PL88074B3 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL88074B3
PL88074B3 PL14335070A PL14335070A PL88074B3 PL 88074 B3 PL88074 B3 PL 88074B3 PL 14335070 A PL14335070 A PL 14335070A PL 14335070 A PL14335070 A PL 14335070A PL 88074 B3 PL88074 B3 PL 88074B3
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
drum
microscope
head
carrier
optical
Prior art date
Application number
PL14335070A
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to PL14335070A priority Critical patent/PL88074B3/pl
Publication of PL88074B3 publication Critical patent/PL88074B3/pl

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

Opis patentowy opublikowano: 30.04.1977 88074 MKP Gllb 5/46 GOlb 19/46 Int. Cl.' GUB 5/46 G01B 19/46 CZYTELNO Urzedc Pote«ti»«wgo Twórcy wynalazku: Lidia Chodnicka, Andrzej Kowalski, Wojciech Wisnie- wski Uprawniony z patentu: Instytut Maszyn Matematycznych, Warszawa (Polska) Przyrzad do okreslenia polozenia glowicy z podparciem aerody¬ namicznym w stosunku do nosnika na bebnie i Przedmiotem patentu nr 59173 jest bezdotykowy sposób dokladnego pomiaru przesuniecia elementu bedacego w stanie niestabilnym.Powyzszy sposób polega na tym, ze dokonuje sie dwu odczytów z podzialki sruby mikrometrycznej, w którego 5 , plaszczyznie przedmiotowej lezy tylna powierzchnia ele¬ mentu badanego; jednego odczytuwpolozeniu odniesienia elementu i drugiego odczytu po przesunieciu elementu.Róznica wartosci obu odczytów jest miara odleglosci na jaka zostal przesuniety mierzonyelement. io Jedna z zasadniczych wad znanego urzadzenia jest to, ze mimo stosunkowo zlozonego ukladu mechanicznej syn¬ chronizacji nie jest mozliwew znanym urzadzeniu, przesu¬ wanie punktu, w którym dokonuje sie pomiaru polozenia odniesienia, dowolnie po obwodziebebna wczasie trwania 15 pomiaru. Jakkolwiek przesuniecie punktu odniesienia jest mozliwe, wymaga to jednak zatrzymania wirujacej tarczy ze szczelina oswietlajaca i dokonania dosc zlozonego za¬ biegu przestawienia katowego szczeliny wzdluz obwodu tarczy. Tak wiec dowolny i latwy wybór punktu odniesie- 20 nia, wzgledem którego dokonuje sie pomiaru przesuniecia elementu, nie jest mozliwy przy uzyciu znanego urza¬ dzenia.Ponadto wada znanego urzadzenia jest; zlozonosc me¬ chanicznego ukladu synchronizacji obrotów bebna z obro- 25 tami tarczy ze szczelina oswietlajaca oraz mala intensyw¬ nosc oswietlenia pola widzenia mikroskopu, co utrudnia ustawienie „na ostro", tzn. ustawienie plaszczyzny przed¬ miotowej mikroskopu w plaszczyznie tylnej strony ele¬ mentu mierzonego. Ponadto wada znanego urzadzenia jest 30 brak mozliwosci nawet przyblizonego okreslenia wielkosci prostopadlego do osi optycznej mikroskopu- przesuniecia elementu mierzonego. Okreslenie wielkosci prostopadlego przesuniecia elementu mierzonego ma istotne znaczenie ' w ustaleniu prawidlowego polozenia glowicy wzgledem bebna pamieci bebnowej.Celem wynalazku jest usuniecie wyzej wskazanych nie¬ dogodnosci znanego urzadzenia do okreslenia polozenia glowicy z podparciem aerodynamicznym w stosunku do nosnika na bebnie, do stosowania sposobu wedlug patentu nr 59173.Cel wynalazku osiagnieto przez opracowanie przyrzadu do okreslenia polozenia glowicy z podparciem aerodyna¬ micznym w stosunku do nosnika na bebnie, który zawiera urzadzenie stroboskopowe zlozone z elektronicznego ukla¬ du synchronizacji rozblysków lampy wyladowczej z ru¬ chem obrotowym bebna i optycznego ukladu oswietlajace¬ go beben, oraz zawiera ponadto w okularze mikroskopu, plytke ogniskowa z naniesiona na niej siatka prostokatna do przyblizonego pomiaruprostopadlego przesuniecia glo¬ wicy wzgledembebna. Elektronicznyuklad synchronizacji rozblysków lampy wyladowczej z ruchem obrotowym beb¬ na zawiera stala glowice, uklad przelaczajacy, generator impulsów, uklad opózniajacy oraz uklad zaplonowy.Optyczny uklad oswietlenia zawiera kondensator oswietlajacy swiatlem lampy blyskowej tylna strone glo¬ wicy przez objektyw mikroskopu, oraz obiektyw, oswiet¬ lajacy poprzez zwierciadlo znacznik ustawczy na bebnie.Zaleta rozwiazaniawedlug wynalazkujestzastosowanie stosunkowo prostego ukladu elektrycznego umozliwiaja- 8807488074 3 cego dowolne przesuwanie po obwodzie bebna punktu/ w którym dokonuje sie pomiaru odniesienia. Stosunkowo latwe przesuniecie punktu odniesienia po obwodzie bebna jest mozliwe dzieki zastosowaniu ukladu opózniajacego.Ponadto zaletami rozwiazania wedlug wynalazku jest du¬ za jasnosc pola widzenia mikroskopu dzieki zastosowaniu lampy wyladowczej oraz mozliwosc okreslenia prostopa¬ dlego do osi optycznej mikroskopu, przesuniecia elementu mierzonego.Przedmiot wynalazku uwidoczniono w przykladzie wy¬ konania na rysunku, który przedstawia przyrzad do po¬ miaru odleglosci glowicy z podparciem aerodynamicznym od nosnika na bebnie w widoku z boku i w czesciowym przekroju plaszczyzne przechodzaca przez os optyczna mikroskopu, wraz ze schematem blokowym ukladu elek¬ tronicznego.Na plycie 21 umieszczonyjest bebenz nosnikiem magne¬ tycznym 1 z naniesionym znacznikiem ustawczym 2. Na bebnie umocowany jest wspornik 4 z umieszczona na nim badana glowica z podparciem aerodynamicznym 3, której tylna powierzchnia 6 znajduje sie na osi optycznej mikro¬ skopu, dzwignia podnoszenia glowicy 5 oraz glowice stala 27. Do napedu bebna sluzy silnik 28.Mikroskop sklada sie z korpusu 8zumocowanym na nim obiektywem mikroskopu 7 i okularem 10 wyposazonym w plytke ogniskowa 9, na której zostala naniesiona*siatka prostokatna. Wewnatrz korpusu znajduje sie plytkaswiat¬ lo dzielaca 16, uklad optyczny oswietlacza 14 orazelektro¬ nowa lampa blyskowa 15. Mikroskop umocowany jest do ruchomej czesci kontrolowanego mechaniznu przesuwu mikroskopu 17, na którym znajduje sie sruba mikrometry- czna 19 z podzialka. Nieruchoma czesc kontrolowanego mechanizmu przesuwu 18 umocowana jest do podstawy przyrzadu 21 poprzez wspornik 20.W korpusie mikroskopu znajduje sie otwór 13, nad którym umieszczone jest zwierciadlo ustawczo 12 wraz z obiektywem 11 oswietlacza.Uklad elektroniczny oswietlacza sklada sie z ukladu wzmacniacza róznicowego 26, ukladu przelaczajacego 25 generatora impulsów zasilania od sieci 220V, 50 Hz, ukla¬ du opózniajacego 23 i ukladu zaplonowego 22.Zasada dzialania przyrzadu jest nastepujaca. Badana glowica z podparciem aerodynamicznym 3 spoczywa na nosniku magnetycznym nieruchomego bebna 1; w takim polozeniu obserwujac przez okular mikroskopu 10 tylna powierzchnie glowicy 16 dokonuje sie ustawienia pomiaru przez wprowadzenie w plaszczyzne przedmiotowa ukladu optycznego mikroskopu tylnej powierzchni glowicy 6 i do¬ konaniu odczytu na podzialce sruby mikrometrycznej 19.Przy nieruchomym bebnie pole widzenia mikroskopu oswietlone jest elektronowa lampa blyskowa 15 przy usta¬ wieniu ukladu przelaczajacego 25 na prace od generatora . impulsów 24. Przy okreslaniu polozenia odniesienia znacz¬ nik ustawczy 2 na bebnie musi byc oswietlony z elektrono¬ wej lampy blyskowej 15 poprzez zwierciadlo 12 i obiektyw 11.Po ustaleniu polozenia odniesienia glowica badana zo¬ staje odsunieta od powierzchni bebna przy pomocy dzwi¬ gni podnoszenia glowicy 5, nastepnie wlaczony silnik 28 napedzajacy beben.Po ustaleniu obrotów bebna zostaje zwolniona dzwignia podnoszenia glowicy 5 i glowica badana 3 dochodzi do bebna na pewna ustalona odleglosc wynikla ze wzrostu cisnienia miedzy czolem glowicy a powierzchnia bebna, zalezna od ksztaltu powierzchni czolowej glowicy i szyb- 4 kosci obrotowej bebna, a uklad elektroniczny oswietlacza zostaje przelaczony na synchronizacje od bebna.Impulsy synchronizujace z glowicy 27 odczytywane z warstwy magnetycznej bebna, przez wzmacniacz rózni- cowy 26 przekazywane sa na uklad przelaczajacy 25, uklad opózniajacy 23 i uklad zaplonowy 22 i powoduja zaplon elektronowej lampyblyskowej 15 z czestotliwoscia zgodna z obrotami bebna.Przed dokonaniem pomiaru wielkosci szczeliny miedzy nosnikiem na obracajacym sie bebnie a glowica konieczne jest oswietlenie przez obiektyw 11 tego punktu na bebnie, w którym znajduje sie znacznik ustawczy podobnie jak przy dokonywaniu pomiaru punktu odniesienia.Synchronizacje momentu zaplonu elektronowej lampy blyskowej z momentem przejscia znacznika przez os opty¬ czna obiektywu 11 oswietlacza uzyskuje sie za pomoca ukladu opózniajacego 23. Nastepnie powtórnie doprowa¬ dza sie plaszczyzne przedmiotowa ukladu optycznego mi¬ kroskopu do tylnej powierzchni glowicy 6 przy pomocy sruby mikrometrycznej i odczytuje sie polozenie podzialki sruby mikrometrycznej 19.Róznica obu odczytów jest równa odleglosci glowicy badanej 3 z podparciem aerodynamicznym od nosnika na bebnie 1. Przez dokonanie pomiaru punktu odniesienia i punktu odsuniecia glowicy w tym samym miejscu na bebnie, eliminuje sie bledy ksztaltu bebna, powodujace drganie glowicy z czestotliwoscia obrotów bebna.Siatka prostokatna na plytce ogniskowej 9 umieszczonej w okularze 10 pozwala na okreslenie wielkosci przesunie- cia prostopadlego do osi optycznej mikroskopu tylnej po¬ wierzchni glowicy 6, co umozliwia szacunkowe okreslenie nierównoleglosci polozenia glowicyw stosunkudo nosnika na obracajacym sie bebnie.Przyrzad do pomiaru odleglosci glowicy z podparciem aerodynamicznym od nosnika na bebnie pozwala równiez na okreslenie mimosrodowosci bebna podczas jego pracy.Pomiar dokonywanyjest po zdjeciu glowicy badanej przez wprowadzenie powierzchni nosnika na bebnie w plasz¬ czyzne przedmiotowa ukladu optycznego mikroskopu i do- 40 konanie odczytu na podzialce tarczy 19, nastepnie kolejno przez przesuwanie punktu zaplonu elektronowej lampy blyskowej 15 ukladem opózniajacym 23 wzdluz obwodu bebna i wprowadzenie powierzchni nosnikaw plaszczyzne przedmiotowa ukladu optycznego mikroskopu dokonuje 45 sie odczytu ze sruby mikrometiycznej mikroskopu.Róznice polozenia mikroskopu przy obserwacji nosnika na bebnie w róznych punktach na obwodzie bebna sa równe zmianom jego promienia. 50 PL

Claims (3)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Przyrzad do okreslenia polozenia glowicy z podpar¬ ciem aerodynamicznym w stosunku do nosnika na bebnie 55 sluzy do stosowania sposobu bezdotykowego dokladnego pomiaru przesuniecia elementu bedacego w stanie niesta¬ bilnym wedlug patentu nr 59173, polegajacego na tym, ze w polozeniu odniesienia oraz po przesunieciu elementu dokonuje sie odczytów z podzialki sruby mikrometrycznej 60 mikroskopu, w którego plaszczyznie przedmiotowej lezy tylna powierzchnia elementu, przy czym róznica tych od¬ czytów stanowi wartosc przesuniecia elementu, znamien¬ ny tym, ze zawiera urzadzenie stroboskopowe zlozone z elektronicznego ukladu synchronizacji (22, 23,24,25,26, 65 27) rozblysków lampy blyskowej (5) z ruchem obrotowym5 88074 6 bebna (1) i optycznego ukladu oswietlajacego (2,11,12,13, 14, 15) bebna, oraz w okularze mikroskopu (10) zawiera plytke ogniskowa (9) z naniesiona na niej siatka- prosto¬ katna, do przyblizonego pomiaru prostopadlego do osi optycznej mikroskopu, przesuniecia glowicy w stosunku do nosnika na obracajacym sie bebnie.
  2. 2. Przyrzad wedlug zastrz. 1 znamienny tym, ze elektro¬ niczny uklad synchronizacji rozblysków lampy blyskowej (15) z ruchem obrotowym bebna (1) zawiera glowice stala (27), uklad przelaczajacy (25), generator impulsów (24), uklad opózniajacy (23) oraz uklad zaplonowy (22).
  3. 3. Przyrzad wedlug zastrz. 1 znamienny tym, zeoptyczny uklad oswietlenia zawiera uklad optyczny oswietlacza (14) oswietlajacy swiatlem lampy blyskowej (15) tylna strone glowicy (6) przez obiektyw mikroskopu (7), oraz ma obiek¬ tyw (11) oswietlajacy poprzez zwierciadlo (12) znacznik ustawczy (2) na bebnie (1). rCZYT-l.K;.*. 1 '..irren** rYi* ¦«¦•¦--* PL
PL14335070A 1970-09-21 1970-09-21 PL88074B3 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL14335070A PL88074B3 (pl) 1970-09-21 1970-09-21

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL14335070A PL88074B3 (pl) 1970-09-21 1970-09-21

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL88074B3 true PL88074B3 (pl) 1976-08-31

Family

ID=19952394

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL14335070A PL88074B3 (pl) 1970-09-21 1970-09-21

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL88074B3 (pl)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104965387B (zh) 一种曝光时间、帧率及拖影测试装置及其测试方法
DE60131580D1 (de) Vorrichtung zur Bildaufnahme und Bildverarbeitung bei Brillengläsern und Verfahren zur Positionierung dieser Brillengläser
PL88074B3 (pl)
CN107830814B (zh) 一种基于光度学的测量表面变形的方法
JP2000304521A (ja) 角度計及びそれを用いた旋光計
CN109916317A (zh) 一种荧光成像膜厚测量系统的标定装置及方法
CN102252629B (zh) 立体形状测量装置、检查装置及立体形状测量用调整方法
RU2042920C1 (ru) Устройство для определения рельефа поверхности объекта
US1431897A (en) Photographic-shutter speed-testing machine
SU1539545A1 (ru) Устройство дл измерени внутренних напр жений в покрыти х
CN219810632U (zh) 一种声波马达测量装置
TWI889326B (zh) 經組態以照明及測量工件之孔隙的計量系統
KR940008590Y1 (ko) 스트로보 스코프를 부착한 반도체 제조장치
SU1280369A1 (ru) Способ определени фокусного рассто ни объектива
SU1701779A1 (ru) Способ определени макрошероховатости дорожного покрыти и устройство дл его осуществлени
SU56191A1 (ru) Устройство дл фотозаписи диаграмм "напр жение-раст жение"
SU63706A1 (ru) Прибор дл проверки резьбы
SU567945A1 (ru) Устройство дл измерени деформаций тонкостенных цилиндрических оболочек
RU1775602C (ru) Интерференционный способ измерени геометических параметров образца и устройство дл его осуществлени
SU97452A1 (ru) Измерительный микроскоп дл измерени линейных и угловых величин
SU450077A1 (ru) Устройство дл контрол формы параболической поверхности
US2945300A (en) Apparatus for the evaluation of x-ray photographs
RU28391U1 (ru) Устройство для видеоизмерения толщины пленки
SU868343A1 (ru) Способ измерени толщины прозрачных пластин
PL53180B1 (pl)