Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie mikroskopowe do obserwacji w wysokich temperaturach prowadzonej w atmosferze obojetnej albo utleniajacej lub redukujacej. Urzadzenie przeznaczone jest zwlaszcza do badania próbek o stosunkowo duzych powierzchniach znajdujacych sie w postaci cieklej lub pólplynnej.Znane dotychczas rozwiazania urzadzen do wysokotemperaturowej obserwacji mikroskopowej maja zwykle mikropiece umieszczone nad obiektywem mikroskopu. Umozliwia to obserwacje próbek przez wizjer znajdujacy sie w dolnej czesci mikropieca. Mikroskopy moga wykonywac ruchy pionowe posuwisto zwrotne. W celu umozliwienia obserwacji obiektów o wiekszych powierzchniach mikropiece sa mocowane do stelazu krzyzcwych mikroskopów. Znane jest równiez rozwiazanie, które polega na umozliwieniu ruchu krzyzowego samej komorze grzejnej wraz zbadana próbka. Uzyskano to przy uzyciu specjalnych popychaczy wbudowanych w obudowe mikropieca. Obserwacje próbek prowadzi sie w prózni lub w atmosferze ochronnej. Znane urzadzenia przeznaczone sa do obserwacji cial stalych w podwyzszonych temperaturach.Zasadnicza wada znanych urzadzen do wysokotemperaturowej obserwacji mikroskopowej jest ograniczenie wielkosci powierzchni obserowanego obiektu, która dla urzadzen z ruchomym mikropiecem ogranicza sie do próbek o srednicy dmax = 7 mm, a dla urzadzen z ruchoma komora grzejna do dmax * 16 mm. Poza tym usytuowanie obiektywu pod badana próbka uniemozliwia prowadzenie obserwacji cial cieklych, i pólplynnych, a wprowadzenie próbek do komór grzejnych mikropieców jest polaczone z czesciowym demontazem urzadzenia.Nie mozliwe jest tez wyjmowanie nagrzanej próbki na zewnatrz mikropieca. Kazdorazowa wymiana próbki wymaga obnizenia temperatury pieca do temperatury otoczenia.Celem wynalazku jest skonstruowanie urzadzenia do wysokotemperaturowej obserwacji mikroskopowej, która umozliwi obserwacje zarówno cial w stanie pólplynnym,, jak równiez cial stalych i proszków, a które bedzie pozbawione wad i niedogodnosci wystepujacych w znanych urzadzeniach tego typu.Urzadzenie mikroskopowe do obserwacji w wysokich temperaturach wedlug wynalazku ma mikroskop umieszczony na górnej obrotowej pokrywie mikropieca w suporcie, który pozwala na ruchy promieniowe wzgledem obracajacej sie pokrywy. Skojarzenie ruchu obrotowego z ruchem promieniowym umozliwia2 93 348 obserwacje próbek o duzych powierzchniach. Z mikroskopem zwiazany jest mechanicznie zespól ruchomych ekranów ograniczajacych straty ciepla z nieruchomej komory grzejnej oraz zabezpieczajacych obiektyw mikroskopu przed nadmiernym promieniowaniem. W dolnej czesci obudowy mikropieca jest otwór, przez który za pomoca mechanizmu zebatkowego wprowadzane sa do komory grzejnej badane próbki. Takie rozwiazanie konstrukcyjne pozwala na obserwowanie duzych powierzchni o srednicy dmax = 30 mm badanych próbek przy zapewnieniu malych strat ciepla i znacznemu ograniczeniu nagrzewania elementów roboczych mikroskopu. Stale polozenie komory grzejnej mikropieca pozwala na zastosowanie mechanizmu szybkiego wprowadzenia i wyjmowania próbek w dowolnie obranym czasie podczas trwania obserwacji. Umieszczenie obiektywu mikroskopu nad obserwowanym obiektem pozwala na badanie równiez cial pólplynnych o niskiej preznosci par.Urzadzenie mikroskopowe wedlug wynalazku przedstawiono w przykladowym wykonaniu na rysunku w przekroju osiowym.Urzadzenie mikroskopowe wedlug wynalazku ma podstawe 1 mikropieca na której spoczywa na ksztaltach ceramicznych 2 komora grzejna 3. We wnetrzu komory na nasadce grafitowej lub ceramicznej 4, która jest czescia podajnika próbek 5, umieszczana jest badana próbka 6. Nad próbka 6 znajduje sie ruchomy zespól plaskich ekranów 7, w srodku których jest otwór do prowadzenia obserwacji. Zespól ekranów 7 jest polaczony sworzniem 8 i wkretami 9 z suportem 10 ruchu promieniowego, osadzonym w prowadnicy 11. Prowadnica 11 zwiazana jest konstrukcynie z pokrywa górna 12 mikropieca . Do suportu 10 przymocowany jest na trzpieniu 13 mikroskop 14. Obiektyw mikroskopu 14 znajduje sie nad badana próbka 6. Obiektyw chroniony jest przed ciaglym wplywem wysokich temperatur filtrem 15. Podajnik próbek 5 jest przesuwany mechanizm zebatkowym 18 w osi pieca. Nasadka grafitowa lub ceramiczna 4 jest osadzona na sworzniu 16, który jest umieszczony w oprawie 17. PL