PL94757B1 - Mikromanipulator impulsowy - Google Patents

Mikromanipulator impulsowy Download PDF

Info

Publication number
PL94757B1
PL94757B1 PL17531474A PL17531474A PL94757B1 PL 94757 B1 PL94757 B1 PL 94757B1 PL 17531474 A PL17531474 A PL 17531474A PL 17531474 A PL17531474 A PL 17531474A PL 94757 B1 PL94757 B1 PL 94757B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
electrode
micromanipulator
prism
attached
sensor
Prior art date
Application number
PL17531474A
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to PL17531474A priority Critical patent/PL94757B1/pl
Publication of PL94757B1 publication Critical patent/PL94757B1/pl

Links

Landscapes

  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest mikromanipulator impulsowy do wytwarzania czujników aparatów po¬ miarowych poprzez laczenie drutów z elektroda.Znany jest zestaw narzedziowy do wytwarzania czujników, zlozony z manipulatorów umieszczonych na wspólnej podstawie umozliwiajacych polaczenie elektrody z drutami. Zadaniem manipulatorów jest równolegle ustawienie czola elektrody do osi laczo¬ nego drutu, których srednica wynosi od jednego mi¬ limetra do kilkudziesieciu mikronów. Jakosc wy¬ tworzonego czujnika zalezy w glównej mierze od dokladnosci ustawienia równoleglosci laczonych ele¬ mentów. Kontroli ustawienia dokonuje sie poprzez obserwacje pola przy pomocy lupy. Laczenia doko¬ nuje sie impulsem elektrycznym umozliwiajacym zespawania czola elektrody z wymagana iloscia dru¬ tów ulozonych wzgledem siebie i czola elektrody równolegle. W przypadku gdy czolo elektrody nie jest prostopadle do osi elektrody, czynnosc ustawie¬ nia znanym zestawem narzedziowym jest utrudniona.Celem wynalazku jest zmniejszenie operacji usta¬ wiania laczonych elementów czujników aparatów pomiarowych przy jednoczesnym podniesieniu jako¬ sci tych czujników.Cel ten osiagnieto poprzez zastosowanie mikro- manipulatora impulsowego w którym do wysiegni¬ kowego mechanizmu przytwierdzono elektryczna szlifierke i elektrode. Wysiegnikowy mechanizm przytwierdzono do suportu przymocowanego do sto¬ jaka. Czujnik przymocowano do pryzmy poprzez 94 75794 757 3 4 de 13. Nakretka 14 mocuje czujnik 15 poprzez tu¬ lejke 16 do wrzeciona 17, który jest przytwierdzony do przegubu 18 ustawionego na pryzmie 19. Pryz¬ ma 19 wsparta jest na drugim krzyzowym stoliku 4 i jest zaopatrzona w ustalajaca srube 20. Wrzeciono 17 ma uklad zlozony ze slimacznicy 21 i slimaka 22 zabezpieczony sprezyna 23 i pokrywa 24. Do podsta¬ wy 1 przytwierdzono stojak 25 z optycznym ukla¬ dem 26. Dodatkowo suport 7 zaopatrzony jest w me¬ chanizm 27 z przytwierdzona szpula 28 i napinacz 29, a elektroda 13 zaopatrzona jest w dociskowy uklad 30. Krzyzowe stoliki 4 zaopatrzone sa w mi- krometryczne sruby 31. Zasilacz 32 podlaczony do elektrycznej sieci umozliwia laczenie czujnika 13 z drutem 33.Mikromanipulator impulsowy wedlug wynalazku dziala w nastepujacy sposób. Czujnik 15 zamocowa¬ ny we wrzecionie 17 podlega operacji równania elek¬ trod przy pomocy elektrycznej szlifierki 11 zaopa¬ trzonej przykladowo w rubinowa tarcze cierna. Za¬ mocowanie szlifierki 11 i elektrody 13 na jednym wysiegnikowym mechanizmie 9 z mozliwoscia obro¬ tu o kat 180 stopni zapewnia równoleglosc obrabia¬ nej plaszczyzny czujnika 15 i elektrody 13 miedzy, którymi przeciaga sie drut 33. Do drutu 33 zbliza sie plaszczyzne czolowa elektrody 13 zaopatrzonej w do¬ ciskowy uklad 30. Po przeciwnej stronie ustawia sie koncówke elektrody 13. Wyzwolony limpuls elektry¬ czny z zasilacza 32 umozliwia trwale polaczenie dru¬ tu 33 z koncówka elektrody 13. Operacja zblizania czujnika 15 i elektrody 13 do drutu 33 znajduje sie w polu obserwacji optycznej ukladu 26. Operacje laczenia powtarza sie tyle razy ile koncówek ma czujnik 15. PL

Claims (4)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Mikromanipulator impulsowy do laczenia ele¬ mentów, a zwlaszcza do wytwarzania czujników apa¬ ratów pomiarowych, znamienny tym, ze wysiegni¬ kowy mechanizm (9) ma szlifierke (11) i elektrode (13) przy czym wysiegnikowy mechanizm (9) przy¬ twierdzony jest do suportu (7) przymocowanego do stojaka (5), a czujnik (15) przymocowany jest do pry¬ zmy (19) poprzez wrzeciono (17) przy czym pryzma (19) i stojak (5) osadzone sa na krzyzowych stolikach (4) a czujnik (15) i elektrode (13) umieszczono w po¬ lu obserwacji optycznego ukladu (26).
  2. 2. Mikromanipulator impulsowy wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze stojak (5) ma napedowa srube (6).
  3. 3. Mikromanipulator impulsowy wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze pryzma (9) zaopatrzona jest w przegub (18) i ustalajaca srube (20).
  4. 4. Mikromanipulator impulsowy wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze elektroda (13) zaopatrzona jest w dociskowy uklad (30), a wrzeciono (17) ma sli¬ mak (22) i slimacznice (21) oraz sprezyne (23). 15 2094 757 Fiq. y94 757 Fig. 294 757 12 41 45 47 h i O }o m fig.3 36 33 30 /3 —MO 1 ¥^2L -TT? V ^¦/y.* PL
PL17531474A 1974-11-04 1974-11-04 Mikromanipulator impulsowy PL94757B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL17531474A PL94757B1 (pl) 1974-11-04 1974-11-04 Mikromanipulator impulsowy

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL17531474A PL94757B1 (pl) 1974-11-04 1974-11-04 Mikromanipulator impulsowy

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL94757B1 true PL94757B1 (pl) 1977-08-31

Family

ID=19969504

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL17531474A PL94757B1 (pl) 1974-11-04 1974-11-04 Mikromanipulator impulsowy

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL94757B1 (pl)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8063383B2 (en) Inertial positioner and an optical instrument for precise positioning
US11670478B2 (en) Multi-degree-of-freedom sample holder
CN104297678B (zh) 微动开关行程压力自动测试装置
CN107664478B (zh) 一种立式非接触回转体高精度测量装置及其测量方法
CN110441334B (zh) 一种多场原位透射电子显微镜样品杆
KR890012172A (ko) 광스위치장치
JP2010145343A (ja) 極細繊維把持装置、把持方法および極細繊維試験装置
JP3574437B2 (ja) 角運動検出器のための機械電気式集積型自動検査システム
PL94757B1 (pl) Mikromanipulator impulsowy
CN112400102A (zh) 具有枢转体并且能够向其上的附件提供电力的硬度测试仪
US4035722A (en) Multiprobe head for checking electrical parameters of semiconductor instruments and microcircuits
US4464840A (en) Measuring thickness
CN210894191U (zh) 一种双面多点位金属镀层电阻高速测量系统
CN211756979U (zh) 用于3d平面霍尔芯片的磁通量测试装置
SU1589032A1 (ru) Способ измерени износа дискообразных деталей
CN207622897U (zh) 测长机的阿贝头测力系统及其控制系统
CN220602482U (zh) 一种电芯平面厚度测试装置
CN223650746U (zh) 一种用于检测轮毂装饰件与铜镶件组装是否合格的装置
CN223297349U (zh) 一种便携式质谱仪高压电源检修装置
RU2723726C1 (ru) Установка для высокоточного одноосевого растяжения эластичных субстратов для культивирования клеток и эмбриональных тканей
CN119063894B (zh) 兼容超景深光学显微镜的视触觉传感器应力加载装置
CN115541945B (zh) 悬臂式探针台
JPS6232332A (ja) 圧力検出素子の検定方法及び装置
DE3933268A1 (de) Messkopf zur erfassung von form- und lageaenderungen von maschinenteilen
CN115665638A (zh) 电子产品检测装置及检测方法