детекторе.
9. Сканирующий микроскоп по п.8, в котором детектор имеет, по существу, круговое поле обзора, а изображение диагонали решетки составляет от 0,9 до 1,0 от диаметра поля обзора детектора.
10. Сканирующий микроскоп по п.8, в котором детектор имеет чувствительную область, имеющую коэффициент формы между 3:4 и 4:3.
11. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором генератор точки содержит двоичную фазовую структуру или решетку микролинз.
12. Способ формирования изображения образца (26) сканирующим микроскопом, содержащий этапы:
генерации двухмерной решетки (8) излучающих точек в узлах решетки
Pmn=mT1+nT2 (m=от 1 до L 1; n=от 1 до L 2),
где T1 есть первый вектор решетки, а T2 есть второй вектор решетки;
сканирования образца (26) по решетке излучающих точек в направлении сканирования таким образом, чтобы излучающие точки относительно образца оставляли след в виде, по существу, эквидистантных линий (81, 82, 83);
в котором максимальный угол γ между направлением сканирования и первым вектором T1 решетки столь же велик, как и угол между направлением сканирования и вторым вектором T2 решетки, а отношение L 1 /L 2 меньше чем 0,6.
13. Способ по п.12, который содержит дополнительный этап
генерации оптического изображения решетки излучающих точек на детекторе (34).
14. Способ по п.12, в котором участок чувствительной области детектора является неактивированным.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP08305063.3 | 2008-03-20 | ||
| EP08305063 | 2008-03-20 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2010142912A true RU2010142912A (ru) | 2012-04-27 |
Family
ID=40756761
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2010142912/28A RU2010142912A (ru) | 2008-03-20 | 2009-03-16 | Двухмерная решетка излучающих точек для оптического сканирующего устройства |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20110019064A1 (ru) |
| EP (1) | EP2260345A1 (ru) |
| JP (1) | JP2011515710A (ru) |
| CN (1) | CN101978303A (ru) |
| RU (1) | RU2010142912A (ru) |
| WO (1) | WO2009115973A1 (ru) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20110134254A1 (en) * | 2008-08-13 | 2011-06-09 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Measuring and correcting lens distortion in a multispot scanning device |
| JP5448786B2 (ja) * | 2009-04-06 | 2014-03-19 | キヤノン株式会社 | 画像読取装置及びその制御方法 |
| EP2651293B1 (en) | 2010-12-17 | 2015-02-25 | Koninklijke Philips N.V. | System and method for determining one or more breathing parameters of a subject |
| US8780362B2 (en) | 2011-05-19 | 2014-07-15 | Covidien Lp | Methods utilizing triangulation in metrology systems for in-situ surgical applications |
| DE102011114500B4 (de) * | 2011-09-29 | 2022-05-05 | Fei Company | Mikroskopvorrichtung |
Family Cites Families (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4806004A (en) * | 1987-07-10 | 1989-02-21 | California Institute Of Technology | Scanning microscopy |
| US5058190A (en) * | 1990-09-14 | 1991-10-15 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Selective readout of a detector array |
| US5239178A (en) * | 1990-11-10 | 1993-08-24 | Carl Zeiss | Optical device with an illuminating grid and detector grid arranged confocally to an object |
| WO1995008160A1 (de) * | 1993-09-15 | 1995-03-23 | Siemens Nixdorf Informationssysteme Aktiengesellschaft | Anordnung und verfahren zur erzeugung eines rasterbildes auf einem lichtempfindlichen aufzeichunungsträger |
| US5587832A (en) * | 1993-10-20 | 1996-12-24 | Biophysica Technologies, Inc. | Spatially light modulated confocal microscope and method |
| US5900949A (en) * | 1996-05-23 | 1999-05-04 | Hewlett-Packard Company | CCD imager for confocal scanning microscopy |
| JP3816632B2 (ja) * | 1997-05-14 | 2006-08-30 | オリンパス株式会社 | 走査型顕微鏡 |
| US6248988B1 (en) * | 1998-05-05 | 2001-06-19 | Kla-Tencor Corporation | Conventional and confocal multi-spot scanning optical microscope |
| US7209287B2 (en) * | 2000-09-18 | 2007-04-24 | Vincent Lauer | Confocal optical scanning device |
| US6642504B2 (en) * | 2001-03-21 | 2003-11-04 | The Regents Of The University Of Colorado | High speed confocal microscope |
| US20030021016A1 (en) * | 2001-07-27 | 2003-01-30 | Grier David G. | Parallel scanned laser confocal microscope |
| EP1461602A4 (en) * | 2001-11-28 | 2011-09-14 | James W Overbeck | GRID MICROSCOPY, FLUORESCENT RECOGNITION AND LASER BEAM POSITIONING |
| GB0215557D0 (en) * | 2002-07-05 | 2002-08-14 | Renishaw Plc | Laser calibration apparatus |
| US6865003B2 (en) * | 2002-11-06 | 2005-03-08 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Multibeam exposure head and multibeam recording method using the same |
| DE10344060A1 (de) * | 2003-09-23 | 2005-05-04 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop |
| KR100754215B1 (ko) * | 2006-04-12 | 2007-09-03 | 삼성전자주식회사 | 2차원 면발광 레이저 어레이, 이를 채용한 멀티 빔주사장치 및 화상형성장치 |
| US9046680B2 (en) * | 2008-03-07 | 2015-06-02 | California Institute Of Technology | Scanning illumination microscope |
-
2009
- 2009-03-16 WO PCT/IB2009/051069 patent/WO2009115973A1/en active Application Filing
- 2009-03-16 EP EP09721865A patent/EP2260345A1/en not_active Withdrawn
- 2009-03-16 US US12/933,166 patent/US20110019064A1/en not_active Abandoned
- 2009-03-16 JP JP2011500337A patent/JP2011515710A/ja not_active Withdrawn
- 2009-03-16 CN CN2009801101219A patent/CN101978303A/zh active Pending
- 2009-03-16 RU RU2010142912/28A patent/RU2010142912A/ru not_active Application Discontinuation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN101978303A (zh) | 2011-02-16 |
| WO2009115973A1 (en) | 2009-09-24 |
| EP2260345A1 (en) | 2010-12-15 |
| US20110019064A1 (en) | 2011-01-27 |
| JP2011515710A (ja) | 2011-05-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US11835734B2 (en) | Illumination apparatus optimized for synthetic aperture optics imaging using minimum selective excitation patterns | |
| Liu et al. | Cryogenic photoluminescence imaging system for nanoscale positioning of single quantum emitters | |
| RU2010142912A (ru) | Двухмерная решетка излучающих точек для оптического сканирующего устройства | |
| US8502867B2 (en) | Synthetic aperture optics imaging method using minimum selective excitation patterns | |
| EP3182080B1 (en) | Compressed sensing broadband hyperspectral imaging system based on random grating | |
| WO2012058233A3 (en) | Scanning projective lensless microscope system | |
| US9313432B2 (en) | Image sensor having depth detection pixels and method for generating depth data with the image sensor | |
| CN108037513B (zh) | 一种基于相控点阵扫描提高apd激光雷达空间分辨率的方法 | |
| Stubbs | Precision astronomy with imperfect fully depleted CCDs—an introduction and a suggested lexicon | |
| Yu et al. | Single-photon compressive imaging with some performance benefits over raster scanning | |
| WO2010101894A3 (en) | High resolution laser scanning microscopy imaging system and method using spatially patterned cumulative illumination of detection fields | |
| US9395296B1 (en) | Two-dimensional optical spot location using a one-dimensional detector array | |
| Beltrán et al. | The hyperyoung H ii region in G24. 78+ 0.08 A1 | |
| Andrews et al. | Comparison of quantum dots-in-a-double-well and quantum dots-in-a-well focal plane arrays in the long-wave infrared | |
| Kang et al. | Strong emission of terahertz radiation from nanostructured Ge surfaces | |
| JP2008022221A (ja) | 固体撮像装置及びその制御方法 | |
| RU2013151846A (ru) | Угловое разрешение изображений, полученных с использованием фотонов, имеющих неклассические состояния | |
| US20160094799A1 (en) | Image sensor and imaging apparatus | |
| US20220404647A1 (en) | SEMICONDUCTOR OPTICAL PHASED ARRAYS (OPA's) AND METHODS RELATED THERETO | |
| CN116013754A (zh) | 电子束成像的光栅扫描方法、图像数据重构方法及扫描电子束成像装置 | |
| Dolch et al. | Recent H-alpha results on pulsar B2224+ 65’s bow-shock nebula, the “Guitar” | |
| CN116187460A (zh) | 一种离子阱系统及成像方法 | |
| CN110865032A (zh) | 太赫兹成像系统 | |
| RU2724151C1 (ru) | Способ повышения разрешения изображений, получаемых с помощью матричных фотоприемников | |
| Yu et al. | Analysis of the redundancy of Fourier telescopy transmitter array and its redundancy-strehl ratio-target texture distribution characteristic |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FA94 | Acknowledgement of application withdrawn (non-payment of fees) |
Effective date: 20140111 |