RU168724U1 - Устройство бесконтактного контроля электромагнитных параметров тонких плёнок - Google Patents

Устройство бесконтактного контроля электромагнитных параметров тонких плёнок Download PDF

Info

Publication number
RU168724U1
RU168724U1 RU2016122561U RU2016122561U RU168724U1 RU 168724 U1 RU168724 U1 RU 168724U1 RU 2016122561 U RU2016122561 U RU 2016122561U RU 2016122561 U RU2016122561 U RU 2016122561U RU 168724 U1 RU168724 U1 RU 168724U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
splitter
signal
reflected
input
parameters
Prior art date
Application number
RU2016122561U
Other languages
English (en)
Inventor
Сергей Анатольевич Борминский
Дарья Михайловна Живоносновская
Борис Владимирович Скворцов
Original Assignee
федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева" filed Critical федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева"
Priority to RU2016122561U priority Critical patent/RU168724U1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU168724U1 publication Critical patent/RU168724U1/ru

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

Полезная модель относится к контрольно-измерительной технике и может быть использована для бесконтактного измерения удельной электрической проводимости, а также диэлектрической и магнитной проницаемостей тонких пленок и наноматериалов в диапазоне частот ω=10÷10Гц. Генератор 1 с помощью излучателя 2 формирует электромагнитный сигнал, поступающий на вход разветвителя 3. На выходах разветвителя формируются два зондирующих сигнала Фи Ф. Первый сигнал разветвителя Ф, отражаясь от испытуемого образца 4, приобретает информацию о электромагнитных параметрах контролируемой пленки, искаженную влиянием материала подложки, и поступает на вход первого приемника 6. Второй сигнал разветвителя, отражаясь от образца 5, приобретает информацию о электромагнитных параметрах материала подложки и поступает на вход второго приемника 7. По измеренным блоком 8 параметрам отраженных сигналов ФФв блоке обработки 9 по специальному алгоритму вычисляются искомые электромагнитные параметры контролируемой пленки на разных частотах. Технический результат заключается в устранении влияния толщины пленки и параметров подложки на результат измерения. 1 ил.

Description

Полезная модель относится к контрольно-измерительной технике и может быть использована для создания устройств бесконтактного оперативного измерения удельной электрической проводимости σ, диэлектрической ε и магнитной μ проницаемостей тонких пленок и наноматериалов в диапазоне частот ω=107÷1011 Гц. Проблема актуальна в связи с развитием нанотехнологий, где необходимо оперативно контролировать электромагнитные параметры сред и материалов в процессе их производства.
Аналогами заявляемой полезной модели являются бесконтактные устройства определения электромагнитных параметров материалов, содержащие кювету для контролируемой среды, помещаемую в индуктивный или емкостный датчики, входы которых соединены с питающим генератором, а выходы с блоком обработки (Пат. RU 2532566 С2 МПК G01N 27/22, опубл. 10.11.2014, Пат. RU 112430 U1 МПК G01N 22/00, G01R 27/26, опубл. 10.01.2012, Пат. RU 2529417 С1 МПК G01N 22/00, G01R 27/26, опубл. 10.11.2014, Пат. US. 6.657.439 В1 от 02.12.2003, МПК G01R 27/00, Пат. WO 2013048348 А1 Словения, от 04.04.2013, МПК G01R 33/12, G01R 33/14, H01F 29/08, Пат. US 20070285195 А1 от 13.12.2007, МПК Н01F 1/00, Пат. RU 2420749 С1 МПК G01R 27/16, опубл. 10.06.2011, Пат. RU 2432579 С1 МПК G01R 27/26, G01J 3/42, G01N 21/35, опубл. 27.10.2011, Пат. RU 2442179 С2 МПК G01R 27/26, опубл. 27.10.2010, Пат. RU 2103673 С1 МПК G01R 27/04, опубл. 27.01.1998, Пат. RU 2449303 C1 МПК G01R 33/00, В82В 1/00, опубл. 27.04.2012, Пат. RU 2421742 С1 МПК G01R 27/16, опубл. 20.06.11).
Об электромагнитных параметрах сред в перечисленных устройствах судят по изменениям емкости или индуктивности чувствительного элемента датчика, вызванных влиянием контролируемой среды.
Известно также устройство для измерения свойства диэлектрического материала (в том числе тонких пленок), содержащее генератор, приемник и излучатель электромагнитного сигнала (передающую и приемную антенны), волновые тройники, фазовращатель, аттенюатор, детектор и блок обработки информации (Пат. RU 2528130 С1 МПК G01N 22/04, G01R 27/26, опубл. 10.09.2014). Сигнал генератора первым волновым тройником делится на две части, одна из которых с помощью антенн проходит через объект контроля, а вторая часть, пройдя через аттенюатор и фазовращатель, попадают на второй волновой тройник, служащий фазовым детектором, с выхода которого сигнал попадает в блок обработки информации.
Недостатком известных устройств является ограниченные функциональные возможности, связанные с тем, что производится контроль одного из трех заявленных параметров. Это затрудняет их применение в устройствах оперативного контроля тонких пленок и наноматериалов, где требуется контролировать все три параметра.
Прототипом заявляемой полезной модели является устройство бесконтактного контроля электромагнитных параметров тонких пленок и наноматериалов (патент на полезную модель №156519, опубл. 10.11.2015.), содержащее генератор, выход которого подключен к входу излучателя электромагнитного сигнала, где на пути следования которого, к объекту контроля установлен разветвитель сигнала, второй выход которого электромагнитно соединен с приемником опорного сигнала, выход которого подключен к первому входу измерителя амплитуды и фазы, второй вход которого подключен к выходу приемника отраженного от объекта контроля сигнала, а выход измерителя амплитуды и фазы подключен к входу блока обработки и входу блока управления, выход которого подключен к генератору.
Недостатком прототипа является недостаточная точность измерений при контроле пленок, имеющих малый коэффициент отражения для выбранной длины волны излучения. Это связанно с тем, что отраженный сигнал несет в себе информацию не только о контролируемом материале, но и о подложке, так как прошедший через пленку зондирующий сигнал отражается также и от подложки, накладывается на сигнал, отраженный от поверхности пленки и искажает тем самым информационную картину процедуры измерения. При этом отраженный сигнал зависит также от толщины подложки, которая в общем случае неизвестна.
Поставлена задача: повысить точность измерения при исследовании тонких пленок, имеющих малый коэффициент отражения при сохранении возможности комплексных измерений одновременно трех электромагнитных параметров контролируемого материала.
Решение поставленной задачи достигается тем, что в известное устройство, содержащее управляемый генератором излучатель зондирующего сигнала, электромагнитно соединенный через разветвитель с двумя приемниками отраженного сигнала, выходы которых подключены ко входам измерителя параметров сигналов, соединенного с устройствами обработки и управления, причем первый выход разветвителя направлен на образец, содержащий испытуемую пленку, нанесенную на подложку, и посредством отраженного от нее сигнала соединен со входом первого приемника, дополнено тем, что второй выход разветвителя направлен на образец, выполненный из материала подложки, и посредством отраженного от него сигнала соединен со входом второго приемника сигнала.
Сущность полезной модели поясняется чертежом, где приведена структурная схема предложенного устройства.
Устройство состоит из генератора 1, выход которого подключен к входу излучателя электромагнитного сигнала 2, на выходе которого установлен разветвитель сигнала 3, первый выход которого направлен на образец 4, содержащий контролируемую пленку, расположенную на подложке. Второй выход разветвителя 3 направлен на образец 5, выполненный из материала подложки. Отраженные от контролируемого образца 4 и от подложки 5 сигналы Ф3 Ф4 поступают на входы приемников 6 и 7 соответственно, выходы которых подключены ко входу измерителя 8 параметров отраженных сигналов. Выход измерителя 8 подключен к входам блока обработки 9 и блока управления 9, выход которого подключен к генератору 1.
Устройство работает следующим образом. Генератор 1 с помощью излучателя 2 формирует электромагнитный сигнал, поступающий на вход разветвителя 3. На выходах разветвителя формируются два зондирующих сигнала. Первый сигнал Ф1 разветвителя, отражаясь от испытуемого образца 4, приобретает информацию о электромагнитных параметрах контролируемой пленки, искаженную влиянием материала подложки, поступает на вход первого приемника 6. Второй сигнал Ф2 разветвителя, отражаясь от образца 5, приобретает информацию о электромагнитных параметрах материала подложки и поступает на вход второго приемника.
Данные об амплитудах и фазах опорного Ф4 и отраженного Ф3 от испытуемого образца сигналов являются исходными для определения проводимости σx, диэлектрической εx и магнитной μx проницаемостей контролируемой пленки, которые вычисляются в блоке обработки 9 по специальному алгоритму. Параллельно данные об амплитуде и фазе передаются в блок управления 10, в котором последовательно выбираются две частоты работы генератора ω1 и ω2, исходя из критерия максимальной разницы амплитуд и фаз. Это дает возможность построить алгоритм обработки таким образом, чтобы устранить влияние толщины пленки и параметров подложки на результат измерения.
Следует отметить, что в зависимости от частоты, на которой работает устройство, конструкция излучателя и приемников электромагнитных сигналов может быть выполнена в виде катушек, антенн или щелевых излучателей. Также важно отметить, что устройство может функционировать как при отражении электромагнитного сигнала от объекта контроля, так и при прохождении сигнала через него. В последнем случае изменятся формулы для расчета конечных параметров.
Предложенная конструкция устройства позволяет бесконтактно проводить измерения на разных частотах, автоматически выбирая их, что дает возможность вычислить сразу три электромагнитных параметра объекта контроля: проводимость, диэлектрическую и магнитную проницаемости, при этом устранить влияние толщины контролируемой пленки и материала подложки, расширяет функциональные возможности существующих методов.

Claims (1)

  1. Устройство бесконтактного контроля электромагнитных параметров тонких плёнок, содержащее управляемый генератором излучатель зондирующего сигнала, электромагнитно соединённый через разветвитель с двумя приемниками отраженного сигнала, выходы которых подключены к входам измерителя параметров сигналов, соединённого с устройством обработки и управления, причем первый выход разветвителя направлен на образец, содержащий испытуемую плёнку, нанесённую на подложку, и посредством отраженного от неё сигнала соединён со входом первого приемника, отличающееся тем, что второй выход разветвителя направлен на образец, выполненный из материала подложки, и посредством отраженного от него сигнала соединён со входом второго приёмника.
RU2016122561U 2016-06-07 2016-06-07 Устройство бесконтактного контроля электромагнитных параметров тонких плёнок RU168724U1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2016122561U RU168724U1 (ru) 2016-06-07 2016-06-07 Устройство бесконтактного контроля электромагнитных параметров тонких плёнок

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2016122561U RU168724U1 (ru) 2016-06-07 2016-06-07 Устройство бесконтактного контроля электромагнитных параметров тонких плёнок

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU168724U1 true RU168724U1 (ru) 2017-02-17

Family

ID=58450451

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2016122561U RU168724U1 (ru) 2016-06-07 2016-06-07 Устройство бесконтактного контроля электромагнитных параметров тонких плёнок

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU168724U1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU185095U1 (ru) * 2018-07-17 2018-11-21 федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева" Устройство бесконтактного контроля электромагнитных параметров тонких плёнок, нанесенных на подложку конечной толщины

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6675645B1 (en) * 1998-08-14 2004-01-13 Mts Systems Corporation Electromagnetic method of and apparatus for electromagnetic parameters of material (thin films and bulks) monitoring
RU2421742C1 (ru) * 2010-01-27 2011-06-20 Закрытое Акционерное Общество "ТЕЛЕКОМ-СТВ" Устройство для бесконтактного измерения удельного сопротивления кремниевого сырья
RU2528130C1 (ru) * 2013-03-29 2014-09-10 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова Российской академии наук Устройство для измерения свойства диэлектрического материала
RU156519U1 (ru) * 2015-07-08 2015-11-10 федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ) Устройство бесконтактного контроля электромагнитных параметров тонких плёнок и наноматериалов

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6675645B1 (en) * 1998-08-14 2004-01-13 Mts Systems Corporation Electromagnetic method of and apparatus for electromagnetic parameters of material (thin films and bulks) monitoring
RU2421742C1 (ru) * 2010-01-27 2011-06-20 Закрытое Акционерное Общество "ТЕЛЕКОМ-СТВ" Устройство для бесконтактного измерения удельного сопротивления кремниевого сырья
RU2528130C1 (ru) * 2013-03-29 2014-09-10 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова Российской академии наук Устройство для измерения свойства диэлектрического материала
RU156519U1 (ru) * 2015-07-08 2015-11-10 федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ) Устройство бесконтактного контроля электромагнитных параметров тонких плёнок и наноматериалов

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU185095U1 (ru) * 2018-07-17 2018-11-21 федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева" Устройство бесконтактного контроля электромагнитных параметров тонких плёнок, нанесенных на подложку конечной толщины

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2015508160A5 (ru)
RU2015117546A (ru) Калиброванная система для электромагнитной съемки
RU156519U1 (ru) Устройство бесконтактного контроля электромагнитных параметров тонких плёнок и наноматериалов
Cerro et al. An accurate localization system for nondestructive testing based on magnetic measurements in quasi-planar domain
Szypłowska et al. Soil complex dielectric permittivity spectra determination using electrical signal reflections in probes of various lengths
RU168724U1 (ru) Устройство бесконтактного контроля электромагнитных параметров тонких плёнок
Donnell et al. Dual-loaded modulated dipole scatterer as an embedded sensor
RU2626573C1 (ru) Устройство бесконтактного измерения электромагнитных параметров тонких пленок
Cao et al. Spintronic microwave imaging
Yang et al. A high frequency digital induction system for condutive flow level measurements
RU185095U1 (ru) Устройство бесконтактного контроля электромагнитных параметров тонких плёнок, нанесенных на подложку конечной толщины
Probst et al. Nondestructive thickness determination of plastic pipes in a nearby industrial environment using terahertz time domain spectroscopy
RU2528130C1 (ru) Устройство для измерения свойства диэлектрического материала
NO20140185A1 (no) System og fremgangsmåte for flerfase strømningsmålinger
TW202326155A (zh) 一種用於量測待測物的複介電係數的裝置、以及用於複合介電質的時域多重反射訊號的量測裝置及其量測方法
RU2395789C1 (ru) Способ определения высоты слоя сыпучего материала
Pokatilov et al. Inhomogeneity correction in calibration of electrical conductivity standards
RU2550778C1 (ru) Способ определения состояния поверхности дороги
Dorofeev et al. A device for the quasi-optical resonance diagnostics of a glass-coated cast microwire
RU2610878C1 (ru) Способ бесконтактного измерения электромагнитных параметров материалов
RU2532858C2 (ru) Способ измерения толщины неферромагнитного электропроводящего покрытия стали
Pálfi et al. Improving the result of the histogram test using a fast sine fit algorithm
CN105182260B (zh) 磁导率的涡流检测装置以及基于该装置的检测方法及系统
Kon et al. Nondestructive method using transmission line for detection of foreign objects in food
RU2350899C1 (ru) Способ определения толщины диэлектрического покрытия

Legal Events

Date Code Title Description
MM9K Utility model has become invalid (non-payment of fees)

Effective date: 20200608

NF9K Utility model reinstated

Effective date: 20210615