Przedmiotem wynalazku jest dyfraktograf dwu- krystaliczny z oscylujaca szczelina do badania struktury monokrysztalów.Znany dyfraktograf, którego zasada dzialania zo¬ stala przedstawiona w patencie polskim 67 684, wspólpracuje z punktowym zrócHem emitujacym rozbiezna wiazke polichromatycznego promienio¬ wania rentgenowskiego. Dyfraktograf ten wypo¬ sazony jest w diafragme ze szczelina umieszczona na drodze wiazki promieniowania, wycinajaca z niej strumien o dostatecznie malej rozbieznosci katowej, padajacy nastepnie na krysztal badany pod katem spelniajacym warunek Bragga dla wy¬ branych plaszczyzn uginajacych ustawionych rów¬ nolegle do osi obrotu krysztalu oraz dla sklado¬ wej charakterystycznej promieniowania zródla.Urzadzenie zawiera równiez uklad realizujacy syn¬ chroniczny oscylacyjny ruch obrotowy diafragmy ze szczelina i krysztalu badanego z, ta sama predkoscia katowa co do wartosci, kierunku i zwrotu. Oby¬ dwa te wzajemnie zalezne ruchy umozliwiaja uzyskanie odwzorowania struktury badanego kry¬ sztalu w kazdym jego punkcie obejmowanym ko¬ lejno przez wiazke kolimowana przez szczeline i monochromatyzowana przez krysztal badany.Uklad tego dyfraktografu ma zatem dwie doklad¬ nie wzajemnie równolegle osie obrotu: os obrotu krysztalu i os obrotu szczeliny, przechodzaca do¬ kladnie przez punktowe zródlo. Element czuly na promieniowanie, oscylujacy wokól osi dyfrakto- grafu z ta sama predkoscia katowa co badany krysztal, rejestruje promieniowanie uginane przez ten krysztal.Wada omawianego dyfraktografu jest wystepo¬ wanie w uzyskanych przy pomocy niego typogra- fiach wnetrz lub powierzchni krysztalu — duble¬ tu skladowej promieniowania charakterystycznego, spowodowane duzym odchyleniem katowym w sie¬ ci krystalicznej. Przeprowadzanie badan nie za¬ pewnia mozliwosci ujawnienia subtelnych defor¬ macji sieci krystalicznej.Celem wynalazku jest opracowanie udoskona¬ lonego dyfraktografu eliminujacego wady wyzej omówionego urzadzenia.Zgodnie z wynalazkiem dyfraktograf wyposa¬ zony jest w plaski, monochromatyzujacy krysztal, polaczony z oscylujaca przyslona zawierajaca szczeline. Krysztal ten umieszczony jest na dro¬ dze prawie równoleglej polichromatycznej wiazki wycinanej przez . szczeline i po zaaretowaniu tworzy z nia sztywny mechanicznie uklad. Uklad przyslona—krysztal oscyluje wokól pionowej osi przechodzacej przez mikroognisko lampy i rów¬ noleglej do szczeliny. Amplitude drgan tego ukla¬ du ogranicza rozbieznosc katowa wiazki pierwot¬ nej. Kat miedzy ramionami wyznaczonymi przez mikroognisko lampy i srodek szczeliny oraz przez to mikroognisko i punkt znajdujacy sie na prze¬ cieciu osi dyfraktografu z plaszczyzna oscylacji wyzej wymienionego ukladu jest wiekszy od 0U, 87 69687 696 a 4 a mniejszy od podwojonego, kata Bragga, najko¬ rzystniej mniejszy od tego kata dla odbicia od wybranej rodziny plaszczyzn krystalograficznych krysztalu monochromatyzujacego i wybranej skla¬ dowej promieniowania charakterystycznego.Zastosowanie dyfraktografu wedlug wynalazku do badan monokrysztalów umozliwia szybkie i pre¬ cyzyjne przeprowadzenie tych badan, przy jed¬ noczesnym rozszerzeniu ich skutecznosci poprzez realizacje obserwacji, nieujawnionych przy po¬ mocy innych dyfraktografów, subtelnych defor¬ macji sieci krystalicznej i rozszerzenie obrazu krysztalu objetego badaniem.Przedmiot wynalazku zostanie blizej omówiony w oparciu o rysunek ilustrujacy ideowy uklad przykladu wykonania dyfraktografu. W rozwia¬ zaniu wedlug wynalazku na drodze wiazki pro¬ mieniowania rentgenowskiego za mikroogniskiem Q lampy znajduja sie kolejno diafragma S1} któ¬ ra stanowi okienko mikrolampy, oraz przyslona S2 z waska szczelina. Pomiedzy ta szczelina a kry¬ sztalem badanym K umieszczony jest krysztal monochromatyzujacy A, zamocowany obrotowo w stosunku do osi równoleglej do szczeliny wy¬ konanej w przyslonie S2 oraz przesuwnie wzdluz kierunku wyznaczonego przez srodek tej szczeli¬ ny i mikroogniska Q lampy. Diafragma S2 ze, szczelina oraz krysztal monochromatyzujacy A po zaaretowaniu sa sztywno ze soba polaczone, a tym samym pozostaja nieruchome w stosunku do sie¬ bie, tworzac sztywny mechanicznie uklad AS2.Uklad ten jest tak umocowany w dyfraktografie, aby mógl oscylowac wokól osi przechodzacej przez mikroognisko Q lampy. Amplituda tego ruchu ograniczona jest przez kat rozbieznosci wiazki pierwotnej promieniowania X. Kazdy punkt ukla¬ du AS2 porusza sie z ta sama predkoscia katowa po lukach wspólsrodkowych okregów, których srodek geometryczny znajduje sie w mikroogni- sku Q. Krysztal A zamocowany jest tak, ze zaj¬ muje w czasie ruchu polozenie, w którym naste¬ puje odbicie wiazki padajacej w kierunku osi dyfraktografu, a kat miedzy kierunkiem wiazki, padajacej i wiazki ugietej jest stale równy 2 QB gdzie QB odpowiada katowi Bragga dla uprzed¬ nio wybranej rodziny plaszczyzn krystalograficz¬ nych i dlugosci fali odpowiadajacej skladowej K«i promieniowania charakterystycznego.Krysztal badany K jest umocowany obrotowo av stosunku do osi dyfraktografu i oscyluje wraz z filmem F. Dyfraktograf jest zaopatrzony w urza¬ dzenie realizujace oscylacje ukladu AS2 i bada¬ nego krysztalu K z tymi samymi predkosciami katowymi, równymi co do wartosci, kierunku i zwrotu.Dzialanie dyfraktografu wedlug wynalazku przy wykonywaniu analizy struktury monokrysztalu jest nastepujace: na wstepie ustala sie polozenie kry¬ sztalu monochromatyzujacego A takie, aby wy¬ brana rodzina plaszczyzn krystalograficznych spel¬ niala warunek Bragga dla skladowej Kc^ pro¬ mieniowania charakterystycznego. Po ustaleniu tak okreslonego polozenia krysztalu A, krysztal ten aretuje sie, tym samym unieruchamiajac go wzgledem szczeliny S2, z ktcra zostaje sztywno polaczony. W celu skierowania ugietej monochro¬ matycznej wiazki na pionowa os oscylacji bada¬ nego krysztalu i detektora, dyfraktograf jest za¬ opatrzony w mechanizm srubowy do przesuwa- nia srodkowego polozenia ruchu oscylacyjnego ukladu AS2.Nastepnie dokonuje sie obrotu krysztalu bada¬ nego K do polozenia, w którym jedna z rodzin plaszczyzn krystalograficznych tego krysztalu spel¬ nia warunek Bragga dla dlugosci fali uginanej przez uklad AS2, w którym to polozeniu krysztal ten aretuje sie.Po tak przeprowadzonym wstepnym ustaleniu polozenia krysztalu K i ukladu AS2, uklad ten wprawia sie w ruch oscylacyjny wokól pionowej osi przechodzacej przez mikroognisko Q, a ba¬ dany krysztal K wokól pionowej osi dyfraktogra¬ fu z takimi samymi co do wartosci, kierunku i zwrotu predkosciami katowymi. W trakcie tego ruchu coraz to inny obszar badanego krysztalu K, na który w danej chwili pada wiazka promieni X ugieta przez uklad AS2, bedzie znajdowal sie w po¬ lozeniu spelniajacym warunek Bragga.Promieniowanie ugiete przez badany krysztal K rejestruje detektor F promieniowania oscylujacy w trakcie badan wraz z tym krysztalem.Dyfraktograf wyzej opisany, dzieki skróceniu czasu badan krysztalów, duzej zdolnosci rozdziel¬ czej urzadzenia oraz zaletom wykorzystania asy¬ metrycznych odbic Bragga od krysztalów mono- ' chromatyzujacego i badanego, znajduje * szerokie zastosowanie zarówno w badaniach laboratoryj¬ nych, jak równiez przemyslowych, zwlaszcza do wykrywania defektów w pólprzewodnikach. PL