RU178417U1 - Магнитный структуроскоп - Google Patents

Магнитный структуроскоп Download PDF

Info

Publication number
RU178417U1
RU178417U1 RU2017122880U RU2017122880U RU178417U1 RU 178417 U1 RU178417 U1 RU 178417U1 RU 2017122880 U RU2017122880 U RU 2017122880U RU 2017122880 U RU2017122880 U RU 2017122880U RU 178417 U1 RU178417 U1 RU 178417U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
magnetic
magnetic field
sensor
magnetizing device
structuroscope
Prior art date
Application number
RU2017122880U
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Анатольевич Захаров
Сергей Михайлович Молин
Сергей Викторович Леньков
Владимир Алексеевич Колясев
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки " Удмуртский федеральный исследовательский центр Уральского отделения Российской академии наук" (УдмФИЦ УрО РАН)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное учреждение науки " Удмуртский федеральный исследовательский центр Уральского отделения Российской академии наук" (УдмФИЦ УрО РАН) filed Critical Федеральное государственное бюджетное учреждение науки " Удмуртский федеральный исследовательский центр Уральского отделения Российской академии наук" (УдмФИЦ УрО РАН)
Priority to RU2017122880U priority Critical patent/RU178417U1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU178417U1 publication Critical patent/RU178417U1/ru

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)

Abstract

Полезная модель относится к области определения структуры ферромагнитных материалов путем исследования их магнитных характеристик и может быть использована для определения механических свойств и напряженно-деформированного состояния изделий из ферромагнитных материалов. Магнитный структуроскоп содержит корпус с установленными на нем двухполюсным намагничивающим устройством на постоянных магнитах и датчиком магнитного поля, расположенным между его полюсами, при этом он дополнительно снабжен источником постоянного магнитного поля в виде постоянного магнита, расположенным вблизи датчика магнитного поля, с направлением магнитного потока в месте расположения датчика, совпадающим с направлением потока от намагничивающего устройства. Технический результат – упрощение аппаратуры и повышение достоверности измерений. 1 ил.

Description

Полезная модель относится к области определения структуры ферромагнитных материалов путем исследования их магнитных характеристик и может быть использована для определения механических свойств и напряженно-деформированного состояния изделий из ферромагнитных материалов.
Известен магнитный структуроскоп, содержащий двухполюсное намагничивающее устройство, выполненное на основе постоянного магнита, и датчик магнитного поля, расположенный между его полюсами, с осью чувствительности, перпендикулярной нейтральной плоскости намагничивающего устройства (патент РФ на полезную модель №162212, 2016).
Недостатком данного устройства является сложность конструкции, а также низкая достоверность контроля, обусловленные наличием в магнитной цепи устройства ферромагнитного элемента (магнитопровода) с нелинейными магнитными характеристиками.
Наиболее близким к предлагаемому устройству техническим решением является магнитный структуроскоп, содержащий корпус с установленными на нем двухполюсным намагничивающим устройством в виде двух постоянных магнитов без ферромагнитного магнитопровода с антипараллельными направлениями магнитных потоков, перпендикулярными рабочей поверхности структуроскопа, и датчиком магнитного поля, расположенным между его полюсами (патент РФ на полезную модель №166304, 2016 - прототип). Намагничивающее устройство с датчиком магнитного поля выполнены с возможностью поворота относительно корпуса вокруг оси, лежащей в нейтральной плоскости намагничивающего устройства и перпендикулярной рабочей поверхности структуроскопа.
Недостатком известного устройства является низкая достоверность измерений из-за высоких значений напряженности магнитного поля, а также сложность аппаратуры из-за необходимости дополнительных преобразований полезного сигнала.
Техническим результатом предлагаемого устройства является упрощение аппаратуры и повышение достоверности измерений.
Указанный технический результат достигается тем, что магнитный структуроскоп, содержащий корпус с установленными на нем двухполюсным намагничивающим устройством на постоянных магнитах и датчиком магнитного поля, расположенным между его полюсами, согласно предложению, дополнительно снабжен источником постоянного магнитного поля в виде постоянного магнита, расположенным вблизи датчика магнитного поля, с направлением магнитного потока в месте расположения датчика, совпадающим с направлением потока от намагничивающего устройства.
Введение в устройство источника постоянного магнитного поля, расположенного вблизи датчика магнитного поля, с направлением магнитного потока в месте расположения датчика, совпадающим с направлением потока от намагничивающего устройства, позволяет повысить точность измерений и достоверность контроля за счет снижения предельных значений напряженности магнитного поля и оптимизации режима измерений датчика. Выполнение источника магнитного поля в виде постоянного магнита обеспечивает упрощение источника и снижение энергозатрат по сравнению с источником магнитного поля в виде электрической катушки, соединенной с источником постоянного тока.
Полезная модель поясняется фигурой, на которой показана схема структуроскопа.
Магнитный структуроскоп (фигура) содержит корпус из немагнитного материала (на фигуре не показан), на котором установлены двухполюсное намагничивающее устройство в виде двух постоянных магнитов 1, датчик 2 магнитного поля и источник постоянного магнитного поля в виде постоянного магнита 3 (направления намагниченностей магнитов 1 и 3 показаны стрелками). Датчик 2 магнитного поля расположен между полюсами магнитов 1 со стороны рабочей поверхности структуроскопа (поверхности, взаимодействующей с поверхностью контролируемого ферромагнитного изделия 4). Центр датчика расположен в нейтральной плоскости (плоскости симметрии на фигуре) намагничивающего устройства с осью чувствительности, перпендикулярной указанной плоскости (параллельно оси X на фигуре). Магнит 3 расположен вблизи датчика 2 со стороны постоянных магнитов 1 и ориентирован так, что направление его магнитного потока в месте расположения датчика совпадает с направлением потока от постоянных магнитов, как показано на фигуре.
Магнитный структуроскоп работает следующим образом. При установке структуроскопа на контролируемое изделие 4 (фигура) происходит его намагничивание под действием постоянных магнитов 1 двухполюсного намагничивающего устройства.
При этом напряженность Н суммарного магнитного поля в месте расположения датчика 2 образуется за счет следующих векторов: Не - напряженность внешнего магнитного поля (поля постоянных магнитов 1); Ни - напряженность магнитного поля, создаваемая намагниченным изделием и пропорциональная его намагниченности М; Нм - напряженность магнитного поля, создаваемая постоянным магнитом 3. При этом
показания прибора определяются выражением: Н=Нием. По величине Н определяют структуру ферромагнитного материала контролируемого изделия и связанные (коррелирующие) с ней механические свойства или напряженно-деформированное состояние объектов.
Как видно из фигуры, за счет воздействия магнита 3 на датчик 2 суммарная напряженность поля H может быть снижена до малых значений и, при необходимости, до отрицательных величин. Такое смещение показаний прибора обеспечивает удобство измерения и обработки сигнала, возможность выбора датчиков магнитного поля с требуемыми характеристиками, что повышает достоверность контроля изделий.
Намагничивающее устройство с датчиком магнитного поля могут быть выполнены с возможностью поворота относительно неподвижного корпуса вокруг оси, лежащей в нейтральной плоскости намагничивающего устройства и перпендикулярной рабочей поверхности структуроскопа (оси У на фигуре). Такая конструкция позволяет проводить процедуру измерения напряженности Н магнитного поля по различным направлениям при неподвижном корпусе, установленном на контролируемое изделие. Это упрощает процесс определения магнитной анизотропии и проведения магнитной тренировки материала изделия в месте расположения структуроскопа.

Claims (1)

  1. Магнитный структуроскоп, содержащий корпус с установленными на нем двухполюсным намагничивающим устройством на постоянных магнитах и датчиком магнитного поля, расположенным между его полюсами, отличающийся тем, что он дополнительно снабжен источником постоянного магнитного поля в виде постоянного магнита, расположенным вблизи датчика магнитного поля, с направлением магнитного потока в месте расположения датчика, совпадающим с направлением потока от намагничивающего устройства.
RU2017122880U 2017-06-27 2017-06-27 Магнитный структуроскоп RU178417U1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2017122880U RU178417U1 (ru) 2017-06-27 2017-06-27 Магнитный структуроскоп

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2017122880U RU178417U1 (ru) 2017-06-27 2017-06-27 Магнитный структуроскоп

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU178417U1 true RU178417U1 (ru) 2018-04-03

Family

ID=61867880

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2017122880U RU178417U1 (ru) 2017-06-27 2017-06-27 Магнитный структуроскоп

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU178417U1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU202681U1 (ru) * 2020-06-15 2021-03-02 Владимир Анатольевич Захаров Магнитный структуроскоп

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5293117A (en) * 1992-05-14 1994-03-08 Western Atlas International, Inc. Magnetic flaw detector for use with ferromagnetic small diameter tubular goods using a second magnetic field to confine a first magnetic field
WO2002025260A2 (en) * 2000-09-21 2002-03-28 Southwest Research Institute Method for inspecting electric resistance welds using magnetostrictive sensors
RU2442151C2 (ru) * 2010-03-01 2012-02-10 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный университет приборостроения и информатики" Способ выявления подповерхностных дефектов в ферромагнитных объектах
RU166304U1 (ru) * 2016-06-27 2016-11-20 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт Уральского отделения Российской академии наук Магнитный структуроскоп

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5293117A (en) * 1992-05-14 1994-03-08 Western Atlas International, Inc. Magnetic flaw detector for use with ferromagnetic small diameter tubular goods using a second magnetic field to confine a first magnetic field
WO2002025260A2 (en) * 2000-09-21 2002-03-28 Southwest Research Institute Method for inspecting electric resistance welds using magnetostrictive sensors
RU2442151C2 (ru) * 2010-03-01 2012-02-10 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный университет приборостроения и информатики" Способ выявления подповерхностных дефектов в ферромагнитных объектах
RU166304U1 (ru) * 2016-06-27 2016-11-20 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт Уральского отделения Российской академии наук Магнитный структуроскоп

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU202681U1 (ru) * 2020-06-15 2021-03-02 Владимир Анатольевич Захаров Магнитный структуроскоп

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107085192B (zh) 一种在开磁路中测量铁磁材料磁滞回线的方法及其装置
CN106290553A (zh) 一种新型检测钢丝绳缺陷的电磁传感器系统
CN102968845A (zh) 一种被磁偏置的敏感方向平行于检测面的验钞磁头
JP6300506B2 (ja) 可変磁気コレクタを使用する位置センサ
CN203299362U (zh) 饱和磁化强度的测量装置
RU178417U1 (ru) Магнитный структуроскоп
CN103712637A (zh) 磁约束脉冲涡流检测方法与装置
RU166304U1 (ru) Магнитный структуроскоп
CN112444219B (zh) 一种非接触超声电磁涂层测厚方法及其检测装置
RU173646U1 (ru) Магнитный структуроскоп
US9816888B2 (en) Sensor and method for detecting a position of an effective surface of the sensor
CN203259636U (zh) 微弱磁场测量装置
CN106125021B (zh) 一种正交偏置磁场下导磁材料特性的测量方法
RU178425U1 (ru) Датчик частоты вращения
RU2421747C1 (ru) Прибор для исследования магнитного силового взаимодействия
KR101300028B1 (ko) 박막 직교형 플럭스게이트 센서 소자
CN113296035B (zh) 一种磁场检测组件、一种铁磁性及磁性材料探测器
SU667922A1 (ru) Индуктор-приемник магнитных шумов баркгаузена
RU2601281C1 (ru) Магниторезистивный датчик тока
RU2492459C1 (ru) Магнитоупругий датчик для определения механических напряжений в ферромагнитных материалах
CN103308872A (zh) 组合式磁场传感器及微弱磁场测量装置
RU111686U1 (ru) Датчик коэрцитиметра
RU162212U1 (ru) Магнитный структуроскоп
SU823839A1 (ru) Электромагнитный преобразовательМЕХАНичЕСКиХ НАпР жЕНий
SU1580452A1 (ru) Устройство дл контрол скорости перемещени электропроводных объектов