PL99181B1 - Przyrzad do pomiaru powierzchni lisci - Google Patents

Description

Opis patentowy opublikowano: 15.03.1979 99181 CZYTELNIA Urzedy Potootowego Pilum •»«**•' n Ui!m| Int. Cl.2 G01B 13/20 Twórcy wynalazku: Zenon Lis, Marian Galczynski Uprawniony z patentu: Instytut Uprawy Nawozenia i Gleboznawstwa, Pulawy (Polska) Przyrzad do pomiaru powierzchni lisci Praedimiotem wynalazku jest przyrzad do po¬ miaru powierzchni lisci.Dotychczasowe meitody pomiarów powierzchni li¬ sci polegaja na oibrytsowniu powierzchni lisci na papierze lub fotogiraifiowamliu lisci w skali lirl;, a na¬ stepnie pianimetirojwaniu lub wycinaniu i /wazeniu pajpierowych i przeliczaniu ciezaru na powierzch¬ nie. Meitody te sa pracochlonne i niezbyt doklad¬ ne.Ceiam wynalazku jest opracowanie takiego przy¬ rzadu, który wyeliminuje dotychczasowe niedogod¬ nosci. Cel ten osagmaeto przez ojpracowanie przyrza¬ du do pomiaru powierzchni lisci za pomoca prze¬ plywu powieitrza.Przyrzad do pomiaru powierzchni lisci wedlug wynalazku jest zbudowany zasadniczo z trzech podzespolów a mianowojcie: dyfuzora, rotametra i wentylatora.Istota wynalazku jest przedstawiona schematycz¬ nie na zalaczonym ryisumku. Przyrzad ten posiada dyfuzoT 1 polaczony z przewodem 2 z wlotem wentylatora promieniowego 3, a rotametr 4 jest podlaczony za pomoca przewodu 5.Wlot dyfuzora stanowia, np. dwie geste perfo¬ rowane plytki, przy czym plytka 6 jelst pomiarowa, sluzaca do umieszczenia mierzonych lisci, nato¬ miast plytka 7 jest kontrolna, sluzaca do okresla¬ nia powierzchni mierzonych lisci.Powierzchnia plytki pomiarowej 6 powinna byc 2 równa lub najkorzystniej do 10°/o wieksza od po¬ wierzchni plytki kontrolnej 7.Powierzchnia plytki kontrolnej 7 jest scisle okre¬ slona i dokladnie wyskalowana. Na plytce kon¬ trolnej jest umieszczona przeslona 8, która pozwa¬ la na odslanianie jej o Scisle okreslone wielkosci powierzchni.Wielkosc otworów perforacji i ich rozlhieszczenie powinny byc jednakowe na oibu plytikach,, tzn. na plytce pomiarowej 6 i plytce kontrolnej 7.Zasada dzialania ptrzyrzadlu: po uruchomieniu wentylatora zaslania sie calkowicie dokladnie wys- kaiowaha plytke kontrolna 7 za pomoca przyslony 8, rotametr 4 wskazuje wówczas okreslony przep¬ lyw powietrza. Po dokonaniu tych operacji ukla¬ da sie liscie na plytce pomiarowej 6, s(poglada!jac wówczas na rotametr, kltóry wskazuje zmiattie^piEe- plywu powietrza. Odslaniaja/c stopniowo plytke kontrolna 7 doprowadza sie wskazania roftametru do wiefllkosci pierwotnej Wielkosc odslonietej powierzchni plytki kontrol¬ nej 7 odpowiada powierzchni liscia lezacego na plytce pomiarowej 6. jDo pomiarów nadaija sie liscie plaskie i niezbyt duze np. rozsada tyftoniu, liscie zbóz, tiralw, roslin motylkowych iltjp. lOpisany przyrzad i metoda' pomiaru ma te za¬ lete, ze pozwala na pomiar bezposredni, skracajac czas jpotmiaru w stosunku do dotychczasowych oko¬ lo l<0-krotonie. 99 18199 181 3 PL

Claims (2)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Przyrzad do pomiaru powierzchni lisci, zna¬ mienny tym, ze jest zbudowany z dyfuzora (1) któ¬ ry jest polaczony przewodem (2) z wlotem wenty¬ latora (3) i rotametru (4) polaczonego z dyfuzorem (1) przewodem (5), natomiast wlot dyfuzoTa (1) stanowia dwie plytki gesito perforowane (6) i (7) przy czym plytka (6) jest pomiarowa sluzaca do umieszczania mierzonych lisci, natomiast plytka (7) jest kontrolna, sluzaca do okreslania powierz¬ chni mierzonych lisci, ponadto plytka kontrolna <7) ma dokladnie okreslona wieilkosc i jest doklad¬ nie wyskalowana, a ponadto zaopatrzona w przy¬ slone. (8), która podwala na odslanianie jej o scisle okreslone wielkosci powierzchni.
2. 2. Przyrzad wedlug zaistrz. 1, znamienny tym, ze powierzchnia plytiki pomiarowej (6) powinna byc równa lub najkorzystniej do 1|0*/© wiejksza od po¬ wierzchni plytki kontrolnej (7), a wielkosc otwo¬ rów perforacji i ich rozmieszczenie powinny byc jednakowe na plyltce pomiarowej (6) i plytce kon¬ trolnej (7). 8 7 DN-3, zam. 457/78 Cena 45 zl PL