Pierwszenstwo: Zgloszenie ogloszono: 15.11.1973 Opis patentowy opublikowano: 20.05.1976 83195 MKP G01n 21/00 Int. Cl.2 G01N 21/00 Twórcy wynalazku: Jerzy Frydrychowicz, Anzelm Bochniak Uprawniony z patehtu tymczasowego: Wojskowa Akademia Techniczna im. Jaroslawa Dabrowskiego, Warszawa (Polska) Sposób wyznaczania polozenia osi optycznych krysztalów przezroczystych Przedmiotem wynalazku jest sposób wyznaczania polozenia osi optycznych krysztalów przezroczystych.Dla wyznaczania polozenia osi optycznych krysztalów przezroczystych stosowane sa sposoby wykorzystu¬ jace zjawiska optyczne w krysztalach.Jedne ze znanych sposobów wykorzystujacych zjawiska optyczne w krysztalach polegaja na tym, ze analizuje sie obrazy interferencyjne, powstajace przy przeswietlaniu krysztalu wiazka swiatla spolaryzowanego pochodzacego ze zródla ó malych wymiarach, zwane figurami konoskopowymi. W figurach konoskopowych wyróznia sie krzywe jednakowego natezenia wiazki swiatla zwane izogirami oraz krzywe jednakowej predkosci rozchodzenia sie swiatla zwane izochromatami.Znany jest sposób wyznaczania polozenia osi optycznych krysztaltu polegajacy na tym, ze przy pomocy ukladu optycznego zlozonego z pryzmatów i soczewek rozszczepia sie obraz interferencyjny, nastepnie przesu¬ wa sie faze miedzy rozszczepionymi obrazami, po czym obraz ponownie sie sklada. Sposób ten pozwala na eliminacje wplywu izogiry na dokladnosc obliczen, ale uklad do stosowania tego sposobu wymaga bardzo zlozonego wyposazenia optycznego i wysokich kwaMfikacji obslugi.Znany jest takze graficzno-analityczny sposób wyznaczania polozenia osi optycznych krysztalu, polegajacy na tym, ze porównuje sie krzywizne sladu przeciecia stozka konoskopowego z plaszczyzna obserwacji, z siatkami wykreslonymi uprzednio dla okreslonej geometrii ukladu. Sposób ten jest bardzo pracochlonny, obarczony duzymi bledami i wymaga stosowania wielu róznych siatek, które dobiera sie w zaleznosci od analizowanego obrazu.Celem wynalazku jest opracowanie sposobu wyznaczania polozenia osi optycznych krysztalu, który pozwala; zredukowac izogire do czterech punktów, przez co za pomoca prostego ukladu optycznego mozna dokladnie wyznaczyc polozenie osi optycznych.Sposób wedlug wynalazku polega na tym, ze przeswietla sie krysztal wiazka swiatla spolaryzowanego i po uzyskaniu na ekranie obrazu interferencyjnego, obraca sie polaryzator analizujacy dokola osi optycznej ukladu o kat przy którym izogira zostaje zredukowana do czterech punktów, odpowiadajacych wierzcholkom kwadratu,2 83 195 z polozenia których na naniesionej na ekranie podzialce, w postaci wspólsrodkowych okregów ze skala katowa, wyznacza sie polozenie osi optycznych krysztalu wzgledem wiazki swiatla, przy czym polaryzator analizujacy umieszcza sie miedzy zródlem swiatla a badanym krysztalem lub miedzy badanym krysztalem a ekranem.Wyznaczone w ten sposóo polozenie dwóch osi optycznych, w przypadku krysztalów dwuosiowych, pozwala na obliczenie trzeciej danej przestrzennej, niezbednej do okreslenia orientacji przestrzennej krysztalu, W przypadku krysztalów jednoosiowych, sposób ten pozwala na wyznaczenie polozenia osi optycznej krysztalu we wspólrzednych aparaturowych.Sposóo wedlug wynalazku pozwala na szybkie wyznaczenie polozenia osi optycznych krysztalu bez stosowania skomplikowanych ukladów optycznych oraz na otrzymanie bezposredniej informacji o anizotropii wlasciwosci fizycznych krysztalu.Sposób wedlug wynalazku zostanie ponizej szczególowo objasniony na podstawie rysunku na którym pokazany jest schematycznie przyklad ukladu do stosowania sposobu wedlug wynalazku.Przed umieszczeniem krysztalu 4 w ukladzie, wygasza sie wiazke swiatla padajacego ze zródla 1 na ekran 5, w ten sposób, ze skreca sie, ustawiony prostopadle do osi optycznej ukladu, ruchomy polaryzator analizujacy 3 do polozenia przy którym wiazka swiatla zostaje calkowicie wygaszona. Nastepnie przezroczysty krysztal 4 umieszcza sie miedzy nieruchomym polaryzatorem 2, polaryzujacym wiazke swiatla padajacego ze zródla 1 a ruchomym polaryzatorem analizujacym 3, w wyniku czego na ekranie 5 pojawia sie obraz interferencyjny. Po czym obraca sie polaryzator analizujacy 3 do polozenia przy którym obraz interferencyjny zostaje zredukowany do czterech punktów, stanowiacych wierzcholki kwadratu.Na ekranie 5 naniesiona jest podzialka ze skala katowa w postaci wspólsrodkowych okregów symetrycz¬ nych wzgledem osi optycznej ukladu odleglych od siebie o wartosc kata wynoszaca na przyklad 30r. Polozenie punktów na podzialce wyznacza polozenie osi optycznych krysztalu.Obraz interferencyjny rejestruje sie na blonie fotograficznej 6.Soczewka 7 skupia wiazke swiatla padajaca na krysztal. Pozwala ona na zmniejszenie wymiarów ukladu i zapewnia uzyskanie korzystnej jasnosci obrazu i wiernosci odwzorowania. PL PL