RU1762732C - Способ получения потока заряженных частиц и устройство для его осуществления - Google Patents
Способ получения потока заряженных частиц и устройство для его осуществления Download PDFInfo
- Publication number
- RU1762732C RU1762732C SU4699813A RU1762732C RU 1762732 C RU1762732 C RU 1762732C SU 4699813 A SU4699813 A SU 4699813A RU 1762732 C RU1762732 C RU 1762732C
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- plasma
- electrons
- field
- source
- gas
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Plasma Technology (AREA)
Abstract
Использование: техника получения и применения квазинейтральных потоков заряженных частиц. Сущность изобретения: способ включает подачу газа в пространство, ионизацию его электронами до образования плазмы, наложение на плазму электрического поля и выделение с его помощью потока ионов, нейтрализацию последнего электронами. Причем положительно заряженные источники поля размещают внутри плазмы, а отрицательно заряженные так, чтобы они охватывали плазменное пространство и эмиттировали электроны вдоль силовых линий поля. Регистрируют положение внешней границы плазмы и изменяют площадь поверхности положительно заряженных источников поля пропорционально площади поверхности плазменного пространства, причем отношение площадей указанных поверхностей выбирают в пределах 10-2- 10-4 Устройство для осуществления способа содержит газоразрядную камеру с размещенным внутри нее анодом, подключенную к отрицательному выводу источника напряжения, систему напуска рабочего газа, источник электронов в виде формирующей сетки, подключенной своими выводами к отдельному источнику для накаливания, причем один из выводов подключен также к отрицательному выводу источника напряжения. 2 с.п. ф-лы, 3 ил.
Description
Изобретение относится к технике получения потока заряженных частиц и предназначено для создания источников плазмы.
Известны способ получения потока заряженных частиц и устройство для его осуществления.
В известном способе поток заряженных частиц получают путем ионизации газа электронами, выделяют ионную компоненту плазмы, ускоряют ионный поток до заданной энергии, нейтрализуют его электронами, в результате чего получают квазинейтральный поток заряженных частиц, движущийся в заданном направлении с необходимой скоростью.
В известном устройстве газ поступает в камеру и ионизируется в ней до образования плазмы электронами электрического разряда, создаваемого с помощью катода и анода в локальной области газового облака. Образовавшаяся плазма втекает в конденсатор с сеточными электродами, подключенными к электродам источника питания, электрическое поле конденсатора разделяет ионы и электроны плазмы и ускоряет ионы. Ионный поток через сеточный электрод конденсатора выходит наружу и нейтрализуется электронами с дополнительной накаленной спирали, помещенной в поток.
Однако известный способ сложен, а устройство громоздко и обладает низкими эксплуатационными возможностями. Например, при работе с малыми напусками газа эффективность ионизации газа падает настолько, что возникает необходимость использования дополнительного магнитного поля, что в ряде случаев невозможно осуществить. Кроме того, получение квазинейтрального потока заряженных частиц с малыми энергиями (Е ≈ 50 эВ) и одновременно с достаточно высокой концентрацией (h ≈ 108 - 109 см-3) может оказаться затруднительным из-за ограничения по объемному заряду плотности ионного потока в конденсаторе с сеточными электродами. Использование малых зазоров между электродами конденсатора снимает ограничение на величину объемного заряда, но приводит к усложнению конструкции устройства и возникновению пробоев между электродами. Кроме того, при работе в режиме ограничения потока ионов объемным пространственным зарядом в конденсаторе плотность ионного потока и его энергия связаны однозначной зависимостью, что не позволяет независимо менять плотность и энергию квазинейтрального потока заряженных частиц (плазмы) и снижает эксплуатационные возможности.
Наиболее близким к изобретению является способ получения потока заряженных частиц, включающий подачу газа в пространство, ионизацию газа электронами до образования плазмы, наложение на плазму электрического поля, выделение с помощью источников поля потоков ионов и нейтрализацию его электронами, причем источники электрического поля размещают внутри плазменного образования.
Известное устройство содержит газоразрядную камеру, подключенную к отрицательному выводу источника напряжения, источник электронов, подключенный к источнику тока, систему напуска рабочего газа в камеру, формирующие электроды, выполненные в виде экранирующих сеток и подключенные к источнику ускоряющего напряжения, положительный электрод которого подключен к газоразрядной камере, и анод, размещенный внутри камеры и подключенный к положительному полюсу источника напряжения.
Однако известный способ также сложен, а устройство громоздко, что затрудняет генерацию квазинейтрального потока заряженных частиц.
Цель изобретения - упрощение генерации квазинейтрального потока заряженных частиц.
Цель достигается тем, что в способе, включающем подачу газа в пространство, ионизацию газа электронами до образования плазмы, наложение на плазму электрического поля, выделение с помощью источников поля потока ионов и нейтрализацию потока ионов электронами, причем положительно заряженные источники электрического поля размещают внутри плазменного образования, отрицательно заряженные источники поля размещают так, чтобы они охватывали плазменное образование, инжектируют с помощью источников поля электроны вдоль силовых линий поля, регистрируют положение внешней границы поверхности плазменного образования и изменяют площадь поверхности положительно заряженных источников поля пропорционально площади поверхности плазменного образования, причем отношение площадей указанных поверхности выбирают в диапазоне 10-2 - 10-4.
Цель достигается также тем, что в источнике потока заряженных частиц, содержащем газоразрядную камеру, подключенную к отрицательному выводу источника напряжения, источник электронов, подключенный к источнику тока, систему напуска рабочего газа в камеру, формирующий электрод, выполненный в виде экранирующей сетки, и анод, подключенный к положительному полюсу источника напряжения, причем отношение площади анода к площади внутренней поверхности камеры выбрано не более 10-2, экранирующая сетка выполнена в виде источника электронов и снабжена двумя изолированными токовыводами, подключенными к источнику тока, при этом один из токовыводов подключен к отрицательному полюсу источника напряжения, а отношение площади анода к площади внутренней поверхности камеры выбрано не менее 10-4.
Способ осуществляется следующим образом.
Подают газ в пространство, содержащее положительно заряженные источники поля и охваченные отрицательно заряженными источниками поля, и инжектируют с этих источников поля электроны в газ вдоль силовых линий электрического поля между источниками. Электроны набирают энергию в электрическом поле, проникают в газовое облако, и поскольку источники поля в газе имеют площадь, существенно меньшую площади газового облака, начинают в нем осциллировать.
В процессе осцилляций электроны ионизируют молекулы газа и образуют в нем плазму. Плазма поляризуется электрическим полем. В области плазмы электрическое поле уменьшается из-за хорошей проводимости плазмы, а на ее границе возрастает до максимальной величины, где происходит основное падение потенциала поля.
Электрическое поле в граничной области направлено наружу и разделяет заряды плазмы так, что электроны возвращаются внутрь плазмы, а ионы ускоряются и выводятся полем во внешнее пространство. Поток ионов во внешнем пространстве движется по силовым линиям электрического поля навстречу потоку электронов, инжектируемых в поле извне. Часть электронов потока нейтрализует ионный поток и образует во внешнем пространстве квазинейтральный поток заряженных частиц - поток плазмы.
Таким образом достигается упрощение генерации квазинейтрального потока заряженных частиц. Осциллирующие электроны, потерявшие энергию в результате столкновений и ионизации молекул газа в газовом облаке, и свободные электроны плазмы, возникшие на ее границе в процессе разделения зарядов, гибнут в источниках поля, в результате чего сохраняется квазинейтральность системы в целом.
При отношении полной площади поверхности источников электрического поля в газе к площади поверхности газового облака меньше чем в 102 раз затруднены осцилляции электронов в газовом облаке из-за частых столкновений электронов с источниками электрического поля и их неизбежной гибелью при этом.
При отношении площадей больше чем в 104 раз плотность электронного потока вблизи поверхности источников поля становится настолько велика, что электрическое поле объемного заряда электронов приводит к преимущественному падению разности потенциалов вблизи источников поля, что снижает разность потенциалов на границе плазмы и ухудшает плазмообразование.
На фиг.1 приведен источник, реализующий предлагаемый способ; на фиг.2 - схема распределения потенциала в плазме источника (сплошная линия) между анодом и экранирующей сеткой (стенкой камеры); на фиг.3 схематично представлены процессы плазмообразования внутри источника и формирования квазинейтрального потока заряженных частиц (плазменного потока) на его выходе.
Источник потока содержит камеру ионизации 1, источник газа 2, анод 3, экранирующую сетку 4 с электродом 5 и источник питания для накаливания 6.
Источник газа 2 расположен у торца камеры ионизации 1, содержащий сеточный анод 3 с площадью поверхности меньше площади поверхности ионизационной камеры 1 в отношении 102-104 раз, а второй торец ионизационной камеры 1 закрыт подключенной к ней сеткой 4 с электродом 5, подключенным к выходу источника питания для накаливания 6, второй электрод которого подключен к камере 1.
Обозначения на фиг.3: 7 - плазма внутри источника, 8 - граница плазмы в пристеночной области и вблизи элементов анода (обозначена пунктиром), 9 - траектория осциллирующего электрона, 10 - элемент плазмы внутри источника, 11 - элемент квазинейтрального потока заряженных частиц вне источника (элемент плазменного потока), кружок со знаком "минус" - электрон, кружок со знаком "плюс" - ион плазмы, сплошные линии со стрелками - схематичное обозначение траекторий движения частиц.
Устройство работает следующим образом.
Газ из источника 2 поступает в камеру ионизации 1, где в него инжектируются электроны, эмитированные нагретой экранирующей сеткой 4 и ускоренные разностью потенциалов между анодом 3 и стенкой камеры 1 с экранирующей сеткой 4.
Электроны осциллируют в пространстве камеры 1, пронизывая сеточный анод 3, поскольку площадь поверхности нитей сетки много меньше (102-104 раз) площади поверхности ионизационной камеры 1, ионизуют газ и образуют в нем плазму.
За счет хорошей проводимости плазмы падение потенциала в ней невелико, а вблизи стенки камеры 1 и поверхности экранирующей сетки 4 образуется граничная область, в которой происходит основное падение потенциала, созданного между анодом 3 и стенкой камеры 1 (см. фиг.2).
Электрическое поле в граничной области плазмы разделяет заряды так, что ускоряет ионы к экранирующей сетке 4, а электроны плазмы - к аноду 3. Ионы проходят через сетку 4, нейтрализуются электронами, эмитированными с ее поверхности, и образуют квазинейтральный поток заряженных частиц, т.е. поток плазмы. Избыточные электроны плазмы поглощаются анодом 3 (см. фиг.3).
Выбором величины разности потенциалов между анодом 3 и стенкой камеры 1 регулируется направление энергии плазменного потока. Источником питания для накаливания 6 устанавливается необходимый нагрев экранирующей сетки 4 и таким образом изменяется поток инжектируемых ею электронов, с помощью которых регулируется плотность плазменного потока.
По сравнению с известными предлагаемый источник имеет минимальное количество основных элементов - камеру 1, анод 3, экранирующую сетку 4, и всего два источника питания - анода 3 и сетки 4.
Направленная энергия и плотность плазменного потока регулируются независимо друг от друга, соответственно изменениями потенциала анода 3 и тока накаливания экранирующей сетки 4 во всем диапазоне параметров потока. Известные технические решения такими возможностями не обладают.
Основное ускорение ионов происходит на границе плазмы у экранирующей сетки, где возникает двойной электрический слой. Это практически исключает пробой ускоряющего промежутка и является дополнительным преимуществом изобретения.
Claims (3)
- СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ПОТОКА ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ.
- 1. Способ получения потока заряженных частиц, включающий подачу газа в пространство, ионизацию газа электронами до образования плазмы, наложение на плазму электрического поля, выделение с помощью источников поля потока ионов и нейтрализацию потока ионов электронами, при этом положительно заряженные источники электрического поля размещают внутри плазменного образования, отличающийся тем, что, с целью упрощения генерации квазинейтрального потока заряженных частиц, отрицательно заряженные источники поля размещают так, чтобы они охватывали плазменное образование, инжектируют с помощью источников поля электроны вдоль силовых линий поля, регистрируют положение внешней границы поверхности плазменного образования и изменяют площадь поверхности положительно заряженных источников поля пропорционально площади поверхности плазменного образования, причем отношение площадей указанных поверхностей выбирают в диапазоне 10- 2 - 10- 4.
- 2. Источник потока заряженных частиц, содержащий газоразрядную камеру, подключенную к отрицательному выводу источника напряжения, источник электронов, подключенный к источнику тока, систему напуска рабочего газа в камеру, формирующий электрод, выполненный в виде экранирующей сетки, и анод, размещенный внутри камеры и подключенный к положительному полюсу источника напряжения, причем отношение площади анода к площади внутренней поверхности камеры выбрано не более 10- 2, отличающийся тем, что, с целью упрощения конструкции при генерации квазинейтрального потока заряженных частиц, экранирующая сетка выполнена в виде источника электронов и снабжена двумя изолированными токовыводами, подключенными к источнику тока, при этом один из токовыводов подключен к отрицательному полюсу источника напряжения, а отношение площади анода к площади внутренней поверхности камеры выбрано не менее 10- 4.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU4699813 RU1762732C (ru) | 1989-06-01 | 1989-06-01 | Способ получения потока заряженных частиц и устройство для его осуществления |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU4699813 RU1762732C (ru) | 1989-06-01 | 1989-06-01 | Способ получения потока заряженных частиц и устройство для его осуществления |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU1762732C true RU1762732C (ru) | 1995-01-09 |
Family
ID=30441362
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU4699813 RU1762732C (ru) | 1989-06-01 | 1989-06-01 | Способ получения потока заряженных частиц и устройство для его осуществления |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU1762732C (ru) |
-
1989
- 1989-06-01 RU SU4699813 patent/RU1762732C/ru active
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
W.R.Baker et al.Xn Proccedings of the Simposium on Ion Sourscesand Formation of Ion Beam.Brook haven National Loboratory, Upton, N.Y., 1971, p.145. * |
Гришин С.Д. и др. Электрические ракетные двигатели. М., Машиностроение, 1975, с.92-97. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5302881A (en) | High energy cathode device with elongated operating cycle time | |
RU2243408C2 (ru) | Электростатический двигатель | |
US2816243A (en) | Negative ion source | |
US2892114A (en) | Continuous plasma generator | |
Brown et al. | Vacuum arc ion sources: Recent developments and applications | |
US3999072A (en) | Beam-plasma type ion source | |
JPH07501654A (ja) | 帯電粒子の加速方法および粒子加速器 | |
Dubenkov et al. | Acceleration of Ta10+ ions produced by laser ion source in RFQ MAXILAC | |
Sidenius | Ion sources for low energy accelerators | |
RU1762732C (ru) | Способ получения потока заряженных частиц и устройство для его осуществления | |
Lejeune | Theoretical and experimental study of the duoplasmatron ion source: Part II: Emisive properties of the source | |
Belchenko et al. | Negative ion surface-plasma source development for fusion in Novosibirsk | |
US2700107A (en) | Ion source | |
US4135093A (en) | Use of predissociation to enhance the atomic hydrogen ion fraction in ion sources | |
US3940615A (en) | Wide angle isotope separator | |
US2719925A (en) | Electric discharge device | |
Kwan | High current ion sources and injectors for induction linacs in heavy ion fusion | |
JPH0762989B2 (ja) | 電子ビ−ム励起イオン源 | |
US5030885A (en) | Charged particle control device | |
US2697788A (en) | Ion source | |
US3955090A (en) | Sputtered particle flow source for isotopically selective ionization | |
US3514666A (en) | Charged particle generator yielding a mono-energetic ion beam | |
US2717963A (en) | Arc discharge device | |
Yoshida et al. | Grid-controlled extraction of low-charged ions from a laser ion source | |
SU1107707A1 (ru) | Способ получени отрицательных ионов и устройство дл его осуществлени |