PL84874B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL84874B1
PL84874B1 PL15879172A PL15879172A PL84874B1 PL 84874 B1 PL84874 B1 PL 84874B1 PL 15879172 A PL15879172 A PL 15879172A PL 15879172 A PL15879172 A PL 15879172A PL 84874 B1 PL84874 B1 PL 84874B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
resistor
capacitor
resistance
measured
discharge
Prior art date
Application number
PL15879172A
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to PL15879172A priority Critical patent/PL84874B1/pl
Publication of PL84874B1 publication Critical patent/PL84874B1/pl

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

*** '"' U.
Twórca wynalazku: Jan Sreniawski Uprawniony z patentu: Politechnika Czestochowska, Czestochowa (Polska) Sposób pomiaru rezystancji o duzych wartosciach Wynalazek dotyczy sposobu pomiaru rezystancji o duzych wartosciach rzedu 109—1!015£?.
Znany sposób pomiaru rezystancji o duzych wairtosciach polega na pomiarze galiwanom.et.rem przeplywajacych pradów pnzez rezystor wzorcowy, a nastepnie przez rezystor mierzony. Wartosc re¬ zystancji, mierzonego rezystora oblicza sie ze wzo¬ ru: Rx — Ra gazie: Rx — rezystancja mierzonego rezystora, RN — rezystancja wzorcowego rezystora, aN — wychylenie plamki galiwanoimetru przy wlaczanym rezystorze wzorcowym, ax — wychylenie plamki giailiwanometru przy wlaczonym rezystorze mierzo¬ nym.
Bomiiair tym sposobem jest niedokladny a zakres pomiaru ograniczony do wartosci rzedu 1010,Q.
Uklad umozliwiajacy pomiair tym sposobem wy¬ maga stosowania stabilizowanego zródla zasila¬ nia. Sposób ten znany jest z ksiazki: A. JeMonek, J. Gaszczak — Podstawy miernictwa elektryczne¬ go dla elektroników, czesc I strona 274—276, PWN — Warszawa, 1969 r.
Znany jest równiez sposób pomiaru rezystancji o duzych wartosciach^ polegajacy na pomiarze czasu rozladowania kondensatora rezystorem mie- nzonym. W trakcie pomiaru czasu rozladowywa¬ nia kondensatora mierzy sie woltomierzem o du¬ zej rezystancji wewnetrznej róznice napiec przed i po rozladowaniu kondensatora oraz napiecie zródla zasilajacego uklad pomiarowy. Wartosc re¬ zystancji mierzonego rezystora oblicza sie ze wzo- ru: 1 Rx 4U Cx + Ce + Cd u \ SRe Rd ) gdzie: Rx — rezystancja mierzonego rezystora, ^U — róznica napiec przed i po rozladowaniu /Kondensatora,, U — napiecie zródla zasilajacego uklad pomiarowy, Cx — pojemnosc wlasna mie¬ rzonego rezystora, Ce — pojemnosc wlasna wolto¬ mierza, Cd — pojemnosc kondensatora, t — czas rozladowania kondensatora rezystorem mierzonym, Re — rezystancja wewnetrzna woltomierza, Rd — rezystancja kondensatora.
Pomiar tym sposobem nie zapewnia duzej do¬ kladnosci ze wzgledu na stosowanie woltomierzy charakteryzujacych sie niska kllasa dokladnosci.
Obliczenia sa klopotliilwe z uwagi na koniecznosc uwzgledniania w trakcie obliczen pojemnosci wol¬ tomierzy i rezystora mierzonego, jak równiez re¬ zystancji woltomierza i kondensatora. Sposób ten znany jest z ksiazka: A. Jeilonek, J. Gaszczak — Podstawy miernictwa elektrycznego dla elektro¬ ników, czesc I, strona 277—279, PWN — Warsza¬ wa, ,1969 r.
Celem wynalazku jest wyeliminowanie wymie- 848743 84874 4 nionych niedogodnosci i opracowanie sposobu po¬ miaru rezystancji o duzych wartosciach, umozli¬ wiajacego pomiar z wiejksza niz dotychczas dokla¬ dnoscia, przy jednoczesnym wyeliminowaniu wply¬ wu niestalosci w czasie pomiaru napiecia zasila¬ jacego uklad pomiairoiwy.
Cel ten osiagnieto dziejki termu, ze kondensator rozladowuje sie dwukirotoie, raz przez rezystor mierzony, a drugi raz przez rezystor wzorcowy, przy czym rozladowania dokonuje sie przez zmia¬ ne ibiegunowosci ukladu zasilania i mierzy czas rozladowania kondensatora polaczonego szeregowo z rezystorem mierzonym oraz czas rozladowania kondensatora polaczonego szeregowo z rezystorem wzorcowymr a-mstejpnie oblicza sie wairtosc re- zyisihanictji irii&ibnej ze wzoru: tx Xvv — i*N gdzie: Rx — rezystancja mierzonego rezystora, RN — rezystancja wzorcowego rezystora, tx — czas rozladowania kondensatora polaczonego z re¬ zystorem mierzonym, tN — czas rozladowania kon¬ densatora polaczonego z rezystorem wzorcowym.
Pomiar proponowanym sposobem nie jest zalezny od wartosci pojemnosci kondensatora, jak i od po¬ jemnosci wlasnej i kilaisy dokladnosci woltomierza.
Proponowany sposób nie wymaga stosowania zródla zasalania o stabilizowanej wartosci napiecia oraz umozliwia pomiar z wieksza dokladnoscia niz dotychczasowymi sposobami. Obliczanie war¬ tosci rezystancji mierzonego rezystora jest latwe i nie wymaga stosowania skomplikowanych wzo¬ rów. Sposób ten nadaje sie szczególnie do kon¬ trola poprodukcyjnej wytwarzanych rezystorów o duzeij wartosci.
Na rysunku uwidoczniony jesst przyklad ukladu umozliwiajacego pomiar rezystancji o duzych war¬ tosciach proponowanym sposobem.
Uklad sklada sie z kondensatora 1 polaczonego szeregowo z równolegle polaczonymi rezystorami, wzorcowym 2 i mierzonym 3 oraz przelaczniikóem 4. Uklad polaczony jest poprzez przelacznik 5 zmieniajacy biegunowosc zasilania ze zródlem pra¬ du stalego. Równolegle z kondensatorem 1 pola¬ czony jest woltomierz elektrostatyczny V.
Przykladowo, uklad zasila sie napieciem stalym z zasilacza wysokiego napiecia o wartosci 1 kV.
Kondenisator 1 o pojemnosci 10 \k¥ polaczony sze¬ regowo z rezystorem wzorcowym 2 o wartosci MD, klasy 0,06 laduje sie napieciem o warto¬ sci 0,9 kV, a nastepnie po przelaczeniu przelacz¬ nika 5, zimienia sie biegunowosc zasilania ukladu io i rozladowuje sie napiejciem o wartosci minus 0,0 kV. Gzas rozladowania kondensatora 1 mie¬ rzony sekundomierzem elektrycznym wynosi 98,35 sekund. Nastepnie przelacza sie przelacznik 4, któ¬ ry wlacza szeregowo z kondensatorem 1 rezystor mierzony 3, po czym przelacza sie ponownie prze¬ lacznik 5, zmieniaijacy biegunowosc zasilania ukaa- du i miierzy sie czas rozladowania kondensatora 1 napieciem o wairtosci 0,9 kV.
Do pomiaru rezystora 3 wykorzystano rezystor dekadowy o rezystancji 7,8 MD, a czas rozladowa¬ nia kondensatora 1 wyniósl 712,76 sekund. War¬ tosc rezystanciji mierzonego rezystora 3 obliczona sposobem wedlug wynalazku, wyniosla 7,803 MD.
Blad pomiaru miesci sie w granicach dopuszczal- nych dla klasy mierzonego rezystora 3. ^-r <^ (V.
Drukarnia Narodowa Zaklad Nr 6, Zam. 2539/76 Cena 10 zl

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób pomiaru rezystancji o duzych wartos- 30 ciach, polegajacy na naladowaniu okreslona war¬ toscia napiecia kondensatora i rozladowaniu go przez rezystor mierzony oraz pomiarze czasu tego rozladowania, znamienny tym, ze kondensator (1) rozladowuje sie dwukrotnie, raz przez rezystor 35 mierzony (3) o rezystancji Rx a drugi raz przez rezystor wzorcowy (2) o rezystancji RN, przy czym rozladowania dokonuje sie przez zmiane bieguno¬ wosci ukladu zasilania i mierzy czas rozladowa¬ nia tx kondensatora (1) polaczonego szeregowo z 40 rezystorem mierzonym (3) oraz czas (rozladowa¬ nia tN kondensatora (1) polaczonego szeregowo z (rezystorem wzorcowym (2), a nastepnie oblicza sie wartosc rezystancji Rx ze wzoru: 45 RX = RN— *
PL15879172A 1972-11-10 1972-11-10 PL84874B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL15879172A PL84874B1 (pl) 1972-11-10 1972-11-10

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL15879172A PL84874B1 (pl) 1972-11-10 1972-11-10

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL84874B1 true PL84874B1 (pl) 1976-04-30

Family

ID=19960547

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL15879172A PL84874B1 (pl) 1972-11-10 1972-11-10

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL84874B1 (pl)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101435838A (zh) 电容容量测量装置
CN102866300A (zh) 低频微电流恒流激励电路及蓄电池内阻测量电路
CN106443489A (zh) 一种蓄电池在线管理系统及其运行方法
CN104020357A (zh) 一种直流偏压下的电容测试电路及测试方法
PL84874B1 (pl)
Boukhal et al. Implementation of a lithium-ion battery state of charge estimation algorithm for BMS on the real time target NI myRio
JP3412355B2 (ja) ニッケル系電池の劣化判定方法
JPH06342045A (ja) バッテリーの寿命計測装置
JPS62123367A (ja) 容量素子の充電電流測定方法
TW200905947A (en) Apparatus and method for measuring internal resistance of battery
RU2120158C1 (ru) Способ определения остаточной емкости свинцового аккумулятора
RU2172044C1 (ru) Способ измерения электрической емкости химических источников тока
CN114660486A (zh) 一种蓄电池内阻在线估算方法、系统、设备和存储介质
SU1150580A2 (ru) Устройство дл определени посто нной времени обмоток электромагнитных механизмов
SU983552A1 (ru) Электрический мост
JPS5686365A (en) Salt injury predicting device
SU1677659A1 (ru) Способ измерени параметров RC-двухполюсника
JP2016142673A (ja) 蓄電媒体の余寿命診断装置とその方法
SU920532A1 (ru) Электрический мост
SU1241130A1 (ru) Датчик рабочего тока электрофильтра
SU1265625A1 (ru) Электрометр
SU1767589A1 (ru) Способ определени электроемкости химического источника тока
SU1756812A1 (ru) Устройство дл измерени коррозионной активности грунта
WO1981001058A1 (fr) Appareil de mesure de puissance electrique
SU1613973A1 (ru) Устройство дл измерени сопротивлени изол ции электрических сетей переменного тока