Claims (7)
1. Способ тестирования блока (1) питания, включающего в себя управляющий электрод (12), эмиттер (11), коллектор (10), по меньшей мере один силовой компонент (3) на диэлектрической подложке (5) и диод (4), который соединен встречно-параллельно с силовым компонентом (3), отличающийся тем, что с его использованием измеряют частичные разряды, возникающие между эмиттером (11) и коллектором (10), когда источник переменного напряжения, совмещенный с источником постоянного напряжения, подсоединяют между коллектором (10) и эмиттером (11) блока питания, при этом напряжение Vтест, принимаемое блоком (1) питания между коллектором (10) и эмиттером (11), постоянно удовлетворяет условию Vтест>0, так что диод (4) никогда не проводит ток, и силовой компонент (3) поддерживают в выключенном состоянии в ходе тестирования при помощи источника постоянного напряжения, подключенного между управляющим электродом (12) и эмиттером (11).1. A method for testing a power supply unit (1) including a control electrode (12), an emitter (11), a collector (10), at least one power component (3) on a dielectric substrate (5), and a diode (4), which is connected in parallel with the power component (3), characterized in that with its use, partial discharges occurring between the emitter (11) and the collector (10) are measured when the AC voltage source combined with the DC voltage source is connected between the collector ( 10) and the emitter (11) of the power supply, while the voltage of the V test, the receiving unit (1) power between the manifold (10) and emitter (11) constantly satisfies V test> 0, so that diode (4) is never conducts current, and the power component (3) is maintained in the OFF state during testing using a constant voltage source connected between the control electrode (12) and the emitter (11).
2. Способ по п.1 тестирования блока (1) питания, включающего в себя множество эмиттеров (11), множество коллекторов (10), общий управляющий электрод (12), множество силовых компонентов (3), соединенных параллельно, и диод (4), который соединен встречно-параллельно с каждым силовым компонентом (3), отличающийся тем, что с его использованием измеряют частичные разряды, возникающие между эмиттерами (11), которые электрически соединены друг с другом, и коллекторами (10), которые электрически соединены друг с другом, когда источник переменного напряжения, совмещенный с источником постоянного напряжения, подсоединяют между эмиттерами (11) и коллекторами (10) блока питания, при этом напряжение Vтест принимаемое блоком (1) питания между коллекторами (10) и эмиттерами (11), постоянно удовлетворяет условию Vтест>0, так что диоды (4) никогда не проводят ток, и блоки (3) питания поддерживают в ходе тестирования в выключенном состоянии при помощи источника постоянного напряжения, подключенного между общим управляющим электродом (12) и эмиттерами (11).2. The method according to claim 1, testing the power supply unit (1), which includes many emitters (11), many collectors (10), a common control electrode (12), many power components (3) connected in parallel, and a diode (4 ), which is connected counter-parallel with each power component (3), characterized in that with its use, partial discharges occurring between emitters (11), which are electrically connected to each other, and collectors (10), which are electrically connected to each other, are measured with a friend when an ac voltage source When connected to a constant voltage source, it is connected between the emitters (11) and collectors (10) of the power supply, while the voltage V test received by the power supply unit (1) between the collectors (10) and emitters (11) constantly satisfies the condition V test > 0, so that the diodes (4) never conduct current, and the power supply units (3) are kept off during testing using a constant voltage source connected between a common control electrode (12) and emitters (11).
3. Способ по п.1 или 2 тестирования блока питания, отличающийся тем, что силовыми компонентами (3) являются биполярные транзисторы с изолированным управляющим электродом.3. The method according to claim 1 or 2, testing the power supply, characterized in that the power components (3) are bipolar transistors with an isolated control electrode.
4. Устройство для тестирования блока (1) питания для осуществления способа по любому из пп.1-3, отличающееся тем, что оно содержит два вывода (31, 32), приспособленных для подключения к источнику переменного напряжения, совмещенному с источником постоянного напряжения, и средство (21) для измерения частичных разрядов между двумя выводами (31, 32), а также тем, что напряжение Vтест между выводами (31) и (32) постоянно удовлетворяет условию Vтест >0.4. A device for testing a power supply unit (1) for implementing the method according to any one of claims 1 to 3, characterized in that it contains two terminals (31, 32) adapted to be connected to an AC voltage source combined with a DC voltage source, and means (21) for measuring partial discharges between two terminals (31, 32), as well as the fact that the voltage V test between terminals (31) and (32) constantly satisfies the condition V test > 0.
5. Устройство для тестирования по п.4, отличающееся тем, что два вывода (31, 32) приспособлены для подключения к генератору (34) постоянного напряжения, соединенному последовательно с генератором (33) переменного напряжения.5. A testing device according to claim 4, characterized in that the two terminals (31, 32) are adapted to be connected to a constant voltage generator (34) connected in series with the alternating voltage generator (33).
6. Устройство для тестирования по п.4, отличающееся тем, что два вывода (31, 32) приспособлены для подключения к генератору (34) постоянного напряжения, соединенному параллельно с генератором (33) переменного тока.6. A testing device according to claim 4, characterized in that the two terminals (31, 32) are adapted to be connected to a constant voltage generator (34) connected in parallel with an alternating current generator (33).
7. Устройство для тестирования по любому из пп.1-6, отличающееся тем, что выводы (31, 32) электропитания соединены, соответственно, с первой цепью (13) для соединения между собой разных коллекторов (10) блока (1) питания и со второй цепью (14) для соединения между собой разных эмиттеров (11) блока (1) питания.7. A testing device according to any one of claims 1 to 6, characterized in that the power supply terminals (31, 32) are connected, respectively, to the first circuit (13) for interconnecting different collectors (10) of the power supply unit (1) and with a second circuit (14) for interconnecting different emitters (11) of the power unit (1).