RO73206A2 - Metoda pentru masurarea rezistentei termice a capsulelor pentru dispozitive semiconductoare si circuite integrate - Google Patents

Metoda pentru masurarea rezistentei termice a capsulelor pentru dispozitive semiconductoare si circuite integrate

Info

Publication number
RO73206A2
RO73206A2 RO7792588A RO9258877A RO73206A2 RO 73206 A2 RO73206 A2 RO 73206A2 RO 7792588 A RO7792588 A RO 7792588A RO 9258877 A RO9258877 A RO 9258877A RO 73206 A2 RO73206 A2 RO 73206A2
Authority
RO
Romania
Prior art keywords
capsules
integrated circuits
semiconductor devices
thermal resistance
measuring thermal
Prior art date
Application number
RO7792588A
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Mircea Bodea
Nicolae Marinescu
Andrei Silard
Mihai Luca
Original Assignee
Institutul Politehnic,Ro
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Institutul Politehnic,Ro filed Critical Institutul Politehnic,Ro
Priority to RO7792588A priority Critical patent/RO73206A2/ro
Publication of RO73206A2 publication Critical patent/RO73206A2/ro

Links

RO7792588A 1977-12-22 1977-12-22 Metoda pentru masurarea rezistentei termice a capsulelor pentru dispozitive semiconductoare si circuite integrate RO73206A2 (ro)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RO7792588A RO73206A2 (ro) 1977-12-22 1977-12-22 Metoda pentru masurarea rezistentei termice a capsulelor pentru dispozitive semiconductoare si circuite integrate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RO7792588A RO73206A2 (ro) 1977-12-22 1977-12-22 Metoda pentru masurarea rezistentei termice a capsulelor pentru dispozitive semiconductoare si circuite integrate

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RO73206A2 true RO73206A2 (ro) 1981-09-24

Family

ID=20099137

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RO7792588A RO73206A2 (ro) 1977-12-22 1977-12-22 Metoda pentru masurarea rezistentei termice a capsulelor pentru dispozitive semiconductoare si circuite integrate

Country Status (1)

Country Link
RO (1) RO73206A2 (ro)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
IT1074474B (it) Dispositivo integrato di collaudo e di montaggio di mircocircuiti e simili
SE7810583L (sv) Anordning for inspektion in situ av i vetska
SE7706187L (sv) Ytundersokningsanordning for metning av glans hos en yta
IT1067469B (it) Procedimento e dispositivo per l analisi e per la elaborazione elettronica di immagini termiche
SE7801473L (sv) Forfarande och anordning for kylning av metallurgiska produkter
SE433404B (sv) Forfarande och anordning for overvakning av ledningar med avseende pa kortslutningar
IT1094051B (it) Metodo e dispositivo per la sorveglianza dei cortocircuiti
RO73206A2 (ro) Metoda pentru masurarea rezistentei termice a capsulelor pentru dispozitive semiconductoare si circuite integrate
ATA748076A (de) Temperaturmesseinrichtung fur transformatoren und drosselspulen
FR2293014A1 (fr) Procede pour la mesure et l'exploitation de cycles de temperature
JPS53144783A (en) Method of and device for measuring high resistance
ES504933A0 (es) Procedimiento y dispositivo electronico para la medicion de caudales de fluidos por medios termicos
AT350300B (de) Einrichtung zur temperaturmessung stroemender fluessigkeiten
RO85527A (ro) Dispozitiv pentru masurarea temperaturii fara contact
JPS5476194A (en) Method and device for measuring thermal conductivity of fluid
KR870000580A (ko) 기판온도 측정 방법 및 장치
SU536405A1 (ru) Устройство дл измерени температуры
IT1202938B (it) Dispositivo per la misura della temperatura e procedimento per la fabbricazione di esso
JPS53129582A (en) Method of and device for measuring impurities distribution of semiconductor
PL94595B1 (pl) Urzadzenie do pomiaru oporu cieplnego cial stalych
PL199081A1 (pl) Urzadzenie do pomiaru wlasnosci cieplnych i elektrycznych cial
JPS5412677A (en) Method of and device for automatically measuring semiconductor characteristics
JPS53118185A (en) Heat constant measuring device using thermal semiconductor element
JPS54100267A (en) Device for measuring specific resistance of semiconductor wafer
PL191345A1 (pl) Sposob i urzadzenie do lineryzacji charakterystyk termopar