RU2006113408A - Устройство для измерения времени жизни неосновных носителей заряда в полупроводниках - Google Patents
Устройство для измерения времени жизни неосновных носителей заряда в полупроводниках Download PDFInfo
- Publication number
- RU2006113408A RU2006113408A RU2006113408/28A RU2006113408A RU2006113408A RU 2006113408 A RU2006113408 A RU 2006113408A RU 2006113408/28 A RU2006113408/28 A RU 2006113408/28A RU 2006113408 A RU2006113408 A RU 2006113408A RU 2006113408 A RU2006113408 A RU 2006113408A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- resonator
- open
- oscillator
- semiconductors
- charge carriers
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
Claims (3)
1. Устройство для измерения времени жизни неосновных носителей заряда в полупроводниках, включающее осциллятор высокочастотных электромагнитных колебаний, открытый резонатор электромагнитных колебаний со встроенным в него световодом для подвода светового пучка к поверхности полупроводника, циркулятор, детекторный блок, полупроводниковый лазер, сопряженный со световодом, для генерации электронно-дырочных пар в объеме полупроводника, блок формирования и блок регистрации выходного сигнала с применением компьютера, отличающееся тем, что применяется открытый резонатор, представляющий собой открытый с одного торца отрезок волновода, имеющего прямоугольный выступ переменной высоты, который в сечении образует излучающую прямоугольную щель в плоскости открытого торца резонатора.
2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что осциллятор, световод, резонатор, предварительный усилитель полезного сигнала объединены в единый блок, соединенный гибким кабелем с управляющим и отображающим информацию компьютером.
3. Устройство по п.1, отличающееся тем, что в осцилляторе применяется малошумящий высокочастотный транзистор.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2006113408/28A RU2318218C1 (ru) | 2006-04-21 | 2006-04-21 | Устройство для измерения времени жизни неосновных носителей заряда в полупроводниках |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2006113408/28A RU2318218C1 (ru) | 2006-04-21 | 2006-04-21 | Устройство для измерения времени жизни неосновных носителей заряда в полупроводниках |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2006113408A true RU2006113408A (ru) | 2007-10-27 |
| RU2318218C1 RU2318218C1 (ru) | 2008-02-27 |
Family
ID=38955553
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2006113408/28A RU2318218C1 (ru) | 2006-04-21 | 2006-04-21 | Устройство для измерения времени жизни неосновных носителей заряда в полупроводниках |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2318218C1 (ru) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2451298C1 (ru) * | 2011-01-12 | 2012-05-20 | ООО Научно-производственная фирма "ЭЛЕКТРОН" | Устройство для измерения времени жизни неосновных носителей заряда в полупроводниках |
| RU2484551C1 (ru) * | 2012-01-31 | 2013-06-10 | Закрытое Акционерное Общество "ТЕЛЕКОМ-СТВ" | Способ измерения времени жизни неосновных носителей заряда в кремнии |
| RU2486629C1 (ru) * | 2012-01-31 | 2013-06-27 | Закрытое Акционерное Общество "ТЕЛЕКОМ-СТВ" | Способ контроля времени жизни неосновных носителей заряда в слитках кремния |
-
2006
- 2006-04-21 RU RU2006113408/28A patent/RU2318218C1/ru not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| RU2318218C1 (ru) | 2008-02-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US10895542B2 (en) | Methods and apparatus for optically detecting magnetic resonance | |
| Patimisco et al. | Quartz–enhanced photoacoustic spectrophones exploiting custom tuning forks: a review | |
| US20210208108A1 (en) | Devices and methods for quartz enhanced photoacoustic spectroscopy | |
| CN105509926B (zh) | 光路耦合装置及荧光温度传感光学系统 | |
| CN105899120B (zh) | 光的扫描轨迹的计算方法以及光扫描装置 | |
| JP2013521504A (ja) | 気体または液体の媒体中の分析対象種の光音響的な識別および定量化のための方法および装置 | |
| US8009520B2 (en) | Method and system for operating an atomic clock using a self-modulated laser with electrical modulation | |
| US20130153778A1 (en) | Crystalline quality evaluation apparatus for thin-film semiconductors, using +82 -pcd technique | |
| RU2006113408A (ru) | Устройство для измерения времени жизни неосновных носителей заряда в полупроводниках | |
| US20080238419A1 (en) | Magnetic field measuring apparatus capable of measuring at high spatial resolution | |
| CN103884418B (zh) | 基于声激励的音叉式石英晶振谐振频率的测量方法及装置 | |
| JP2007178274A5 (ru) | ||
| ATE442571T1 (de) | Elektrooptisches distanzhandmessgerät | |
| WO2018010701A1 (zh) | 一种光纤传感器及其声波探测应用方法 | |
| CN107453203A (zh) | 一种用于半导体激光器的小型化饱和吸收光谱装置 | |
| CN103471998A (zh) | 超声材料反射和透射系数激光测量系统 | |
| CN105627857A (zh) | 卷尺 | |
| JP2010281700A (ja) | テラヘルツ波の時間波形を取得するための装置及び方法 | |
| CN201514381U (zh) | 带表面增强取样器的激光拉曼光谱仪 | |
| CN105424220A (zh) | 一种基于表面等离激元的温度传感器 | |
| JP2005318462A (ja) | 音響電気変換素子 | |
| BR112013031872A2 (pt) | conjunto de espectroscopia para ressonância magnética | |
| CN103760135A (zh) | V型能级结构原子的速度转移激光光谱测量装置及方法 | |
| CN205483325U (zh) | 光路耦合装置及荧光温度传感光学系统 | |
| KR200476111Y1 (ko) | 광에너지 스타일러스 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20160422 |