RU2010137456A - Устройство и способ контроля лучистых потоков при наземных тепловакуумных испытаниях космических объектов - Google Patents

Abstract

1. Устройство контроля лучистых потоков при наземных тепловакуумных испытаниях космических объектов, отличающееся тем, что приемник лучистой энергии с термочувствительными элементами выполнен из двух рядом расположенных тонкостенных пластин из материалов с высокой теплопроводностью в виде квадрата или круга и установленных на нитях-растяжках в контролируемой области тепловакуумной камеры, на пластины с обеих сторон нанесены терморегулирующие покрытия так, что суммарная толщина пластин с покрытиями h и характерный размер пластин L отвечают соотношению h<<L, на рабочие поверхности пластин, установленные в одной плоскости перпендикулярно контролируемому солнечному лучистому потоку, нанесены терморегулирующие покрытия - на первой с низким коэффициентом поглощения солнечного излучения (αs11 min) и высоким коэффициентом теплового излучения (εT11 max), отвечающие соотношению αs11 min/εT11 max<<1, на второй с высокими коэффициентами поглощения солнечного (αs21 max) и теплового (εT21 max) излучений, отвечающими соотношению αs21 max/εT21 max≈1, а на нерабочую поверхность первой и второй пластины установлены по электроизолированному термочувствительному элементу, на нерабочую поверхность каждой тонкостенной пластины с термочувствительным элементом нанесено терморегулирующее покрытие с высокой отражательной способностью солнечного и теплового излучений, где коэффициенты поглощения солнечного (αs12 min) и теплового (εT12 min) излучений для первой тонкостенной пластины и коэффициенты поглощения солнечного (αs22 min) и теплового (εT22 min) излучений для второй тонкостенной пластины отвечают соотношениям αs12 min/εT12 min≈1 и αs22 min/εT22 m

Claims (2)

1. Устройство контроля лучистых потоков при наземных тепловакуумных испытаниях космических объектов, отличающееся тем, что приемник лучистой энергии с термочувствительными элементами выполнен из двух рядом расположенных тонкостенных пластин из материалов с высокой теплопроводностью в виде квадрата или круга и установленных на нитях-растяжках в контролируемой области тепловакуумной камеры, на пластины с обеих сторон нанесены терморегулирующие покрытия так, что суммарная толщина пластин с покрытиями h и характерный размер пластин L отвечают соотношению h<<L, на рабочие поверхности пластин, установленные в одной плоскости перпендикулярно контролируемому солнечному лучистому потоку, нанесены терморегулирующие покрытия - на первой с низким коэффициентом поглощения солнечного излучения (α_s11 ^min) и высоким коэффициентом теплового излучения (ε_T11 ^max), отвечающие соотношению α_s11 ^min/ε_T11 ^max<<1, на второй с высокими коэффициентами поглощения солнечного (α_s21 ^max) и теплового (ε_T21 ^max) излучений, отвечающими соотношению α_s21 ^max/ε_T21 ^max≈1, а на нерабочую поверхность первой и второй пластины установлены по электроизолированному термочувствительному элементу, на нерабочую поверхность каждой тонкостенной пластины с термочувствительным элементом нанесено терморегулирующее покрытие с высокой отражательной способностью солнечного и теплового излучений, где коэффициенты поглощения солнечного (α_s12 ^min) и теплового (ε_T12 ^min) излучений для первой тонкостенной пластины и коэффициенты поглощения солнечного (α_s22 ^min) и теплового (ε_T22 ^min) излучений для второй тонкостенной пластины отвечают соотношениям α_s12 ^min/ε_T12 ^min≈1 и α_s22 ^min/ε_T22 ^min≈1 соответственно.

2. Способ контроля лучистых потоков при наземных тепловакуумных испытаниях космических объектов, отличающийся тем, что фиксируют состояния теплового равновесия обеих тонкостенных пластин приемника лучистой энергии, после чего измеряют одновременно температуры первой (T₁) и второй (Т₂) тонкостенных пластин, а контроль лучистых потоков, разделяющих солнечное излучение (Q_s) от инфракрасных тепловых потоков, составляющих погрешность имитации (Q_ик), определяют по соотношениям:

,

,

где Е₁=ε_T12 ^min/ε_T11 ^max, Е₂=ε_T22 ^min/ε_T22 ^max - относительный коэффициент теплового излучения первой и второй тонкостенных пластин с терморегулирующими покрытиями соответственно;

A₁=α_s11 ^min/ε_T11 ^max, А₂=α_s21 ^max/ε_T21 ^max - оптическая характеристика терморегулирующего покрытия рабочей поверхности первой и второй тонкостенных пластин соответственно;

σ - постоянная Стефана-Больцмана.