PL84874B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL84874B1 PL84874B1 PL15879172A PL15879172A PL84874B1 PL 84874 B1 PL84874 B1 PL 84874B1 PL 15879172 A PL15879172 A PL 15879172A PL 15879172 A PL15879172 A PL 15879172A PL 84874 B1 PL84874 B1 PL 84874B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- resistor
- capacitor
- resistance
- measured
- discharge
- Prior art date
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 13
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 10
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000009938 salting Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
*** '"'
U.
Twórca wynalazku: Jan Sreniawski
Uprawniony z patentu: Politechnika Czestochowska, Czestochowa
(Polska)
Sposób pomiaru rezystancji o duzych wartosciach
Wynalazek dotyczy sposobu pomiaru rezystancji
o duzych wartosciach rzedu 109—1!015£?.
Znany sposób pomiaru rezystancji o duzych
wairtosciach polega na pomiarze galiwanom.et.rem
przeplywajacych pradów pnzez rezystor wzorcowy,
a nastepnie przez rezystor mierzony. Wartosc re¬
zystancji, mierzonego rezystora oblicza sie ze wzo¬
ru:
Rx — Ra
gazie: Rx — rezystancja mierzonego rezystora,
RN — rezystancja wzorcowego rezystora, aN —
wychylenie plamki galiwanoimetru przy wlaczanym
rezystorze wzorcowym, ax — wychylenie plamki
giailiwanometru przy wlaczonym rezystorze mierzo¬
nym.
Bomiiair tym sposobem jest niedokladny a zakres
pomiaru ograniczony do wartosci rzedu 1010,Q.
Uklad umozliwiajacy pomiair tym sposobem wy¬
maga stosowania stabilizowanego zródla zasila¬
nia. Sposób ten znany jest z ksiazki: A. JeMonek,
J. Gaszczak — Podstawy miernictwa elektryczne¬
go dla elektroników, czesc I strona 274—276,
PWN — Warszawa, 1969 r.
Znany jest równiez sposób pomiaru rezystancji
o duzych wartosciach^ polegajacy na pomiarze
czasu rozladowania kondensatora rezystorem mie-
nzonym. W trakcie pomiaru czasu rozladowywa¬
nia kondensatora mierzy sie woltomierzem o du¬
zej rezystancji wewnetrznej róznice napiec przed
i po rozladowaniu kondensatora oraz napiecie
zródla zasilajacego uklad pomiarowy. Wartosc re¬
zystancji mierzonego rezystora oblicza sie ze wzo-
ru:
1
Rx
4U Cx + Ce + Cd
u
\ SRe Rd )
gdzie: Rx — rezystancja mierzonego rezystora,
^U — róznica napiec przed i po rozladowaniu
/Kondensatora,, U — napiecie zródla zasilajacego
uklad pomiarowy, Cx — pojemnosc wlasna mie¬
rzonego rezystora, Ce — pojemnosc wlasna wolto¬
mierza, Cd — pojemnosc kondensatora, t — czas
rozladowania kondensatora rezystorem mierzonym,
Re — rezystancja wewnetrzna woltomierza, Rd —
rezystancja kondensatora.
Pomiar tym sposobem nie zapewnia duzej do¬
kladnosci ze wzgledu na stosowanie woltomierzy
charakteryzujacych sie niska kllasa dokladnosci.
Obliczenia sa klopotliilwe z uwagi na koniecznosc
uwzgledniania w trakcie obliczen pojemnosci wol¬
tomierzy i rezystora mierzonego, jak równiez re¬
zystancji woltomierza i kondensatora. Sposób ten
znany jest z ksiazka: A. Jeilonek, J. Gaszczak —
Podstawy miernictwa elektrycznego dla elektro¬
ników, czesc I, strona 277—279, PWN — Warsza¬
wa, ,1969 r.
Celem wynalazku jest wyeliminowanie wymie-
848743
84874
4
nionych niedogodnosci i opracowanie sposobu po¬
miaru rezystancji o duzych wartosciach, umozli¬
wiajacego pomiar z wiejksza niz dotychczas dokla¬
dnoscia, przy jednoczesnym wyeliminowaniu wply¬
wu niestalosci w czasie pomiaru napiecia zasila¬
jacego uklad pomiairoiwy.
Cel ten osiagnieto dziejki termu, ze kondensator
rozladowuje sie dwukirotoie, raz przez rezystor
mierzony, a drugi raz przez rezystor wzorcowy,
przy czym rozladowania dokonuje sie przez zmia¬
ne ibiegunowosci ukladu zasilania i mierzy czas
rozladowania kondensatora polaczonego szeregowo
z rezystorem mierzonym oraz czas rozladowania
kondensatora polaczonego szeregowo z rezystorem
wzorcowymr a-mstejpnie oblicza sie wairtosc re-
zyisihanictji irii&ibnej ze wzoru:
tx
Xvv — i*N
gdzie: Rx — rezystancja mierzonego rezystora,
RN — rezystancja wzorcowego rezystora, tx —
czas rozladowania kondensatora polaczonego z re¬
zystorem mierzonym, tN — czas rozladowania kon¬
densatora polaczonego z rezystorem wzorcowym.
Pomiar proponowanym sposobem nie jest zalezny
od wartosci pojemnosci kondensatora, jak i od po¬
jemnosci wlasnej i kilaisy dokladnosci woltomierza.
Proponowany sposób nie wymaga stosowania
zródla zasalania o stabilizowanej wartosci napiecia
oraz umozliwia pomiar z wieksza dokladnoscia
niz dotychczasowymi sposobami. Obliczanie war¬
tosci rezystancji mierzonego rezystora jest latwe
i nie wymaga stosowania skomplikowanych wzo¬
rów. Sposób ten nadaje sie szczególnie do kon¬
trola poprodukcyjnej wytwarzanych rezystorów o
duzeij wartosci.
Na rysunku uwidoczniony jesst przyklad ukladu
umozliwiajacego pomiar rezystancji o duzych war¬
tosciach proponowanym sposobem.
Uklad sklada sie z kondensatora 1 polaczonego
szeregowo z równolegle polaczonymi rezystorami,
wzorcowym 2 i mierzonym 3 oraz przelaczniikóem
4. Uklad polaczony jest poprzez przelacznik 5
zmieniajacy biegunowosc zasilania ze zródlem pra¬
du stalego. Równolegle z kondensatorem 1 pola¬
czony jest woltomierz elektrostatyczny V.
Przykladowo, uklad zasila sie napieciem stalym
z zasilacza wysokiego napiecia o wartosci 1 kV.
Kondenisator 1 o pojemnosci 10 \k¥ polaczony sze¬
regowo z rezystorem wzorcowym 2 o wartosci
MD, klasy 0,06 laduje sie napieciem o warto¬
sci 0,9 kV, a nastepnie po przelaczeniu przelacz¬
nika 5, zimienia sie biegunowosc zasilania ukladu
io i rozladowuje sie napiejciem o wartosci minus
0,0 kV. Gzas rozladowania kondensatora 1 mie¬
rzony sekundomierzem elektrycznym wynosi 98,35
sekund. Nastepnie przelacza sie przelacznik 4, któ¬
ry wlacza szeregowo z kondensatorem 1 rezystor
mierzony 3, po czym przelacza sie ponownie prze¬
lacznik 5, zmieniaijacy biegunowosc zasilania ukaa-
du i miierzy sie czas rozladowania kondensatora 1
napieciem o wairtosci 0,9 kV.
Do pomiaru rezystora 3 wykorzystano rezystor
dekadowy o rezystancji 7,8 MD, a czas rozladowa¬
nia kondensatora 1 wyniósl 712,76 sekund. War¬
tosc rezystanciji mierzonego rezystora 3 obliczona
sposobem wedlug wynalazku, wyniosla 7,803 MD.
Blad pomiaru miesci sie w granicach dopuszczal-
nych dla klasy mierzonego rezystora 3.
^-r
<^ (V.
Drukarnia Narodowa Zaklad Nr 6, Zam. 2539/76
Cena 10 zl
Claims (1)
1. Zastrzezenie patentowe Sposób pomiaru rezystancji o duzych wartos- 30 ciach, polegajacy na naladowaniu okreslona war¬ toscia napiecia kondensatora i rozladowaniu go przez rezystor mierzony oraz pomiarze czasu tego rozladowania, znamienny tym, ze kondensator (1) rozladowuje sie dwukrotnie, raz przez rezystor 35 mierzony (3) o rezystancji Rx a drugi raz przez rezystor wzorcowy (2) o rezystancji RN, przy czym rozladowania dokonuje sie przez zmiane bieguno¬ wosci ukladu zasilania i mierzy czas rozladowa¬ nia tx kondensatora (1) polaczonego szeregowo z 40 rezystorem mierzonym (3) oraz czas (rozladowa¬ nia tN kondensatora (1) polaczonego szeregowo z (rezystorem wzorcowym (2), a nastepnie oblicza sie wartosc rezystancji Rx ze wzoru: 45 RX = RN— *
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL15879172A PL84874B1 (pl) | 1972-11-10 | 1972-11-10 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL15879172A PL84874B1 (pl) | 1972-11-10 | 1972-11-10 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL84874B1 true PL84874B1 (pl) | 1976-04-30 |
Family
ID=19960547
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL15879172A PL84874B1 (pl) | 1972-11-10 | 1972-11-10 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL84874B1 (pl) |
-
1972
- 1972-11-10 PL PL15879172A patent/PL84874B1/pl unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN101435838A (zh) | 电容容量测量装置 | |
| CN102866300A (zh) | 低频微电流恒流激励电路及蓄电池内阻测量电路 | |
| CN106443489A (zh) | 一种蓄电池在线管理系统及其运行方法 | |
| CN104020357A (zh) | 一种直流偏压下的电容测试电路及测试方法 | |
| PL84874B1 (pl) | ||
| Boukhal et al. | Implementation of a lithium-ion battery state of charge estimation algorithm for BMS on the real time target NI myRio | |
| JP3412355B2 (ja) | ニッケル系電池の劣化判定方法 | |
| JPH06342045A (ja) | バッテリーの寿命計測装置 | |
| JPS62123367A (ja) | 容量素子の充電電流測定方法 | |
| TW200905947A (en) | Apparatus and method for measuring internal resistance of battery | |
| RU2120158C1 (ru) | Способ определения остаточной емкости свинцового аккумулятора | |
| RU2172044C1 (ru) | Способ измерения электрической емкости химических источников тока | |
| CN114660486A (zh) | 一种蓄电池内阻在线估算方法、系统、设备和存储介质 | |
| SU1150580A2 (ru) | Устройство дл определени посто нной времени обмоток электромагнитных механизмов | |
| SU983552A1 (ru) | Электрический мост | |
| JPS5686365A (en) | Salt injury predicting device | |
| SU1677659A1 (ru) | Способ измерени параметров RC-двухполюсника | |
| JP2016142673A (ja) | 蓄電媒体の余寿命診断装置とその方法 | |
| SU920532A1 (ru) | Электрический мост | |
| SU1241130A1 (ru) | Датчик рабочего тока электрофильтра | |
| SU1265625A1 (ru) | Электрометр | |
| SU1767589A1 (ru) | Способ определени электроемкости химического источника тока | |
| SU1756812A1 (ru) | Устройство дл измерени коррозионной активности грунта | |
| WO1981001058A1 (fr) | Appareil de mesure de puissance electrique | |
| SU1613973A1 (ru) | Устройство дл измерени сопротивлени изол ции электрических сетей переменного тока |