RU2010114239A - Система и способ для многокадровых поверхностных измерений формы объектов - Google Patents

Система и способ для многокадровых поверхностных измерений формы объектов Download PDF

Info

Publication number
RU2010114239A
RU2010114239A RU2010114239/28A RU2010114239A RU2010114239A RU 2010114239 A RU2010114239 A RU 2010114239A RU 2010114239/28 A RU2010114239/28 A RU 2010114239/28A RU 2010114239 A RU2010114239 A RU 2010114239A RU 2010114239 A RU2010114239 A RU 2010114239A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
measured
scanning devices
image
images
view
Prior art date
Application number
RU2010114239/28A
Other languages
English (en)
Inventor
Николай Л. ЛАПА (RU)
Николай Л. ЛАПА
Original Assignee
Артек Груп, Инк. (Us)
Артек Груп, Инк.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Артек Груп, Инк. (Us), Артек Груп, Инк. filed Critical Артек Груп, Инк. (Us)
Publication of RU2010114239A publication Critical patent/RU2010114239A/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/245Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures using a plurality of fixed, simultaneously operating transducers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C11/00Photogrammetry or videogrammetry, e.g. stereogrammetry; Photographic surveying
    • G01C11/02Picture taking arrangements specially adapted for photogrammetry or photographic surveying, e.g. controlling overlapping of pictures
    • G01C11/025Picture taking arrangements specially adapted for photogrammetry or photographic surveying, e.g. controlling overlapping of pictures by scanning the object

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

1. Способ измерения поверхности материального объекта, содержащий: ! - съемку по меньшей мере одного изображения по меньшей мере участка поверхности объекта, подлежащего измерению; ! - съемку по меньшей мере одного изображения по меньшей мере участка поверхности опорного объекта; ! - преобразование снятых изображений участков поверхности объекта, подлежащего измерению, в координатную систему опорного объекта; ! - объединение снятых изображений участков поверхности объекта, подлежащего измерению, в координатной системе опорного объекта. ! 2. Способ по п.1, в котором снятые изображения участков поверхности объекта, подлежащего измерению, включают в себя трехмерные изображения. ! 3. Способ по п.2, в котором снятые изображения участков поверхности объекта, подлежащего измерению, дополнительно включают в себя двухмерные изображения. ! 4. Способ по п.2, в котором каждое изображение участка поверхности объекта, подлежащего измерению, снимают в таком же изображении, что и соответствующее изображение участка поверхности опорного объекта. ! 5. Способ по п.2, в котором опорный объект содержит участок объекта, подлежащего измерению, который уже был ранее измерен, для определения некоторых опорных характеристик. ! 6. Способ по п.5, дополнительно содержащий: ! объединение снятого изображения участка поверхности объекта, подлежащего измерению, с изображением опорного объекта, причем объединенное изображение в последующем используется в качестве изображения опорного объекта для более поздних изображений участков поверхности объекта, подлежащего измерению. ! 7. Способ по п.2, в котором изображения участков поверхности объекта,

Claims (20)

1. Способ измерения поверхности материального объекта, содержащий:
- съемку по меньшей мере одного изображения по меньшей мере участка поверхности объекта, подлежащего измерению;
- съемку по меньшей мере одного изображения по меньшей мере участка поверхности опорного объекта;
- преобразование снятых изображений участков поверхности объекта, подлежащего измерению, в координатную систему опорного объекта;
- объединение снятых изображений участков поверхности объекта, подлежащего измерению, в координатной системе опорного объекта.
2. Способ по п.1, в котором снятые изображения участков поверхности объекта, подлежащего измерению, включают в себя трехмерные изображения.
3. Способ по п.2, в котором снятые изображения участков поверхности объекта, подлежащего измерению, дополнительно включают в себя двухмерные изображения.
4. Способ по п.2, в котором каждое изображение участка поверхности объекта, подлежащего измерению, снимают в таком же изображении, что и соответствующее изображение участка поверхности опорного объекта.
5. Способ по п.2, в котором опорный объект содержит участок объекта, подлежащего измерению, который уже был ранее измерен, для определения некоторых опорных характеристик.
6. Способ по п.5, дополнительно содержащий:
объединение снятого изображения участка поверхности объекта, подлежащего измерению, с изображением опорного объекта, причем объединенное изображение в последующем используется в качестве изображения опорного объекта для более поздних изображений участков поверхности объекта, подлежащего измерению.
7. Способ по п.2, в котором изображения участков поверхности объекта, подлежащего измерению, снимают в таких полях обзора, которые полностью отделены от полей обзора, предназначенных для съемки изображений участков опорного объекта.
8. Способ по п.2, дополнительно содержащий
- расположение множества сканирующих устройств в различных положениях относительно объекта, подлежащего измерению, таким образом, что каждое из сканирующих устройств имеет соответствующее первое поле обзора, охватывающее по меньшей мере участок этого объекта,
причем каждое из множества сканирующих устройств включает в себя опорный объект, имеющий определенные нанесенные на нем опорные признаки,
причем каждое из множества сканирующих устройств имеет соответствующее второе поле обзора для съемки по меньшей мере участка опорного объекта,
причем каждое из множества сканирующих устройств расположено относительно другого таким образом, что это второе поле обзора по меньшей мере одного из множества сканирующих устройств охватывает по меньшей мере участок поверхности опорного объекта другого сканирующего устройства,
- съемку изображений соответствующих участков поверхности объекта, подлежащего измерению, в первом поле обзора каждого из сканирующих устройств;
- съемку изображений соответствующих участков поверхности опорных объектов во втором поле обзора каждого из сканирующих устройств, которое направлено на соответствующие опорные объекты;
- преобразование снятых изображений соответствующих участков поверхности объекта, подлежащего измерению, в общую опорную координатную систему одного из опорных объектов; и
- объединение снятых изображений соответствующих участков поверхности объекта, подлежащего измерению, всех вместе в общей опорной координатной системе одного из опорных объектов.
9. Способ по п.2, дополнительно содержащий:
- расположение первого и второго сканирующих устройств в первой конфигурации относительно объекта, подлежащего измерению, таким образом, что каждое из сканирующих устройств имеет соответствующее первое поле обзора, охватывающее по меньшей мере участок поверхности объекта, подлежащего измерению,
причем каждое из сканирующих устройств включает в себя опорный объект, имеющий определенные нанесенные на нем опорные признаки,
причем каждое из сканирующих устройств имеет соответствующее второе поле обзора для съемки по меньшей мере участка поверхности опорного объекта,
причем сканирующие устройства расположены относительно друг друга таким образом, что второе поле обзора одного из сканирующих устройств охватывает по меньшей мере участок поверхности опорного объекта, расположенного на другом сканирующем устройстве,
- съемку изображений соответствующих участков поверхности объекта, подлежащего измерению, в первом поле обзора каждого из сканирующих устройств;
- съемку изображения соответствующего участка поверхности опорного объекта во втором поле обзора сканирующего устройства, которое направлено на соответствующий участок поверхности опорного объекта;
- преобразование снятых изображений соответствующих участков поверхности объекта, подлежащего измерению, снятых в первой конфигурации, в координатную систему одного из опорных объектов;
- объединение изображений соответствующих участков поверхности объекта, подлежащего измерению, снятых в первой конфигурации, в координатную систему одного из опорных объектов;
- повторное поочередное перемещение одного из первых и вторых сканирующих устройств попеременным образом в различные конфигурации, и:
- съемку в каждой конфигурации изображений соответствующих участков поверхности измеряемого объекта в первом поле обзора каждого из сканирующих устройств;
- съемку в каждой конфигурации изображения соответствующего участка поверхности опорных объектов во втором поле обзора сканирующего устройства, которое направлено на соответствующий участок поверхности опорного объекта;
- преобразование в каждой конфигурации снятых изображений соответствующих участков поверхности объекта, подлежащего измерению, и снятых и объединенных изображений участков объекта, подлежащего измерению, предыдущих конфигураций в координатную систему одного из опорных объектов;
- объединение в каждой конфигурации изображений соответствующих участков поверхности объекта, подлежащего измерению, в координатной системе одного из опорных объектов с изображениями участков объекта, подлежащего измерению, снятыми и объединенными в предыдущих конфигурациях.
10. Способ по п.2, в котором снятое трехмерное изображение участка поверхности объекта, подлежащего измерению, получено триангуляционным способом с использованием структурированного света.
11. Система для измерения поверхности материального объекта, содержащая:
- по меньшей мере одно сканирующее устройство для съемки по меньшей мере одного изображения по меньшей мере участка поверхности объекта, подлежащего измерению, и для съемки по меньшей мере одного изображения по меньшей мере участка поверхности опорного объекта; и
- вычислительное устройство для преобразования снятых изображений участков поверхности объекта, подлежащего измерению, в координатную систему опорного объекта и для объединения снятых изображений участков поверхности объекта, подлежащего измерению, в координатной системе одного из опорного объекта.
12. Система по п.11, в которой снятые изображения участков поверхности объекта, подлежащего измерению, включают в себя трехмерные изображения.
13. Система по п.12, в которой снятые изображения участков поверхности объекта, подлежащего измерению, дополнительно включают в себя двухмерные изображения.
14. Система по п.12, в которой сканирующее устройство включает в себя поле обзора, которое дает возможность производить съемку изображения участка поверхности объекта, подлежащего измерению, в том же самом изображении, что и соответствующее изображение участка поверхности опорного объекта.
15. Система по п.12, в которой опорный объект содержит участок объекта, подлежащего измерению, который был измерен ранее, для определения некоторых опорных признаков.
16. Система по п.15, причем вычислительное устройство дополнительно объединяет снятое изображение участка поверхности объекта, подлежащего измерению, с изображением опорного объекта, причем объединенное изображение используется впоследствии в качестве опорного объекта для более поздних изображений участков поверхности объекта, подлежащего измерению.
17. Система по п.12, в которой сканирующие устройства снимают изображения участков поверхности объекта, подлежащего измерению, в полях обзора, которые полностью отделены от полей обзора, предназначенных для съемки изображений участков опорного объекта.
18. Система по п.12, дополнительно содержащая:
- множество сканирующих устройств, располагаемых в различных положениях относительно объекта, подлежащего измерению, таким образом, что каждое из сканирующих устройств имеет соответствующее первое поле обзора, охватывающее по меньшей мере участок этого объекта,
причем каждое из множества сканирующих устройств включает в себя опорный объект, имеющий определенные нанесенные на нем опорные признаки,
причем каждое из множества сканирующих устройств имеет соответствующее второе поле обзора для съемки по меньшей мере участка опорного объекта,
причем каждое из множества сканирующих устройств расположено относительно другого таким образом, что это второе поле обзора по меньшей мере одного из множества сканирующих устройств охватывает по меньшей мере участок поверхности опорного объекта другого сканирующего устройства;
- упомянутое множество сканирующих устройств выполнено с возможностью съемки изображений соответствующих участков поверхности объекта, подлежащего измерению, в первом поле обзора каждого из сканирующих устройств;
- упомянутое множество сканирующих устройств выполнено с возможностью съемки изображений соответствующих участков поверхности опорных объектов во втором поле обзора каждого из сканирующих устройств, которое направлено на соответствующие опорные объекты;
- вычислительное устройство выполнено с возможностью преобразования снятых изображений соответствующих участков поверхности объекта, подлежащего измерению, в общую опорную координатную систему одного из опорных объектов; и
- вычислительное устройство выполнено с возможностью объединения снятых изображений соответствующих участков поверхности объекта, подлежащего измерению, всех вместе в общей опорной координатной системе одного из опорных объектов.
19. Система по п.12, дополнительно содержащая:
- первое и второе сканирующие устройства, располагаемые в первой конфигурации относительно объекта, подлежащего измерению, таким образом, что каждое из сканирующих устройств имеет соответствующее первое поле обзора, охватывающее по меньшей мере участок поверхности объекта, подлежащего измерению,
причем каждое из сканирующих устройств включает в себя опорный объект, имеющий определенные нанесенные на нем опорные признаки,
причем каждое из сканирующих устройств имеет соответствующее второе поле обзора для съемки по меньшей мере участка поверхности опорного объекта,
причем сканирующие устройства расположены относительно друг друга таким образом, что второе поле обзора одного из сканирующих устройств охватывает по меньшей мере участок поверхности опорного объекта, расположенного на другом сканирующем устройстве,
- упомянутые сканирующие устройства выполнены с возможностью съемки изображений соответствующих участков поверхности объекта, подлежащего измерению, в первом поле обзора каждого из сканирующих устройств;
- упомянутые сканирующие устройства выполнены с возможностью съемки изображения соответствующего участка поверхности опорного объекта во втором поле обзора сканирующего устройства, которое направлено на соответствующий участок поверхности опорного объекта;
- вычислительное устройство выполнено с возможностью преобразования снятых изображений соответствующих участков поверхности объекта, подлежащего измерению, снятых в первой конфигурации, в координатную систему одного из опорных объектов;
- вычислительное устройство выполнено с возможностью объединения изображений соответствующих участков поверхности объекта, подлежащего измерению, снятых в первой конфигурации, в координатную систему одного из опорных объектов;
- сканирующие устройства выполнены с возможностью повторного поочередного перемещения одно за другим попеременным образом в различные конфигурации, и:
- сканирующие устройства выполнены с возможностью съемки в каждой конфигурации изображений соответствующих участков поверхности объекта, подлежащего измерению, в первом поле обзора каждого из сканирующих устройств;
- сканирующие устройства выполнены с возможностью съемки в каждой конфигурации изображения соответствующего участка поверхности опорных объектов во втором поле обзора сканирующего устройства, которое направлено на соответствующий участок поверхности опорного объекта;
- вычислительное устройство выполнено с возможностью преобразования в каждой конфигурации снятых изображений соответствующих участков поверхности объекта, подлежащего измерению, и снятых и объединенных изображений участков объекта, подлежащего измерению, предыдущих конфигураций в координатную систему одного из опорных объектов;
- вычислительное устройство выполнено с возможностью объединения в каждой конфигурации изображений соответствующих участков поверхности объекта, подлежащего измерению, в координатной системе одного из опорных объектов с изображениями участков объекта, подлежащего измерению, снятыми и объединенными в предыдущих конфигурациях.
20. Система по п.12, в которой снятое трехмерное изображение участка поверхности объекта, подлежащего измерению, получено триангуляционным способом с использованием структурированного света.
RU2010114239/28A 2007-09-12 2008-09-03 Система и способ для многокадровых поверхностных измерений формы объектов RU2010114239A (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/854,518 US20090067706A1 (en) 2007-09-12 2007-09-12 System and Method for Multiframe Surface Measurement of the Shape of Objects
US11/854,518 2007-09-12

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2010114239A true RU2010114239A (ru) 2011-10-20

Family

ID=40431866

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2010114239/28A RU2010114239A (ru) 2007-09-12 2008-09-03 Система и способ для многокадровых поверхностных измерений формы объектов

Country Status (13)

Country Link
US (1) US20090067706A1 (ru)
EP (1) EP2195608B1 (ru)
JP (1) JP2011506914A (ru)
KR (1) KR101600769B1 (ru)
CN (1) CN101939617B (ru)
AU (1) AU2008299201A1 (ru)
DK (1) DK2195608T3 (ru)
ES (1) ES2831013T3 (ru)
HU (1) HUE051730T2 (ru)
MX (1) MX2010002823A (ru)
PL (1) PL2195608T3 (ru)
RU (1) RU2010114239A (ru)
WO (1) WO2009035890A2 (ru)

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB0608841D0 (en) * 2006-05-04 2006-06-14 Isis Innovation Scanner system and method for scanning
US8582824B2 (en) * 2009-06-25 2013-11-12 Twin Coast Metrology Cell feature extraction and labeling thereof
DE102011011360A1 (de) * 2011-02-16 2012-08-16 Steinbichler Optotechnik Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der 3-D-Koordinaten eines Objekts und zum Kalibrieren eines Industrieroboters
DE102011114674C5 (de) 2011-09-30 2020-05-28 Steinbichler Optotechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der 3D-Koordinaten eines Objekts
US9691176B2 (en) 2011-11-17 2017-06-27 Techmed 3D Inc. Method and system for forming a virtual model of a human subject
GB2502149B (en) * 2012-05-18 2017-01-18 Acergy France SAS Improvements relating to pipe measurement
TWI510082B (zh) * 2012-06-06 2015-11-21 Etron Technology Inc 用於影像辨識之影像擷取方法及其系統
CN103438803B (zh) * 2013-09-18 2015-10-28 苏州晓创光电科技有限公司 计算机视觉技术跨视场精确测量矩形零件尺寸的方法
CN107073936B (zh) * 2014-05-20 2019-12-13 维罗斯-纯粹数字有限公司 打印系统及方法
JP6376887B2 (ja) * 2014-08-08 2018-08-22 キヤノン株式会社 3dスキャナ、3dスキャン方法、コンピュータプログラム、記録媒体
CN107690303B (zh) * 2015-06-04 2021-11-05 惠普发展公司,有限责任合伙企业 用于生成三维模型的计算设备和方法
CN105652330B (zh) * 2015-12-25 2018-06-26 同方威视技术股份有限公司 便携式背散射成像检查设备及成像方法
CN105823416B (zh) * 2016-03-04 2019-01-15 大族激光科技产业集团股份有限公司 多相机测量物体的方法和装置
US10839856B2 (en) 2016-03-09 2020-11-17 Kyle Quinton Beatch Systems and methods for generating compilations of photo and video data
EP3436773B1 (en) 2016-04-01 2021-04-28 Lego A/S Toy scanner
EP3252458A1 (en) * 2016-06-01 2017-12-06 Hijos de Jose Sivo, S.L. System and method for digitalizing tridimensional objects
LU100021B1 (en) 2017-01-13 2018-07-30 Adapttech Ltd Socket fitting system
US10122997B1 (en) * 2017-05-03 2018-11-06 Lowe's Companies, Inc. Automated matrix photo framing using range camera input
KR101881702B1 (ko) * 2017-08-18 2018-07-24 성균관대학교산학협력단 애드-온 렌즈 어셈블리의 설계 방법 및 장치
TWI699756B (zh) * 2017-09-13 2020-07-21 國立清華大學 基於彈性特徵影像尺的定位量測系統
CN108347561B (zh) * 2017-10-27 2020-01-03 广东康云多维视觉智能科技有限公司 激光引导扫描系统及扫描方法
EP4180762A4 (en) * 2020-07-13 2023-12-20 Sony Group Corporation INFORMATION PROCESSING DEVICE, INFORMATION PROCESSING METHOD AND PROGRAM

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5129010A (en) * 1989-12-15 1992-07-07 Kabushiki Kaisha Toyoto Chuo Kenkyusho System for measuring shapes and dimensions of gaps and flushnesses on three dimensional surfaces of objects
JPH0996506A (ja) * 1995-09-29 1997-04-08 Ricoh Co Ltd 3次元視覚センサによる位置調整方法および3次元画像認識装置
JP3869876B2 (ja) * 1995-12-19 2007-01-17 キヤノン株式会社 画像計測方法及び画像計測装置
US6081273A (en) * 1996-01-31 2000-06-27 Michigan State University Method and system for building three-dimensional object models
ATE248409T1 (de) * 1998-04-13 2003-09-15 Eyematic Interfaces Inc Wavelet-basierte gesichtsbewegungserfassung für avataranimation
US6272231B1 (en) * 1998-11-06 2001-08-07 Eyematic Interfaces, Inc. Wavelet-based facial motion capture for avatar animation
US6301370B1 (en) * 1998-04-13 2001-10-09 Eyematic Interfaces, Inc. Face recognition from video images
JP2001082941A (ja) * 1999-09-16 2001-03-30 Gen Tec:Kk キャリブレーション用3次元パターン
CA2306515A1 (en) * 2000-04-25 2001-10-25 Inspeck Inc. Internet stereo vision, 3d digitizing, and motion capture camera
US7414732B2 (en) * 2000-05-16 2008-08-19 Steinbichler Optotechnik Gmbh Method and device for determining the 3D profile of an object
JP2003042732A (ja) * 2001-08-02 2003-02-13 Topcon Corp 表面形状測定装置及びその方法、表面形状測定プログラム、並びに表面状態図化装置
US6781618B2 (en) 2001-08-06 2004-08-24 Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc. Hand-held 3D vision system
US6901132B2 (en) * 2003-06-26 2005-05-31 General Electric Company System and method for scanning an object in tomosynthesis applications
JP4378128B2 (ja) * 2003-07-23 2009-12-02 照明 與語 3次元形状測定方法
US20050089213A1 (en) * 2003-10-23 2005-04-28 Geng Z. J. Method and apparatus for three-dimensional modeling via an image mosaic system
JP3779308B2 (ja) * 2004-07-21 2006-05-24 独立行政法人科学技術振興機構 カメラ校正システム及び三次元計測システム
AU2006222458B2 (en) 2005-03-11 2011-06-02 Creaform Inc. Auto-referenced system and apparatus for three-dimensional scanning
JP4737668B2 (ja) * 2005-05-30 2011-08-03 コニカミノルタセンシング株式会社 3次元計測方法および3次元計測システム
US20070065004A1 (en) * 2005-08-01 2007-03-22 Topcon Corporation Three-dimensional measurement system and method of the same, and color-coded mark
US8625854B2 (en) 2005-09-09 2014-01-07 Industrial Research Limited 3D scene scanner and a position and orientation system

Also Published As

Publication number Publication date
CN101939617B (zh) 2016-11-16
ES2831013T3 (es) 2021-06-07
MX2010002823A (es) 2010-06-30
KR20100087089A (ko) 2010-08-03
EP2195608A2 (en) 2010-06-16
EP2195608B1 (en) 2020-08-12
KR101600769B1 (ko) 2016-03-08
PL2195608T3 (pl) 2021-02-08
AU2008299201A1 (en) 2009-03-19
WO2009035890A3 (en) 2010-08-12
HUE051730T2 (hu) 2021-03-29
DK2195608T3 (da) 2020-11-09
WO2009035890A2 (en) 2009-03-19
EP2195608A4 (en) 2015-08-26
CN101939617A (zh) 2011-01-05
JP2011506914A (ja) 2011-03-03
US20090067706A1 (en) 2009-03-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2010114239A (ru) Система и способ для многокадровых поверхностных измерений формы объектов
US20120281087A1 (en) Three-dimensional scanner for hand-held phones
DK2993450T3 (en) Method and arrangement for recording acoustic and optical information as well as a corresponding computer program and a corresponding computer-readable storage medium
WO2008079301A3 (en) Methods and apparatus for 3d surface imaging using active wave-front sampling
JP6302414B2 (ja) 複数の光源を有するモーションセンサ装置
WO2012142062A3 (en) Six degree-of-freedom laser tracker that cooperates with a remote structured-light scanner
CA2945256C (en) Fringe projection for in-line inspection
JP2014044078A (ja) 動物体の体重推定装置、及び体重推定方法
JP2011244058A5 (ru)
JP2011027724A5 (ru)
JP2014169939A5 (ru)
JP5669071B2 (ja) 時間相関カメラ
JP6590339B2 (ja) 計測方法、計測装置、計測プログラム及び計測プログラムを記録した、コンピュータ読み取り可能な記録媒体
EP2869092A3 (en) System and method for underwater distance measurement
TW201132925A (en) Measuring system for a 3D profile of object
KR20110089021A (ko) 3차원 위치 정보 획득 장치 및 방법
JP2006177781A (ja) 3次元形状計測方法並びに3次元形状計測装置、3次元形状計測用プログラム
CN107466356A (zh) 测量方法、测量装置、测量程序以及记录了测量程序的计算机可读取记录介质
CN102721404A (zh) 使用数码摄像头的非接触式测距装置及测量方法
JP3629532B2 (ja) 連続移動物体のリアルタイム形状計測方法及びシステム
DE602004011093D1 (de) Einrichtung zum scannen dreidimensionaler objekte
TW201042236A (en) Method for measuring three-dimensional shape
JP2010256296A (ja) 全方位3次元空間認識入力装置
JP2015523108A5 (ru)
RU2017104849A (ru) Устройство для оптической идентификации пола убойной свиньи

Legal Events

Date Code Title Description
FA92 Acknowledgement of application withdrawn (lack of supplementary materials submitted)

Effective date: 20150128

FZ9A Application not withdrawn (correction of the notice of withdrawal)

Effective date: 20160128