RU1745080C - Источник ионов паров металлов - Google Patents

Источник ионов паров металлов Download PDF

Info

Publication number
RU1745080C
RU1745080C SU4806303A RU1745080C RU 1745080 C RU1745080 C RU 1745080C SU 4806303 A SU4806303 A SU 4806303A RU 1745080 C RU1745080 C RU 1745080C
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
cathode
hole
ions
plasma
tip
Prior art date
Application number
Other languages
English (en)
Inventor
Б.И. Журавлев
О.А. Богатырев
Г.В. Потемкин
Original Assignee
Журавлев Борис Иванович
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Журавлев Борис Иванович filed Critical Журавлев Борис Иванович
Priority to SU4806303 priority Critical patent/RU1745080C/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU1745080C publication Critical patent/RU1745080C/ru

Links

Landscapes

  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Abstract

Изобретение относится к области технической физики и может быть использовано для вакуумно-плазменной обработки материалов. Целью изобретения является повышение концентрации ионов металла в рабочем потоке плазмы и увеличение ресурса работы источника. Поставленная цель достигается тем, что стержень с наконечником установлен на расстоянии l = (1 - 3)d, где d - диаметр катодного отверстия. При этом обращенная к катоду поверхность наконечника выполнена в форме части сферы, центр которой расположен на оси катодного отверстия и радиус которой не превышает диаметра d катодного отверстия. Между полым катодом 1 и анодом 3 зажигается разряд. Зажигание разряда сопровождается появлением катодной плазмы в полом катоде, анодной плазмы в аноде и сгустком плотной плазмы в контрагирующем отверстии 2. При подаче отрицательного потенциала на стержень 4 ионы анодной плазмы бомбардируют наконечник 6, интенсивно распыляя его металлическую поверхность, обращенную к катоду 1. Из плотной плазмы, генерируемой в контрагирующем отверстии 2, ионы металлов вместе с ионами сопутствующего газа проходят через полый катод и попадают в поле электродов 8, 9, где формируются в поток и ускоряются до требуемых энергий. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.

Description

Изобретение относится к устройствам для получения стационарных интенсивных пучков ионов паров различных металлов, включая тугоплавкие, и может быть использовано для технологических операций на базе ионно-лучевой обработки материалов в вакууме (например, легирование инструмента с целью его упрочнения, легирование полупроводников, нанесение покрытий и т.д.
Целью изобретения является повышение концентрации ионов металла в потоке ионов и ресурса источника ионов.
Поставленная цель достигается тем, что стержень с наконечником установлен на расстоянии l = (1-3)d от дна катода, где d - диаметр катодного отверстия, при этом обращенная к катоду поверхность наконечника выполнена в форме части сферы, центр которой расположен на оси катодного отверстия, а ее радиус не превышает диаметра катодного отверстия. С целью расширения выбора рабочих материалов наконечник выполнен из следующего ряда металлов (Ta, Ti, Ni, Fe и др.).
Стержень с наконечником выведен из критичной к геометрическим размерам зоны разряда, поэтому уменьшение размеров наконечника при его распылении для получения ионов паров металла не оказывает влияния на параметры разряда и источника ионов в целом, что позволяет повысить ресурс источника ионов. Увеличение объема материала наконечника позволяет дополнительно повысить ресурс источника ионов. Так как расстояние, на котором наконечник стержня расположен от дна катода, равное (1-3)d, где d - диаметр катодного отверстия, сравнимо с длиной свободного пробега распыленных атомов металла в зоне ионизации при давлениях (10-3 - 10-2) Торр, соответствующих оптимальным для разрядов низкого давления, то уменьшается вероятность попадания распыленных атомов металлов на стенки разрядной камеры, что повышает концентрацию ионов металла в разряде и в выходящем из источника потоке ионов. Сферическая форма обращенной к катоду поверхности наконечника фокусирует распыленные атомы металла наконечника в отверстие катода, что также уменьшает вероятность потерь атомов металла и повышает концентрацию ионов металла в разряде и в потоке ионов из источника. Нижний предел расстояния от наконечника до дна катода, равный d, ограничен перекрытием катодных падений (ионных оболочек) наконечника и катода, что приводит к прекращению тока электронов на анод и обрыву разряда. Верхний предел этого расстояния, равный 3d, ограничен длиной свободного пробега распыленных атомов металла наконечника в зоне ионизации до контрагирующего отверстия катода. Увеличение этого расстояния выше 3d приводит к рассеянию распыленных атомов металла, что повышает потери атомов металла на стенки разрядной камеры и уменьшает концентрацию ионов металла в потоке ионов из источника.
На чертеже показан источник ионов паров металлов.
Полый катод 1 выполнен в виде цилиндрического стакана, в дне которого выполнено осевое контрагирующее катодное отверстие 2. Соосно с катодом герметично установлен анод 3, в ближней к катоду стенке которого выполнено отверстие диаметром, превышающим диаметр катодного отверстия. С анодной стороны разрядной камеры, включающей электроды 1 и 3, герметично установлен стержень 4, электрически изолированный с помощью изолятора 5. На стержне 4 установлен наконечник 6 из ионообразующего металла (например, тантал, титан, никель, железо и др.). Расстояние от дна катода 1 до наконечника 6 составляет (1-3)d, где d - диаметр катодного отверстия 2. Поверхность наконечника 6, обращенная к катоду 1, выполнена в форме части сферы, центр которой расположен на оси катодного отверстия 2, а ее радиус не превышает диаметра катодного отверстия 2. Дно катода 1, стержень 4 выполняются из ферромагнитного материала и вместе с катушкой электромагнита 7 образуют магнитную систему, создающую магнитное поле вдоль оси источника ионов в области отверстия анода 3. Эмиссионный электрод 8, вместе с ускоряющим электродом 9 образует многоапертурную ионно-оптическую систему. Напуск сопутствующего газа, необходимого для горения разряда, осуществляется через торцовую стенку анода 3. Откачка герметизированной разрядной камеры осуществляется через отверстия ионно-оптической системы. С целью увеличения площади токоотбора ионов, а вместе с тем и площади поперечного сечения пучка, возможно увеличение числа отверстий в катоде 1 и аноде 2 и стержней 4 с наконечниками 6, т.е. возможна организация параллельных каналов разряда с одним катодом и одним анодом. Подключение электродов источника ионов к блокам электропитания катод 1 и анод 3 - к блоку питания разряда, анод 3 и стержень 4 - к блоку питания распыляемого наконечника 6 стержня 4 (минус - на стержень 4), электроды 8 и 9 - к высоковольтному блоку питания (плюс - на электрод 8).
Источник ионов работает следующим образом.
Разряд между полым катодом 1 и анодом 3 зажигается после напуска сопутствующего газа (например, аргона) и подачи разрядного напряжения ≈ 600 В. Напряжение горения разряда составляет величину 300 В. Зажигание разряда сопровождается появление катодной плазмы, отделенной от стенок катода 1 электростатическим слоем (катодным падением), и сгустка плотной плазмы в контрагирующем отверстии 2, отделенного ДЭС в форме, близкой к полусфере, от катодной плазмы и электро- статическим слоем от стенок отверстия 2. ДЭС располагается в полом катоде 1 вблизи контрагирующего отверстия 2.
Из контрагирующего отверстия плазма проникает в анод 3, выполненный в форме полого цилиндрического стакана, где образуется плазменная граница, отделенная от обращенной к катоду 1 поверхности наконечника 6, выполненной в форме части сферы, электростатическим слоем. При подаче отрицательного потенциала на стержень 4 ионы с плазменной границы движутся вдоль силовых линий электрического поля электростатического слоя нормально к поверхности наконечника 6, обращенной к катоду 1. Ускоренные ионы бомбардируют поверхность наконечника 6, интенсивно распыляя ее. Распыленные атомы металла наконечника 6, двигаясь нормально от поверхности и наконечника, поступают в направлении оси источника в зону интенсивной ионизации, расположенной в катодном контрагирующем отверстии 2, где и происходит образование ионов металла.
Механизм образования заряженных частиц, обеспечивающих поддержание разряда и поставку ионов в пучок, следующий.
Со стенок полого катода 1 за счет ионно-электронной эмиссии выбиваются первичные электроны. Они ускоряются катодным падением Uk. При пересечении полости они теряют часть энергии на взаимодействия с катодной плазмой и уже не могут вернуться обратно на стенку, покинуть полость катода 1 они могут только через катодное отверстие 2. Из-за большого отношения внутренней поверхности полого катода 1 к площади отверстия 2 первичные электроны многократно осциллируют в полом катоде, растрачивая свою энергию eUk на генерацию катодной плазмы, при этом обеспечивается коэффициент объемного размножения первичных электронов α1> 2. Далее первичные электроны вместе с образованными электронами катодной плазмы фокусируются и ускоряются ДЭС до энергии eUc (Uс - напряжение на ДЭС) в область сжатия разряда контрагирующим отверстием 2, где обеспечивается ионизация распыленных атомов металла наконечника 6 и сопутствующего газа с образованием плотной плазмы. Плотная плазма генерируется за счет пучково-плазменных взаимодействий (ППВ).
Введение аксиального магнитного поля между стержнем 4 и дном катода 1 и подача отрицательного потенциала на стержень 4 препятствуют уходу ионизирующих электронов на ближнюю к катоду 1 стенку анода 3 и обеспечивают увеличение отдачи энергии eUc электронами, прошедшими ДЭС, на объемную генерацию плотной плазмы в контрагирующем отверстии 2 за счет их осцилляций вдоль силовых линий магнитного поля (вдоль оси - источника) при отражении от наконечника 6. В плотной плазме контрагирующего отверстия 2 обеспечивается размножение электронов, поступивших из катодной полости 1 с энергией eUc, с коэффициентом α2 > 2. Ток электронов в разряде замыкается на анод, перемещение которых поперек силовых линий магнитного поля происходит при столкновениях с атомами рабочего вещества и за счет ППВ.
Из плотной плазмы, генерируемой в контрагирующем отверстии 2, ионы паров металла вместе с ионами сопутствующего газа ускоряются ДЭС и в виде расходящегося потока движутся в полом катоде 1 и через отверстия в эмиссионном электроде 8 выходят в ускоряющий промежуток. При подаче от высоковольтного блока питания ускоряющего напряжения между эмиссионным 8 и ускоряющим 9 электродами ионы формируются в пучок и ускоряются до требуемых энергий. Часть ионов из расходящегося потока и катодной плазмы попадают на стенки полого катода 1 и участвуют в воспроизводстве первичных электронов.
Пары металла наконечника 6 образуются за счет катодного распыления наконечника 6 при подаче напряжения на стержень 4 до 1 кВ. При этом сферическая форма обращенной к катоду 1 поверхности наконечника 6 обеспечивает фокусировку распыленного металла в зону интенсивной ионизации (контрагирующеее отверстие 2). С увеличением потенциала наконечника 6 относительно анода 3 увеличивается и ширина электростатического слоя у его поверхности, отделяющего плотную плазму контрагирующего отверстия 2. Этим обусловлено ограничение минимального расстояния l между наконечником 6 и дном полого катода 1 величиной d, так как перекрытие слоев у наконечника 6 и отверстия 2 приводит к прекращению тока на анод, т.е. к обрыву разряда.
Распыленные атомы ионообразующего металла наконечника 6 поступают непосредственно в зону интенсивной ионизации (отверстие 2), при этом максимальное расстояние l = 3d ограничено длиной свободного пробега λ распыленных атомов металла в этой зоне (l = 3d ≈λ). При p ≈ 5 ˙ 10-3Торр величина λ≈ 10-2 м, что обеспечивает при d = 4 ˙ 10-3 мм соотношение l ≈ 2,5d, которое находится в пределах (1-3)d. Очевидно, что уменьшение концентрации ионов металла в разряде и в потоке ионов из источника при l > 3d (l > λ) связано с увеличением рассеяния распыленных атомов металла на атомах сопутствующего газа. При этом уменьшается и коэффициент использования рабочего вещества.
Предложенный источник ионов имеет большой ресурс работы и высокую концентрацию ионов металла в потоке ионов из источника.

Claims (2)

1. ИСТОЧНИК ИОНОВ ПАРОВ МЕТАЛЛОВ, содержащий холодный полый катод в виде цилиндрического стакана с осевым отверстием в дне, анод, выполненный в форме полого цилиндрического стакана, обращенный своим основанием к днищу катода, в котором выполнено отверстие, соосное с осевым катодным отверстием, и диаметром, большим диаметра катодного отверстия, стержень с наконечником из ионообразующего металла, установленный со стороны анода вдоль оси симметрии источника, электромагнитную катушку и многоапертурную ионно-оптическую систему, отличающийся тем, что, с целью повышения концентрации ионов металла в потоке ионов и ресурса источника ионов, стержень с наконечником установлен на расстоянии l = (1 - 3) d от дна катода, где d - диаметр катодного отверстия, при этом обращенная к катоду поверхность наконечника выполнена в форме части сферы, центр которой расположен на оси катодного отверстия, а ее радиус не превышает диаметр катодного отверстия.
2. Источник ионов по п.1, отличающийся тем, что, с целью расширения выбора рабочих материалов, наконечник выполнен из следующего ряда металлов: Ta, Ti, Ni, Fe.
SU4806303 1990-03-29 1990-03-29 Источник ионов паров металлов RU1745080C (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4806303 RU1745080C (ru) 1990-03-29 1990-03-29 Источник ионов паров металлов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4806303 RU1745080C (ru) 1990-03-29 1990-03-29 Источник ионов паров металлов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU1745080C true RU1745080C (ru) 1995-03-27

Family

ID=30441719

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU4806303 RU1745080C (ru) 1990-03-29 1990-03-29 Источник ионов паров металлов

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU1745080C (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10243406A1 (de) * 2002-09-18 2004-04-01 Leybold Optics Gmbh Plasmaquelle

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР N 1561744, кл. H 01J 27/00, 1987. *
Никитинский В.А. и др. Источник ионов металлов. Сб. Тезисы докладов I-й Всесоюзной конференции "Модификация свойств конструкционных материалов пучками заряженных частиц". Томск, 1988, с.53-55. *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10243406A1 (de) * 2002-09-18 2004-04-01 Leybold Optics Gmbh Plasmaquelle
US6841942B2 (en) 2002-09-18 2005-01-11 Leybold Optics Gmbh Plasma source with reliable ignition

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4684848A (en) Broad-beam electron source
US5022977A (en) Ion generation apparatus and thin film forming apparatus and ion source utilizing the ion generation apparatus
US4714860A (en) Ion beam generating apparatus
US4541890A (en) Hall ion generator for working surfaces with a low energy high intensity ion beam
US4122347A (en) Ion source
US4894546A (en) Hollow cathode ion sources
US4412153A (en) Dual filament ion source
US5640009A (en) Fast atom beam source
EP0291185B1 (en) Improved ion source
US5315121A (en) Metal ion source and a method of producing metal ions
US3702416A (en) Ion source having a uniform radial density
RU1745080C (ru) Источник ионов паров металлов
White Ion sources for use in ion implantation
JPH07169425A (ja) イオン源
JP3064214B2 (ja) 高速原子線源
JPH0762989B2 (ja) 電子ビ−ム励起イオン源
US4846953A (en) Metal ion source
JPH10275566A (ja) イオン源
Burdovitsin et al. Plasma Electron Sources
Schanin et al. Cold-hollow-cathode arc discharge in crossed electric and magnetic fields
Kazakov et al. Parameters of Constricted Arc for the Pulsed Forevacuum Plasma Electron Source
Cornish et al. The use of an electron microchannel as a self-extracting and focusing plasma cathode electron gun
KR960004963B1 (ko) 이온 유도 스퍼터링(Ion Induced Sputtering)을 이용한 고밀도 플라즈마 생성법과 그 장치
EP0095879B1 (en) Apparatus and method for working surfaces with a low energy high intensity ion beam
JP2627420B2 (ja) 高速原子線源