RU172838U1 - Устройство для зондового контроля параметров кристаллов высоковольтных приборов - Google Patents

Устройство для зондового контроля параметров кристаллов высоковольтных приборов Download PDF

Info

Publication number
RU172838U1
RU172838U1 RU2017107361U RU2017107361U RU172838U1 RU 172838 U1 RU172838 U1 RU 172838U1 RU 2017107361 U RU2017107361 U RU 2017107361U RU 2017107361 U RU2017107361 U RU 2017107361U RU 172838 U1 RU172838 U1 RU 172838U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
voltage
probe
current
generator
probes
Prior art date
Application number
RU2017107361U
Other languages
English (en)
Inventor
Николай Александрович Брюхно
Андрей Николаевич Гаврилин
Иван Владимирович Куфтов
Максим Витальевич Степанов
Алексей Алексеевич Малаханов
Original Assignee
Закрытое акционерное общество "ГРУППА КРЕМНИЙ ЭЛ"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Закрытое акционерное общество "ГРУППА КРЕМНИЙ ЭЛ" filed Critical Закрытое акционерное общество "ГРУППА КРЕМНИЙ ЭЛ"
Priority to RU2017107361U priority Critical patent/RU172838U1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU172838U1 publication Critical patent/RU172838U1/ru

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Abstract

Областью применения полезной модели является электроизмерительная техника, а именно - устройства для контроля и измерений параметров высоковольтных полупроводниковых кристаллов.Указанный технический результат достигается тем, что в устройство для зондового контроля параметров кристаллов высоковольтных приборов, состоящее из генератора тока, генератора напряжения, потенциального зонда и токовых зондов из расчета один зонд на каждые 0,5 А, распределенных по окружности, дополнительно введен коммутатор, переключающий токовые зонды от генератора тока к генератору напряжения.Техническим результатом полезной модели является устранение коронного разряда при высоковольтных измерениях кристаллов полупроводниковых проборов. 2 ил.

Description

Областью применения полезной модели является электроизмерительная техника, а именно - устройства для контроля и измерений параметров высоковольтных полупроводниковых кристаллов.
Известно устройство для зондового контроля параметров кристаллов высоковольтных приборов, состоящее из генератора тока, генератора напряжения, двух потенциальных зондов и одного токового зонда (см., например, статью Минченко В.А., Ковальчук Г.Ф., Школык С.Б. «Принципы построения и структурные схемы зондовых автоматических систем контроля параметров изделий микро- и наноэлектроники на пластине» из журнала «Приборы и методы измерений», №2 (5), 2012 г., стр. 67-74).
Недостатком известного устройства является то, что при прохождении тока больше 0,5 А через один зонд возможно его подгорание в области контакта, вследствие чего может произойти оплавление алюминиевой металлизации кристалла.
Для устранения этого недостатка в промышленности при подаче большого тока при контроле параметров кристаллов используют несколько токовых зондов, включенных параллельно.
Наиболее близким к предлагаемой полезной модели является устройство для зондового контроля параметров кристалла, состоящего из генератора тока, генератора напряжения, двух потенциальных зондов и нескольких токовых зондов (см. операционная карта технологического процесса «Разбраковка пластин по электропараметрам на тестере «Иней» ЮФ0.754.980ТКл.124б.).
Количество токовых зондов определяется величиной необходимого тока для контроля параметров исходя из расчета 1 зонд на каждые 0,5 А. Зонды располагаются на контактной площадке, исходя из удобства их установки.
Два потенциальных зонда анодный и катодный подключены к генератору напряжения и обеспечивают измерение прямого или обратного напряжения без учета падения напряжения на проводах и токовых зондах.
Недостатком данного устройства является возможный коронный разряд при приложении к потенциальным зондам больших напряжений. Например, карбидокремниевые диоды Шоттки, которые могут иметь рабочее напряжение более 1000 В.
Коронный разряд возникает в резко неоднородных полях у электродов с большой кривизной поверхности (острия, тонкие провода). Зона вблизи такого электрода характеризуется более высокими значениями напряженности поля по сравнению со средними значениями для всего промежутка. Так обычно бывает, когда характерный радиус зонда r, гораздо меньше межэлектродного расстояния d, d/r>5,85. Когда напряженность поля достигает предельного значения, происходит ионизация молекул воздуха, ведущая к коронному разряду. В высоковольтных кристаллах радиус зонда всегда значительно меньше расстояния между электродами кристалла. Таким образом, при подаче на один потенциальный зонд анода, определенного напряжения, не являющегося пробивным для кристалла высоковольтного прибора, происходит коронный разряд. Коронный разряд ведет к повреждению или оплавлению участка кристалла вокруг зонда, а следовательно, к возможному отказу кристалла полупроводникового прибора.
Техническим результатом полезной модели является устранение коронного разряда при высоковольтных измерениях кристаллов полупроводниковых проборов.
Указанный технический результат достигается тем, что в устройство для зондового контроля параметров кристаллов высоковольтных приборов, состоящее из генератора тока, генератора напряжения, потенциального зонда и токовых зондов из расчета один зонд на каждые 0,5 А, распределенных по окружности, дополнительно введен коммутатор, переключающий токовые зонды от генератора тока к генератору напряжения.
В полупроводниковых кристаллах одним из электродов является плоскость неизолированного края кристалла, а вторым электродом является зонд с острием параболоидной формы.
Степень неоднородности электрического поля между электродами характеризуется коэффициентом неоднородности Кн, который равен отношению максимальной напряженности Емакс к средней напряженности Еср между электродами,
Figure 00000001
Средняя напряженность есть отношение напряжения U, приложенного к электродам полупроводникового высоковольтного кристалла, к расстоянию между электродами, d,
Figure 00000002
.
Максимальная напряженность зависит от конфигурации, размеров электродов и расстояния между ними.
Максимальная напряженность поля для острия параболоидной формы и плоскостью рассчитывается по формуле,
Figure 00000003
,
где
U - приложенное напряжение, В;
r - радиус закругления острия электрода, мкм;
d - расстояние между электродами, мкм.
Для однородного поля коэффициент неоднородности Кн=1, для слабонеоднородного - 1<КН ≤ 3, для резконеоднородного - КН ≥ 4.
Значение напряжения и напряженности поля на электроде при возникновении коронного разряда зависит от степени неоднородности поля. С увеличением степени неоднородности напряженность на электроде-стержне увеличивается, а напряжение возникновения короны уменьшается.
Так как коммутатор переключает токовые зонды к генератору напряжения, то на зонды анода подается потенциал от генератора напряжения, при этом радиусом потенциального электрода является радиус окружности, по которой распределены зонды. Таким образом, эффективный радиус электрода увеличивается в несколько раз от значения радиуса одного зонда до значения радиуса окружности по которой распределены зонды. При этом коэффициент неоднородности уменьшается до значений слабонеоднородного и однородного поля, что устраняет возможность возникновения коронного разряда.
Сущность предлагаемой полезной модели поясняется рисунками. На фиг. 1 приведена блок схема устройства зондового контроля параметров, на фиг. 2 вид сверху карбидокремниевого кристалла диода Шоттки с установленными зондами.
Позициями на фиг. 1, 2 обозначены:
1 - кристаллы диода Шоттки;
2 - контактная площадка;
3 - токовые зонды;
4 - потенциальный зонд;
5 - коммутатор;
6 - генератор напряжения;
7 - генератор тока;
8 - микроамперметр;
9 - вольтметр.
По окружности, вписанной в контактную площадку 2, кристалла диода Шоттки 1 устанавливают токовые зонды 3, в центр устанавливается потенциальный зонд 4. Для подачи прямого тока по средствам коммутатора 5 токовые зонды 3, установленные по окружности, подключены к генератору тока 7, вольтметр 9 показывает значение прямого падения напряжения, 16 зондов позволяют пропускать ток до 8 А. При необходимости высоковольтных замеров, с помощью коммутатора 5 токовые зонды 3 подключаются к генератору напряжения 6. На кристалл диода Шоттки 1 подаются заданные значения обратного напряжения, которые контролируются вольтметром 9, а сила обратного тока диода измеряется микроамперметром 8.
Таким образом, для диода с рабочим напряжением 1200 В с контактной площадкой 500×500 мкм радиус потенциального зонда с 10 мкм увеличивается до 200 мкм, при этом коэффициент неоднородности Кн уменьшается с 21,6 до 2,7. Подача напряжения на зонды, расположенные по окружности, позволила уменьшить неоднородность поля в 8 раз до значения слабонеоднородного, что исключает возникновение коронного разряда.

Claims (1)

  1. Устройство для зондового контроля параметров кристаллов высоковольтных приборов, состоящее из генератора тока, генератора напряжения, потенциального зонда и токовых зондов из расчета один зонд на каждые 0,5 А, распределенных по окружности, отличающееся тем, что дополнительно введен коммутатор, переключающий токовые зонды от генератора тока к генератору напряжения.
RU2017107361U 2017-03-06 2017-03-06 Устройство для зондового контроля параметров кристаллов высоковольтных приборов RU172838U1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2017107361U RU172838U1 (ru) 2017-03-06 2017-03-06 Устройство для зондового контроля параметров кристаллов высоковольтных приборов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2017107361U RU172838U1 (ru) 2017-03-06 2017-03-06 Устройство для зондового контроля параметров кристаллов высоковольтных приборов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU172838U1 true RU172838U1 (ru) 2017-07-26

Family

ID=59499086

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2017107361U RU172838U1 (ru) 2017-03-06 2017-03-06 Устройство для зондового контроля параметров кристаллов высоковольтных приборов

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU172838U1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU178895U1 (ru) * 2017-12-15 2018-04-23 Акционерное общество "Научно-исследовательский институт молекулярной электроники" Зондовое устройство для контроля электрических параметров кристаллов микроэлектронных приборов на пластине
RU2724301C2 (ru) * 2018-12-17 2020-06-22 Акционерное общество "НПО "Орион" Способ увеличения прочности зондов многозондовых головок

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3508151A (en) * 1966-04-18 1970-04-21 Sprague Electric Co Card type probe head having knob anchored contacting ends
RU2076392C1 (ru) * 1981-05-22 1997-03-27 Государственное научно-производственное предприятие "Исток" Зондовая головка для измерения параметров кристаллов
RU2313776C1 (ru) * 2006-04-27 2007-12-27 Федеральное государственное учреждение "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов" (ФГУ ТИСНУМ) Зондовое устройство

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3508151A (en) * 1966-04-18 1970-04-21 Sprague Electric Co Card type probe head having knob anchored contacting ends
RU2076392C1 (ru) * 1981-05-22 1997-03-27 Государственное научно-производственное предприятие "Исток" Зондовая головка для измерения параметров кристаллов
RU2313776C1 (ru) * 2006-04-27 2007-12-27 Федеральное государственное учреждение "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов" (ФГУ ТИСНУМ) Зондовое устройство

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Статья: "ПРИНЦИПЫ ПОСТРОЕНИЯ И СТРУКТУРНЫЕ СХЕМЫ ЗОНДОВЫХ АВТОМАТИЧЕСКИХ СИСТЕМ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ИЗДЕЛИЙ МИКРО- И НАНОЭЛЕКТРОНИКИ НА ПЛАСТИНЕ", 09.01.2012.. *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU178895U1 (ru) * 2017-12-15 2018-04-23 Акционерное общество "Научно-исследовательский институт молекулярной электроники" Зондовое устройство для контроля электрических параметров кристаллов микроэлектронных приборов на пластине
RU2724301C2 (ru) * 2018-12-17 2020-06-22 Акционерное общество "НПО "Орион" Способ увеличения прочности зондов многозондовых головок

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10060619B2 (en) Combustion system with a grid switching electrode
RU172838U1 (ru) Устройство для зондового контроля параметров кристаллов высоковольтных приборов
US9778311B2 (en) Semiconductor inspection apparatus
TWI472651B (zh) 奈米級針尖製備方法
US10564190B2 (en) Charge plate monitor and operating method thereof
US11282732B2 (en) System and method for clamping a work piece
JP2015089329A5 (ru)
CN109752638B (zh) 一种连续测量igbt芯片输出曲线的装置及方法
JP2013257952A (ja) 除電装置
JP4872476B2 (ja) コンデンサの放電負荷試験装置
CN103620089B (zh) 放电表面处理装置及放电表面处理方法
JP2013127418A (ja) 粒子測定装置
Kawashima et al. Fundamental Study for Quantification of Change in PD Waveform on Electrical Treeing
王荣刚 et al. Discharge characteristics of a needle-to-plate electrode at a micro-scale gap
JP5425502B2 (ja) 回路基板検査装置
Nakane et al. Current waveforms of electric discharge in air under high-intensity acoustic standing wave field
JP2006071467A (ja) 半導体チップの電気特性測定方法及び装置
CN115291067A (zh) 一种放电间隙高压测试装置
Goller et al. Precise Determination of Dynamic RDSon in AlGaN/GaN Power HEMTs under Soft Switching Condition
JP7467030B2 (ja) 発光ダイオードの検査装置
Rozga The influence of insulation wrapping on HV electrode on the dynamics of electrical discharges in transformer oil
SU926528A1 (ru) Устройство дл измерени параметров шероховатости электропроводных изделий
Abdullah et al. Dependence of inter-electrode gap separation on the Positive and Negative Pin-Grid Plasma Corona Discharge
SU114215A1 (ru) Способ испытани полупроводниковых выпр мителей и устройство дл осуществлени этого способа
SU1372252A1 (ru) Устройство дл определени удельного объемного электрического сопротивлени полимерных материалов