PL94881B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL94881B1 PL94881B1 PL16513673A PL16513673A PL94881B1 PL 94881 B1 PL94881 B1 PL 94881B1 PL 16513673 A PL16513673 A PL 16513673A PL 16513673 A PL16513673 A PL 16513673A PL 94881 B1 PL94881 B1 PL 94881B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- image
- launcher
- cathode
- electron
- correcting
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 12
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N Alumina Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 2
- 235000003197 Byrsonima crassifolia Nutrition 0.000 description 1
- 240000001546 Byrsonima crassifolia Species 0.000 description 1
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 1
- BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N cadmium atom Chemical compound [Cd] BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 239000000932 sedative agent Substances 0.000 description 1
- 230000001624 sedative effect Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 150000003568 thioethers Chemical class 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
Description
Przedmiotem wynalazku jest sposób justowania wyrzutni elektronowej, zwlaszcza duzej mocy, a wiec
sposób w jaki mozna ocenic czy wyrzutnia elektronowa, zwlaszcza duzej mocy przeznaczona w szczególnosci do
spawania i topienia metali zostala prawidlowo zmontowana i wyjustowana z punktu widzenia zasad optyki elek¬
tronowej.
Znany jest sposób justowania wyrzutni elektronowej, polegajacy na sprawdzaniu geometrycznej doklad¬
nosci wykonania poszczególnych czesci i zespolów wyrzutni elektronowej, a nastepnie sprawdzeniu ich wzajem¬
nego usytuowania w procesie montowania wyrzutni. Do kontroli tych czynnosci stosuje sie rózne mechaniczne
przyrzady i narzedzia pomiarowe. Przy tym sposobie sprawdza sie w sposób posredni centrycznosc pól elektrycz¬
nych i magnetycznych. Sprawdzanie posrednie nie uwzglednia szeregu zjawisk fizycznych, jak na przyklad:
niejednorodnosc materialów magnetycznych, dylatacja termiczna itp. zachodzacych w wyrzutni duzej mocy
i z tego powodu nie znajduje praktycznego zastosowania przy jej justowaniu. Natomiast z reguly stosuje sie go
przy masowej produkcji wyrzutni bardzo malych mocy, na przyklad wyrzutni do lamp oscyloskopowych.
Inny znany sposób polega na umieszczeniu w obszarze przelotowym wyrzutni szeregu elektrycznie odizolo¬
wanych od siebie i wyrzutni przeslon, które laczy sie z przewodami elektrycznymi poprzez przepusty w obudo¬
wie prózniowej wyrzutni z odpowiednimi miernikami. Mierzy sie prady osiadania elektronów na poszczególnych
przeslonach i na tej podstawie wysuwa sie wnioski co do prawidlowosci wyjustowania wyrzutni. Jest to sposób
bardzo pracochlonny, a przede wszystkim wymagajacy wyposazenia wyrzutni w dodatkowe elementy, jak: prze¬
slony, mierniki itp. zbedne z punktu widzenia zasad pracy wyrzutni elektronowej. Uzyskane wyniki pomiarów
informuja jedynie o dobrym lub zlym stanie wyrzutni. Nie wskazuja, który z zespolów wyrzutni jest wadliwie
wykonany lub zamontowany, badz tez wyjustowany.
Jak dotychczas, najwiecej informacji o stanie wyrzutni dostarcza obserwacja wiazki elektronowej na ekra¬
nie luminescencyjnym. Polega ona na ustawieniu ekranu luminescencyjnego na drodze wiazki elektronowej
wytworzonej przez wyrzutnie i obserwacji powstajacego na tym ekranie obrazu wiazki. A.Halas i H.Szymanski2 94881
[4] podaja za Heinem metode justowania wyrzutni elektronowej, w której wykorzystuje sie fakt, ze przy zmianie
kierunku pradu plynacego w uzwojeniu soczewki magnetycznej wyrzutni, kat skrecenia obrazu wiazki zmienia
sie na przeciwny. Po otrzymaniu na ekranie luminescencyjnym obrazu wiazki elektronowej okresla sie polozenie
punktu stanowiacego centrum obrazu, a nastepnie zmienia sie bieguny zasilania soczewki magnetycznej. Obraz
ulega skreceniu, a obrany punkt przesuwa sie do jakiegos nowego, polozenia. Os obrotu obrazu bedzie lezala na
symetralnej odcinka zawartego miedzy dwiema kolejnymi pozycjami obranego punktu.
Korzystajac z elementów regulacyjnych przesuwa sie soczewke magnetyczna do takiego polozenia, aby
obrany punkt obrazu znalazl sie w miejscu gdzie powinna przebiegac symetralna odcinka i ponownie zmieniajac
biegunowosc zasilania, okresla sie polozenie nowej symetralnej. Po kilkakrotnym powtórzeniu tej operacji obra¬
ny punkt znajdzie sie w srodku skrecenia i nie bedzie juz zmienial polozenia wraz ze zmiana biegunowosci
zasilania.
Opisana metoda okazuje sie w praktyce bardzo pracochlonna, a ponadto pozwala tylko na justowanie
soczewki magnetycznej wyrzutni wzgledem czesci elektrostatycznej, nie pozwala ona natomiast na kontrole
i justowanie czesci elektrostatycznej wyrzutni. Ponadto nawet w tym ograniczonym zakresie metoda ta nie moze
byc zastosowana do justowania wyrzutni elektronowych duzej mocy, poniewaz znane luminofory sa z reguly
oparte na tlenkach i siarczkach cynku, kadmu, wapnia i berylu i dopuszczaja prace z gestoscia mocy w wiazce nie
przekraczajaca 10"1 W/cm2. W tym zas zakresie gestosci mocy, uzyteczna wiazka elektronowa w wyrzutni duzej
mocy prawie nie wyróznia sie na tle elektronów rozproszonych pochodzacych na przyklad z katody pomocni¬
czej. Z tego wzgledu opisany sposób justowania znajduje zastosowanie tylko w wyrzutniach elektronowych malej
mocy.
Celem wynalazku jest opracowanie prostego sposobu justowania wyrzutni elektronowych duzej mocy,
umozliwiajacego justowanie zarówno czesci elektrostatycznej, jak i magnetycznej wyrzutni oraz kontrole po¬
prawnosci justowania wyrzutni na takim poziomie gestosci mocy wiazki, gdzie rozklad gestosci jest analogiczny
jak w przypadku mocy nominalnej, a takze opracowanie urzadzenia do realizacji tego sposobu.
Sposób justowania wyrzutni elektronowej wedlug wynalazku charakteryzuje sie tym, ze na ekranie lumi¬
nescencyjnym skladajacym sie z podloza najkorzystniej metalowego, z nalozona na nim warstwa trójtlenku
aluminium z domieszkami umozliwiajacymi wystepowanie luminancji z tego materialu, wyrózniajacym w sposób
widoczny dla oka ludzkiego trzy obrazy: wiazki elektronowej wlasciwej, elektronów rozproszonych i obrazu
swiatla wysylanego przez rozzarzona katode wyrzutni, prowadzi sie jednoczesna obserwacje wzajemnego usy¬
tuowania oraz ksztaltu tych obrazów na wspomnianym ekranie luminescencyjnym, a nastepnie kontroluje sie
stan czesci elektrostatycznej wyrzutni, przy wylaczonym zasilaniu soczewki magnetycznej ijustuje te czesc
wyrzutni korygujac polozenie katody wzgledem otworu elektrody sterujacej w przypadku wystepowania nieosio-
wosci obrazu wlasciwej wiazki elektronowej wzgledem obrazu elektronów rozproszonych, lub korygujac poloze¬
nie anody wzgledem katody i elektrody sterujacej w przypadku wystepowania nieosiowosci obrazu wiazki elek¬
tronowej wlasciwej i obrazu swiatla wysylanego przez rozzarzona katode wyrzutni, po czym zasila sie soczewke
magnetyczna i korygujac jej polozenie sprowadza sie obraz czesciowo zogniskowanej wiazki elektronowej na
srodek obrazu swiatla wysylanego przez rozzarzona katode wyrzutni.
Podstawowa zaleta rozwiazania wedlug wynalazku jest zastosowanie ekranu luminescencyjnego umozliwia¬
jacego jednoczesne obserwowanie na tym ekranie trzech obrazów wiazki elektronowej wlasciwej, elektronów
rozproszonych oraz obrazu swiatla wysylanego przez rozzarzona katode. Toz kolei umozliwia szybkie, tanie
i dokladne wyjustowanie calej wyrzutni elektronowej, bez potrzeby wielokrotnego korygowania poszczególnych
elementów metoda kolejnych przyblizen. Ekran luminescencyjny jest niewrazliwy na przeciazenia moca. Przy
zbyt duzej gestosci mocy wiazki i rozgrzania czasteczek trójtlenku aluminium do temperatury rzedu 600°C czyli
gestosci mocy powyzej 1 W/cm2 luminancja zanika, a przy dalszym wzroscie mocy i podniesieniu temperatury
powyzej 700°C pojawia sie zwykle swiecenie termiczne. Jezeli nie zostanie przekroczona temperatura topnienia
trójtlenku aluminium — okolo 1700°C — to po wystygnieciu ekran odzyskuje w pelni poprzednia zdolnosc lumi¬
nancji. Tak wykonany ekran luminescencyjny nie wywiera widocznego wplywu na warunki prózniowe panujace
w komorze prózniowej urzadzenia zawierajacego badana wyrzutnie elektronowa.
Na drodze utworzonej przez wyrzutnie wiazki elektronowej ustawia sie ekran luminescencyjny wykonany
z metalowej plytki, na która jest naniesiona warstwa trójtlenku aluminium czystego technicznie z domieszkami
umozliwiajacymi luminancje z tego materialu. Prowadzi sie jednoczesna obserwacje na wspomnianym ekranie
trzech widocznych dla oka ludzkiego obrazów: wiazki elektronowej wlasciwej, elektronów rozproszonych oraz
obrazu swiatla wysylanego przez rozzarzona katode wyrzutni, pod katem ich wzajemnego usytuowania na
ekranie przy dowolnych zmianach napiec i pradów zasilajacych wyrzutnie. Nastepnie w zaleznosci od charakteru
wystepujacych znieksztalcen okreslonego obrazu lub tez ich przesuniecie wzgledem siebie, dokonuje sie regulacji
odpowiedniego elementu konstrukcyjnego warzutni, który powoduje to znieksztalcenie.94 881 3
Claims (1)
1. Zastrzezenie patentowe Sposób justowania wyrzutni elektronowej, zwlaszcza duzej mocy, przy pomocy ekranu luminescencyjnego, znamienny tym, ze na warstwie luminujacej ekranu zawierajacej co najmniej 30% trójtlenku aluminium o czystosci technicznej prowadzi sie jednoczesna obserwacje wzajemnego usytuowania oraz ksztaltu trzech obra¬ zów: wiazki elektronowej wlasciwej, elektronów rozproszonych i obrazu swiatla wysylanego przez rozzarzona katode wyrzutni na ekranie luminescencyjnym, a nastepnie kontroluje sie stan czesci elektrostatycznej wyrzutni, przy wylaczonym zasilaniu soczewki magnetycznej ijustuje te czesc wyrzutni korygujac polozenie katody wzgledem otworu elektrody sterujacej w przypadku wystepowania nieosiowosci obrazu wlasciwej wiazki elektro¬ nowej wzgledem obrazu elektronów rozproszonych lub korygujac polozenie anody wzgledem katody i elektrody sterujac w przypadku wystapienia nieosiowosci obrazu wiazki elektronowej wlasciwej i obrazu swiatla wysylane¬ go przez rozzarzona katode wyrzutni, po czym zasila sie soczewke magnetyczna i korygujac jej polozenie sprowadza sie obraz czesciowo zogniskowanej wiazki elektronowej na srodek obrazu swiatla wysylanego przez rozzarzona katode wyrzutni.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL16513673A PL94881B1 (pl) | 1973-09-10 | 1973-09-10 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL16513673A PL94881B1 (pl) | 1973-09-10 | 1973-09-10 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL94881B1 true PL94881B1 (pl) | 1977-09-30 |
Family
ID=19964030
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL16513673A PL94881B1 (pl) | 1973-09-10 | 1973-09-10 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL94881B1 (pl) |
-
1973
- 1973-09-10 PL PL16513673A patent/PL94881B1/pl unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Thomson | XL. Cathode rays | |
| Aston | LIX. The mass-spectra of chemical elements | |
| Nottingham | Electrical and luminescent properties of willemite under electron bombardment | |
| PL94881B1 (pl) | ||
| Thomson et al. | A camera for electron diffraction | |
| Jolly et al. | Flashover of contaminated insulators with cylindrical symmetry under DC conditions | |
| Graham et al. | An AC operated mass spectrometer for isotope abundance measurements | |
| Bacon | Gas discharge ion source. I. Duoplasmatron | |
| US3872351A (en) | Electron guns | |
| GB2045521A (en) | Cathode ray tube light sources | |
| KR830002812B1 (ko) | 칼라 표시판 | |
| Neurath et al. | Arc cathode emission mechanisms at high currents and pressures | |
| Sun et al. | Commissioning of the photo-cathode RF gun at APS | |
| Cheney | The Emission of Electrons by a Metal when Bombarded by Positive Ions in a Vacuum | |
| Iiyoshi et al. | Point cathode electron gun using electron bombardment for cathode tip heating | |
| Carter et al. | Twenty-Million Watt Vacuum Tube and Test Results | |
| JPH0593791A (ja) | 核融合ペレツト入射装置のレールガン | |
| Shimizu et al. | Direct observation of thermionic emission pattern of hemispherical single‐crystal LaB6 | |
| Wilkins et al. | Threshold conditions for vortex‐stabilized electrical discharges in the atmosphere | |
| US2896108A (en) | Apparatus employing horizontally elongated carbon arc sources | |
| PL136293B1 (en) | Method of testing of homogeneity of cathodes of cathode-ray devices | |
| SU1045304A1 (ru) | Способ контрол геометрических параметров электровакуумных приборов | |
| Moss | Electric “valves” | |
| Bekefi et al. | Temporal Evolution of Beam Emittance | |
| Nagel et al. | On the ionic mechanism of sodium loss in metal-halogen lamps' |