RU2010126811A - INFRARED AMPLITUDE-PHASE PLASMA SPECTROMETER - Google Patents

INFRARED AMPLITUDE-PHASE PLASMA SPECTROMETER Download PDF

Info

Publication number
RU2010126811A
RU2010126811A RU2010126811/28A RU2010126811A RU2010126811A RU 2010126811 A RU2010126811 A RU 2010126811A RU 2010126811/28 A RU2010126811/28 A RU 2010126811/28A RU 2010126811 A RU2010126811 A RU 2010126811A RU 2010126811 A RU2010126811 A RU 2010126811A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
sample
radiation
photodetector
track
information processing
Prior art date
Application number
RU2010126811/28A
Other languages
Russian (ru)
Other versions
RU2477841C2 (en
Inventor
Алексей Константинович Никитин (RU)
Алексей Константинович Никитин
Герман Николаевич Жижин (RU)
Герман Николаевич Жижин
Анатолий Павлович Кирьянов (RU)
Анатолий Павлович Кирьянов
Борис Александрович Князев (RU)
Борис Александрович Князев
Олег Владимирович Хитров (RU)
Олег Владимирович Хитров
Original Assignee
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российский университет дружбы народов" (РУДН) (RU)
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российский университет дружбы народов" (РУДН)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российский университет дружбы народов" (РУДН) (RU), Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российский университет дружбы народов" (РУДН) filed Critical Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российский университет дружбы народов" (РУДН) (RU)
Priority to RU2010126811/28A priority Critical patent/RU2477841C2/en
Publication of RU2010126811A publication Critical patent/RU2010126811A/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2477841C2 publication Critical patent/RU2477841C2/en

Links

Landscapes

  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

Инфракрасный амплитудно-фазовый плазменный спектрометр, содержащий перестраиваемый по частоте источник p-поляризованного монохроматического излучения, элемент преобразования излучения источника в поверхностные плазмоны (ПП), твердотельный проводящий образец с плоскогранной поверхностью и фотодетектор, отличающийся тем, что спектрометр дополнительно содержит устройство обработки информации и непрозрачный экран, установленный перпендикулярно треку ПП, причем край экрана, обращенный к плоской поверхности образца, размещен на расстоянии от 5λ, до 20λ, (где λ - длина волны излучения в окружающей образец среде) от этой поверхности, а фотодетектор размещен в поле ПП на подвижной платформе, перемещаемой параллельно поверхности вдоль трека ПП, и подключен к устройству обработки информации. An infrared amplitude-phase plasma spectrometer containing a frequency-tunable source of p-polarized monochromatic radiation, an element for converting the source radiation to surface plasmons (PP), a solid-state conducting sample with a planar surface, and a photodetector, characterized in that the spectrometer further comprises an information processing device and an opaque a screen mounted perpendicular to the PP track, and the edge of the screen facing the flat surface of the sample is placed at a distance ranges from 5λ to 20λ (where λ is the radiation wavelength in the environment of the sample) from this surface, and the photodetector is placed in the field of the PP on a movable platform moving parallel to the surface along the track of the PP, and connected to the information processing device.

Claims (1)

Инфракрасный амплитудно-фазовый плазменный спектрометр, содержащий перестраиваемый по частоте источник p-поляризованного монохроматического излучения, элемент преобразования излучения источника в поверхностные плазмоны (ПП), твердотельный проводящий образец с плоскогранной поверхностью и фотодетектор, отличающийся тем, что спектрометр дополнительно содержит устройство обработки информации и непрозрачный экран, установленный перпендикулярно треку ПП, причем край экрана, обращенный к плоской поверхности образца, размещен на расстоянии от 5λ, до 20λ, (где λ - длина волны излучения в окружающей образец среде) от этой поверхности, а фотодетектор размещен в поле ПП на подвижной платформе, перемещаемой параллельно поверхности вдоль трека ПП, и подключен к устройству обработки информации. An infrared amplitude-phase plasma spectrometer containing a frequency-tunable source of p-polarized monochromatic radiation, an element for converting the source radiation to surface plasmons (PP), a solid-state conducting sample with a planar surface, and a photodetector, characterized in that the spectrometer further comprises an information processing device and an opaque a screen mounted perpendicular to the PP track, and the edge of the screen facing the flat surface of the sample is placed at a distance ranges from 5λ to 20λ (where λ is the radiation wavelength in the environment of the sample) from this surface, and the photodetector is placed in the field of the PP on a movable platform moving parallel to the surface along the track of the PP, and connected to the information processing device.
RU2010126811/28A 2010-07-01 2010-07-01 Infrared amplitude-phase plasmon spectrometer RU2477841C2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2010126811/28A RU2477841C2 (en) 2010-07-01 2010-07-01 Infrared amplitude-phase plasmon spectrometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2010126811/28A RU2477841C2 (en) 2010-07-01 2010-07-01 Infrared amplitude-phase plasmon spectrometer

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2010126811A true RU2010126811A (en) 2012-01-10
RU2477841C2 RU2477841C2 (en) 2013-03-20

Family

ID=45783362

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2010126811/28A RU2477841C2 (en) 2010-07-01 2010-07-01 Infrared amplitude-phase plasmon spectrometer

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2477841C2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2709600C1 (en) * 2019-05-15 2019-12-18 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Научно-технологический центр уникального приборостроения Российской академии наук (НТЦ УП РАН) Michelson interferometer for determination of refraction index of surface plasmon-polaritons of terahertz range

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2573617C1 (en) * 2014-11-25 2016-01-20 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Новосибирский национальный исследовательский государственный университет" (Новосибирский государственный университет, НГУ) Infrared amplitude-phase plasmon spectrometer
RU2759495C1 (en) * 2021-04-29 2021-11-15 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Научно-технологический центр уникального приборостроения Российской академии наук (НТЦ УП РАН) Method for obtaining infrared absorption spectra of surface plasmon-polaritons by a thin layer of substance

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2173837C2 (en) * 1999-11-17 2001-09-20 Российский Университет Дружбы Народов Wideband spectrometer of surface electromagnetic waves
US7030989B2 (en) * 2002-10-28 2006-04-18 University Of Washington Wavelength tunable surface plasmon resonance sensor
RU2263923C1 (en) * 2004-03-22 2005-11-10 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российский университет дружбы народов" (РУДН) Method of determining penetration of solid bodies in infrared spectral range
RU2318192C1 (en) * 2006-06-09 2008-02-27 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российский университет дружбы народов" (РУДН) Plasmon-based terahertz-range spectrometer for examination of conductive surface
DE102007021563A1 (en) * 2007-05-08 2008-11-20 Universität Augsburg Surface plasmon resonance spectrometer, has sensor film arranged on transparent substrate for radiation, where radiation source is attached in layer construction on transparent substrate, and sensor film controls radiation from source
RU2345351C1 (en) * 2007-06-27 2009-01-27 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российский университет дружбы народов" (РУДН) Device for obtaining of absorption spectrums of laminas in terahertz spectrum region
US7817278B2 (en) * 2007-08-08 2010-10-19 Agilent Technologies, Inc. Surface plasmon resonance sensor apparatus having multiple dielectric layers

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2709600C1 (en) * 2019-05-15 2019-12-18 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Научно-технологический центр уникального приборостроения Российской академии наук (НТЦ УП РАН) Michelson interferometer for determination of refraction index of surface plasmon-polaritons of terahertz range

Also Published As

Publication number Publication date
RU2477841C2 (en) 2013-03-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11467095B2 (en) Infrared detection camera
SG10201811725SA (en) Systems and methods for assessing biological samples
EP1995765A3 (en) Mass spectroscopy device and mass spectroscopy system
MY189992A (en) Spectrometer devices
JP2015513067A5 (en)
TW200724901A (en) Sensing apparatus containing noble metal and sensing system and method thereof
EA201290998A1 (en) METHOD AND DEVICE FOR ANALYSIS OF OPTICAL QUALITY OF A TRANSPARENT SUBSTRATE
RU2016121830A (en) OPTICAL ANALYZER, METHOD OF OPTICAL ANALYSIS AND DEVICE FOR PREPARING A SAMPLE
MX340342B (en) Handheld characteristic analyzer.
WO2013006248A3 (en) Measurement of critical dimension
WO2015189172A3 (en) Apparatus for determining information associated with reflection characteristics of a surface
RU2010126811A (en) INFRARED AMPLITUDE-PHASE PLASMA SPECTROMETER
JP2014523517A5 (en)
CN104502304A (en) Miniature curing near-infrared spectrometer based on virtual slit technology
RU2013139542A (en) IMAGE READING DEVICE
IN2014CN03619A (en)
WO2015027252A8 (en) Assembly for analyzing a light pattern caused by refraction and reflection at a precious stone
JP2012254194A5 (en)
JP2012070824A5 (en) Subject information acquisition device
ATE544083T1 (en) DETECTION DEVICE
JP2012141348A5 (en)
Druy et al. Next-Generation Spectroscopic Technologies V
MA34792B1 (en) DESIGN OF A GUIDED OPTICAL MODE BASED SENSOR IN A MICRO CHIP WITH A PERIODIC STRUCTURE OF HIGH PERFORMANCE DIELECTRIC MEDIA
Zhang et al. Research of negative refractive direction of P-light in metal
RU2007134461A (en) METHOD FOR PAPILLARY PATTERN REGISTRATION AND DEVICE FOR ITS IMPLEMENTATION

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20150702