RU156627U1 - SILICON DIFFERENTIAL PHOTO RECEIVER - Google Patents
SILICON DIFFERENTIAL PHOTO RECEIVER Download PDFInfo
- Publication number
- RU156627U1 RU156627U1 RU2015117120/28U RU2015117120U RU156627U1 RU 156627 U1 RU156627 U1 RU 156627U1 RU 2015117120/28 U RU2015117120/28 U RU 2015117120/28U RU 2015117120 U RU2015117120 U RU 2015117120U RU 156627 U1 RU156627 U1 RU 156627U1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- photodiodes
- photodetector
- sensitivity
- silicon differential
- photo receiver
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/547—Monocrystalline silicon PV cells
Landscapes
- Light Receiving Elements (AREA)
Abstract
1. Кремниевый дифференциальный фотоприемник, состоящий из двух фотодиодов, отличающийся тем, что один из фотодиодов содержит ионно-легированный слой с высокой концентрацией примеси.2. Фотоприемник по п. 1, отличающийся тем, что в качестве примеси используется мышьяк с поверхностной концентрацией, превышающей 200 мкКл/см.1. Silicon differential photodetector consisting of two photodiodes, characterized in that one of the photodiodes contains an ion-doped layer with a high impurity concentration. A photodetector according to claim 1, characterized in that arsenic with a surface concentration exceeding 200 μC / cm is used as an impurity.
Description
Полезная модель относится к области опто- и микроэлектроники и может быть использовано в приборах контроля ультрафиолетового (УФ) и видимого излучения.The utility model relates to the field of optoelectronics and microelectronics and can be used in control devices for ultraviolet (UV) and visible radiation.
Известен кремниевый дифференциальный фотоприемник, имеющий два фотодиода, один из которых закрыт фильтром, блокирующим коротковолновое излучение (см. US №7196311, H01L 27/15, 27.03.2007). Наличие фильтра позволяет путем вычитания сигналов снизить чувствительность фотоприемника в длинноволновой части спектра.Known silicon differential photodetector having two photodiodes, one of which is closed by a filter that blocks short-wave radiation (see US No. 7196311, H01L 27/15, 03/27/2007). The presence of a filter allows by subtracting signals to reduce the sensitivity of the photodetector in the long-wavelength part of the spectrum.
Наиболее близким техническим решением является фотоприемник (см. BY 8532 U, H01L 27/15, 30.08.2012), в котором один из фотодиодов закрыт фильтром, а на втором фотодиоде сформирован экран, уменьшающий площадь приемной площадки. Это позволяет скорректировать чувствительность фотоприемников и более эффективно устранить паразитную составляющую излучения в длинноволновой части спектра.The closest technical solution is a photodetector (see BY 8532 U, H01L 27/15, 08/30/2012), in which one of the photodiodes is covered by a filter, and a screen is formed on the second photodiode, which reduces the area of the receiving area. This allows you to adjust the sensitivity of the photodetectors and more effectively eliminate the spurious component of radiation in the long-wavelength part of the spectrum.
Недостатком известных фотоприемников является трудность в подборе фильтра с требуемой спектральной характеристикой, что делает их недостаточно селективным из-за наличия в разностном сигнале значительной доли инфракрасной (ИК) составляющей фототока. Особенно это нежелательно при регистрации коротковолнового ультрафиолетового излучения, поскольку оно составляет лишь малую часть в суммарном сигнале фотоприемника.A disadvantage of the known photodetectors is the difficulty in selecting a filter with the required spectral characteristic, which makes them insufficiently selective due to the presence of a significant fraction of the infrared (IR) component of the photocurrent in the difference signal. This is especially undesirable when registering short-wave ultraviolet radiation, since it makes up only a small part in the total signal of the photodetector.
Технической задачей полезной модели является снижение чувствительности фотоприемника в длинноволновой области спектра.The technical task of the utility model is to reduce the sensitivity of the photodetector in the long-wavelength region of the spectrum.
Поставленная задача решается тем, что один из фотодиодов содержит тонкий ионно-легированный поверхностный слой с высоким содержанием примеси. В качестве примеси может быть использован мышьяк с поверхностной концентрацией, превышающей 200 мкКл/см2.The problem is solved in that one of the photodiodes contains a thin ion-doped surface layer with a high impurity content. As an impurity, arsenic with a surface concentration in excess of 200 μC / cm 2 can be used.
Ионно-легированный слой с повышенной концентрацией примеси содержит структурные дефекты, что приводит к увеличению скорости рекомбинации фотоносителей, образованных УФ излучением. Кроме того, особенность в характере распределения примеси при имплантации создает тормозящее электрическое поле для фотоносителей в приповерхностной области. Таким образом, наличие ионно-легированного слоя снижает чувствительность фотодиода в УФ диапазоне, как за счет рекомбинационных процессов, так и за счет создания тормозящего электрического поля. Вместе с тем тонкий поверхностный слой слабо влияет на процессы генерации фототока в глубоких слоях, что делает идентичной спектральную чувствительность обоих фотодиодов в длинноволновой части спектра. Полезный сигнал может быть получен путем вычитания фототоков двух каналов. При этом идентичность чувствительности обоих фотодиодов в длинноволновой части спектра обеспечивает сужение спектральной характеристики фотоприемника, повышение его избирательности и глубокое подавление паразитной составляющей в ИК области.An ion-doped layer with an increased concentration of impurities contains structural defects, which leads to an increase in the rate of recombination of photocarriers formed by UV radiation. In addition, a feature in the nature of the distribution of impurities during implantation creates a decelerating electric field for photocarriers in the near-surface region. Thus, the presence of an ion-doped layer reduces the sensitivity of the photodiode in the UV range, both due to recombination processes and due to the creation of an inhibitory electric field. At the same time, a thin surface layer weakly affects the processes of photocurrent generation in deep layers, which makes the spectral sensitivity of both photodiodes identical in the long-wavelength part of the spectrum. A useful signal can be obtained by subtracting the photocurrents of two channels. In this case, the identity of the sensitivity of both photodiodes in the long-wavelength part of the spectrum provides a narrowing of the spectral characteristics of the photodetector, increasing its selectivity and deep suppression of the parasitic component in the IR region.
Сущность полезной модели поясняется изображениями. На фиг. 1 показан пример реализации изобретения. Структура фотоприемника включает в себя:The essence of the utility model is illustrated by images. In FIG. 1 shows an example implementation of the invention. The structure of the photodetector includes:
1 - ионно-легированный слой;1 - ion-doped layer;
2 - просветляющее покрытие SiO2;2 - antireflection coating of SiO2;
3 - алюминиевую металлизацию;3 - aluminum metallization;
4 - толстый окисный слой SiO2.4 - a thick oxide layer of SiO2.
На подложке p-типа сформированы две n-области (A и B), идентичные по глубине, концентрации и размерам. Пленки алюминия 2 играли роль оптического экрана, задающего размеры фоточувствительных площадок, а также служили электрическими выводами. Для обеспечения омического контакта с n-слоем по периферийной области фоточувствительного слоя проводилась подконтактная диффузия фосфора на глубину около 2 мкм. Диффузионные p+ области служили для ограничения каналов инверсии, вносимых зарядом окисла. После формирования идентичных структур фотодиод А подвергался дополнительной обработке с целью создания тонкого ионно-легированного n+-слоя, который был получен внедрением мышьяка.Two n-regions (A and B) are formed on the p-type substrate, identical in depth, concentration, and size. Films of
На фиг. 2 приведены спектральные характеристики отдельных первого и второго фотодиодов. Как видно, чувствительности обоих каналов хорошо совпадают в длинноволновой области спектра. Для области коротких волн наблюдалась лучшая чувствительность канала 2, не содержащего ионно-легированного слоя. Максимальное значение характеристики имели в районе 0,55 мкм. На фиг. 3 приведена спектральная характеристика предлагаемого дифференциального фотоприемника, полученная вычитанием сигналов от двух фотодиодов. Максимум чувствительности сместился в коротковолновую область к границе видимого диапазона с УФ излучением и соответствовал 0,35 мкм. Длинноволновая граница чувствительности (по 50% уровню) сместилась от 0,85 до 0,43 мкм. Таким образом, предлагаемый фотоприемник позволяет решить поставленную задачу.In FIG. 2 shows the spectral characteristics of the individual first and second photodiodes. As can be seen, the sensitivities of both channels coincide well in the long-wavelength region of the spectrum. For the short-wave region, the best sensitivity of
Следует отметить, что для достижения положительного эффекта уровень легирования имплантированного слоя должен быть достаточно высоким. При использовании в качестве донора мышьяка доза легирования должна быть выше 200 мкКл/см2.It should be noted that in order to achieve a positive effect, the level of doping of the implanted layer must be sufficiently high. When using arsenic as a donor, the doping dose should be above 200 μC / cm 2 .
Техническим результатом является снижение чувствительности фотоприемника в длинноволновой области спектра.The technical result is to reduce the sensitivity of the photodetector in the long wavelength region of the spectrum.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2015117120/28U RU156627U1 (en) | 2015-05-05 | 2015-05-05 | SILICON DIFFERENTIAL PHOTO RECEIVER |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2015117120/28U RU156627U1 (en) | 2015-05-05 | 2015-05-05 | SILICON DIFFERENTIAL PHOTO RECEIVER |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU156627U1 true RU156627U1 (en) | 2015-11-10 |
Family
ID=54536784
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2015117120/28U RU156627U1 (en) | 2015-05-05 | 2015-05-05 | SILICON DIFFERENTIAL PHOTO RECEIVER |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU156627U1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU176331U1 (en) * | 2017-05-02 | 2018-01-17 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Новгородский государственный университет имени Ярослава Мудрого" | Differential photodetector with improved spatial characteristics |
-
2015
- 2015-05-05 RU RU2015117120/28U patent/RU156627U1/en not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU176331U1 (en) * | 2017-05-02 | 2018-01-17 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Новгородский государственный университет имени Ярослава Мудрого" | Differential photodetector with improved spatial characteristics |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8093624B1 (en) | High fill-factor avalanche photodiode | |
CN108886044B (en) | Method for manufacturing improved NIR CMOS sensor | |
US9123608B2 (en) | Backside illuminated CMOS image sensor | |
US4160985A (en) | Photosensing arrays with improved spatial resolution | |
US9484376B2 (en) | Semiconductor isolation structure and manufacturing method thereof | |
US10770505B2 (en) | Per-pixel performance improvement for combined visible and ultraviolet image sensor arrays | |
KR20130100661A (en) | Method and apparatus for backside illumination sensor | |
TWI647858B (en) | Apparatus and method for single-photon avalanche-photodiode detectors with reduced dark count rate | |
US11239383B2 (en) | SPAD image sensor and associated fabricating method | |
KR20150136039A (en) | Image sensor with improved dark current performance | |
US8053853B2 (en) | Color filter-embedded MSM image sensor | |
RU156627U1 (en) | SILICON DIFFERENTIAL PHOTO RECEIVER | |
US20160099279A1 (en) | Image sensor with deep well structure and fabrication method thereof | |
KR101420503B1 (en) | Apparatus and Method for Reducing Dark Current in Image Sensors | |
US7400022B2 (en) | Photoreceiver cell with color separation | |
RU166199U1 (en) | SILICON PHOTO RECEIVER WITH SPECIFIED SPECTRAL CHARACTERISTIC | |
US20190109254A1 (en) | Sensor Device And Method For Manufacturing A Sensor Device | |
US8652868B2 (en) | Implanting method for forming photodiode | |
TW200915549A (en) | Image sensor and method for manufacturing the same | |
US10886322B2 (en) | Multi-spectral sensor with stacked photodetectors | |
JPH11274465A (en) | Solid image pickup device, light-receiving element, and manufacture of semiconductor | |
KR20100025873A (en) | Cmos image sensor having crosstalk preventive impurity isolation layer and method for manufacturing the same | |
RU2297074C2 (en) | Photo-receiving cell with color division | |
Gavrushko et al. | Silicon-based shortwave differential photodetector | |
KR20110079329A (en) | Image sensor and method for manufacturing the same |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM1K | Utility model has become invalid (non-payment of fees) |
Effective date: 20160506 |