PL99792B1 - Sposob wyznaczania dowolnej powierzchni wzgledem poziomej plaszczyzny odniesienia oraz sygnal wysokosci do wyznaczania dowolnej powierzchni wzgledem poziomej plaszczyzny odniesienia - Google Patents
Sposob wyznaczania dowolnej powierzchni wzgledem poziomej plaszczyzny odniesienia oraz sygnal wysokosci do wyznaczania dowolnej powierzchni wzgledem poziomej plaszczyzny odniesienia Download PDFInfo
- Publication number
- PL99792B1 PL99792B1 PL18022975A PL18022975A PL99792B1 PL 99792 B1 PL99792 B1 PL 99792B1 PL 18022975 A PL18022975 A PL 18022975A PL 18022975 A PL18022975 A PL 18022975A PL 99792 B1 PL99792 B1 PL 99792B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- reference plane
- determining
- horizontal reference
- height
- points
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 9
- 238000001000 micrograph Methods 0.000 claims 1
- 230000002706 hydrostatic effect Effects 0.000 description 2
- 210000000988 bone and bone Anatomy 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Description
Przedmiotem wynalazku jest sposób wyznaczania dowolnej powierzchni wzgledem poziomej plasz¬ czyzny odniesienia oraz sygnal wysokosci do wy¬ znaczania dowolnej powierzchni wzgledem poziomej plaszczyzny odniesienia. Potrzeba wyznaczania wyzej wspomnianych powierzchni wystepuje zwlaszcza przy precyzyjnym montazu duzych i ciezkich kon¬ strukcji wykazujacych znaczna elastycznosc po¬ szczególnych elementów na przyklad turbogenera¬ torów.Dotychczas do wyznaczania podobnych powierz¬ chni uzywano specjalnych linialów, za pomoca któ¬ rych wyznaczano spadki lub róznice wysokosci po¬ miedzy sasiednimi punktami. Poniewaz linialy te sa bardzo ciezkie sposób powyzszy moze byc sto¬ sowany tylko tam gdzie w poblizu znajduja sie dzwigi do podnoszenia duzych ciezarów. Na przy¬ klad linial o dlugosci 6 m wazy okolo 5 ton.Inny sposób wyznaczania powierzchni realizowany jest przy uzyciu niwelatora hydrostatycznego. Spo¬ sób ten jest równiez dosc pracochlonny i klopotliwy gdyz niwelatory hydrostatyczne sa bardzo wrazliwe na zmiany czynników zewnetrznych takich jak temperatura, wstrzasy itp.Wyznaczanie jclowolnej powierzchni sposobem wedlug wynalazku" elfmihuje^ wyzej opisane wady, a ponadto pozwala wszystkie czynnosci zwiazane z wyznaczeniem przeprowadzac w czasie montazu elementów zawierajacych fragmenty ustawianych powierzchni.Sposób ten polega na tym, ze sposród zmateriali¬ zowanej grupy punktów o danych wspólrzednych prostokatnych i wysokosciach okreslajacych wyzna¬ czana powierzchnie, obiera sie dowolny punkt i wzgledem niego oblicza róznice wysokosci pozo¬ stalych punktów. Nastepnie w tymze obranym punkcie ustawia sie sygnal wysokosci z tak usta¬ wionym wskaznikiem wysokosci aby znalazl sie on dokladnie w poziomej plaszczyznie odniesienia wy¬ znaczonej przez os celowa niwelatora. Kolejno w pozostalych punktach ustawia sie sygnaly wyso¬ kosci o zadanych wysokosciach wedlug których pod¬ nosi sie lub opuszcza zmaterializowane punkty wy¬ znaczanej powierzchni tak, aby wszystkie wskazniki sygnalów znalazly sie jednoczesnie w poziomej plaszczyznie odniesienia.Sposób wyznaczania dowolnej powierzchni Wzgle¬ dem poziomej plaszczyzny odniesienia zostanie wy¬ jasniony na podstawie rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schemat wyznaczenia dowolnej po¬ wierzchni zas fig. 2 — sygnal wysokosci w widoku z boku. Sygnal wysokosci wedlug wynalazku skla¬ da sie z podstawy 1 z osadzona w niej za pomoca przegubu kulowego 2, pionowa sruba 3, na która jest nakrecona kolumna 4 wyposazona w libelle sferyczna 5. Górna czesc kolumny 4 jest zakonczona pionowa sruba mikrometryczna 6 wyposazona we wskaznik w.Wyznaczenie dowolnej powierzchni wzgledem poziomej plaszczyzny odniesierfta realizuje sie na¬ stepujaco. '* 99 792&9I92 Sposród wskazanych na fig 1, grupy punktów Pi, P P3,..., Pn o danych Wspólrzednych x, y i wy¬ sokosciach h okreslajacych wyznaczana powierzch¬ nie, obiera sie dowolny punkt na przyklad Pi i wzgledem niego oblicz* róznice wysokosci zlh2, Ah\.., Ahn pozostalych ptnktów. Nastepnie na od¬ powiedniej wysokosci uslawia sie niwelator pre¬ cyzyjny 8 i jego os celowa doprowadza do poziomu, W obranym punkcie Pi ustawia sie sygnal wyso¬ kosci o takiej wartosci hi, aby jego wskaznik w znalazl sie dokladnie w poziomej plaszczyznie od¬ niesienia wyznaczonej przez os celowa niwelatora.Wysokosc hi sygnalu wysokosci ustala sie naste¬ pujaco: pokretke 7 sruby mikrometrycznej 6 usta¬ wia sie w srodkowym zakresie pomiarowym, a na¬ stepnie obrotem kolumny 4 wskaznik w podnosi sie lub opuszcza do takiego ipolozenia aby znalazl s'e coklatisiie na wysokosci osi celowej niwelatora.W takim polozeniu unieruchamia -sie kohimne 4 nakretke 9, Zwykle do wyznaczania powierzchni uzywa sie kompletu sygnalów wysokosci, których wysokosci hi w punkcie Pi ustala sie identycznie jak dla syg¬ nalu pierwszego: Nastepnie sygnaly ustawia sie w punktach P , P?...., Pn i obrotem poferetki 7 wpro¬ wadza sie obliczone poprawki Ah2, Ah%..., Ahn uzyskujac wysokosci hi + Ah-, hi + Ah?,... hi • j- Ahn, wedlug których podnosi sie lub opuszcza punkty wyznaczonej po^ierzchrri. Wyznaczana powierz¬ chnia zajmuje wftsciwe polazenie fciedy Wszystkie wskazniki w, w, W3,..., wn sygnalów wysokocci jednoczesnie znajda sie w plaszczyznie odniesienia wyznaczonej przez os celowa niwelatora. PL
Claims (2)
- Zastrzezenia patentowe 1. Sposób wyznaczania dowolnej powierzchni wzgledem poziomej plaszczyzny odniesienia, zna- mfcrnyy t?ym, ze sposród grupy punktów (Pi, P2, P3, ..., Pn) o danych wspólrzednych x, y i wysokosciach h, okreslajacych wyznaczana powierzchnie, obiera sie dowolny punkt na przyklad (Pij i wzgledem niego oblicza róznice wysokosci pozostalych pun¬ któw a nastepnie w punkcie (Pi) ustawia sie sygnal wysokosci o takiej wartosci (hi) aby jego wskaznik (w) znalazl sie dokladnie w poziomej plaszczyznie odniesienia wyznaczonej przez os celowa niwela¬ tora (8) .po czym w pozostalych punktach (P2, P3...Pn) ustawia sie sygnaly wysokosci o zadanych war¬ tosciach (hi + Ah*,)f (hi + Aha), ..., (hi + Ahn), wed¬ lug których podnosi sie lub opuszcza punkty wy¬ znaczanej powierzchni tak, aby wszystkie wskazniki (wi, w, wa, ... wn) sygnalów znalazly sie jednoczes¬ nie w wyzej wspomnianej, poziomej plaszczyznie odniesienia. 2. Sygnal wysokosci do wyznaczania dowolnej powierzchni wzgledem poziomej plaszczyzny odnie¬ sienia, znamienny tym, ze na podstawie (1) jest osa¬ dzana, za pomoca przegubu kulowego (2), pionowa sruba (3), na która jest nakrecona kolumna (4) za¬ opatrzona w libelle sferyczna (5) zas górna czesc kolumny ($) jest zakonczona pionowa sruba mikro- metryczna (6) wyposazona we wskaznik (w). % / C1 rtf;r Fig.
- 2 OZGraf. Z.P. Dz-WO, z. 925 (100+20) 4.79 Cena 45 zl PL
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL18022975A PL99792B1 (pl) | 1975-05-07 | 1975-05-07 | Sposob wyznaczania dowolnej powierzchni wzgledem poziomej plaszczyzny odniesienia oraz sygnal wysokosci do wyznaczania dowolnej powierzchni wzgledem poziomej plaszczyzny odniesienia |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL18022975A PL99792B1 (pl) | 1975-05-07 | 1975-05-07 | Sposob wyznaczania dowolnej powierzchni wzgledem poziomej plaszczyzny odniesienia oraz sygnal wysokosci do wyznaczania dowolnej powierzchni wzgledem poziomej plaszczyzny odniesienia |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL99792B1 true PL99792B1 (pl) | 1978-08-31 |
Family
ID=19972006
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL18022975A PL99792B1 (pl) | 1975-05-07 | 1975-05-07 | Sposob wyznaczania dowolnej powierzchni wzgledem poziomej plaszczyzny odniesienia oraz sygnal wysokosci do wyznaczania dowolnej powierzchni wzgledem poziomej plaszczyzny odniesienia |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL99792B1 (pl) |
-
1975
- 1975-05-07 PL PL18022975A patent/PL99792B1/pl unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3190003A (en) | Reticle for optical instrument | |
| DE69934940T2 (de) | Vermessungsinstrument mit Lot | |
| JPS5719886A (en) | Coordinate reader | |
| US4718173A (en) | Method and apparatus for measurement of straightness and flatness | |
| PL99792B1 (pl) | Sposob wyznaczania dowolnej powierzchni wzgledem poziomej plaszczyzny odniesienia oraz sygnal wysokosci do wyznaczania dowolnej powierzchni wzgledem poziomej plaszczyzny odniesienia | |
| DE3512983A1 (de) | Kapazitives neigungs- und ebenheitsmessgeraet | |
| EP0168527B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Momenten bei aerodynamischen Messungen an Fahrzeugen auf Windkanalwaagen | |
| US4510695A (en) | Method of calibration for the measuring of objects by pairs of theodolites | |
| Breed et al. | The principles and practice of surveying | |
| White | Convex-concave landslopes: a geometrical study | |
| US2306373A (en) | grade meter | |
| SU767507A1 (ru) | Способ измерени угла наклона | |
| GB2276451A (en) | Measuring gradients | |
| RU2774656C1 (ru) | Способ измерения геометрических параметров объекта с применением теодолита | |
| SU1362927A1 (ru) | Способ определени частного угла вертикальной рефракции | |
| CN114087988B (zh) | 一种单目单线结构光传感器的精度评价方法 | |
| RU1820205C (ru) | Способ контрол пр молинейности объекта | |
| Berthon Jones | A note on the graticule design for the VEB Zeiss Koni 025 level | |
| AT39202B (de) | Distanzmesser. | |
| SU1719886A1 (ru) | Способ определени коэффициента рефракции дл тригонометрического нивелировани | |
| Connell | The" Tavistock" theodolite | |
| Thom et al. | The standing stones in Argyllshire | |
| Kravets | An innovative approach to enhancing accuracy in geospatial determination of objects in the'mapa'software-hardware complex with consideration of absolute heights | |
| SU574646A1 (ru) | Устройство дл фиксации эпюры давлени | |
| Issa et al. | Surface distribution of dark clouds in M31 absorption gradient along the minor axis and in the R and θ directions, II |