RU1774295C - Device for sorting-out electronic devices - Google Patents
Device for sorting-out electronic devicesInfo
- Publication number
- RU1774295C RU1774295C SU904870172A SU4870172A RU1774295C RU 1774295 C RU1774295 C RU 1774295C SU 904870172 A SU904870172 A SU 904870172A SU 4870172 A SU4870172 A SU 4870172A RU 1774295 C RU1774295 C RU 1774295C
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- input
- output
- block
- bus
- outputs
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к электронной технике и может быть использовано дл автоматизации испытаний, тренировки и разбраковки по электрическим параметрам, например по статическому и динамическому напр жению пробо электронных приборов (разр дников, стабилитронов и т.д.). Сущность изобретени : устройство содержит п источников питани , п коммутаторов, п чеек регистрации, матрицу-кассету, генератор , два двоичных счетчика, два блока пам ти внутреннего управл ющего цикла и внешнего управл ющего цикла, блок индикации , блоки выбора горизонталей и вертикалей , блок разбраковки. 2 з.п, ф-лы, 2 ил,The invention relates to electronic equipment and can be used to automate testing, training and sorting by electrical parameters, for example, by static and dynamic voltage, the breakdown of electronic devices (dischargers, zener diodes, etc.). SUMMARY OF THE INVENTION: the device comprises n power supplies, n commutators, registration points, matrix-cassette, generator, two binary counters, two memory blocks of the internal control cycle and external control cycle, display unit, horizontal and vertical selection blocks, block sorting out. 2 s.p., f-ly, 2 silt,
Description
Изобретение относитс к электронной технике и может быть использовано дл автоматизации испытани , например, на долговечность , тренировки и разбраковки по электрическим параметрам, например по статическому и динамическому напр жению пробо электронных приборов, в частности разр дников, стабилитронов и т.д.The invention relates to electronic equipment and can be used to automate testing, for example, durability, training and sorting by electrical parameters, for example, static and dynamic voltage breakdown of electronic devices, in particular dischargers, zener diodes, etc.
Известно устройство дл контрол напр жени зажигани электронных приборов , содержащее генератор пилообразного напр жени , ограничительный резистор и клеммы дл подключени испытуемого прибора (Электронна техника, сери 3. Газоразр дные приборы Вып 3 (15), 1969, с. 153).A device for controlling the ignition voltage of electronic devices is known, comprising a sawtooth generator, a limiting resistor, and terminals for connecting the device under test (Electronic Technology, Series 3. Gas Discharge Devices Issue 3 (15), 1969, p. 153).
Однако это устройство имеет недостаточную достоверность разбраковки, так как осуществл етс только контроль напр жени зажигани или статического напр жени пробо при посто нно присутствующем операторе.However, this device has insufficient reliability of the sorting, since only the control of the ignition voltage or the static voltage of the breakdown is carried out with the operator constantly present.
Известно устройство дл разбраковки электронных приборов, содержащее генератор пилообразного напр жени , ограничительный резистор, клеммы дл подключени испытуемого прибора и исполнительный механизм, в который введены п источников посто нного напр жени , п коммутаторов и п чеек регистрации, при этом к генератору пилообразного напр жени последовательно подключены источники напр жени , каждый из которых соединен через резистор, диод и коммутатор с соответствующей чейкой регистрации , соединенной через коммутатор с исполнительным механизмом, св занным с клеммами дл подключени испытуемого прибора (авт. св. СССР № 763820, кл. G 01 R 31/24).A device for sorting electronic devices is known, comprising a sawtooth voltage generator, a terminating resistor, terminals for connecting the device under test and an actuator into which p constant voltage sources, n switches and registration points are introduced, while in series with a sawtooth voltage generator voltage sources are connected, each of which is connected through a resistor, a diode and a switch with a corresponding registration cell connected through a switch to an executor nym mechanism associated with the terminals for connecting the test device (auth. binding. USSR № 763820, cl. G 01 R 31/24).
Недостатком известного устройства вл етс недостаточна достоверность разбраковки, потому что оно предназначено только дл разбраковки по статическому напр жению пробо , между тем как в подавл ющем большинстве случаев при изготовлении изделий электронной техники кроме разбоаковки по статическому напр жению пробо требуетс автоматизированна разбраковка по всем следующим друг заA disadvantage of the known device is the lack of reliability of the sorting, because it is intended only for sorting according to the static voltage of the sample, while in the vast majority of cases, in the manufacture of electronic products, apart from the unpacking of the static voltage, the sample requires automated sorting according to all the following
(Л(L
СWITH
j -чj -h
|ь to о| b to about
(Л(L
другом операци м технологического цикла, например, после тренировки, испытани , измерени динамического напр жени пробо .other operations of the technological cycle, for example, after training, testing, measuring the dynamic voltage of the sample.
Невозможность проведени на известном устройстве разбраковки по динамическому напр жению пробо объ сн етс инерционностью исполнительного механизма , который должен за врем действи импульга динамического пробо - единицы микросекунд переместитьс на п позиций, ч го невозможно даже теоретически. На из - вестном устройстве невозможна также тренировка и испытание, например, на долговечность так как дл этого требуютс источники испытательного напр жени с вполне определенными параметрами и совершенно иным алгоритмом работы всего устройства, которые в известном техническом решении отсутствуют.The impossibility of performing a breakdown on a known dynamic voltage breakdown device is explained by the inertia of the actuator, which, during the duration of the dynamic breakdown impulse - a few microseconds, moves by n positions, which is impossible even theoretically. It is also impossible to train and test, for example, durability on a known device, since this requires sources of test voltage with well-defined parameters and a completely different algorithm of operation of the entire device, which are absent in the known technical solution.
Недостатком известного устройства вл етс также невысока степень автоматизации из-за небольшого количества одновременно загружаемых испытуемых приборов, которое ограничиваетс необходимым количеством уровней напр жений, как правило, не более 5-7, по которым необходимо разбраковать приборы, а это создает необходимость посто нного присутстви оператора дл загрузки электронных приборов.A disadvantage of the known device is also a low degree of automation due to the small number of simultaneously loaded test devices, which is limited by the required number of voltage levels, usually no more than 5-7, on which it is necessary to sort the devices, and this creates the need for a constant presence of the operator for loading electronic devices.
Целью изобретени вл етс повышение достоверности разбраковки и повышение степени автоматизации устройства.The aim of the invention is to increase the reliability of the sorting and increase the degree of automation of the device.
Цель достигаетс гем. что в устройство дл разбраковки электронных приб юв, содержащее п коммутаторов, п чеек регистрации и п источников напр жени , введены многопозиционна Р х т-матрица-кассета, узел программного управлени и разбраковки , состо щий из соединенных между собой последовательно тактового генератора , первого двоичного счетчика, выходы которого соединены с адресными входами посто нного запоминающего устройства (ПЗУ) внутреннего управл ющего цикла, второго двоичного счетчика, выходы которого соединены с адресными входами ПЗУ внешнего управл ющего цикла, часть выходов которого соединена с индикаторами, схемы выбора m горизонталей и р вертикалей матрицы-кассеты, состо щей из последовательно соединенных между собой счетчика, дешифратора, индикаторов и ключей , точка общего соединени которых соединена с выходами п коммутаторов, а выходы этих ключей соединены соответственно с m горизонтал ми и р вертикал ми матрицы-кассеты, а также включающий в себ схему ИЛИ, оперативное запоминающее устройство (ОЗУ), схему И и ключи управлени и перевода всего устройства в режим разбраковки, причем часть выходов ПЗУ внешнего управл ющего цикла сое дийена с адресными входами ПЗУ внутреннего управл ющего цикла втора часть выходов ПЗУ внешнего управл ющего.цикла соединена с входами управлени ключами п коммутаторов и п индикаторов, выходы этихThe goal is reached by heme. that a multi-position P x matrix-cassette, a program control and rejection unit, consisting of a clock, a first binary, connected to each other in series, are introduced into the device for sorting electronic devices containing n switches, p registration points and n voltage sources a counter whose outputs are connected to the address inputs of a read-only memory (ROM) of the internal control cycle, a second binary counter, whose outputs are connected to the address inputs of a ROM of an external control a loop, the part of the outputs of which is connected to the indicators, the selection circuit of m horizontals and p verticals of the matrix-cassette, consisting of a counter, decoder, indicators and keys connected in series, the common connection point of which is connected to the outputs of the n switches, and the outputs of these keys are connected respectively with m horizontal and p verticals of the matrix-cartridge, as well as including an OR circuit, random access memory (RAM), an And circuit, and keys for controlling and putting the entire device into disassemble mode application, wherein the external portion of the ROM output control cycle soy diyena with address inputs of the ROM inner control loop second portion ROM outputs yuschego.tsikla external control connected to the control inputs of the keys and switches n n indicators outputs these
0 ключей соединены соответственное m горизонтал ми и р вертикал ми р х т-матрицы- кассеты, п выходов ПЗУ внутреннего управл ющего цикла соединены с соответствующими входами управлени п источни5 ков напр жени , втора часть выходов ПЗУ внутреннего управл ющего цикла соединена непосредственно и через схему И с входом управлени ОЗУ узла разбраковки, адресные входы которого соединены с0 keys are connected respectively by m horizontal and p verticals of the r x t-matrix-cassette, n outputs of the internal control loop ROM are connected to the corresponding control inputs and voltage sources, the second part of the internal control loop ROM outputs is connected directly and through the circuit And with the RAM control input of the rejection unit, the address inputs of which are connected to
0 двоичными счетчиками схем выбора m горизонталей и р вертикалей и с двоичным счетчиком внешнего управл ющего цикла, информационный вход ОЗУ соединен через схему ИЛИ с п чейками регистрации, ин5 формационный выход ОЗУ соединен через первый ключ узла разбраковки с входом запуска-останова тактового генератора, второй ключ разбраковки соединен с адресным входом ПЗУ внешнего управл ющего цикла,0 with binary counters of the selection circuits for m contour lines and p verticals and with a binary counter for the external control cycle, the RAM information input is connected via the OR circuit to the registration units, the RAM 5 information output is connected through the first key of the rejection unit to the start-stop input of the clock generator, the second the sorting key is connected to the address input of the ROM of the external control cycle,
0 а также через схему И с управл ющим входом ОЗУ, третий ключ узла разбраковки через конденсатор соединен с входом Сброс двоичных счетчиков внешнего и внутреннего управл ющего цикла и схем выбора гори5 зонталей и вертикалей матрицы-кассеты, причем каждый из п источников напр жени выполнен самосто тельным источником испытательного напр жени или тока с параметрами, установленными техноло0 гическим циклом, а кажда из п чеек регистрации - самосто тельной регистрирующей чейкой, позвол ющей контролировать соответствующее испытательное напр жение или ток.0 and also through the AND circuit with the control input of the RAM, the third key of the rejection unit through the capacitor is connected to the input Reset binary counters of the external and internal control cycle and the selection circuits for the 5 horizontal and vertical matrix-cassettes, each of the n voltage sources being made independently an independent source of test voltage or current with parameters set by the technological cycle, and each of the recording points - an independent recording cell, which allows controlling the corresponding test noe voltage or current.
5 Введение в устройство многопозицион- ной р х m-матрицы-кассеты дл загрузки испытуемых электронных приборов позвол ет предельно минимальными средствами производить выбор одного из множества р5 The introduction of the m-array cassette into the multi-position p x device for loading the test electronic devices allows the selection of one of the many p
0 х m испытуемых электронных приборов путем коммутации всего лишь двух из N р + + m соответствующих ключей, что дает в свою очередь, не усложн устройство в целом , изготовить кассету большой емкости0 x m of the tested electronic devices by switching only two of N p + + m corresponding keys, which, in turn, does not complicate the device as a whole, to produce a high-capacity cartridge
5 (до 300-500 шт.), вполне создающей конкуренцию какой-либо механической системе При такой большой емкости кассеты роль оператора сводитс только к периодической смене кассеты, что повышает степень автоматизации устройства.5 (up to 300-500 pcs.), Which completely creates competition for any mechanical system. With such a large capacity of the cartridge, the operator's role is reduced only to the periodic change of the cartridge, which increases the degree of automation of the device.
Так, например, матрица-кассета 10x15 позвол ет выбрать один из р х m 15 х 10 150 предварительно загруженных в нее испытуемых электронных приборов путем коммутации соответствующих двух из N р+ + m 15 + 10 25 ключей по горизонтали m и вертикали р.Thus, for example, a 10x15 matrix cartridge allows one to select one of p x m 15 x 10 150 pre-loaded electronic devices under test by switching the corresponding two of N p + + m 15 + 10 25 keys horizontally m and vertical p.
Введение узла программного управлени и разбраковки, состо щего из соединенных между собой последовательно тактового генератора, первого двоичного счетчика, выходы второго соединены с адресными входами ПЗУ внутреннего управл ющего цикла, второго двоичного счетчика, выходы которого соединены с ад- ресными входами ПЗУ внешнего управл ющего цикла, схем выбора m горизонталей и р вертикалей матрицы-кассеты, состо щих из последовательно соединенных между собой счетчика, дешифратора, индикаторов и ключей, точка общего соединени которых соединена с выходами п коммутаторов, а выходы этих ключей соединены соответственно с m горизонтал ми и р вертикал ми матрицы-кассеты, позвол ет осуществить непрерывный технологический процесс тренировки, испытани , разбраковки по электрическим параметрам испытуемых электронных приборов.The introduction of a software control and sorting unit, consisting of a clock generator connected to each other in series, the first binary counter, the outputs of the second connected to the address inputs of the ROM of the internal control cycle, the second binary counter, the outputs of which are connected to the address inputs of the ROM of the external control cycle , selection schemes for m horizontals and p verticals of the matrix-cartridge, consisting of a counter, decoder, indicators and keys connected in series, the common connection point of which connected to the outputs of n switches, and the outputs of these keys are connected respectively with m horizontal and p verticals of the matrix-cassette, which allows for continuous technological process of training, testing, and sorting out electrical parameters of electronic devices under test.
Это достигаетс за счет того, что часть выходов ПЗУ внешнего управл ющего цикла соединена с адресными входами ПЗУ внутреннего управл ющего цикла, что дает вместе с возможностью перепрограммировани обоих ПЗУ обеспечить управление всем устройством согласно любому заданному технологическому процессу, например сначала произвести тренировку, затем разбраковку по статическому напр жению пробо , далее разбраковку по динамически- му напр жению, затем испытание, например , на долговечность и вновь разбраковку по каким-либо электрическим параметрам, Все это значительно повышает достоверность разбраковки электронных приборов. This is achieved due to the fact that some of the outputs of the ROM of the external control cycle are connected to the address inputs of the ROM of the internal control cycle, which, together with the possibility of reprogramming both ROMs, provides control of the entire device according to any given technological process, for example, first training, then sorting by breakdown of the static voltage, then the dynamic voltage breakdown, then the test, for example, for durability and again the breakdown for any electrical voltage to parameters, All this significantly increases the reliability of the sorting of electronic devices.
Кроме того, вход щие в состав узла программного управлени и разбраковки схема ИЛИ, ОЗУ регистрации брака, информационный вход которого через схему ИЛИ св зан с п чейками регистрации, при этом адресные входы ОЗУ соединены с двоичными счетчиками схем выбора m горизонталей и р вертикалей и с двоичным счетчиком внешнего управл ющего цикла, информационный выход ОЗУ соединен через первый ключ узла разбраковки с входом запуска-останова тактового генератора, второй ключ узла разбраковки соединен с адресным входом ПЗУ внешнего управл ющего цикла, а также через схему И с управл ющим входомIn addition, the OR circuit included in the program control and rejection unit is defective RAM, the information input of which through the OR circuit is connected to the registration cells, while the RAM address inputs are connected to binary counters of the m horizontal and p vertical selection circuits and with binary counter of the external control cycle, the information output of the RAM is connected through the first key of the rejection unit to the start-stop input of the clock generator, the second key of the rejection unit is connected to the address input of the ROM of the external control about the cycle, as well as through the AND circuit with a control input
ОЗУ, третий ключ узла разбраковки через конденсатор соединен с входом Сброс двоичных счетчиков внешнего и внутреннего управл ющего цикла и схем выбора горизонталей .и вертикалей матрицы-кассеты, позвол ют достаточно быстро (в течение 1- 5 с) определить характер брака и позиционный адрес самого бракованного прибора.RAM, the third key of the sorting unit through a capacitor is connected to the input. Resetting the binary counters of the external and internal control cycle and the horizontal selection circuits. And the verticals of the matrix-cassette allow you to quickly (within 1-5 s) determine the nature of the marriage and the position address of defective appliance.
Это происходит в результате переключени тактового генератора на повышенную частоту при замыкании второго ключа узла разбраковки, а так как при замыкании третьего ключа происходит кратковременный сброс всех двоичных счетчиков узла программного управлени , го весь технологический процесс как бы производитс сначала, но с частотой на несколько пор дков выше, при наличии брака тактовый генератор останавливаетс и индикаторы узла программного управлени высвет т координаты точки останова, по которым легко определить номер m горизонтали и номер р вертикали матрицы-кассеты, на пересечении которых и находитс бракованный прибор. Такое схемное решение повышает достоверность разбраковки электронных приборов ,This occurs as a result of switching the clock generator to an increased frequency when the second key of the rejection unit closes, and since the third key closes, all binary counters of the program control node are briefly reset, as a whole, the whole process is performed initially, but with a frequency of several orders of magnitude above, if there is a defect, the clock stops and the indicators of the program control node display the coordinates of the breakpoint, from which it is easy to determine the number m horizon and whether the number of vertical p-matrix tape, which at the intersection and the unit is defective. Such a circuit solution increases the reliability of the sorting of electronic devices,
Ввиду того, что каждый из п источников напр жений вл етс самосто тельным источником испытательного напр жени , а кажда из п чеек регистрации - самосто тельной регистрирующей чейкой, по вл етс возможность испытани прибора по любому параметру, например, разбраковки по статическому напр жению пробо , разбраковки по динамическому напр жению пробо , произвести тренировку, а также испытание , например, на долговечность и т.д., что приводит к повышению степени автоматизации устройства. Например, дл проведени тренировки приборов необходимо всего лишь включить в качестве одного из п источников испытательного напр жени источник , обеспечивающий прохождение через испытываемый прибор импульса тока с необходимой длительностью и амплитудой.Due to the fact that each of the n voltage sources is an independent source of test voltage, and each of the registration points is an independent recording cell, it is possible to test the device with any parameter, for example, sorting by static voltage sample, sorting out the dynamic voltage of the sample, training, as well as testing, for example, durability, etc., which leads to an increase in the degree of automation of the device. For example, to conduct training of instruments, it is only necessary to include, as one of the n sources of the test voltage, a source providing a current pulse with the required duration and amplitude to pass through the device under test.
Признаки, общие с признаками за вл емого технического решени , не вы влены, следовательно, предлагаемое техническое решение обладает существенными отличи ми .The features common to the features of the claimed technical solution are not detected, therefore, the proposed technical solution has significant differences.
На фиг.1 и 2 приведена функциональна схема предлагаемого устройства.Figure 1 and 2 shows a functional diagram of the proposed device.
Устройство содержит четыре источника 1 напр жени , представл ющие собой самосто тельные источники с внешним запуском и позвол ющие получить необходимые электрические параметры дл испытани , тренировки и параметры режима измерени при разбраковке по статическому на ч,о прокоп п дчпг i1 i 5c onv паноп- н,к приГкн Поспедоплтгльчос подклю меп т1 ми m гочн .ко з I i/ic u i i прнЬорап осуществл йс четырьм ком- п/т;п орапп 2 представл ющими собой 061 iM Oi спине клю .и нрпоимер, из тран- . ппсрчх Контроль электрических пара- n ippLi Mr1 не п i УСНЫХ приборах :т )л сгсч f погпш, to чет up о ч пчоек 3The device contains four sources of voltage 1, which are independent sources with external triggering and allow you to obtain the necessary electrical parameters for testing, training, and measurement mode parameters when sorted by static hour, digging the frequency converter i1 i 5c onv pan , to the endpoint, I will connect me at least 1 with the right one. I i / ic uii prnorap was carried out with four components / t; in step 2, they are 061 iM Oi on the back of the switch. And, for example, from trans. ppsrchkh Control of electric pa- n ippLi Mr1 not n i USER appliances: t) l ccc f fmp, to even up about 3 poochs
, priiOlpa 1111 ПрО/1 ,гЯГ Т1ЮЩИл СОбОЙ СОО, priiOlpa 1111 PRO / 1, GYAG T1 SUSTAINABLE SOO
потск / О Ч - i псртельныс прчЬоры или yciporcina iJiirbp r-xpднени Испьпуемые приборы ycioiuwiu iioic« в мпогопооицп оньую плгрицу caccciv 1 ч ггрочгу во грючеPOTSK / O P - i pprtelnys prchory or yciporcina iJiirbp r-xp days Tested devices ycioiuwiu iioic "in the first place caccciv plug 1 hr
(. ОДерЖЧ /TlM рр0гр 1. 1П01 О управлении СОС ГПЧ1 1 Г/1 Ч С. I МС CJ лГ)ОЙ 4 Jrr Ci ,c по .berci онерс-гор Ь, гн (b ti C i oio MJ мм рис,/.. е первого(. SUPER / TlM rr0gr 1. 1P01 On the control of the SPS of the GPC1 1 G / 1 H C. I MS CJ lH) OH 4 Jrr Ci, with .berci oners-b, n (b ti C i oio MJ mm rice, / .. e first
НОГ(|, )С7 l i 1 )/,Ы СОР Ai MCIM Ь 41 Г Д 3MU ПпоКсЗ МЯТИ FOOT (|,) С7 l i 1) /, С СР Ai MCIM L 41 Г Д 3MU ППОКсЗ МЫТ
суфп сего nq nifto в , , т ° imop jro пс лолмог Мг1 пигросхо souff of this nq nifto v,, ° imop jro ps lolmog Mg1 pigrosho
П f.4 OriM иТОрОЮ ДООнЧ1 OlO П1КЯ 8P f.4 OriM SECOND ORDER 1 OlO П1КЯ 8
I in о на микросхема оолмьомы с г чодапи П°У9 рнсшнею упрас- rMiQL icro циг/ d -:аоть С1ходов которого со тн-юна с Слогом 10 мндикации, нред- с со5оп rpriHji ч торные ключи со -гогоизлу idkJLi-. in диодами Vcел програмчого упровлемп 1 содержит также блок 11 чМ Орэ т юппзонгалсй и блок 12 выбора р i рпл алей матрицы кассеты А Эти блоки прэдстчол юг собой логически соедчпеи- пыс г iovvr y сооой К1 а пи росхеме деилтфратор И на fi pi oor- e индичагорь1I in about an olymoma microchip with r chodapi П ° У9 most convenient - rMiQL icro cyg / d -: a number of С1 inputs from t-young with Syllable 10 of the indication, nreds-with rpriHji keys with idkJLi-. in diodes, Vcel program control 1 also contains a block 11 hM Ore t juppsongals and block 12 select p i rpl ali matrix cassettes A These blocks are the logic of the south is logically connected to iovvr y soo K1 and pi wiring de-fluffor And on fi pi oor- e indichagore1
GP ТроНЗИ ТОРЮ I К J6T0113 )щпх п лю1 б юч/а об легоGP Tronzi Toryu I To J6T0113)
С( С, ufCj/l l на С Ы 1ХОДЯМ C (C, ufCj / l l on C
ту; х . оП i и v эв г выходи чпючей i f i )т( т 7|:сч -«п с m орчзоч а11ЧММ ч р ПСр I Г 14 M3,p i Ы-кРСГв Ы 4 that; x OP i and v ev g come out purely i f i) t (t 7 |: cf - «p with m or without a11CHMM ch r PSR I D 14 M3, p i S-kSGv s 4
х строисп .с пчлесо ерхмгЬлок 17 раз г v. , г , л:о : rii -и о лс,5 с ,муИЛИ18x construction. with a bee rhmglok 17 times r v. , g, l: o: rii -and about hp, 5 s, mUILI18
IIvHKpocxL v1 Cjioi п 1 iin (ОЗУ) 19 на млггюсхем0 i °0 i-i з ич юcxeмe и перпий и птсрои п рс/лючл {фи ключа - 1 , 23) уг-распениа и перевода устройст- i-j Ьоачизк т, )рм ость выхо- /рв ПЗУ CJ сп ыо , пр пппщего 1;иклз .). и i pcc« iuni йхо, ПЗУ 1IIvHKpocxL v1 Cjioi n 1 iin (RAM) 19 per mlgushem0 i ° 0 ii ow yscheme and perpiy and ptsroi pr pc / key (fi key - 1, 23) angle-transfer and transfer device-ij - / rv ROM CJ sp yo, prppschgo 1; incl.). and i pcc "iuni yho, ROM 1
cl i TDO ICfO у| р, иы,г ijf О ЦЦ| ПсЗcl i TDO ICfO y | p, s, g ijf О ЦЦ | Psz
ПГО V I О /Г 1 рПНСШ) R/IOKH ИPGO V I O / G 1 rNPSH) R / IOKH AND
jiff el LI F/n, н f ебч чзпсстныс з сl iiU , iU ,0 УГ И V 1 , ° С1 С МЧС jiff el LI F / n, n f ч ч ч з с ст ст ст ii ii ii ii U iiU, iU, 0 УГ И V 1, ° С1 With the Ministry of Emergencies
Рпис iiiin Tpi iiaiipiJiM i c/ с( тое ДЕОИЧ них 0, 13, 8 чои ифратороз 14, JiY l 13v 7 ° i гнсльзу.оте мпкросхег ы i (,.., Г7 зз i C-o Р пко i r Ч1гагслыюго da- , г ни;-1 г ь I uO о известные тех- 1 ч--и, pfiti H 4 обеспечивающиеRecord iiiin Tpi iiaiipiJiM ic / s (that is, DEOIH 0, 13, 8, and ifraratosis 14, JiY l 13v 7 ° i null). ; -1 g l I uO about the well-known technical 1 h - and, pfiti H 4 providing
выходные параметоы необходимые дл тренировки, испытани на долговечность или измерени статического, динамического напр жени пробо и имеющие возможность их внешнего запуска, В качестве чеек 3 регистрации могут быть устройства выборки-хранени , например, дл регистрации брака при разбраковке по динамическому или статическому напр жению пробо (смoutput parameters necessary for training, endurance testing, or measuring the static, dynamic voltage of the sample and the possibility of their external start-up. As registration cells 3 there can be sampling and storage devices, for example, for registering defects during the sorting according to dynamic or static voltage of the sample (cm
0 Применение прецизионных аналоговых микросхем. А Г Алексенко, Е А Коломбет, Г И Стародуб. М, Радио и св зь, 1985, раздел 5 2 ) Тактовый генератор 5 может быть выполнен по любой классической схеме с0 The use of precision analog microcircuits. A. G. Aleksenko, E. A. Colombet, G. And Starodub. M, Radio and communications, 1985, section 5 2) The clock generator 5 can be performed according to any classical scheme with
5 возможностью егостробировани . В качестве ключей используютс реле, но в некото- рпх случа х, например при тренировке MOIVT быть использованы и тиристоры5 with the possibility of gating. Relays are used as keys, but in some cases, for example, thyristors can be used when training MOIVT
Принцип доступа к испытуемым прибо0 рам в матрице-кассете заимствован из аналогичного доступа к чейкам пам ти в интегральных микросхемах, и подобной коммутации испытуемых приборов нет Втора n-часть выходов ПЗУ 9 внешнегоThe principle of access to the tested devices in the matrix-cassette is borrowed from the same access to the memory cells in integrated circuits, and there is no such switching of the tested devices. The second n-part of the ROM outputs 9 is external
5 управл ющего цикла управл ет ключами п коммутаторов 2 и п индикаторами 10, выходы этих ключей соединены соответственно через ключи 16 блоков выбора m горизонталей и р вертикалей с гл горизонтал ми и р5 of the control cycle controls the keys of n switches 2 and n indicators 10, the outputs of these keys are connected respectively through the keys 16 of the blocks for selecting m horizontals and p verticals with gl horizons and p
0 вертикал ми матрицы-кассеты 4 Кроме то- ю п выходов ПЗУ 7 внутреннего управл ющею цикла соединены с соответствующими входами управлени и источниками напр жени , втора часть выходов ПЗУ 7 внутрен5 него управл ющего цикла соединена непосредственно и через схему И 20 с входом управлени ОЗУ 19 блока 17 разбраковки адресные входы которого соединены с выходами двоичных счетчиков 13 блоков вы0 бора m горизонталей 11 и р вертикалей 12 и двоичного счетчика 8 внешнего управл ющего цикла Информационный вход ОЗУ 19 соединен через схему ИЛИ 18 с выходами п $(чеек 3 регистрации, информационный вы5 ход Е ОЗУ 19 соединен через первый ключ 21 блока 17 разбраковки с первым входом запуска-останова тактового генератора 5 Второй ключ 23 блока 17 разбраковки соединен с адресным входом ПЗУ 9 внешнего0 by the verticals of the matrix-cassette 4 In addition, the p outputs of the ROM 7 of the internal control cycle are connected to the corresponding control inputs and voltage sources, the second part of the outputs of the ROM 7 of the internal control cycle is connected directly and through the And 20 circuit to the control input of the RAM 19 of the block 17 of the sorting, the address inputs of which are connected to the outputs of the binary counters 13 of the blocks of the selection of m horizontals 11 and p of the verticals 12 and the binary counter 8 of the external control cycle The information input of the RAM 19 is connected via the OR circuit 18 to the outputs $ f (3 cell registration information vy5 stroke E RAM 19 is connected through the first switch 21 presorting unit 17 to a first input of start-stop oscillator 5, second key 23, grading unit 17 is connected to the address input of the ROM 9 of the external
0 управл ющего цикла, а также через схему И 20 с управл ющим входом записи-считывани ОЗУ 19 Третий ключ 22 блока 17 разбраковки через конденсатор 24 соединен с входами R Сброс двоичного счетчика 80 of the control cycle, as well as through the circuit And 20 with the control input of the write-read RAM 19 The third key 22 of the block 17 rejection through a capacitor 24 is connected to the inputs R Reset binary counter 8
5 внешнего управл ющего цикла, с входом R Сброс двоичного счетчика 6 внутреннего управл ющего цикла и с входом R Сброс двоичного счетчика 13 блоков выбора m горизонталей 11 и р вертикалей 12 матрицы- кассеты 4 Причем каждый из п источников5 external control cycle, with input R Reset binary counter 6 internal control cycle and with input R Reset binary counter 13 blocks for selecting m horizontals 11 and p verticals 12 matrix-cassettes 4 Moreover, each of n sources
1 напр жени вл етс самосто тельным источником испытательного напр жени или тока с параметрами, установленными технологическим циклом, а кажда из п чеек 3 регистрации - самосто тельной регистрирующей чейкой, позвол ющей контролировать соответствующее испытательное напр жение или ток.1 voltage is an independent source of test voltage or current with the parameters set by the technological cycle, and each of the registration points 3 is an independent recording cell, allowing to control the corresponding test voltage or current.
Устройство дл разбраковки электронных приборов по электрическим параметрам работает следующим образом.A device for sorting electronic devices by electrical parameters works as follows.
В исходном состо нии после подачи питани на выходах двоичных счетчиков б, 13, 8 устанавливаетс напр жение логического О, при этом на выходе 4-8 ПЗУ 9 по вл етс двоична комбинаци , подключающа с помощью коммутатора 2 один из п источников напр жени , например источник тренировочного напр жени . Одновременно двоична комбинаци на выходах 1, 2 и 3 ПЗУ 9 настраивает ПЗУ 7 по адресным входам 9, 10, 11 таким образом, что на выходах 1-4 ПЗУ 7 по вл етс импульс запуска только источника 1 тренировочного напр жени . Начинающий свою работу задающий генератор 5 запускает двоичный счетчик 6, выходы которого вл ютс адресными входами 1-8 ПЗУ 7, в результате чего с выходов ПЗУ 7 снимаютс импульсы управлени не только с источника тренировочного напр жени , но и соответствующа последовательность дл работы ОЗУ 19 в режиме записи, т.е. выходом 5 ПЗУ 7 происходит выборка ОЗУ 19, выходом 6 ПЗУ 7 через схему И 20 даетс разрешение на запись в ОЗУ 19 информации годен, брак, снимаемой с соответствующей чейки 3 регистрации через схему ИЛИ 18 блок 17 разбраковки. По окончании прохождени тренировочного импульса происходит запуск блока 11 выбора гп горизонталей, а конкретно на выходе 7 ПЗУ 7 внутреннего управл ющего цикла по вл етс импульс, запускающий счетчик 13. в результате чего дешифратор 14 подключаете помощью ключа 16 к источнику тренировочного напр жени следующий разр дник, наход щийс на пересечении горизонтали 2 и вертикали 1 матрицы-кассеты 4. Далее процесс повтор етс до тех пор, пока с помощью блоков выбора m горизонталей 11 и р вертикалей 12 к источнику тренировочного напр жени подключатс поочередно все m x p разр дники , установленные в матрице-кассете 4.In the initial state, after supplying power to the outputs of the binary counters b, 13, 8, the logical O voltage is set, and at the output 4-8 of the ROM 9 a binary combination appears, connecting one of the voltage sources using switch 2, for example source of training voltage. At the same time, the binary combination at the outputs 1, 2 and 3 of the ROM 9 adjusts the ROM 7 to the address inputs 9, 10, 11 so that only the source 1 of the training voltage appears at the outputs 1-4 of the ROM 7. The start generator 5, which starts its operation, starts the binary counter 6, the outputs of which are the address inputs 1-8 of the ROM 7, as a result of which the control pulses are removed from the outputs of the ROM 7 not only from the source of the training voltage, but also the corresponding sequence for the RAM 19 to work recording mode, i.e. by the output 5 of the ROM 7, the RAM 19 is sampled, the output 6 of the ROM 7 through the AND circuit 20 is given permission to write information to the RAM 19 that is suitable for rejection taken from the corresponding registration cell 3 through the OR circuit 18 of the rejection unit 17. At the end of the training pulse, the GP unit for selecting horizontals is launched, and specifically, at the output 7 of the ROM 7 of the internal control cycle, a pulse appears that starts the counter 13. As a result, the decryptor 14 is connected to the source of the training voltage by the next bit located at the intersection of horizontal 2 and vertical 1 of the matrix-cartridge 4. Next, the process is repeated until, using the selection blocks m of the horizontal 11 and p vertical 12 to connect to the source of the training voltage alternately with all m x p arrester installed in the cassette 4 matrix.
После подключени последнего испытуемого разр дника, что соответствует полному перебору всех m горизонталей и всех р вертикалей матрицы-кассеты 4, сигнал с выхода двоичного счетчика 13 блока 12 выбора р вертикалей поступает на вход двоичногоAfter connecting the last tested arrester, which corresponds to a complete enumeration of all m horizontals and all p verticals of the matrix-cassette 4, the signal from the output of the binary counter 13 of block 12 of the choice of p verticals goes to the input of the binary
счетчика 8, при этом измен етс кодова комбинаци на адресных входах ПЗУ 9 внешнего управл ющего цикла. Далее согласно заложенной в ПЗУ 9 программе кодова комбинаци с выходов 4 -8 ПЗУ 9 отключает n-й источник 1 тренировочного напр жени и подключает с помощью коммутатора 2 (п-1)-й источник 1 статического напр жени пробо . Кроме того, кодова counter 8, while changing the code pattern on the address inputs of the ROM 9 of the external control cycle. Further, according to the code combination program included in the ROM 9 from the outputs 4-8, the ROM 9 disconnects the n-th source of the training voltage and connects the 2 (p-1) th source of the static voltage of the breakdown using the switch. In addition, the code
0 комбинаци га первых трех выходах ПЗУ 9 подаетс на старшие адресные входы ПЗУ 7 внутреннего управл ющего цикла, в результате чего измен етс программа работы ПЗУ 7 внутреннего управл ющего цикла, в0 the combination of the first three outputs of the ROM 9 is fed to the senior address inputs of the ROM 7 of the internal control cycle, as a result of which the program of work of the ROM 7 of the internal control cycle is changed,
5 св зи с чем, во-первых, происходит запуск уже подключенного (п-1)-го источника статического напр жени пробо , во-вторых, продолжаетс запуск блока 11 выбора m горизонталей сигналом с выхода 7 ПЗУ 7, но5 in connection with which, firstly, the already connected (p-1) -th static voltage source is sampled, and secondly, the block 11 for selecting m horizontal contours by the signal from the output 7 of the ROM 7 continues to be launched, but
0 уже с другой частотой и длительностью, позвол ющей в соответствии с техническими услови ми подключать по очереди все разр дники , наход щиес в матрице-кассете 4. Продолжаютс также с выходов 5 и 6 форми5 роватьс сигналы записи информации годен , брак в ОЗУ 19. После подключени последнего из п х р разр дника все устройство автоматически аналогично перестраи- в-етс дл разбраковки по динамическому0 already with a different frequency and duration, which allows, in accordance with the technical specifications, to connect in turn all the dischargers located in the matrix-cartridge 4. Information recording signals continue to be generated from outputs 5 and 6 as well, the marriage is in RAM 19. After connecting the last of the sparser, the entire device is automatically rebuilt in the same way for dynamic sorting
0 напр жению пробо и т.д. по всему технологическому циклу. Т.е. ПЗУ 7 внутреннего управл ющего цикла продолжает определ ть частоту подключени испытуемых приборов к одному из четырех источников 10 voltage breakdown, etc. throughout the technological cycle. Those. ROM 7 of the internal control cycle continues to determine the frequency of connection of the tested devices to one of four sources 1
5 напр жени , запускать этот источник в нужный согласно технологическому процессу момент времени, использу дл этого выходы 1-4 ПЗУ 7. Выход 5 ПЗУ 7 управл ет ОЗУ 19 блока 17 разбраковки. Совместно с им0 пульсами, снимаемыми с выхода 6 ПЗУ 7 и с выхода 5 ПЗУ 7, происходит запись в ОЗУ 19 результата разбраковки при измерении статического или динамического напр жени пробо разр дников или каких-либо других5 voltage, start this source at the desired time according to the technological process, using outputs 1-4 of ROM 7 for this purpose. Output 5 of ROM 7 controls RAM 19 of the blocking unit 17. Together with the pulses taken from the output 6 of the ROM 7 and from the output 5 of the ROM 7, the result of the sorting is recorded in the RAM 19 when measuring the static or dynamic voltage of the breakdown of the discharges or any other
5 электрических параметров испытуемого прибора. Информаци о результатах разбраковки в виде логической 1 или О снимаетс с соответствующей чейки 3 регистрации и подаетс на вход ОЗУ 19. В5 electrical parameters of the device under test. Information about the results of the sorting in the form of a logical 1 or O is removed from the corresponding cell 3 registration and fed to the input of RAM 19. In
0 св зи с тем, что адресные входы А ОЗУ 19 соединены с выходами двоичных счетчиков 13 блока 11 выбора m горизонталей и блока 12 выбора р вертикалей, в пам ть ОЗУ заноситс информаци о результатах разбраков5 ки по каждому из р х m испытуемых приборов. Дл того, чтобы произвести разбраковку по окончании всего технологического цикла, необходимо включить ключи 22 и 23. При этом измен етс логический уровень на адресном входе 11 ПЗУ 9, что приводит к изменению комбинации на выходах 1-2 ПЗУ 9 и на старших адресных входах ПЗУ 7, а это, в свою очередь, приводит к увеличению частоты импульсов управлени блоками 11 и 12 выбора m горизонталей и р вертикалей матрицы-кассеты 4. Одновременно с этим включением ключа 22 происходит кратковременный сброс и обнулирование двоичных счетчиков 13, 8 и 6. Весь процесс как бы начинаетс сначала, но с гораздо большей скоростью. При по влении блока на какой-либо позиции испытуемого прибора на выходе Е ОЗУ 19 по вл етс высокий логический уровень, запрещающий работу тактового генератора 5. При этом индикаторы 15 показывают номер вертикали и горизонтали, на пересечении которых находитс бракованный прибор, Индикатор 10 показывает, на какой именно операции технологического процесса произошла регистраци брака, например при измерении статического напр жени пробо или при измерении динамического на- пр жени пробо при испытании разр дников или при измерении других электрических параметров испытуемых приборов. Дл продолжени разбраковки необходимо кратковременно нажать ключ 21, при этом разрываетс обратна св зь и происходит переключение всего-устройства на следующую позицию. Схема ИЛИ 18 суммирует информацию со всех п чеек 3 регистрации брака. Схема И позвол ет при включении ключа 23 во врем разбраковки перевести ОЗУ 19 из режима записи в режим считывани информации с et ода Е ОЗУ 19. .0 due to the fact that the address inputs A of the RAM 19 are connected to the outputs of the binary counters 13 of the block 11 for selecting m horizontals and block 12 for choosing p verticals, the RAM contains information about the results of the disassembly of 5 for each of the x m test devices. In order to sort out at the end of the entire technological cycle, it is necessary to turn on the keys 22 and 23. At the same time, the logic level at the address input 11 of the ROM 9 changes, which leads to a change in the combination at the outputs 1-2 of the ROM 9 and at the higher address inputs of the ROM 7, and this, in turn, leads to an increase in the frequency of control pulses of blocks 11 and 12 for selecting m horizontals and p verticals of the matrix-cartridge 4. Simultaneously with this switching on of the key 22, the binary counters 13, 8 and 6 are briefly reset and reset. process how would start over, but at a much greater speed. When a block appears at any position of the device under test, the output E of RAM 19 shows a high logic level that prohibits the operation of clock generator 5. In this case, indicators 15 show the vertical and horizontal numbers at the intersection of which there is a defective device, Indicator 10 shows on which operation of the technological process the defect occurred, for example, when measuring the static voltage of a sample or when measuring the dynamic voltage of a sample when testing bursts or when measuring other their electrical parameters of the devices tested. To continue the rejection, briefly press key 21, in this case, the feedback is broken and the entire device switches to the next position. The OR 18 circuit summarizes information from all of the 3 check-in clauses. The AND circuit allows switching the RAM 19 from the write mode to the mode of reading information from the et ode E of the RAM 19. when turning on the key 23 during the grading.
Данное устройство обладает определенными технико-экономическими преимуществами по сравнению с лучшими устройствами подобного типа.This device has certain technical and economic advantages in comparison with the best devices of this type.
Преимущества изобретени по сравнению с прототипом заключаютс в том, что повышаютс достоверность разбраковки и степень автоматизации. Так, при проведении экспериментальных исследований было установлено, что дл проведени контрол по статическому и динамическому напр жению пробо дл технического решени , вз того за прототип, кроме оборудовани , указанного в нем, необходимо еще два стенда дл измерени динамического пробо и стенд дл проведени тренировки и испытани на долговечность, которые, как правило, могут быть объединены. Стоимость каждого из трех стендов в отдельности ориентировочно равна 5 тыс. руб.. npvi этом общие затраты состав т 15 тыс. руб. Дл предлагаемого технического решени The advantages of the invention in comparison with the prototype are that the reliability of the sorting and the degree of automation are increased. Thus, during experimental studies, it was found that in order to control the static and dynamic voltage of the sample for a technical solution, for the prototype, in addition to the equipment indicated in it, two more stands for measuring the dynamic sample and a stand for training and durability tests, which, as a rule, can be combined. The cost of each of the three stands separately is approximately equal to 5 thousand rubles. Npvi this total cost is 15 thousand rubles. For the proposed technical solution
необходим лишь один стенд, выполн ющий все указанные операции.only one stand is needed that performs all of these operations.
Дл технического решени , прин того за прототип, необходимо иметь трех операторов дл обслуживани установки тренировки и испытани на долговечность и двух установок дл разбраковки по статическому напр жению пробо и динамическому напр жению пробо , имеет место условно в 3For the technical solution adopted for the prototype, it is necessary to have three operators for servicing the training and endurance testing facilities and two facilities for sorting out the static voltage of the sample and the dynamic voltage of the sample, conditionally in 3
0 раза увеличение степени автоматизации. Дл предложенного технического решени , которое позвол ет полностью автоматизировать не только отдельные операции, но и переходы от одной операции к другой, тре5 буетс всего один оператор дл загрузки и аыгрузки приборов из матрицы-кассеты.0 times increase in the degree of automation. For the proposed technical solution, which allows to fully automate not only individual operations, but also transitions from one operation to another, only one operator is required to load and unload devices from the matrix cartridge.
Общественно-полезные преимущества изобретени заключаютс в экономии ресурсов и материально-технических затрат.The socially beneficial advantages of the invention are saving resources and material costs.
0При использовании изобретени ожидаетс определенный экономический эффект , который возрастет при увеличении объема выпуска устройства.When using the invention, a certain economic effect is expected that will increase with an increase in the output of the device.
Как уже указывалось, затраты на необ5 ходимые три стенда дл проведени указанных операций по техническому решению, вз тому за прототип, состав т 15 тыс. руб. Стоимость одного стенда, выполн ющего все указанные операции, по предлагаемомуAs already indicated, the cost of the required three stands for carrying out the indicated operations according to the technical solution, moreover, for the prototype, will amount to 15 thousand rubles. The cost of one stand that performs all these operations according to the proposed
0 техническому решению составл ет ориентировочно 12 тыс. руб. Таким образом, экономический эффект в год по показателю повышени эксплуатационных возможностей составит на одну единицу оборудова5 ни 3 тыс, руб.0 technical solution is approximately 12 thousand rubles. Thus, the economic effect per year in terms of increasing operational capabilities will amount to 3 thousand rubles per unit of equipment;
Объем выпуска таких устройств в годThe volume of production of such devices per year
составит 5 единиц. С учетом этого общийwill be 5 units. In view of this, the overall
экономический эффект составит 15 тыс. руб.the economic effect will be 15 thousand rubles.
Экономический эффект за счет повыше0 ни автоматизации складываетс от снижени затрат ручного труда.The economic effect due to increased automation is the result of lower manual labor costs.
Годовой экономический эффект по этому показателю составит с учетом того, что каждый из двух высвобождаемых операто5 ров имеет годовой оклад в 2 тыс. руб., составит 4 тыс. руб. С учетом же того, что требуетс программа выпуска в 5 единиц оборудовани , общий годовой экономический эффект по этому показателю составитThe annual economic effect for this indicator will be taking into account the fact that each of the two released operators has an annual salary of 2 thousand rubles, amounting to 4 thousand rubles. Taking into account the fact that a production program of 5 units of equipment is required, the total annual economic effect for this indicator will be
0 20 тыс. руб. Суммарный годовой экономический эффект составит 35 тыс. руб.0 20 thousand rubles The total annual economic effect will be 35 thousand rubles.
Ориентировочно изобретение возможно довести до промышленного использовани в IV кв, 1991 г., изготовление такихRoughly the invention can be brought to industrial use in the IV quarter, 1991, the manufacture of such
5 устройств намечено предпри тием-за вителем ,5 devices are planned by the enterprise,
Все работы по разбраковке и дальнейшему использованию изобретени включены в план новой техники предпри ти -за вител .All work on the dismantling and further use of the invention is included in the plan of the new technology for the business.
Приведенные преимущества изобретени были вы влены по результатам, полученным при испытани х на предпри тии-за вителе в III кв. 1990 г.The above advantages of the invention were revealed by the results obtained in tests at a factory in the third quarter. 1990 g.
В насто щее врем можно говорить об известной степени готовности изобретени - проведены опытные работы,разработана техническа документаии .At present, one can speak of a certain degree of readiness of the invention - experimental work has been carried out, technical documentation has been developed.
Перечень работ, который необходим дл доведени изобретени до промышлен- ного использовани ,- окончательный этап опытных работ включен в план освоени .The list of works that is necessary to bring the invention to commercial use is the final stage of pilot work is included in the development plan.
Claims (3)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU904870172A RU1774295C (en) | 1990-10-01 | 1990-10-01 | Device for sorting-out electronic devices |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU904870172A RU1774295C (en) | 1990-10-01 | 1990-10-01 | Device for sorting-out electronic devices |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU1774295C true RU1774295C (en) | 1992-11-07 |
Family
ID=21538281
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU904870172A RU1774295C (en) | 1990-10-01 | 1990-10-01 | Device for sorting-out electronic devices |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU1774295C (en) |
-
1990
- 1990-10-01 RU SU904870172A patent/RU1774295C/en active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Авторское свидетельство СССР N5285122, кл. G 01 R 31/24, 1969. Авторское свидетельство СССР № 763820, кл. G 01 R 31/24, 1978. * |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3723867A (en) | Apparatus having a plurality of multi-position switches for automatically testing electronic circuit boards | |
| US3924109A (en) | Automatic circuit card testing system | |
| GB1598499A (en) | Integrated circuit controller programmable with unidirectional-logic instructions representative of sequential wire nodes and circuit elements of a ladder diagram | |
| US4888715A (en) | Semiconductor test system | |
| US4544882A (en) | Apparatus for testing an integrated circuit chip without concern as to which of the chip's terminals are inputs or outputs | |
| US3309793A (en) | Digital computer trainer | |
| CN110164803A (en) | A kind of method and system discharging board formula | |
| RU1774295C (en) | Device for sorting-out electronic devices | |
| US2776405A (en) | Electrical circuit analyzer | |
| US3562644A (en) | Circuit tester providing circuit-selected test parameters | |
| US3735255A (en) | Apparatus and method for testing a multi-terminal logic circuit capable of detecting fixed and intermittant faults | |
| WO2023155480A1 (en) | Integrated circuit and test method for integrated circuit | |
| US3235802A (en) | Programmable apparatus for automatically and sequentially performing a plurality of tests on a transistor | |
| EP0714170B1 (en) | Analog-to-digital converter with writable result register | |
| US4538923A (en) | Test circuit for watch LSI | |
| JPS56147205A (en) | Software automatic testing system of programmable controller | |
| JPH03259758A (en) | Data collection device | |
| JPS59122972A (en) | Apparatus for testing logical circuit | |
| SU694822A1 (en) | Arrangement for the parametric control of intergrated circuits | |
| US2977534A (en) | Problem analyzer for precision analog computers | |
| SU723575A1 (en) | Discrete unit testing device | |
| SU746553A1 (en) | Digital unit testing device | |
| SU1071978A1 (en) | Device for logic unit diagnostics | |
| SU830393A1 (en) | Device for forming minimized diagnostic test | |
| SU877622A1 (en) | Device for controlling integral memory units |