Claims (13)
1. Способ изготовления коллоидного зондового датчика для атомно-силового микроскопа, заключающийся в том, что коллоидную частицу закрепляют на кончике иглы зондового датчика, отличающийся тем, что по принципу минимального числа соседей выбирают среди коллоидных частиц кандидата для закрепления, затем модифицируют работоспособный зондовый датчик, закрепляя выбранную коллоидную частицу на кончике иглы, после этого, используя модифицированный работоспособный зондовый датчик, подтверждают, что выбранная частица закреплена, при этом все операции проводят с помощью атомно-силового микроскопа (АСМ).1. A method of manufacturing a colloidal probe sensor for an atomic force microscope, namely, that the colloidal particle is fixed on the needle tip of the probe sensor, characterized in that, according to the principle of the minimum number of neighbors, a candidate is selected among the colloidal particles for fixing, then the operable probe sensor is modified, fixing the selected colloidal particle on the tip of the needle, then, using a modified operable probe sensor, confirm that the selected particle is fixed, while all perazim performed using atomic force microscope (AFM).
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что выбранную частицу закрепляют с помощью клеящего материала.2. The method according to claim 1, characterized in that the selected particle is fixed using adhesive material.
3. Способ по п.1, отличающийся тем, что используют отверждаемый ультрафиолетовым светом клей.3. The method according to claim 1, characterized in that they use adhesive cured by ultraviolet light.
4. Способ по п.1, отличающийся тем, что клеевую обработку кончика иглы зондового датчика производят в АСМ.4. The method according to claim 1, characterized in that the glue processing of the tip of the probe tip needle is performed in the AFM.
5. Способ по п.1, отличающийся тем, что выбор частицы производят, используя работоспособный зондовый датчик с покрытым клеем кончиком иглы, путем визуализации частицы в полуконтактном режиме АСМ.5. The method according to claim 1, characterized in that the selection of the particles is carried out using a workable probe sensor with a needle-coated tip, by visualizing the particles in AFM semi-contact mode.
6. Способ по п.1, отличающийся тем, что процесс закрепления частицы производят в контактном режиме АСМ.6. The method according to claim 1, characterized in that the process of fixing the particles is carried out in contact mode AFM.
7. Способ по п.1, отличающийся тем, что момент приклеивания контролируют по вариациям АСМ сигнала вертикального отклонения зондового датчика.7. The method according to claim 1, characterized in that the gluing moment is controlled by variations of the AFM signal of the vertical deflection of the probe sensor.
8. Способ по п.1, отличающийся тем, что момент приклеивания контролируют по вариациям АСМ сигнала бокового отклонения зондового датчика.8. The method according to claim 1, characterized in that the gluing moment is controlled by variations of the AFM signal of the lateral deviation of the probe sensor.
9. Способ по п.1, отличающийся тем, что момент приклеивания контролируют по вариациям АСМ сигнала контактной жесткости.9. The method according to claim 1, characterized in that the moment of gluing is controlled by variations of the AFM signal of contact stiffness.
10. Способ по п.1, отличающийся тем, что процесс закрепления частицы производят в полуконтаткном режиме АСМ.10. The method according to claim 1, characterized in that the process of fixing the particles is carried out in a semi-contact AFM mode.
11. Способ по п.1, отличающийся тем, что момент приклеивания контролируют по вариациям АСМ сигналов, зависящих от амплитуды и/или фазы резонансных колебаний зондового датчика.11. The method according to claim 1, characterized in that the gluing moment is controlled by variations of the AFM signals, depending on the amplitude and / or phase of the resonant vibrations of the probe sensor.
12. Способ по п.1, отличающийся тем, что факт закрепления частицы на кончике иглы зондового датчика оперативно подтверждают при визуализации в полуконтактном АСМ режиме агломератов калиброванных по форме и размеру частиц, осажденных на подложку.12. The method according to claim 1, characterized in that the fact of fixing the particles on the tip of the probe’s probe’s tip is quickly confirmed by visualization in the semi-contact AFM mode of agglomerates calibrated by the shape and size of the particles deposited on the substrate.
13. Способ по п.1, отличающийся тем, что на подложке формируют субмонослойные покрытия из агломератов калиброванных по форме и размеру частиц.
13. The method according to claim 1, characterized in that submonolayer coatings are formed on the substrate from agglomerates calibrated in shape and size of the particles.