RU2010142912A - Двухмерная решетка излучающих точек для оптического сканирующего устройства - Google Patents
Двухмерная решетка излучающих точек для оптического сканирующего устройства Download PDFInfo
- Publication number
- RU2010142912A RU2010142912A RU2010142912/28A RU2010142912A RU2010142912A RU 2010142912 A RU2010142912 A RU 2010142912A RU 2010142912/28 A RU2010142912/28 A RU 2010142912/28A RU 2010142912 A RU2010142912 A RU 2010142912A RU 2010142912 A RU2010142912 A RU 2010142912A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- scanning
- scanning microscope
- microscope according
- lattice
- detector
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0036—Scanning details, e.g. scanning stages
- G02B21/004—Scanning details, e.g. scanning stages fixed arrays, e.g. switchable aperture arrays
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/10—Scanning systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)
Abstract
1. Сканирующий микроскоп (10), содержащий: ! генератор (20) точки для генерации двухмерной решетки (8) излучающих точек в узлах решетки ! Pmn=mT1+nT2 (m= от 1 до L 1; n= от 1 до L 2), ! где T1 есть первый вектор решетки, а T2 есть второй вектор решетки; ! сканирующее средство для сканирования образца (26) по решетке излучающих точек в направлении сканирования таким образом, чтобы излучающие точки относительно образца оставляли след в виде, по существу, эквидистантных линий (81, 82, 83); ! в котором максимальный угол γ между направлением сканирования и первым вектором T1 решетки столь же велик, что и угол между направлением сканирования и вторым вектором T2 решетки, а отношение L 1 /L 2 меньше чем 0,6. ! 2. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором отношение L 1 /L 2 меньше чем 0,4. ! 3. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором отношение L 1 /L 2 меньше чем 0,2. ! 4. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором L 1 равно 2, 3 или 4. ! 5. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором произведение L 1 L 2 является максимальным, или площадь единичной ячейки решетки является минимальной с допуском в 10%, при ограничении, что форма единичной ячейки, разрешение и длина диагонали решетки являются фиксированными. ! 6. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором единичная ячейка решетки является квадратной или шестиугольной. ! 7. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором L 1 отличается от Λ менее чем на 1,0 или же L 1 равно Λ с допуском в 10%, причем Λ определяется уравнением ! ! где D - длина диагонали решетки, а R - разрешение. ! 8. Сканирующий микроскоп по п.1, дополнительно содержащий ! детектор (34) и ! формирующую оптику (32) для формирования изображения решетки излучающих точек на детекторе. ! 9. Сканирующий микроскоп по п.8, в
Claims (14)
1. Сканирующий микроскоп (10), содержащий:
генератор (20) точки для генерации двухмерной решетки (8) излучающих точек в узлах решетки
Pmn=mT1+nT2 
(m= от 1 до L 1; n= от 1 до L 2),
где T1 есть первый вектор решетки, а T2 есть второй вектор решетки;
сканирующее средство для сканирования образца (26) по решетке излучающих точек в направлении сканирования таким образом, чтобы излучающие точки относительно образца оставляли след в виде, по существу, эквидистантных линий (81, 82, 83);
в котором максимальный угол γ между направлением сканирования и первым вектором T1 решетки столь же велик, что и угол между направлением сканирования и вторым вектором T2 решетки, а отношение L 1 /L 2 меньше чем 0,6.
2. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором отношение L 1 /L 2 меньше чем 0,4.
3. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором отношение L 1 /L 2 меньше чем 0,2.
4. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором L 1 равно 2, 3 или 4.
5. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором произведение L 1 L 2 является максимальным, или площадь единичной ячейки решетки является минимальной с допуском в 10%, при ограничении, что форма единичной ячейки, разрешение и длина диагонали решетки являются фиксированными.
6. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором единичная ячейка решетки является квадратной или шестиугольной.
7. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором L 1 отличается от Λ менее чем на 1,0 или же L 1 равно Λ с допуском в 10%, причем Λ определяется уравнением
где D - длина диагонали решетки, а R - разрешение.
8. Сканирующий микроскоп по п.1, дополнительно содержащий
детектор (34) и
формирующую оптику (32) для формирования изображения решетки излучающих точек на детекторе.
9. Сканирующий микроскоп по п.8, в котором детектор имеет, по существу, круговое поле обзора, а изображение диагонали решетки составляет от 0,9 до 1,0 от диаметра поля обзора детектора.
10. Сканирующий микроскоп по п.8, в котором детектор имеет чувствительную область, имеющую коэффициент формы между 3:4 и 4:3.
11. Сканирующий микроскоп по п.1, в котором генератор точки содержит двоичную фазовую структуру или решетку микролинз.
12. Способ формирования изображения образца (26) сканирующим микроскопом, содержащий этапы:
генерации двухмерной решетки (8) излучающих точек в узлах решетки
Pmn=mT1+nT2 (m=от 1 до L 1; n=от 1 до L 2),
где T1 есть первый вектор решетки, а T2 есть второй вектор решетки;
сканирования образца (26) по решетке излучающих точек в направлении сканирования таким образом, чтобы излучающие точки относительно образца оставляли след в виде, по существу, эквидистантных линий (81, 82, 83);
в котором максимальный угол γ между направлением сканирования и первым вектором T1 решетки столь же велик, как и угол между направлением сканирования и вторым вектором T2 решетки, а отношение L 1 /L 2 меньше чем 0,6.
13. Способ по п.12, который содержит дополнительный этап
генерации оптического изображения решетки излучающих точек на детекторе (34).
14. Способ по п.12, в котором участок чувствительной области детектора является неактивированным.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP08305063 | 2008-03-20 | ||
| EP08305063.3 | 2008-03-20 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2010142912A true RU2010142912A (ru) | 2012-04-27 |
Family
ID=40756761
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2010142912/28A RU2010142912A (ru) | 2008-03-20 | 2009-03-16 | Двухмерная решетка излучающих точек для оптического сканирующего устройства |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20110019064A1 (ru) |
| EP (1) | EP2260345A1 (ru) |
| JP (1) | JP2011515710A (ru) |
| CN (1) | CN101978303A (ru) |
| RU (1) | RU2010142912A (ru) |
| WO (1) | WO2009115973A1 (ru) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20110134254A1 (en) * | 2008-08-13 | 2011-06-09 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Measuring and correcting lens distortion in a multispot scanning device |
| JP5448786B2 (ja) * | 2009-04-06 | 2014-03-19 | キヤノン株式会社 | 画像読取装置及びその制御方法 |
| WO2012080920A1 (en) | 2010-12-17 | 2012-06-21 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | System and method for determining one or more breathing parameters of a subject |
| US8780362B2 (en) | 2011-05-19 | 2014-07-15 | Covidien Lp | Methods utilizing triangulation in metrology systems for in-situ surgical applications |
| DE102011114500B4 (de) * | 2011-09-29 | 2022-05-05 | Fei Company | Mikroskopvorrichtung |
Family Cites Families (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4806004A (en) * | 1987-07-10 | 1989-02-21 | California Institute Of Technology | Scanning microscopy |
| US5058190A (en) * | 1990-09-14 | 1991-10-15 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Selective readout of a detector array |
| US5239178A (en) * | 1990-11-10 | 1993-08-24 | Carl Zeiss | Optical device with an illuminating grid and detector grid arranged confocally to an object |
| EP0719434B1 (de) * | 1993-09-15 | 1997-07-23 | Océ Printing Systems GmbH | Anordnung zur erzeugung eines rasterbildes auf einem lichtempfindlichen aufzeichunungsträger |
| US5587832A (en) * | 1993-10-20 | 1996-12-24 | Biophysica Technologies, Inc. | Spatially light modulated confocal microscope and method |
| US5900949A (en) * | 1996-05-23 | 1999-05-04 | Hewlett-Packard Company | CCD imager for confocal scanning microscopy |
| JP3816632B2 (ja) * | 1997-05-14 | 2006-08-30 | オリンパス株式会社 | 走査型顕微鏡 |
| US6248988B1 (en) * | 1998-05-05 | 2001-06-19 | Kla-Tencor Corporation | Conventional and confocal multi-spot scanning optical microscope |
| US7209287B2 (en) * | 2000-09-18 | 2007-04-24 | Vincent Lauer | Confocal optical scanning device |
| US6642504B2 (en) * | 2001-03-21 | 2003-11-04 | The Regents Of The University Of Colorado | High speed confocal microscope |
| US20030021016A1 (en) * | 2001-07-27 | 2003-01-30 | Grier David G. | Parallel scanned laser confocal microscope |
| WO2003046613A2 (en) * | 2001-11-28 | 2003-06-05 | Overbeck James W | Scanning microscopy, fluorescence detection, and laser beam positioning |
| GB0215557D0 (en) * | 2002-07-05 | 2002-08-14 | Renishaw Plc | Laser calibration apparatus |
| US6865003B2 (en) * | 2002-11-06 | 2005-03-08 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Multibeam exposure head and multibeam recording method using the same |
| DE10344060A1 (de) * | 2003-09-23 | 2005-05-04 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop |
| KR100754215B1 (ko) * | 2006-04-12 | 2007-09-03 | 삼성전자주식회사 | 2차원 면발광 레이저 어레이, 이를 채용한 멀티 빔주사장치 및 화상형성장치 |
| US9046680B2 (en) * | 2008-03-07 | 2015-06-02 | California Institute Of Technology | Scanning illumination microscope |
-
2009
- 2009-03-16 EP EP09721865A patent/EP2260345A1/en not_active Withdrawn
- 2009-03-16 JP JP2011500337A patent/JP2011515710A/ja not_active Withdrawn
- 2009-03-16 CN CN2009801101219A patent/CN101978303A/zh active Pending
- 2009-03-16 WO PCT/IB2009/051069 patent/WO2009115973A1/en active Application Filing
- 2009-03-16 RU RU2010142912/28A patent/RU2010142912A/ru not_active Application Discontinuation
- 2009-03-16 US US12/933,166 patent/US20110019064A1/en not_active Abandoned
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP2260345A1 (en) | 2010-12-15 |
| CN101978303A (zh) | 2011-02-16 |
| WO2009115973A1 (en) | 2009-09-24 |
| US20110019064A1 (en) | 2011-01-27 |
| JP2011515710A (ja) | 2011-05-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US11835734B2 (en) | Illumination apparatus optimized for synthetic aperture optics imaging using minimum selective excitation patterns | |
| Liu et al. | Cryogenic photoluminescence imaging system for nanoscale positioning of single quantum emitters | |
| RU2010142912A (ru) | Двухмерная решетка излучающих точек для оптического сканирующего устройства | |
| US10136078B2 (en) | Random grating based compressive sensing wideband hyperspectral imaging system | |
| JP2020073901A (ja) | 光検出測距センサ | |
| WO2012058233A3 (en) | Scanning projective lensless microscope system | |
| WO2011116175A1 (en) | Synthetic aperture optics imaging method using minimum selective excitation patterns | |
| US9313432B2 (en) | Image sensor having depth detection pixels and method for generating depth data with the image sensor | |
| CN108037513B (zh) | 一种基于相控点阵扫描提高apd激光雷达空间分辨率的方法 | |
| US20160033766A1 (en) | Directional optical receiver | |
| DK1563282T3 (da) | Fremgangsmåde og indretning til at frembringe billeder af kvanteudbyttet af det fotosyntetiske system for at fastslå kvaliteten af plantemateriale og en fremgangsmåde og indretning til at måle, klassificere og sortere plantemateriale | |
| Stubbs | Precision astronomy with imperfect fully depleted CCDs—an introduction and a suggested lexicon | |
| Yu et al. | Single-photon compressive imaging with some performance benefits over raster scanning | |
| WO2010101894A3 (en) | High resolution laser scanning microscopy imaging system and method using spatially patterned cumulative illumination of detection fields | |
| US9395296B1 (en) | Two-dimensional optical spot location using a one-dimensional detector array | |
| Andrews et al. | Comparison of quantum dots-in-a-double-well and quantum dots-in-a-well focal plane arrays in the long-wave infrared | |
| Kang et al. | Strong emission of terahertz radiation from nanostructured Ge surfaces | |
| JP2008022221A (ja) | 固体撮像装置及びその制御方法 | |
| US20160094799A1 (en) | Image sensor and imaging apparatus | |
| US20220404647A1 (en) | SEMICONDUCTOR OPTICAL PHASED ARRAYS (OPA's) AND METHODS RELATED THERETO | |
| CN116013754A (zh) | 电子束成像的光栅扫描方法、图像数据重构方法及扫描电子束成像装置 | |
| Dolch et al. | Recent H-alpha results on pulsar B2224+ 65’s bow-shock nebula, the “Guitar” | |
| Zhao et al. | Passive ghost imaging using caustics modeling | |
| CN110865032A (zh) | 太赫兹成像系统 | |
| RU2724151C1 (ru) | Способ повышения разрешения изображений, получаемых с помощью матричных фотоприемников |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FA94 | Acknowledgement of application withdrawn (non-payment of fees) |
Effective date: 20140111 |