RU17614U1 - Бесконтактный датчик биений - Google Patents

Бесконтактный датчик биений Download PDF

Info

Publication number
RU17614U1
RU17614U1 RU2000132093/20U RU2000132093U RU17614U1 RU 17614 U1 RU17614 U1 RU 17614U1 RU 2000132093/20 U RU2000132093/20 U RU 2000132093/20U RU 2000132093 U RU2000132093 U RU 2000132093U RU 17614 U1 RU17614 U1 RU 17614U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
control
line
photodiodes
input
unit
Prior art date
Application number
RU2000132093/20U
Other languages
English (en)
Inventor
С.В. Плотников
В.И. Ладыгин
А.И. Пастушенко
Original Assignee
Конструкторско-технологический институт научного приборостроения
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Конструкторско-технологический институт научного приборостроения filed Critical Конструкторско-технологический институт научного приборостроения
Priority to RU2000132093/20U priority Critical patent/RU17614U1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU17614U1 publication Critical patent/RU17614U1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

Бесконтактный датчнк биений
Заявляемое устройство относится к области машиностроения, а именно к устройствам для измерения размеров деталей и может использоваться для контроля биений деталей вращения.
Известно устройство для контроля биений деталей вращения, содержащее измерительную головку микрометрического типа, щуп которой соприкасаясь с измеряемой точкой поверхности детали измеряет ее отклонение от некой базовой линии, принятой за нулевую отметку. По величине отклонения более заданного принимают рещение о годности детали (см. А.К.Кутая, Справочник контрольного мастера, Л, Лениздат, 1980г., стр.238-239).
Известное устройство обычно используется при ручном контроле деталей в мелкосерийном производстве. Это связано с тем, что при контактном измерении биения поверхности невозможно обеспечить высокую производительность измерений из-за необходимости механического соприкосновения поверхности щупа и контролируемой поверхности. Инерционность механизма измерительной головки не успевает отрабатывать локальные изменения при быстром перемещении щупа по поверхности. При этом точность измерения во многом зависит от площади их соприкосновения.
Известно устройство для контроля биений деталей вращения, принятое в качестве прототиппа, содержащее последовательно установленные источник света, приемный объектив, диафрагму, фотоприемник, дифференцирующий усилитель, вход которого связан со входом дифференцирующего усилителя и устройство для регистрации и управления (см. «Бесконтактный контроль размеров в станкостроении под ред. Харизоменова И.В. М., «Мащиностроение, 1975г., с. 122-123). По величине сигнала с дифференциального усилителя, а значит и току с фотоприемника судят о
2000132093
nipppiiiriijHjiiin
МКИ 6:
величине биения детали. Известное устройство позволяет бесконтактным методом с высокой производительностью производить измерение биений.
Основным недостатком известного устройства является его ограниченные функциональные невозможности, связанные в основном с ошибками при определении экстремальных значений освещенности из-за появления пгумовых экстремумов при контроле деталей с низкой и непостоянной отражающей способностью, что существенно снижает точность контроля.
Технической задачей, решаемой данной заявкой является устранение указанного недостатка, а именно повышение точности контроля.
В устройстве для контроля биений деталей вращения, содержащем источник света, приемный объектив, фотоприемник, блок зшравления и регистрации, задача решена тем, что источник света выполнен в виде лазерного излучателя, а фотоприемник выполнен в виде линейки фотодиодов, установленных в фокусе приемного объектива, при этом в устройство дополнительно введены блок управления линейки фотодиодов (БУЛФ), входы которого соединены с блоком управления и регистрации, а выходы - с управляющими входами линейки фотодиодов, и блок преобразования сигнала (БПС), сигнальный вход которого соединен с выходом линейки фотодиодов, управляющий вход соединен с выходом блока управления линейки, а его выход подключен ко входу блока управления и регистрации.
Указанное выполнение устройства позволяет производить с высокой точностью измерение биений деталей независимо от значений освещенности детали и ее отражающей способности.
На фиг. 1 приведена блок-схема заявляемого устройства, где 1 - источник света (лазер), 2 - фокусирующий приемный объектив, 3 - линейка фотодиодов, 4 - блок управления и регистрации, 5 - БУЛФ, состоящий из генератора тактовых импульсов 6 и генератора импульсов считывания 7, 8 блок преобразования сигнала, состоящий из нормирующего усилителя 9 и пикового детектора 10, 11- обрабатываемая деталь.
На фиг.2 приведена блок-схема микропроцессорного блока управления 4, где 12 - микропроцессор с задающим генератором 13, 14 - оперативное запоминающее устройство (ОЗУ), 15 - постоянное запоминающее устройство (ПЗУ), расщиритель ввода-вывода (РВВ) 16, клавиатура 17, индикаторное устройство 18.
Устройство работает следующим образом. С клавиатуры 17 задают отображаемые на индикаторе 18 требуемые режимы контроля биений (отклонение от нормы) и подают сигнал на начало отсчета. Лазер 1 облучает поверхность детали 11, а фокусирующий объектив 3 собирает свет попадающий в его апертуру от освещенной точки детали 11 и фокусирует его в виде освещенного пятна на линейке фотодиодов 3. С блока управления 4 подаются сигналы для формирования тактовых импульсов генератором 6 и импульсов считывания информации с линейки фотодиодов 3, формируемых генератором 7. С каждым импульсом генератора 6 информация из фотодиодной ячейки линейки 3 поступает на вход нормирующего усилителя 9, а с его выхода - на вход пикового детектора 10, который выделяет максимальную амплитуду сигнала на выходе линейки фотодиодов 3 за один такт опроса всех фотодиодных ячеек. С началом каждого такта опроса линейки пиковый детектор 10 обнуляется импульсом с генератора 1. С выхода пикового детектора 10 напряжение в реальном времени поступает на вход РВВ 16 блока управления и регистрации 4, микропроцессор 12 которого по временному отставанию пика напряжения от начала такта опроса линейки определяет положение энергетического центра фокусного пятна на линейке для каждой заданной точки поверхности детали и сравнивает указанное значение с наперед заданным, хранящимся в ПЗУ 15. При отклонении профиля поверхности детали от заданной, происходит расфокусировка пучка света, попадающего на линейку 3, а следовательно, изменяется положение его энергетического центра относительно заданного значения. По величине
. отклонения судят о величине биения детали в данной точке поверхности. При выходе величины биения из заданного интервала, на индикаторе появляется надпись «БРАК, а при попадании в заданный интервал - «ГОДНО. При необходимости контроля качества партии деталей, вся информация с шины данных микропроцессора 12 может быть выведена на персональный компьютер или зарегистрирована на самописце.
Таким образом, заявляемое устройство в отличие от прототипа позволяет существенно повысить точность контроля деталей.
/ 1н; v-v;v-|f§ s: .sfii Ю.В.Чугуй

Claims (1)

  1. Устройство для контроля биений деталей вращения, содержащий источник света, приемный объектив, фотоприемник, блок управления и регистрации, отличающееся тем, что источник света выполнен в виде лазерного излучателя, а фотоприемник выполнен в виде линейки фотодиодов, установленных в фокусе приемного объектива, при этом в устройство дополнительно введены блок управления линейки фотодиодов (БУЛФ), входы которого соединены с блоком управления и регистрации, а выходы - с управляющими входами линейки фотодиодов, и блок преобразования сигнала (БПС), сигнальный вход которого соединен с выходом линейки фотодиодов, управляющий вход соединен с выходом блока управления линейки, а его выход подключен ко входу блока управления и регистрации.
    Figure 00000001
RU2000132093/20U 2000-12-25 2000-12-25 Бесконтактный датчик биений RU17614U1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2000132093/20U RU17614U1 (ru) 2000-12-25 2000-12-25 Бесконтактный датчик биений

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2000132093/20U RU17614U1 (ru) 2000-12-25 2000-12-25 Бесконтактный датчик биений

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU17614U1 true RU17614U1 (ru) 2001-04-10

Family

ID=36050122

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2000132093/20U RU17614U1 (ru) 2000-12-25 2000-12-25 Бесконтактный датчик биений

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU17614U1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4355904A (en) Optical inspection device for measuring depthwise variations from a focal plane
US5054926A (en) Distance measuring device
US4859062A (en) Optoelectrical measuring system and apparatus
US4473750A (en) Three-dimensional shape measuring device
US3822946A (en) Dimensional measuring apparatus using optical scan especially for hardness testing
US3986774A (en) Gauging surfaces by remotely tracking multiple images
GB1400253A (en) Gauging dimensions
CN105181298A (zh) 多次反射式激光共焦长焦距测量方法与装置
US4973164A (en) Method and apparatus for the optical detection of the roughness profile of a material surface
US6181422B1 (en) Optical surface measurement apparatus and methods
CN109807471A (zh) 一种激光打标装置及方法
US4527893A (en) Method and apparatus for optically measuring the distance to a workpiece
WO1988002846A1 (en) Optical measuring probe
CN111940913A (zh) 激光共焦三维曲面打标方法及装置
CN109211876A (zh) 飞秒激光加工参数分光瞳共焦Raman光谱原位监测方法与装置
RU17614U1 (ru) Бесконтактный датчик биений
CN210475857U (zh) 激光差动共焦三维曲面打标装置
CN111288926B (zh) 基于法向跟踪的自由曲面共焦测量方法及装置
US4199259A (en) Detector pulse enhancement circuit
JPS58169008A (ja) 光学式位置測定装置
CN111940912A (zh) 激光差动共焦三维曲面打标方法及装置
SU1747899A1 (ru) Способ контрол микрогеометрии поверхности
EP0159800A2 (en) Micro-dimensional measurement apparatus
SU1620829A1 (ru) Фотометрический способ измерени угла конуса детали
JPS62127614A (ja) レ−ザ光による表面変位計測法

Legal Events

Date Code Title Description
ND1K Extending utility model patent duration
MM1K Utility model has become invalid (non-payment of fees)

Effective date: 20081226